JP2007019086A - 有機半導体材料、それを用いた半導体装置及び電界効果トランジスタ - Google Patents

有機半導体材料、それを用いた半導体装置及び電界効果トランジスタ Download PDF

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Abstract

【課題】熱や酸化に対して安定した特性を有し、高いキャリア移動度を有するn型の有機半導体材料を実現する。
【解決手段】下記一般式(1)等で示されるグラフェン骨格を有し、少なくとも1つの、1つ以上のフッ素原子を有する置換基を持つ有機半導体材料である。
Figure 2007019086

【選択図】なし

Description

本発明は、電界効果トランジスタ、集積回路、表示装置等の半導体装置に用いることができる有機半導体材料、それを用いた半導体装置及び電界効果トランジスタに関する。
有機化合物を含む半導体層を備えた半導体装置は、シリコン結晶やポリシリコン等の無機物半導体層を備えた従来の半導体装置と比較して、半導体層をポリマーフィルム上に直接、常温で形成できる等の利点を有している。これにより、半導体装置の小型化、低コスト化やフレキシブル化が可能になると期待されている。
従来より研究されている有機半導体材料としては、ポリフェニレンビニレン、ポリピロール、ポリチオフェン、オリゴチオフェン等の共役系高分子や、アントラセン、テトラセン、ペンタセン等のアセン系(ベンゼン環が線状に繋がっているタイプの)縮合多環芳香族化合物(以下、「ポリアセン化合物」と称する。)等が挙げられ、これらの有機半導体材料の大部分はp型半導体として用いられている。
一方、n型半導体として用いられている有機化合物としては、ナフタレンテトラカルボン酸ジイミド(下記化学式1、特許文献1参照)などが挙げられる。またp型半導体として用いられるポリアセン、オリゴチオフェン化合物は、パーフルオロ化することでn型半導体の特性を有すること(下記化学式2〜4、非特許文献1〜3参照)が報告されている。
Figure 2007019086
特開2005−45266号公報 サカモト(Sakamoto)ら,「ジャーナル・オブ・ザ・アメリカン・ケミカル・ソサエティ(Journal of the American Chemical Society)」,2004年,126巻,p.8138−8140 サカモト(Sakamoto)ら,「ジャーナル・オブ・ザ・アメリカン・ケミカル・ソサエティ(Journal of the American Chemical Society)」,2001年,123巻,p.4643−4644 ファケッティ(Facchetti)ら,「アンゲバンデ・ケミ・インターナショナル・エディション(Angewandte Chemie International Edition)」,2000年,39巻,第24号,p.4547−4551
しかしながら、半導体装置の柔軟化と更なる低コスト化を目指すには、p型有機半導体材料だけでなくn型の有機半導体材料の開発と改良が必要である。しかしp型と比較しn型の有機半導体材料は種類に乏しく、上記化合物1〜4もその特性が低いのが現状である。
本発明は、熱や酸化に対して安定であり、高いキャリア移動度を有するn型の有機半導体材料、それを用いた半導体装置及び電界効果トランジスタである。
本発明は、1つ以上のフッ素原子を有する置換基を少なくとも1つ有するグラフェン誘導体である有機半導体材料である。
また、本発明は、下記一般式(1)〜(4)で示される化合物のいずれか1つである有機半導体材料である。
Figure 2007019086

(式中、R〜R18のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
Figure 2007019086

(式中、R19〜R44のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
Figure 2007019086

(式中、R45〜R66のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
Figure 2007019086

(式中、R67〜R92のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
また、前記有機半導体材料において、前記一般式(1)におけるR、R、R、R11、R14、R17が、あるいは前記一般式(2)におけるR21、R24、R27、R30、R34、R37、R40、R43がフッ素原子あるいはα位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖アルキル基であることが好ましい。
また、前記有機半導体材料において、前記一般式(1)におけるR〜R18が、前記一般式(2)におけるR19〜R44が、前記一般式(3)におけるR45〜R66が、あるいは前記一般式(4)におけるR67〜R92がフッ素原子あるいはα位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖アルキル基であることが好ましい。
また、本発明は、有機半導体層を有する半導体装置であって、前記有機半導体層は、前記有機半導体材料を含む。
さらに、本発明は、有機半導体層を有する電界効果トランジスタであって、前記有機半導体層は、前記有機半導体材料を含む。
本発明に係る、1つ以上のフッ素原子を有する置換基が少なくとも1つ導入されたヘキサベンゾコロネン環等のグラフェン誘導体は、熱や酸化に対して高い安定性を有する。これらの化合物は例えば、高いキャリア移動度を有するn型の有機半導体材料として用いることができる。
また、1つ以上のフッ素原子を有する置換基を少なくとも1つ有するグラフェン誘導体である有機半導体材料を用いることにより、熱や酸化に対して安定で、高いキャリア移動度を有する半導体装置及び電界効果トランジスタを提供することができる。
本発明の実施形態について以下説明する。
<有機半導体材料>
本実施形態に係る有機半導体材料は、1つ以上のフッ素原子を有する置換基を少なくとも1つ有するグラフェン誘導体である。グラフェンとは、平面構造を有する炭素六員環が二次元的に配列した炭素原子の集合体のことをいう。本実施形態に係るグラフェン誘導体としては、炭素原子を18個以上96個以下有するグラフェン骨格を有することが好ましく、炭素原子を42個以上78個以下有するグラフェン骨格を有することがより好ましい。
グラフェン骨格を有するグラフェン誘導体としては、例えば下記一般式(1)〜(4)で示される化合物が挙げられる。
Figure 2007019086

