JP2006157320A - 容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ - Google Patents

容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ Download PDF

Info

Publication number
JP2006157320A
JP2006157320A JP2004343265A JP2004343265A JP2006157320A JP 2006157320 A JP2006157320 A JP 2006157320A JP 2004343265 A JP2004343265 A JP 2004343265A JP 2004343265 A JP2004343265 A JP 2004343265A JP 2006157320 A JP2006157320 A JP 2006157320A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic transducer
forming
transducer
substrate
base plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004343265A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4503423B2 (ja
Inventor
Toshiaki Fukunaga
敏明 福永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP2004343265A priority Critical patent/JP4503423B2/ja
Publication of JP2006157320A publication Critical patent/JP2006157320A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4503423B2 publication Critical patent/JP4503423B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/24Probes
    • G01N29/2406Electrostatic or capacitive probes, e.g. electret or cMUT-probes
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B06GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
    • B06BMETHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
    • B06B1/00Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
    • B06B1/02Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy
    • B06B1/0292Electrostatic transducers, e.g. electret-type

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

【課題】 バッキング機能を有するベースプレート上に振動膜が配置された容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 容量性マイクロマシン超音波振動子は、樹脂を含む材料によって形成されたベースプレート30と、該ベースプレート30に配置された振動子セル10であって、下部電極25と、一体形成された支持部23a及び梁部23bを含み、該梁部23bが支持部23aによって支持されることにより上部電極22との間に空隙15を介して配置されている振動膜23と、該振動膜23に形成された上部電極22とを含む振動子セル10とを含む。
【選択図】 図1

Description

本発明は、医療用超音波撮像システムに備えられている超音波用探触子において、超音波を送信及び受信するために用いられる容量性マイクロマシン超音波振動子(capacitive micromachined ultrasonic transducer:cMUT)及びその製造方法に関する。さらに、本発明は、そのような容量性マイクロマシン超音波振動子を用いた超音波トランスデューサアレイに関する。
医療用超音波撮像システムにおいて用いられる超音波用探触子には、高品質な診断用画像を生成するために、広い帯域幅や、低レベルの超音波信号に対する高い感度等の多くの特性が求められている。従来、超音波用探触子において超音波の送受信を行う振動子としては、圧電性物質であるPZT(チタン酸ジルコン酸鉛:Pb(lead) zirconate titanate)が主に用いられてきた。PZTは、上記の特性を比較的実現し易いからである。
近年、超音波用撮像システムを構成する多くの部分は、半導体製造プロセスによって集約的に製造されている。一方、セラミックであるPZTを用いて振動子を製造するためには、超音波撮像システムにおける他の部分を製造するための製造プロセスとは異なる独自のセラミック製造プロセスが必要とされる。それにより、超音波撮像システムの製造工程が煩雑になることと共に、製造設備のためのコストが嵩むことが問題となっている。そのため、振動子についても、他の部分と同様に半導体製造プロセスによって集約的に製造することができれば、製造上の観点から好ましい。
