JP2006165259A - 誘電体磁器および積層型電子部品 - Google Patents
誘電体磁器および積層型電子部品 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006165259A JP2006165259A JP2004354335A JP2004354335A JP2006165259A JP 2006165259 A JP2006165259 A JP 2006165259A JP 2004354335 A JP2004354335 A JP 2004354335A JP 2004354335 A JP2004354335 A JP 2004354335A JP 2006165259 A JP2006165259 A JP 2006165259A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric ceramic
- dielectric
- crystal
- electric field
- rare earth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
【解決手段】誘電体セラミックスからなる誘電体磁器であって、前記誘電体セラミック結晶のc軸及びa軸の格子定数比c/aが1.004以上であり、比誘電率の最大温度が、0.15V/μm以下の測定交流電界において60〜125℃、且つ0.15V/μmより大きい測定交流電界において60℃未満であることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
このようにして得られた本発明の積層型電子部品は、誘電体磁器が高い比誘電率を有し、しかも誘電特性の温度依存性やDCバイアス依存性が小さく、優れた特性を有している。例えば、20℃での比誘電率が2200以上、特に3000以上であり、−25〜85℃における温度変化率は±10%以下、85℃での比誘電率のDCバイアス依存性は−25%以下にすることができる。
アルコール94.5質量%で構成した。
また、電気特性はLCRメーターを用いて−25〜85℃の温度範囲において、AC0.5V、測定周波数1kHzの条件で静電容量を測定し、20℃を基準温度として、温度Tにおける比誘電率を算出した。比誘電率の温度変化率TCCを次式から求めた。
Claims (7)
- 誘電体セラミックスからなる誘電体磁器であって、前記誘電体セラミック結晶のc軸及びa軸の格子定数比c/aが1.004以上であり、比誘電率の最大温度が、0.15V/μm以下の測定交流電界において60〜125℃、且つ0.15V/μmより大きい測定交流電界において60℃未満であることを特徴とする誘電体磁器。
- 前記誘電体セラミック結晶が、金属元素として少なくともMg、希土類元素、Ba、及びTiを含有するペロブスカイト型酸化物結晶からなり、該誘電体セラミック結晶の中心よりも表面にMg及び希土類元素が多く存在し、前記誘電体セラミック結晶粒子の平均粒子径が0.3μm以下であることを特徴とする請求項1に記載の誘電体磁器。
- 前記希土類元素が、Y、Tb、Dy、Ho、Er及びYbの少なくとも1種であることを特徴とする請求項2記載の誘電体磁器。
- 誘電体セラミックスが、Mgを酸化物換算で0.05〜0.5質量%、希土類元素を酸化物換算で0.1〜1.7質量%の割合で含有することを特徴とする請求項2又は3記載の誘電体磁器。
- 誘電体セラミックスが、MnをMnCO3換算で0.4質量%以下の割合で含有することを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の誘電体磁器。
- 前記誘電体セラミックスが、前記誘電体セラミック結晶粒子間に存在する2面間粒界に少なくともBa、Ca、Siを含有し、前記2面間粒界の粒界領域幅が1.2nm以下であり、該粒界領域において格子欠陥を含む歪んだ結晶格子像が観察されることを特徴とする請求項2〜5のいずれかに記載の誘電体磁器。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の誘電体磁器の内部に、卑金属からなる内部電極層を複数それぞれ平行に、且つ一定の間隔をおいて配列してなることを特徴とする積層型電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004354335A JP2006165259A (ja) | 2004-12-07 | 2004-12-07 | 誘電体磁器および積層型電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004354335A JP2006165259A (ja) | 2004-12-07 | 2004-12-07 | 誘電体磁器および積層型電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006165259A true JP2006165259A (ja) | 2006-06-22 |
Family
ID=36666930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004354335A Pending JP2006165259A (ja) | 2004-12-07 | 2004-12-07 | 誘電体磁器および積層型電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006165259A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010016126A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Fujifilm Corp | 薄膜電界効果型トランジスタ、その製造方法、およびそれを用いた表示装置 |
JP2010232260A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサ |
US8540832B2 (en) | 2009-06-15 | 2013-09-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Laminated ceramic electronic component and manufacturing method therefor |
JP2014143392A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-08-07 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品の製造方法及びセラミック電子部品 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11273986A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-10-08 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体セラミックおよびその製造方法、ならびに、積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP2003077754A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-14 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサ及びその製法 |
-
2004
- 2004-12-07 JP JP2004354335A patent/JP2006165259A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11273986A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-10-08 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体セラミックおよびその製造方法、ならびに、積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP2003077754A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-14 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサ及びその製法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010016126A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Fujifilm Corp | 薄膜電界効果型トランジスタ、その製造方法、およびそれを用いた表示装置 |
JP2010232260A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサ |
US8540832B2 (en) | 2009-06-15 | 2013-09-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Laminated ceramic electronic component and manufacturing method therefor |
US9183986B2 (en) | 2009-06-15 | 2015-11-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Laminated ceramic electronic component and manufacturing method therefor |
JP2014143392A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-08-07 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品の製造方法及びセラミック電子部品 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20120075768A1 (en) | Dielectric ceramic composition and manufacturing method thereof, and ceramic electronic device | |
JP5034839B2 (ja) | 誘電体磁器組成物および電子部品 | |
JP2006206362A (ja) | 誘電体磁器及びこれを用いた積層セラミックコンデンサ | |
JPWO2005090260A1 (ja) | 積層型セラミックコンデンサ | |
JP5146475B2 (ja) | 誘電体磁器組成物およびセラミック電子部品 | |
JP5668572B2 (ja) | 誘電体磁器組成物およびセラミック電子部品 | |
JP5685931B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2007095382A (ja) | 内部電極ペースト、ならびに積層セラミックコンデンサの製法および積層セラミックコンデンサ。 | |
JP4522025B2 (ja) | 誘電体磁器及び積層型電子部品並びに積層型電子部品の製法 | |
JP2003277139A (ja) | 誘電体磁器組成物および電子部品 | |
JP2005022891A (ja) | 誘電体磁器および積層型電子部品 | |
JP2003048774A (ja) | 誘電体磁器及びその製法並びに積層型電子部品 | |
JP2007246347A (ja) | 電子部品、誘電体磁器組成物およびその製造方法 | |
JP4354224B2 (ja) | 誘電体磁器および積層型電子部品 | |
JP4549203B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2008135638A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
WO2014207900A1 (ja) | 誘電体磁器組成物および積層セラミックコンデンサ | |
JP2013211398A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP4863007B2 (ja) | 誘電体磁器組成物および電子部品 | |
JP2007261913A (ja) | 誘電体磁器組成物、電子部品および積層セラミックコンデンサ | |
JP4511323B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサおよびその製法 | |
JP2009173473A (ja) | 誘電体磁器組成物とこれを用いた積層セラミックコンデンサの製造方法 | |
JPWO2009098918A1 (ja) | 誘電体セラミック及び積層セラミックコンデンサ | |
JP2005187296A (ja) | 誘電体セラミック組成物及び積層セラミックコンデンサ | |
JP5167591B2 (ja) | 電子部品、誘電体磁器組成物およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070912 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100826 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110823 |