(式中、R〜R18のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
Figure 2007019086

(式中、R19〜R44のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
Figure 2007019086

(式中、R45〜R66のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
Figure 2007019086

(式中、R67〜R92のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
ここで、1つ以上のフッ素原子を有する置換基としては特に制限はないが、フッ素原子や、1つ以上のフッ素原子を有する、直鎖、分岐あるいは環状の炭素数1〜12、好ましくは炭素数1〜10、より好ましくは炭素数1〜6のアルキル基や、1つ以上のフッ素原子を有するアリール基や、1つ以上のフッ素原子を有するアルキルアリール基等が挙げられる。
炭素数が多すぎると融点が高くなり真空蒸着しにくくなる、あるいは真空蒸着時に分解する可能性があり、また、アルキル基による絶縁性が増す傾向にあるため半導体材料として好ましくない。また、炭素数が少ないと薄膜化したときの分子の配列効果が小さくなるが分子間のグラフェン骨格間相互作用は阻害しない傾向にある。ただし、スピンコート等の溶液法により本化合物の薄膜を作成する場合には、アルキル基は炭素数10以上であることが好ましい。
これらの置換基の中でも、フッ素原子、1つ以上のフッ素原子を有する直鎖または分岐のアルキル基であることが好ましく、フッ素原子、α位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖または分岐のアルキル基であることがより好ましく、フッ素原子、α位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖アルキル基であることがさらに好ましい。
α位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖または分岐のアルキル基は、下記一般式(5)で表される。
Figure 2007019086
(式中、Xは水素原子またはフッ素原子を表し、n,m,lはそれぞれ0または正の整数を表す。)
上記一般式(5)においてXはフッ素原子であることが好ましく、nは0〜11であることが好ましい。また、合成手法の簡便さの点でmが0、lが2n+1であることが好ましく、分子の配列効果の大きさの点ではmが2n+1、lが0であることが好ましい。具体的には、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、n−パーフルオロプロピル基、i−パーフルオロプロピル基、n−パーフルオロブチル基、n−パーフルオロペンチル基、n−パーフルオロヘキシル基、n−パーフルオロヘプチル基、n−パーフルオロオクチル基、n−パーフルオロノニル基、n−パーフルオロデシル基、n−パーフルオロウンデシル基、n−パーフルオロドデシル基等が挙げられ、トリフルオロメチル基が好ましい。
1つ以上のフッ素原子を有するアリール基、1つ以上のフッ素原子を有するアルキルアリール基のアリール基としては、平面性の高い構造であることが好ましく、例えば、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、等が挙げられるが、ベンゼン環であることが好ましい。また、ビフェニル基等であってもよい。1つ以上のフッ素原子を有するアルキルアリール基のアルキル基としては、炭素数1〜12のアルキル基であることが好ましく、炭素数1〜6のアルキル基であることがより好ましい。
1つ以上のフッ素原子を有するアリール基としては、p−フルオロフェニル基、m−フルオロフェニル基、o−フルオロフェニル基、2,3−ジフルオロフェニル基、2,4−ジフルオロフェニル基、2,5−ジフルオロフェニル基、2,6−ジフルオロフェニル基、3,4−ジフルオロフェニル基、3,5−ジフルオロフェニル基、2,3,4−トリフルオロフェニル基、2,3,5−トリフルオロフェニル基、2,3,6−トリフルオロフェニル基、2,4,5−トリフルオロフェニル基、2,4,6−トリフルオロフェニル基、3,4,5−トリフルオロフェニル基、2,3,4,5−テトラフルオロフェニル基、2,3,4,6−テトラフルオロフェニル基、2,3,5,6−テトラフルオロフェニル基、ペンタフルオロフェニル基、2−フルオロナフチル基等が挙げられ、ペンタフルオロフェニル基が好ましい。
1つ以上のフッ素原子を有するアルキルアリール基としては、o−(トリフルオロメチル)フェニル基、m−(トリフルオロメチル)フェニル基、p−(トリフルオロメチル)フェニル基、o−(トリフルオロメチル)テトラフルオロフェニル基、m−(トリフルオロメチル)テトラフルオロフェニル基、p−(トリフルオロメチル)テトラフルオロフェニル基、2,3−ビス(トリフルオロメチル)フェニル基、2,4−ビス(トリフルオロメチル)フェニル基、2,5−ビス(トリフルオロメチル)フェニル基、2,6−ビス(トリフルオロメチル)フェニル基、3,4−ビス(トリフルオロメチル)フェニル基、3,5−ビス(トリフルオロメチル)フェニル基、2−(トリフルオロメチル)ナフチル基等が挙げられ、o−(トリフルオロメチル)フェニル基、m−(トリフルオロメチル)フェニル基、p−(トリフルオロメチル)フェニル基、o−(トリフルオロメチル)テトラフルオロフェニル基、m−(トリフルオロメチル)テトラフルオロフェニル基、p−(トリフルオロメチル)テトラフルオロフェニル基が好ましい。
これらの1つ以上のフッ素原子を有する置換基の中でも、分子構造の平面性を保ち分子間のグラフェン骨格間相互作用を阻害しないフルオロ基、トリフルオロメチル基、または分子間の相互作用を自己組織化効果によって向上させるα位に少なくとも1つフッ素原子を有するアルキル基が適している。