最近、容量性マイクロマシン超音波振動子の開発により、半導体製造プロセスによって振動子を製造できる見通しがもたらされている。容量性マイクロマシン超音波振動子とは、超音波信号を受信することによって生じた振動を、変調された静電容量に変換する振動膜を有する素子である。一方、容量性マイクロマシン超音波振動子によって超音波信号を送信するためには、振動膜と固定電極との間に発生する電界を変調することにより振動膜を振動させる。
関連する技術として、特許文献1には、半導体基板上にマイクロマシン加工によって形成された静電型超音波振動子であって、絶縁性支持体によって基板表面上に支持された窒化シリコン膜を含み、基板及び膜が振動子の電極を形成している静電型超音波振動子が開示されている。
このような容量性マイクロマシン超音波振動子は、半導体製造プロセスによって作製されるので、10μm〜200μm程度の微小なサイズの振動子(振動子セルともいう)を形成することが可能である。また、複数の振動子セルをグループ化して制御することにより、それらの振動子セルを、1画素に対応する1つの振動子群として動作させることも可能である。
容量性マイクロマシン超音波振動子の利点の1つは、半導体製造プロセスによって振動子を作製できるということである。そのため、従来においては、容量性マイクロマシン超音波振動子が配置されるベースプレートとして、半導体製造プロセスの適用が可能なシリコン基板やガラス基板がそのまま使用されていた。しかしながら、これらの基板材料は、超音波を反射したり、伝播し易い性質を有する。そのため、振動子の背面から反射された超音波や、基板を介して隣接する振動子に伝搬した超音波により、超音波画像にアーティファクトが出現するという問題が生じている。
これに対し、一般的な超音波用探触子においては、不要な超音波を減衰させるために、振動子の背面にバッキング層が配置されている。このバッキング層としては、ポリマーやプラスチックのように、音響反射が少なく、超音波吸収性の良好な材料が用いられる。そこで、容量性マイクロマシン超音波振動子においても、不要な超音波を減衰させるのに適した材料の上に振動子を作製することが望ましい。
さらに、特許文献2には、第1の電荷を保持するベースプレートと、該ベースプレート上に配置された底及び上端を有する支持と、第2の電荷を保持し、上記ベースプレートと容量性関係を持ちながら上記支持の上端によって支持される振動板とを有し、上記ベースプレートが、上記支持と上記ベースプレートとの交点よりも上記支持の上端の高さにより近いところまで伸びた隆起領域を有する容量性マイクロマシン超音波振動子セルが開示されている。また、特許文献2には、容量性マイクロマシン超音波振動子を製造するためにマイクロステレオリソグラフィプロセス等を用いることにより、基板材料として、シリコン等よりも超音波吸収性の良好なポリマー、プラスチック、弾性化合物等の基板材料を採用することが開示されている(第7頁)。即ち、特許文献2の図7に示すように、導電膜を付着させることにより下部電極が形成されたポリマー基板90に、容量性マイクロマシン超音波振動子構造を1層ずつ形成する。例えば、キャリア86は、容量性マイクロマシン超音波振動子の構造のために除去される物質の層84を持っている。セルのフロア上に台を作るために、物質84は金やアルミニウムなどの導電性物質である。レーザビーム80は、物質84が堆積されるべきところからキャリアのエリアへ向けられる。キャリア86は、該レーザビームの周波数に対してトランスペアレントであるため、該レーザのエネルギーは基板に対向するキャリア側面上の物質を除去する。YAGレーザ等の赤外線レーザを用いる場合に、キャリアは、例えばテフロン(登録商標)である。導電性物質84の連続層は、基板上に除去され、台が所望の高さに組み立てられるまで台の層92、94を堆積させる。振動板のための支持96は絶縁性であり、所望場所のポリマー若しくはプラスチックの層を除去することによって形成することができる。振動板用の膜は、セル上に重ねられ、支持96の上面上にレーザによって溶接され得る。
しかしながら、特許文献2に開示されている製造方法によれば、ポリマー等の基板を用いる場合には、容量性マイクロマシン超音波振動子を作製するために複雑な工程を取らなくてはならない。従って、製造コストが上昇すると共に、形成された振動板の信頼性は低下してしまう。
米国特許第5619476号(アブストラクト) 特表2004−503312号公報(第2、7頁、図7)
このように、半導体製造プロセスを適用するために、シリコン等の基板を用いて容量性マイクロマシン超音波振動子を作製する場合には、基板から反射された不要な超音波によって、超音波画像の画質が低下するという問題が生じている。一方、基板として、樹脂材料のように超音波吸収性の良好な材料を使用する場合には、半導体製造プロセスにはない低温プロセスや、レーザアブレーション等の工程が必要となる。また、振動膜用の膜と支持体とをレーザによって溶接することにより振動膜を形成する場合には、工程が複雑であると共に、強度の高い振動膜を形成するのが困難である。
そこで、上記の問題点に鑑み、本発明は、バッキング機能を有するベースプレート上に振動膜が配置された容量性マイクロマシン超音波振動子、及び、そのような容量性マイクロマシン超音波振動子を、通常の半導体製造プロセスを用いて製造することができる製造方法、及び、それによって製造された容量性マイクロマシン超音波振動子、並びに、超音波トランスデューサアレイを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明に係る容量性マイクロマシン超音波振動子は、樹脂を含む材料によって形成されたベースプレートと、該ベースプレートに配置された振動子セルであって、第1の電極と、一体形成された支持部及び梁部を含み、該梁部が支持部によって支持されることにより第1の電極との間に空隙を介して配置されている振動膜と、該振動膜に形成された第2の電極とを含む振動子セルとを具備する。