上記一般式(1)で示される化合物において、R〜R18のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基であるが、R、R、R、R11、R14、R17が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましく、R〜R18が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることがより好ましい。
また、上記一般式(1)で示される化合物において、薄膜化したときの分子の配列効果を高め、キャリア移動度等を向上させるために、R、R、R11、R14が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R、R11が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R、Rが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましい。
上記一般式(2)で示される化合物においては、R19〜R44のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基であるが、R21、R24、R27、R30、R34、R37、R40、R43が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましく、R19〜R44が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることがより好ましい。
また、上記一般式(2)で示される化合物において、薄膜化したときの分子の配列効果(自己組織化)を高め、キャリア移動度等を向上させるために、R24、R27、R37、R40が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R21、R30、R34、R43が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R24、R27のいずれか1つ及びR37、R40のいずれか1つが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R21、R43のいずれか1つ及びR30、R34のいずれか1つが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましい。
上記一般式(3)で示される化合物においては、R45〜R66のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基であるが、R45〜R66が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましい。
また、上記一般式(3)で示される化合物において、薄膜化したときの分子の配列効果(自己組織化)を高め、キャリア移動度等を向上させるために、R46、R48、R57、R59が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R52、R54、R63、R65が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R46、R48のいずれか1つ及びR57、R59のいずれか1つが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R52、R54のいずれか1つ及びR63、R65のいずれか1つが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましい。
上記一般式(4)で示される化合物においては、R67〜R92のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基であるが、R67〜R92が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましい。
また、上記一般式(4)で示される化合物において、薄膜化したときの分子の配列効果(自己組織化)を高め、キャリア移動度等を向上させるために、R75、R78、R88、R91が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R69、R72、R82、R85が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R75、R78のいずれか1つ及びR88、R91のいずれか1つが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R69、R72のいずれか1つ及びR82、R85のいずれか1つが1つ以上のフッ素原子を有する置換基であること、R70、R83が1つ以上のフッ素原子を有する置換基であることが好ましい。
また上記一般式(1)〜(4)において、1つ以上のフッ素原子を有する置換基ではない箇所の置換基としては、基本的には、分子構造の平面性を保ち分子間のグラフェン骨格間相互作用を阻害しない水素原子(すなわち無置換)であるが、フッ素原子を有さない置換基であってもよい。フッ素原子を有さない置換基としては、分子間の相互作用を自己組織化効果によって向上させるアルキル基が好ましい。このアルキル基としては、直鎖または分岐の炭素数1〜12のアルキル基が好ましく、炭素数1〜6の直鎖アルキル基がより好ましい。
また、本実施形態に係る有機半導体材料をn型半導体の材料として利用する場合、高いキャリア移動度を達成するためには、分子内のフッ素原子の数が多ければ多い方がよく、1分子内に有するフッ素原子の数が6個以上であることが好ましく、18個以上であることがより好ましい。
以上の化合物の中で、半導体薄膜を真空蒸着により形成するには、分子量が2000以下の化合物が好ましく、更に好ましくは分子量が1000以下の化合物である。分子量が2000を超えると、融点が高くなり真空蒸着による成膜が行いにくくなる傾向にある。ただし、スピンコート等の溶液法により本化合物の薄膜を作製する場合には、使用する溶媒に対して十分な溶解性を有していればよく分子量の制限は特にない。
上記式(1)〜(4)で示される化合物の具体例としては、以下のようなものが挙げられる。
Figure 2007019086
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上記一般式(1)で示される化合物は、例えば、以下のような経路で合成することができる。化合物(6)と化合物(7)とを、ジフェニルエーテル等を溶媒として加熱し、化合物(8)を得て、その後、ジクロロメタン等を溶媒として、化合物(8)に塩化鉄等のニトロメタン等の溶液を添加することにより、化合物(1)が得られる。
Figure 2007019086
上記一般式(2)で示される化合物は、例えば、以下のような経路で合成することができる。2分子の化合物(9)と化合物(10)とを、ジフェニルエーテル等を溶媒として加熱し、化合物(11)を得て、その後、ジクロロメタン等を溶媒として、化合物(11)に塩化鉄等のニトロメタン等の溶液を添加することにより、化合物(2)が得られる。
Figure 2007019086
上記一般式(3)で示される化合物は、例えば、以下のような経路で合成することができる。化合物(12)と化合物(13)とを、ジフェニルエーテル等を溶媒として加熱し、化合物(14)を得て、その後、化合物(14)をテトラブチルアンモニウムフッ化物等とともにテトラヒドロフラン(THF)等を溶媒として反応させることにより化合物(15)が得られる。化合物(15)と化合物(12)とを、ジフェニルエーテル等を溶媒として加熱し、化合物(16)を得て、ジクロロメタン等を溶媒として、化合物(16)に塩化鉄等のニトロメタン等の溶液を添加することにより、化合物(3)が得られる。
Figure 2007019086
上記一般式(4)で示される化合物は、例えば、以下のような経路で合成することができる。2分子の化合物(17)と、化合物(18)とを、ジフェニルエーテル等を溶媒として加熱し、化合物(19)を得て、その後、ジクロロメタン等を溶媒として、化合物(19)に塩化鉄等のニトロメタン等の溶液を添加することにより、化合物(4)が得られる。
Figure 2007019086
また、上記一般式(1)で示される化合物は、例えば、以下のような経路でも合成することができる。ジオキサン等を溶媒として化合物(20),(21),(22)を加熱し、化合物(23)を得て、その後、ジクロロメタン等を溶媒として化合物(23)に、塩化鉄等のニトロメタン等の溶液を添加することにより、化合物(1)が得られる。ここで、化合物(20),(21),(22)は全て同じ化合物であってもよく、また2種類であってもよく、3種類であってもよい。得られた化合物(23)を単離精製してから化合物(1)へと反応させてもよく、数種類の化合物(23)から数種類の化合物(1)へと反応させてもよいが、素子特性が良好なのは1種類の化合物(1)を含む素子であり、そのために化合物(23)は単離精製することが好ましく、また、用いる化合物(20),(21),(22)は同じ化合物であることが好ましい。
Figure 2007019086
なお、上記各反応式における、置換基X〜X、Y〜Y、Z〜Zはそれぞれ上記R〜R92として定義した置換基と同じものを示す。また、いずれの反応においても、原料、中間体の結合の仕方によって位置異性体が生じることもあり、生成物がそれらの混合物となることもある。
このように、出発原料として使用する化合物の置換基を適宜選択することにより、上記(1)〜(4)で示される各種化合物の置換基の種類、置換基の位置を任意に変えることができる。
また、グラフェン骨格を有するグラフェン誘導体としては、上記一般式(1)〜(4)で示される化合物の他にも、例えば、下記一般式(24)〜(33)で示される化合物が挙げられる。下記一般式で示される化合物がそれぞれ有する置換基Rは、上記一般式(3)及び(4)で示される化合物について定義したものと同様である。
Figure 2007019086
本実施形態に係る有機半導体材料は、基本骨格としてグラフェン骨格を有するため、熱的安定性が高く、光や酸素等による酸化に対して高い安定性を有している。従来グラフェン誘導体はp型半導体として利用され、高いキャリア移動度を示すことが知られている。本実施形態に係るグラフェン誘導体は、電子吸引基であるフッ素原子を有する官能基を導入することで、グラフェン骨格の特性を有したn型半導体の材料として利用することができる。
<有機半導体材料薄膜>
本実施形態に係る有機半導体材料を使用して、真空蒸着法等の周知の成膜方法により基板上に有機半導体薄膜が形成される。真空蒸着法等を使用する場合には、本実施形態に係る有機半導体材料の融点は、100℃〜600℃であることが好ましい。
有機半導体材料は、薄膜状態で隣りあう分子同士が良好に重なり合っていると、有機半導体膜が高いキャリア移動度を示すと考えられる。キャリア、すなわち電子あるいは正孔が分子間を移動していく際には各分子のπ電子軌道間の相互作用が重要であるが、隣りあう分子同士が良好に重なり合っていると各分子のπ電子軌道間の相互作用が良好に働き、キャリアが高速で移動しやすいと考えられるためである。
上記一般式(1)で示されるヘキサベンゾコロネンのうち、無置換体は、結晶性が低く小さな結晶を形成しやすいことから、薄膜化した際、図1に示すように、薄膜中に結晶粒界が多くなり、高いキャリア移動度を得にくいと考えられる。また、6置換のヘキサベンゾコロネン誘導体は、図2に示すように、1次元カラム状に結晶化し、半導体特性を有するコア部分が絶縁材料で覆われた形状となる。これにより電気が流れる経路が、コア部分がカラム状に配列された領域に制限され、高いキャリア移動度を得にくいと考えられる。
これに対し、2置換体あるいは4置換体のヘキサベンゾコロネン誘導体では、薄膜化したときに置換基による自己組織化効果により高い結晶性を有し、これにより高いキャリア移動度が得られることから、半導体として優れた特性を発現すると考えられる。すなわち、2置換体あるいは4置換体のヘキサベンゾコロネン誘導体では、図3に示すように、コア部分の少なくとも2辺は絶縁性の置換基が存在しないので、その位置において平面方向に隣接する分子間でも電流が流れることができる。したがって、薄膜化して結晶化した際に半導体特性を有するコア部分が2次元的に広がり、絶縁部分が上下にくるサンドイッチ型構造の結晶粒が得られる。これにより、電気が流れる部分が1次元的なカラム形状から2次元的にカラム形状に広がるため、高いキャリア移動度が得られると考えられる。