また、本発明に係る超音波マイクロマシン超音波振動子の製造方法は、無機材料によって形成されている基板の主面に凹部を形成する工程(a)と、該基板の主面上に直接的又は間接的に第1の電極を形成する工程(b)と、該第1の電極が形成された基板上に振動膜を形成する工程(c)と、少なくとも基板の凹部に形成された振動膜上に犠牲層を形成する工程(d)と、該犠牲層上に第2の電極及び少なくとも第1の絶縁膜を形成する工程(e)と、該第1の絶縁膜に空孔を形成し、該空孔を介して犠牲層を除去することにより空隙を形成する工程(f)と、第1の絶縁膜上に第2の絶縁膜を形成することにより空孔を塞ぐ工程(g)と、第2の絶縁膜上に樹脂材料を形成すると共に、基板を除去する工程(h)とを具備する。
さらに、本発明に係る超音波トランスデューサアレイは、樹脂を含む材料によって形成されたベースプレートと、該ベースプレートに配置された複数の振動子セルであって、各々が、第1の電極と、一体形成された支持部及び梁部を含み、該梁部が支持部によって支持されることにより第1の電極との間に空隙を介して配置されている振動膜と、該振動膜に形成された第2の電極とを含む複数の振動子セルと、上記ベースプレートに配置され、複数の振動子セルの各々に直流バイアスを印加する直流バイアス回路と、上記ベースプレートに配置され、複数の振動子セルの各々を駆動するための駆動信号を生成する駆動回路と、上記ベースプレートに配置され、複数の振動子セルの各々から出力される受信信号を処理する受信回路との内の少なくとも1つとを具備する。
本発明によれば、無機材料の基板を用いて半導体製造プロセスにより振動子セルを作製し、その後で、振動子セルに樹脂材料のベースプレートを形成すると共に、無機材料の基板を除去するので、バッキング機能を備えた信頼性の高い容量性マイクロマシン超音波振動子を、簡単なプロセス且つ低コストで製造することができる。従って、そのような容量性マイクロマシン超音波振動子を含む超音波用探触子の製造コストを低減すると共に、超音波画像の画質を向上させることが可能となる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子(capacitive micromachined ultrasonic transducer:cMUT)の概観を示す斜視図であり、図2は、図1のII−IIにおける断面図である。
図1に示すように、本実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子は、振動子セル10と、振動子セル10が配置されているベースプレート30とを含んでいる。本実施形態において、振動子セル10は、1辺が30μm程度の四角錘台形状を有している。なお、通常、振動子セル10は、ベースプレート30上に2次元状の所定の配列で配置され、振動子アレイとして使用される。
図2に示すように、振動子セル10は、上部電極22と、振動膜23と、下部電極25とを含んでいる。また、振動膜23及び上部電極22の上には、保護層となる絶縁膜21が形成されている。
振動膜23は、例えば、窒化シリコン(Si)、窒酸化シリコン(SiON)、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)等の無機材料によって形成されており、支持部23aと梁部23bとを含んでいる。支持部23aは、梁部23bをベースプレート30の上方に持ち上げるように支持している。それにより、梁部23bと下部電極25との間に空隙15が形成され、梁部23bが振動可能な状態で支持される。これらの支持部23aと梁部23bとは、最初から一体化して形成されており、継ぎ目は見られない。
振動膜23によって形成されている空隙15の内部は、用途に応じて、真空としても良く、空気やそれ以外の気体によって満たしても良い。超音波の送受信を行う場合には、空隙15の内部を真空とする方が、梁部23bにダンピングがかからないので、より好ましい。
下部電極25及び上部電極22は、金(Au)等の導電膜によって形成されている。下部電極25は、絶縁膜26、27、29を介してベースプレート30上に配置されており、上部電極22は、振動膜23の梁部23b上に配置されている。これらの電極22及び25は、空隙15及び振動膜23を介して対向することにより、コンデンサを形成している。
このような振動子セル10において、上部電極22と下部電極25との間に直流バイアスを印加して電荷を蓄積させ、振動子セル10に超音波を伝搬させて振動膜23に振動を与えると、梁部23b上に配置されている上部電極22と固定されている下部電極25との間の距離が変化するので、コンデンサの静電容量が変化する。この静電容量の変化を電位の変化として検出することにより、振動子セル10に伝搬した超音波を検出することができる。また、超音波を送信する際には、上部電極22と下部電極25との間に、送信すべき超音波の周波数に応じた交流信号を直流バイアスと共に与える。それにより、それらの電極の間に発生する電界が変調されるので、その電界に応じて力が働き、振動膜23の梁部23bが変位する。この梁部23bの変位によって生じた振動が、超音波信号として伝搬する。
ベースプレート30は、振動子セル10を支持すると共に、振動子セル10の背面(ベースプレート30側)に伝搬する超音波を減衰させ又は吸収するバッキング機能を果たしている。ベースプレート30の材料としては、ポリマー、プラスチック、弾性化合物等を含む樹脂材料のように、音響反射が少なく、超音波吸収性の良好な材料が用いられる。本実施形態においては、プラスチックを用いている。