また、置換基の絶縁部が少ない方がキャリア移動度が高くなることから、4置換体のヘキサベンゾコロネン誘導体よりも2置換体のヘキサベンゾコロネン誘導体の方が好ましいと考えられる。さらに、導電部であるヘキサベンゾコロネン環の重なりが良好となりキャリア移動度が高くなることから、ヘキサベンゾコロネン誘導体は対称性が高い方が好ましい。例えば、ヘキサベンゾコロネン環の同方向に置換基を有する2置換体よりも、環の反対側に置換基を有する2置換体の方が好ましいと考えられる。
また、上記一般式(2)〜(4)で示される化合物においても、全置換体は1次元カラム状に結晶化してしまうのに対し、一部置換体はサンドイッチ型構造となり、高いキャリア移動度が得られると考えられる。その他、上記一般式(2)〜(4)で示される化合物が有する置換基についても、上記一般式(1)で示されるヘキサベンゾコロネン誘導体と同様の置換基が好ましいと考えられる。
<半導体装置>
本実施形態に係る有機半導体材料は、熱的安定性が高く、光や酸素等により酸化されにくい安定した構造を有する。したがって、この有機半導体材料を使用した薄膜を有する半導体装置としても安定性の高いものが得られる。
本実施形態に係る有機半導体材料を含む有機半導体層を有する半導体装置としては、例えば、ダイオード、トランジスタ、電界効果トランジスタ、静電誘導トランジスタ(SIT)、抵抗、コンデンサ;これらの半導体素子を用いたメモリやICタグ;あるいはフォトダイオード、発光ダイオード、発光トランジスタ、ガスセンサ、バイオセンサ、血液センサ、免疫センサ、人工網膜、味覚センサ等が挙げられる。少なくとも本実施形態に係る有機半導体材料は、電界効果トランジスタに採用することで優れた機能を発揮することができる。
以下、電界効果トランジスタ(FET)を例として、本実施形態に係る半導体材料の利用方法を示すが、他の半導体装置にも同様に適用することができる。図4には、本実施形態に係る有機半導体材料を使用した電界効果トランジスタの構成の一例を示す。電界効果トランジスタ1は、基板10、ゲート電極12、ゲート絶縁層14、有機半導体膜16、ソース電極18、ドレイン電極20を備える。
基板10としては、シリコン、ガラス、石英、またはセラミック等の材料、さらにはプラスチック材料などを用いることができる。基板10として、プラスチック基板等を使用すれば、曲げることが可能な柔軟なディスプレイ、センサ、曲面を有するディスプレイ、センサ等に応用することができる。
ゲート電極12は、アルミニウム、金、白金、クロム、タングステン、タンタル、ニッケル、銅、銀、マグネシウム、カルシウム等の金属、あるいはそれらの合金、およびポリシリコン、アモルファスシリコン、グラファイト、錫添加酸化インジウム、酸化亜鉛、導電性ポリマ等の材料を1種類または多種類用い、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、RFスパッタ法または印刷法等の周知の成膜方法により形成される。ゲート電極12としては、電子を注入し易い点等から、アルミニウムであることが好ましい。また、ゲート電極12の膜厚は、通常5nm〜3μmの範囲であり、30nm〜1μmの範囲であることが好ましい。
成膜後、所望の形状になるよう必要に応じてパターニングを行う。パターニング方法としては例えば、フォトリソグラフィ法、印刷法等の周知のパターニング方法を使用することができる。また、レーザや電子線等のエネルギ線を照射して直接パターンを形成してもよい。
ゲート絶縁層14は、SiO、Si、SiON、Al、Ta、アモルファスシリコン、ポリイミド樹脂、ポリビニルフェノール樹脂、ポリパラキシリレン樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂等の材料を用い、ゲート電極12と同様の周知の成膜方法、パターニング方法により形成される。また、ゲート絶縁層14の膜厚は、例えば、通常10nm〜3μmの範囲であり、50nm〜1μmの範囲であることが好ましい。
有機半導体膜16は、上記グラフェン誘導体を1種類または多種類用いて、真空蒸着法、CVD法、スパッタリング法、レーザ蒸着法等のドライ成膜法;スピンコート法、ディップ法、インクジェット印刷やスクリーン印刷等の印刷法等のウェット成膜法、等の公知の方法により形成される。ドライ成膜法は、成膜性が良く均一な膜が得られやすいという利点がある。また、ウェット成膜法は、比較的安価な設備で、大面積の薄膜を形成しやすいという利点がある。通常は、真空蒸着法を用いる。また、有機半導体膜16の膜厚は、例えば、通常5nm〜300nmの範囲であり、10nm〜60nmの範囲であることが好ましい。
また、有機半導体膜16中での上記グラフェン誘導体の配向性を向上させるために、有機半導体膜16を成膜後、加熱してアニールすることが好ましい。加熱温度としては、上記グラフェン誘導体が分解しない程度の温度が好ましい。また、プラスチック基板等の場合、基板10が変形しない程度の温度であれば特に制限はないが、例えば、50℃〜150℃であり、80℃〜120℃であることが好ましい。加熱時間としては、例えば、1分〜10時間であればよい。
さらに、ソース電極18及びドレイン電極20は、アルミニウム、金、白金、クロム、タングステン、タンタル、ニッケル、銅、銀、マグネシウム、カルシウム等の金属あるいはそれらの合金、またはポリシリコン、アモルファスシリコン、グラファイト、錫添加酸化インジウム、酸化亜鉛、導電性ポリマ等の材料を用い、ゲート電極12と同様の周知の成膜方法、パターニング方法により形成される。また、ソース電極18及びドレイン電極20の膜厚は、例えば、通常5nm〜3μmの範囲であり、30nm〜1μmの範囲であることが好ましい。
本実施形態に係る有機半導体材料は安定性が高いため、ゲート電極12、ゲート絶縁層14、ソース電極18、ドレイン電極20用の材料として、各種材料を使用することができる。
また、本実施形態に係る有機半導体材料を使用した電界効果トランジスタの構成の別の例を図5に示す。
本実施形態に係る有機半導体材料を含む有機半導体層を有する電界効果トランジスタ(FET)は、例えば、ディスプレイを構成する画素のスイッチング用トランジスタ、信号ドライバ回路素子、メモリ回路素子、信号処理回路素子等として好適に使用できる。ディスプレイの例としては、液晶ディスプレイ、分散型液晶ディスプレイ、電気泳動型ディスプレイ、粒子回転型表示素子、エレクトロクロミックディスプレイ、有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ、電子ペーパ等が挙げられる。また、前述したようにプラスチック基板を使用すれば、曲げることのできるディスプレイ、センサ等に好適に応用することができる。
以下、実施例および比較例を挙げ、本発明をより具体的に詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
<2,5,8,11,14,17−ヘキサフルオロ−ヘキサ−ペリ−ヘキサベンゾコロネン(ヘキサベンゾコロネン誘導体1)の合成>
(1)4,4’−ジフルオロジフェニルアセチレンの合成
ヨウ化銅(I)(1.08g,5.7mmol)、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(II)(1.20g,1.7mmol)をベンゼン280mLに懸濁させ、窒素雰囲気下、4−フルオロヨードベンゼン(13.2g,60mmol)を添加した。暫く撹拌後、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデ−7−セン(17mL,0.11mol)、純水(0.40mL,22mmol)、トリメチルシリルアセチレン(2.78g,10mmol)を添加し、60℃で18時間加熱した。水を添加して反応を終結させ、エーテルを添加して有機層を分取した。有機層は希塩酸で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで脱水処理を行った後、溶媒を留去した。残渣からヘキサンで抽出し、吸引濾過後、シリカゲルカラムクロマトグラフィ(展開溶媒ヘキサン)による精製を行った。更にエタノールから再結晶させ、白色微結晶として下記構造式で示される4,4’−ジフルオロジフェニルアセチレン(1.90g,収率31%)を得た。同定はH−NMRにより行った。H−NMR(CDCl):7.50(m,Ar,4H),7.04(m,Ar,4H)。
Figure 2007019086
(2)1,3−ビス(4−フルオロフェニル)−2−プロパノンの合成
塩化メチレン200mLに4−フルオロフェニル酢酸(12.3g,80mmol)、4−ジメチルアミノピリジン(12.2g,100mmol)を溶解させ、1−(3−ジメチルアミノプロピル)−3−エチルカルボジイミド塩酸塩(15.3g,80mmol)を添加し、室温で24時間撹拌した。水を添加して反応を終結させ、塩化メチレン層を分取した。希塩酸、飽和炭酸水素ナトリウム溶液で洗浄後、シリカゲルカラムクロマトグラフィ(展開溶媒塩化メチレン)による精製を行い、やや黄色みのある白色針状結晶として下記構造式で示される1,3−ビス(4−フルオロフェニル)−2−プロパノン(7.16g,収率73%)を得た。同定はH−NMRにより行った。H−NMR(CDCl):7.10(m,Ar,4H),7.00(m,Ar,4H),3.70(s,CH2,4H)。
Figure 2007019086
(3)テトラキス(4−フルオロフェニル)シクロペンタジエノンの合成
エタノール36mLに4,4’−ジフルオロベンジル(4.63g,19mmol)、1,3−ビス(4−フルオロフェニル)−2−プロパノン(4.62g,19mmol)を懸濁させ、90℃で加熱して溶液にした。これに水酸化カリウム(0.805g,14mmol)をエタノール8mLに懸濁させたものを滴下し、20分間加熱した。水を添加して反応を終結させ、室温まで放冷後、4N塩酸3.6mLを添加した。反応混合物からクロロホルムで抽出し、無水硫酸ナトリウムで脱水処理を行った後、濃縮した。残渣にヘキサンを加えて暫く加熱撹拌し、放冷後吸引濾過して濃紫色の固体として下記構造式で示されるテトラキス(4−フルオロフェニル)シクロペンタジエノン(4.37g,収率51%)を濾別した。同定はH−NMRにより行った。H−NMR(CDCl):7.18(m,Ar,4H),6.96(m,Ar,4H),6.94−6.87(m,Ar,8H)。
Figure 2007019086
(4)ヘキサキス(4−フルオロフェニル)ベンゼンの合成
ジフェニルエーテル40mLに4,4’−ジフルオロジフェニルアセチレン(2.14 g,10mmol)、テトラキス(4−フルオロフェニル)シクロペンタジエノン(4.56g,10mmol)を懸濁させ、窒素雰囲気下260℃で9時間加熱した。放冷後メタノールを加え、吸引濾過にて固体を分取した。メタノールで固体をよく洗浄し、白い結晶性の固体として下記構造式で示されるヘキサキス(4−フルオロフェニル)ベンゼン(4.16g,収率65%)を得た。更に濾液と洗液から溶媒を留去し、残渣にメタノールを加えて吸引濾過した。固体をメタノールと塩化メチレンで良く洗い、ヘキサキス(4−フルオロフェニル)ベンゼン(0.445g,7.0%)を更に得た。同定はH−NMR、13C−NMR、19F−NMR、MALDI−TOF MASSにより行った。H−NMR(CDCl):6.72(m,Ar,12H),6.61(m,Ar,12H)。13C−NMR(CDCl):161.7,159.8,139.9,135.9,132.5,132.5,114.2,114.0。19F−NMR(CDCl):45.4。MALDI−TOF MASS(F20TPP):m/z=642.11(calcd:642.18)。
Figure 2007019086
(5)2,5,8,11,14,17−ヘキサフルオロ−ヘキサ−ペリ−ヘキサベンゾコロネン(ヘキサベンゾコロネン誘導体1)の合成
(合成法A)
塩化メチレン170mLにヘキサキス(4−フルオロフェニル)ベンゼン(1.27g,2.0mmol)を溶解させ、5分間窒素通気させた後、塩化鉄(III)(2.95g,18mmol)のニトロメタン10mL懸濁液を少しずつ加えた。窒素雰囲気下、室温で2時間撹拌した。メタノール300mLを添加して反応終結後、吸引濾過し、固体をメタノール、塩化メチレンで良く洗浄した。黄土色の固体として下記構造式で示される2,5,8,11,14,17−ヘキサフルオロ−ヘキサ−ペリ−ヘキサベンゾコロネン(ヘキサベンゾコロネン誘導体1、0.591g,単離収率47%)を得た。同定はMALDI−TOF MASSにより行った。