このように、本実施形態においては、振動子セルを支持するベースプレートとして、音響反射が少なく、超音波吸収性の良好な材料を用いているので、振動子の背面から反射された超音波や、基板を介して隣接する振動子に伝搬した超音波を誤って検出してしまうことがなくなる。従って、そのような不要な超音波に起因するアーティファクトの発生が抑制されるので、超音波画像の画質を向上させることが可能になる。
次に、本実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法について、図3〜図8を参照しながら説明する。
まず、半導体製造プロセスに用いることができる無機材料の基板を用意する。そのような材料として、シリコン(Si)、ガリウム砒素(GaAs)や、インジウム燐(InP)等の半導体材料が挙げられる。本実施形態においては、シリコン基板を用いる。
次に、図3の(a)に示すように、ウェットエッチングやドライエッチング等により、振動膜23(図1)の形状に合わせてシリコン(Si)基板20の主面に凹部20aを形成する。次に、凹部20aが形成されたシリコン基板20の表面を酸化させることにより、図3の(b)に示すように、酸化シリコン(SiO)の絶縁膜21を形成する。この絶縁膜21は、後の工程においてシリコン基板20を除去する際に、後で形成される窒化シリコンの振動膜23を保護するためのエッチング停止層として用いられる。
次に、絶縁膜21の上に、上部電極22及び配線パターンを含む導電層を形成する。そのために、まず、絶縁膜21上に、蒸着により金属膜を形成し、リソグラフィ及びドライエッチング又はウェットエッチング等により金属膜をパターニングする。
図4は、絶縁膜21上に上部電極22及び配線パターンが形成された様子を示す平面図であり、複数の振動子セルの上部電極22の各々から、個別に配線の引き出しを行う場合における配線パターンを示している。ここで、凹部20aの底面は、図2に示す梁部23bが形成される領域となるため、上部電極22は、凹部20aの底面において、少なくとも中心部分に形成するようにする。
次に、図5の(a)に示すように、絶縁膜21及び上部電極22が形成された基板20の主面上に、プラズマCVD法等により、窒化シリコン(Si)膜を形成する。この窒化シリコン膜は、完成した容量性マイクロマシン超音波振動子における振動膜23となるので、引っ張り歪みを有することが望ましい。また、この窒化シリコン膜において、凹部20aの斜面に形成された部分は振動膜23の支持部23aとなり、凹部20aの底面2形成された部分は振動膜23の梁部23bとなる。このように、支持部と梁部とを最初から一体化して形成することにより、振動膜の強度を高めることができる。
或いは、振動膜23として、窒酸化シリコン(SiON)や、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)等の無機材料膜を形成しても良い。
次に、図5の(b)に示すように、少なくとも凹部20aに形成された振動膜23上にレジスト24を充填する。そのために、まず、振動膜23上に、凹部が平坦になるまでレジストを塗布し、その後で、酸素ガスを用いたドライエッチングにより、凹部の上面近傍よりも上方のレジストを除去する。このレジスト24は、図2に示す空隙15を形成するための犠牲層となる。
次に、レジスト24上に、下部電極25及び配線パターンを含む導電層を形成する。そのために、まず、レジスト24及び振動膜23上に金属膜を蒸着により形成し、その上に、CVD法等により酸化シリコン膜を形成する。そして、リソグラフィ及びドライエッチングにより酸化シリコン膜をパターニングし、さらに、パターニングされた酸化シリコン膜(絶縁膜)26をマスクとして用いて、ウェットエッチング又はドライエッチングにより金属膜をパターニングする。
図6は、レジスト24上に下部電極25及び酸化シリコン膜26が形成された様子を示す平面図であり、複数の振動子セルの下部電極25から共通配線の引き出しを行う場合における配線パターンを示している。下部電極25は、図2に示す凹部20aの底面(即ち、梁部)における上部電極22と対向するように、少なくとも、凹部20aの底面の中心に相当する部分に形成するようにする。
次に、図7の(a)に示すように、振動膜23、レジスト24、及び、マスクとしての酸化シリコン膜26の上に、酸化シリコンの絶縁膜27を形成する。次に、図7の(b)に示すように、レジスト24上の絶縁膜27に微小な空孔28を複数形成することによってレジストを露出させ、酸素ガスを用いたドライエッチング、又は、有機溶剤等を用いたウェットエッチングにより、空孔28を介してレジストを除去する。さらに、図7の(c)に示すように、CVD法を用いて酸化シリコンの絶縁膜29を形成することにより、空孔28を塞ぐ。その際には、容量性マイクロマシン超音波振動子の用途に応じて、レジストが除去された領域を真空にしたり、所望の気体を充填する。この絶縁膜29の材料としては、酸化シリコンの他にも、窒酸化シリコン(SiON)や、窒化シリコン(SiN)、又は、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)等を用いることができる。絶縁膜29は、空孔28を塞ぐと共に、この後で形成される樹脂材料のベースプレートとの界面における反応を防ぐ機能(例えば、防湿等)も果たす。
次に、図8の(a)に示すように、絶縁膜29上に、熱硬化性樹脂を塗布して硬化させることにより、樹脂材料のベースプレート30を形成する。或いは、熱硬化性樹脂の替わりに、紫外線硬化性樹脂を用いても良い。