Figure 2007019086
(合成法B)
トリフルオロメタンスルホン酸銅(II)(26.0g,72mmol)、塩化アルミニウム(10.3g,77mmol)に二硫化炭素500mLを添加し、窒素雰囲気下、室温で暫く撹拌した。これにヘキサキス(4−フルオロフェニル)ベンゼン(0.941g,1.5mmol)を添加し、室温で64時間撹拌した。反応混合物に4N塩酸を添加し、暫く撹拌後、吸引濾過した。濾別した固体は10%アンモニア水溶液に拡散させ、暫く撹拌後、吸引濾過した。メタノール、塩化メチレンで良く洗浄し、黄土色の固体として2,5,8,11,14,17−ヘキサフルオロ−ヘキサ−ペリ−ヘキサベンゾコロネン(ヘキサベンゾコロネン誘導体1、0.698g,単離収率76%)を得た。同定はMALDI−TOF MASSにより行った。MALDI−TOF MASS(no matrix):m/z=630.02(calcd:630.08)。
図6に合成したヘキサベンゾコロネン誘導体1のTG−DTA測定結果を示す。無置換のヘキサベンゾコロネン(点線)に比べ、やや熱安定性が劣るものの、ヘキサベンゾコロネン誘導体1は300℃で重量変化1%以内であり、500℃でも2%以内である。これよりヘキサベンゾコロネン誘導体1がヘキサベンゾコロネン骨格特有の熱安定性を保持していることが分かる。なお、TG−DTA測定は、熱重量/示差熱分析装置(リガク製、THERMO PLUS型)を使用して、サンプル量4.96mg、窒素雰囲気下、昇温速度10℃/minで行った。
(実施例2)
実施例1で合成したヘキサベンゾコロネン誘導体1を使用して、図5に示すような積層構造の薄膜トランジスタを作製した。基板にはSbを高濃度でドーピングし、抵抗率が0.02Ωcm以下のSiウェハを用いた。熱酸化SiO膜(膜厚300nm)を絶縁体膜として使用した。絶縁体容量は10nF/cmであった。ヘキサベンゾコロネン誘導体1を使用して、真空蒸着法により室温(20℃)において20nmの厚さで有機半導体膜を成膜した。最上部に、メカニカルマスクを通して、ソースならびにドレイン電極となるCa(1nm)/Al(100nm)を蒸着した。チャンネル長は5mm、チャンネル幅は0.2mmとした。最後に、Si基板の裏面にゲート電極となるAl(膜厚:100nm)を蒸着し、サンプルとした。
作製した薄膜トランジスタについて、半導体パラメータアナライザ装置(ヒューレットパッカード製、4145B型)により、ドレイン電圧を+50Vとして、ゲート電圧が−50V〜+100Vの範囲で、ドレイン電流Iを測定し、キャリア移動度(μ)〔cm/Vs〕及びオン/オフ比を求めた。結果を表1に示す。
図7,図8に図5で示した素子の電気特性の測定結果を示す。この素子は正のゲート電圧(V)に対してドレイン電流(I)が生じるn型半導体の特性を有している(図7)。また、図8の横軸はドレイン電圧(VDS)、縦軸はドレイン電流(I)である。ドレイン電流の変化曲線は、低いドレイン電圧の線形領域と高い電圧での飽和領域を有していた。これよりこの素子の移動度は1.6×10−2cm/Vsと導出される。
なお、電界効果移動度(μ)は、ドレイン電流Iを表わす下式(A)を用いて算出した。
=(W/2L)μCi(Vg−Vt) (A)
ここで、LおよびWはゲート長およびゲート幅である。また、Ciは絶縁層の単位面積当たりの容量である。Vgはゲート電圧であり、Vtはしきい値電圧である。
また、増幅率に関連するオン電流とオフ電流の比(オン/オフ比)は、ドレイン電圧+50Vにおいて、ゲート電圧が−50V〜+100Vの範囲で求めた。
(比較例1〜4)
ヘキサベンゾコロネン誘導体1の代わりに、前記化合物1〜4を使用した以外は、実施例1と同様にしてサンプルを作成し、キャリア移動度(μ)及びオン/オフ比を求めた。結果を表1に示す。また、前記化合物4について実施例1と同様にしてTG−DTA測定を行った。化合物4は300℃付近で分解し、300℃での重量変化はほぼ100%であった。
Figure 2007019086
このように、ヘキサベンゾコロネン誘導体1を使用した実施例2では、従来のn型有機半導体材料である化合物1〜4を使用した比較例1〜4に比べて、キャリア移動度が向上した。また、ヘキサベンゾコロネン誘導体1は、従来のn型有機半導体材料である化合物4に比べて、熱安定性が大きく向上した。
<薄膜のX線回折>
Si基板上に、ヘキサベンゾコロネン誘導体1、ヘキサベンゾコロネンをそれぞれ使用して、真空蒸着法により有機半導体膜を成膜し、サンプルを作製した。サンプルについて、X線回折装置(リガク製、RINT−2200型)を使用して、X線回折パターンを測定した。結果を図9に示す。図9からわかるように、ヘキサベンゾコロネン誘導体1はヘキサベンゾコロネンに比べて高い結晶性を示していることがわかる。
無置換のヘキサベンゾコロネン化合物の薄膜中での結晶状態を示す模式図である。 6置換のヘキサベンゾコロネン化合物の薄膜中での結晶状態を示す模式図である。 4置換のヘキサベンゾコロネン化合物の薄膜中での結晶状態を示す模式図である。 本発明の実施形態に係る有機半導体材料を使用した電界効果トランジスタの構成の一例を示す。 本発明の実施形態に係る有機半導体材料を使用した電界効果トランジスタの構成の別の例を示す。 本発明の実施例1で合成したヘキサベンゾコロネン誘導体1のTG−DTA測定結果を示す図である。 本発明の実施例2で製造した薄膜トランジスタのゲート電圧(V)に対するドレイン電流(I)の関係を示す図である。 本発明の実施例2で製造した薄膜トランジスタのドレイン電圧(VDS)に対するドレイン電流(I)の関係を示す図である。 本発明の実施例におけるヘキサベンゾコロネン誘導体1及びヘキサベンゾコロネンの薄膜のX線回折パターンを示す図である。
符号の説明
1 電界効果トランジスタ、10 基板、12 ゲート電極、14 ゲート絶縁層、16 有機半導体膜、18 ソース電極、20 ドレイン電極。