さらに、図8の(b)に示すように、シリコン基板20をドライエッチング等によって除去する。これにより、図1及び図2に示す容量性マイクロマシン超音波振動子が完成する。
以上説明したように、本実施形態によれば、シリコン基板を用いた半導体製造プロセスにより、無機材料によって形成された振動膜を含む振動子セルを、低温プロセスや他の煩雑なプロセスを経ることなく、効率良く作製することができる。また、その後に、振動子セルの背面側に樹脂材料を含むベースプレートを配置すると共に、シリコン基板を除去することにより、振動子セルがバッキング層の上に配置された容量性マイクロマシン超音波振動子を容易に作製することができる。従って、不要な超音波を減衰又は吸収する機能を有し、良質な超音波信号を取得できる信頼性の高い容量性マイクロマシン超音波振動子を低コストで製造することが可能になる。
ここで、振動膜23の梁部23bは、容量性マイクロマシン超音波振動子の強度及び感度の観点から、剛性を有しつつ薄くすることが望ましい。この点において、振動膜23として、半導体製造プロセスによって形成される無機材料を用いることは適切である。具体的には、酸化シリコン(Si)、窒酸化シリコン(SiON)、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)等の無機材料が最適であると考えられる。さらに、本実施形態によれば、空隙15(図2)を形成する際に、図7の(b)に示すように、振動子セルの背面側(図の上側)からレジストを除去するので、従来の製造方法と異なり、振動膜23に空孔を形成して、その空孔を埋めるために膜を形成するといったプロセスが不要となる。従って、振動膜23を、従来よりも平坦、且つ、薄くすることができる。また、振動膜23を薄くすることにより、より低い電圧で駆動することが可能となる。
本実施形態においては、シリコン基板を除去する際に振動膜を保護するエッチング停止層として、絶縁膜21を形成している。しかしながら、基板材料との間においてエッチング選択性を有する他の種類のエッチング停止層を設けても良い。また、基板としてガリウム砒素(GaAs)又はインジウム燐(InP)を用い、振動膜として窒化シリコンを用いる場合のように、振動膜の材料に対して基板材料がエッチング選択性を有する場合には、エッチング停止層は不要である。
また、本実施形態においては、上部電極を個別配線とし(図4参照)、下部電極を共通配線としているが(図6参照)、図9に示すように、上部電極31を複数の振動子セルに渡って形成することにより、上部電極側を共通配線としても構わない。また、上部電極と下部電極との内の一方を共通配線、他方を個別配線としても良いし、両方を共通配線又は個別配線としても良い。
図10は、本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の変形例を示す図である。本実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の振動子セル10は、図1に示す四角錘台形状以外にも、任意の形状を用いることができる。例えば、図10の(a)に示すように、六角錘台形状としても良いし、その他の多角錘台形状としても良い。また、図10の(b)に示すように、円柱錘台形状としても良いし、楕円錘台形状としても良い。このような振動子セルは、図3の(a)において、シリコン基板に形成される凹部を、所望の形状に変化させることにより製造することができる。
図11は、本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子を含む2次元超音波トランスデューサアレイの一部を示す平面図である。
この2次元超音波トランスデューサアレイは、樹脂材料によって形成されているベースプレート40と、ベースプレート40上に2次元マトリクス状に配列されている複数の振動子セル10とを含んでいる。複数の振動子セル10は、所定の数毎に振動子セルグループ41を構成している。これらの振動子セルグループ41の各々は、1画素に対応する超音波トランスデューサとして動作を制御される。即ち、1つの振動子セルグループ41において、複数の振動子セル10の上部電極及び下部電極から、グループ毎の配線42及び共通配線43がそれぞれ引き出されている。この振動子セルグループ41に含まれている複数の振動子セル10を同時に駆動することにより、所定の強度を有する超音波が送信される。さらに、このような複数の振動子セルグループ41を順次駆動することにより、所望の方向に超音波を送信することができる。また、伝搬してきた超音波は、各振動子セルグループ41によって受信され、各振動子セルグループ41に含まれる複数の振動子セル10から出力された検出信号の合成信号が、1画素に対応する超音波検出信号として処理される。
図12の(a)は、本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子を含む別の2次元超音波トランスデューサアレイの一部を示す断面図である。また、図13は、図12の(a)に示す2次元超音波トランスデューサアレイの構成を示す回路図である。
図12の(a)に示す2次元超音波トランスデューサアレイは、樹脂材料によって形成されているベースプレート50と、ベースプレート50上に配列されている複数の振動子セル10と、回路形成領域51とを含んでいる。回路形成領域51の表面には、保護層として、絶縁膜52が形成されている。このような、2次元超音波トランスデューサアレイは、図13に示すように、超音波撮像システム本体70とケーブル等を介して接続されている超音波用探触子60に収納されている。
回路形成領域51には、例えば、図13に示すように、CMOSの製造プロセスによって製造される回路61〜65が形成されている。駆動回路61は、超音波撮像システム本体70から出力される制御信号に従って、振動子セルグループに含まれている複数の振動子セル10を駆動するための駆動信号を生成する。直流バイアス回路62は、直流電圧源62aと、抵抗62bと、デカップリングコンデンサ62cとを含んでおり、複数の振動子セル10の各々に直流バイアスを印加する。受信回路63は、複数の振動子セル10から出力される検出信号を処理して、超音波撮像システム本体70に出力する。スイッチ回路64は、超音波撮像システム本体70による駆動回路61への制御信号の供給と、受信回路63による超音波撮像システム本体70への検出信号の出力とを所定のタイミングで切り換える。また、スイッチ回路65は、駆動回路61による複数の振動子セル10への駆動信号の供給と、受信回路63による複数の振動子セル10からの検出信号の取り込みを所定のタイミングで切り換える。このような回路61〜65は、例えば、図11に示す振動子セルグループ41毎(即ち、1画素毎)に設けられる。
図12の(a)に示す超音波トランスデューサアレイは、図12の(b)に示すように、シリコン基板53上に絶縁膜52を形成することにより回路形成領域51を設け、その回路形成領域51内に、抵抗、コンデンサ、PチャネルMOSトランジスタ、NチャネルMOSトランジスタ等を含む回路を形成し、さらに、図12の(c)に示すように、図3〜図8を用いて説明したのと同様に振動子セルを基板53上に形成することにより製造することができる。
以上においては、本発明に係る容量性マイクロマシン超音波振動子を医療用超音波画像を生成するために用いられる超音波用探触子に適用する場合について説明した。しかしながら、本発明に係る容量性マイクロマシン超音波振動子は、それ以外にも、様々な用途に適用することができる。適用例として、例えば、溶接等による接合部におけるクラック、傷、空孔の探傷検査や厚さ均一性の検査等を行う非破壊検査装置や、厚さ、傷、腐食の検査を行う産業用検査装置や、液体のレベル又は流量の検出装置等が挙げられる。
本発明は、医療用超音波撮像システムにおいて、超音波を送信及び受信するために用いられる超音波用探触子において利用することが可能である。
本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子(cMUT)を示す図である。 図1に示すII−IIにおける断面を示す図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法を説明するための図である。 絶縁膜上に上部電極及び配線パターンを含む導電層が形成された様子を示す平面図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法を説明するための図である。 レジスト上に下部電極25及び配線パターンを含む導電層と酸化シリコン膜とが形成された様子を示す平面図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法を説明するための図である。 複数の容量性マイクロマシン超音波振動子において、上部電極を共通配線とする場合における配線方法を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子の変形例を示す図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子を含む2次元超音波トランスデューサアレイを示す平面図である。 本発明の一実施形態に係る容量性マイクロマシン超音波振動子を含む別の2次元超音波トランスデューサアレイを示す断面図である。 図12の(a)に示す2次元超音波トランスデューサアレイの構成を示す回路図である。
符号の説明
10 振動子セル
15 空隙
20 シリコン基板
21、27、29 絶縁膜(酸化シリコン膜)
22、31 上部電極
23 振動膜
23a 支持部
23b 梁部
24 レジスト
25 下部電極
28 空孔
30、40、50 ベースプレート
41 振動子セルグループ
42 配線
43 共通配線
51 回路形成領域
52 絶縁膜
60 超音波用探触子
61 駆動回路
62 直流バイアス回路
62a 直流電圧源
62b 抵抗
62c デカップリングコンデンサ
63 受信回路
64、65 スイッチ回路
70 超音波撮像システム本体

Claims (12)

  1. 樹脂を含む材料によって形成されたベースプレートと、
    前記ベースプレートに配置された振動子セルであって、第1の電極と、一体形成された支持部及び梁部を含み、前記梁部が前記支持部によって支持されることにより前記第1の電極との間に空隙を介して配置されている振動膜と、前記振動膜に形成された第2の電極とを含む振動子セルと、
    を具備する容量性マイクロマシン超音波振動子。
  2. 前記振動膜が、無機材料によって形成されている、請求項1記載の容量性マイクロマシン超音波振動子。
  3. 前記基板が、シリコン(Si)と、ガリウム砒素(GaAs)と、インジウム燐(InP)との内のいずれかを含む、請求項1又は2記載の容量性マイクロマシン超音波振動子。
  4. 前記振動膜が、窒化シリコン(Si)と、窒酸化シリコン(SiON)と、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)との内のいずれか1つを含む、請求項1〜3のいずれか1項記載の容量性マイクロマシン超音波振動子。
  5. 樹脂を含む材料によって形成されたベースプレートと、
    前記ベースプレートに配置された複数の振動子セルであって、各々が、第1の電極と、一体形成された支持部及び梁部を含み、前記梁部が前記支持部によって支持されることにより前記第1の電極との間に空隙を介して配置されている振動膜と、前記振動膜に形成された第2の電極とを含む前記複数の振動子セルと、