Claims (6)

  1. 1つ以上のフッ素原子を有する置換基を少なくとも1つ有するグラフェン誘導体であることを特徴とする有機半導体材料。
  2. 下記一般式(1)〜(4)で示される化合物のいずれか1つであることを特徴とする有機半導体材料。
    Figure 2007019086

    (式中、R〜R18のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
    Figure 2007019086

    (式中、R19〜R44のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
    Figure 2007019086

    (式中、R45〜R66のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
    Figure 2007019086

    (式中、R67〜R92のうち少なくとも1つは、1つ以上のフッ素原子を有する置換基である。)
  3. 請求項2に記載の有機半導体材料であって、
    前記一般式(1)におけるR、R、R、R11、R14、R17が、あるいは前記一般式(2)におけるR21、R24、R27、R30、R34、R37、R40、R43がフッ素原子あるいはα位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖アルキル基であることを特徴とする有機半導体材料。
  4. 請求項2に記載の有機半導体材料であって、
    前記一般式(1)におけるR〜R18が、前記一般式(2)におけるR19〜R44が、前記一般式(3)におけるR45〜R66が、あるいは前記一般式(4)におけるR67〜R92がフッ素原子あるいはα位に少なくとも1つのフッ素原子を有する直鎖アルキル基であることを特徴とする有機半導体材料。
  5. 有機半導体層を有する半導体装置であって、
    前記有機半導体層は、請求項1〜4のいずれか1項に記載の有機半導体材料を含むことを特徴とする半導体装置。
  6. 有機半導体層を有する電界効果トランジスタであって、
    前記有機半導体層は、請求項1〜4のいずれか1項に記載の有機半導体材料を含むことを特徴とする電界効果トランジスタ。
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