    前記ベースプレートに配置され、前記複数の振動子セルの各々に直流バイアスを印加する直流バイアス回路と、前記ベースプレートに配置され、前記複数の振動子セルの各々を駆動するための駆動信号を生成する駆動回路と、前記ベースプレートに配置され、前記複数の振動子セルの各々から出力される受信信号を処理する受信回路との内の少なくとも1つと、
    を具備する超音波トランスデューサアレイ。
  6. 無機材料によって形成されている基板の主面に凹部を形成する工程(a)と、
    前記基板の主面上に直接的又は間接的に第1の電極を形成する工程(b)と、
    前記第1の電極が形成された前記基板上に振動膜を形成する工程(c)と、
    少なくとも前記基板の凹部に形成された前記振動膜上に犠牲層を形成する工程(d)と、
    前記犠牲層上に第2の電極及び少なくとも第1の絶縁膜を形成する工程(e)と、
    前記第1の絶縁膜に空孔を形成し、該空孔を介して前記犠牲層を除去することにより空隙を形成する工程(f)と、
    前記第1の絶縁膜上に第2の絶縁膜を形成することにより前記空孔を塞ぐ工程(g)と、
    前記第2の絶縁膜上に樹脂材料を形成すると共に、前記基板を除去する工程(h)と、
    を具備する容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
  7. 工程(g)が、前記空隙内を真空状態にしながら前記第1の絶縁膜上に第2の絶縁膜を形成することにより前記空孔を塞ぐことを含む、請求項6記載の容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
  8. 前記振動膜が、窒化シリコン(Si)と、窒酸化シリコン(SiON)と、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)との内のいずれか1つを含む、請求項6又は7記載の容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
  9. 前記第2の絶縁膜が、酸化シリコン(SiO)と、窒酸化シリコン(SiON)と、窒化シリコン(SiN)と、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)との内のいずれか1つを含む、請求項6〜8のいずれか1項記載の容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
  10. 工程(b)に先立って、前記基板の主面上に、前記基板との間でエッチング選択性を有する絶縁膜を形成する工程をさらに具備する請求項6〜9のいずれか1項記載の容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
  11. 前記基板が、前記振動膜との間でエッチング選択性を有する材料によって形成されている、請求項6〜9のいずれか1項記載の容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
  12. 工程(h)が、熱硬化性樹脂又は紫外線硬化性樹脂を用いて前記樹脂材料を形成することを含む、請求項6〜11のいずれか1項記載の容量性マイクロマシン超音波振動子の製造方法。
JP2004343265A 2004-11-29 2004-11-29 容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ Expired - Fee Related JP4503423B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004343265A JP4503423B2 (ja) 2004-11-29 2004-11-29 容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004343265A JP4503423B2 (ja) 2004-11-29 2004-11-29 容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006157320A true JP2006157320A (ja) 2006-06-15
JP4503423B2 JP4503423B2 (ja) 2010-07-14

Family

ID=36635088

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004343265A Expired - Fee Related JP4503423B2 (ja) 2004-11-29 2004-11-29 容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4503423B2 (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008038454A1 (fr) * 2006-09-28 2008-04-03 Hitachi, Ltd. Sonde à ultrasons et dispositif d'imagerie à ultrasons
JP2008193652A (ja) * 2007-02-07 2008-08-21 Ind Technol Res Inst 柔軟容量性超音波変換器およびその製作方法
JP2008288813A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Hitachi Ltd 半導体装置
WO2008146600A1 (ja) 2007-05-29 2008-12-04 Hitachi Medical Corporation 超音波探触子及び超音波診断装置
JP2012509475A (ja) * 2008-11-21 2012-04-19 コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ 材料に埋め込まれた複数のcMUT変換器を使用する、コンクリートなどの前記材料中の微小多孔質部の音響分析のための方法およびデバイス
JP2012191497A (ja) * 2011-03-11 2012-10-04 Seiko Epson Corp 超音波センサーおよび電子機器
DE102015215799A1 (de) 2014-08-22 2016-02-25 Fujifilm Corporation Zusammensetzung für Schallwellensonde und Siliconharz für Schallwellensonde, Schallwellensonde und Ultraschallsonde unter Verwendung derselben sowie Vorrichtung zum Messen einer Schallwelle, Ultraschall-Diagnosevorrichtung, Vorrichtung zum Messen von Photoschallwelle und Ultraschallendoskop
WO2017130890A1 (ja) 2016-01-28 2017-08-03 富士フイルム株式会社 音響波プローブ用組成物、これを用いた音響波プローブ用シリコーン樹脂、音響波プローブおよび超音波プローブ、ならびに、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置および超音波内視鏡
WO2018061991A1 (ja) 2016-09-27 2018-04-05 富士フイルム株式会社 音響波プローブ用樹脂材料、音響レンズ、音響波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置および超音波内視鏡
CN109152568A (zh) * 2016-08-24 2019-01-04 株式会社日立制作所 电容检测型超声波换能器及具备其的超声波拍摄装置
WO2019049984A1 (ja) 2017-09-11 2019-03-14 富士フイルム株式会社 音響波プローブ用組成物、音響波プローブ用シリコーン樹脂、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置および超音波内視鏡
WO2020137966A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 京セラ株式会社 超音波デバイス
US20200353507A1 (en) * 2018-05-10 2020-11-12 Boe Technology Group Co., Ltd. Ultrasonic sensor and manufacturing method therefor, and ultrasonic sensor array and display device
WO2021044823A1 (ja) 2019-09-06 2021-03-11 富士フイルム株式会社 音響レンズ用組成物、音響レンズ、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置及び超音波内視鏡並びに音響波プローブの製造方法
CN112949603A (zh) * 2020-07-20 2021-06-11 神盾股份有限公司 指纹感测装置
WO2021131430A1 (ja) 2019-12-24 2021-07-01 富士フイルム株式会社 音響レンズ用組成物、音響レンズ、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置及び超音波内視鏡並びに音響波プローブの製造方法
JP2022530532A (ja) * 2019-04-30 2022-06-29 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 容量性微細加工超音波トランスデューサ(cmut)デバイス
WO2023090217A1 (ja) 2021-11-16 2023-05-25 富士フイルム株式会社 音響レンズ用組成物、音響レンズ、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置及び超音波内視鏡並びに音響波プローブの製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022079132A (ja) 2020-11-16 2022-05-26 セイコーエプソン株式会社 圧電アクチュエーター、超音波素子、超音波探触子、超音波装置、及び電子デバイス

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002521890A (ja) * 1998-07-23 2002-07-16 イギリス国 容量性超音波変換器を製造する方法
WO2003011749A2 (en) * 2001-07-31 2003-02-13 Koninklijke Philips Electronics N.V. Micro-machined ultrasonic transducer (mut) array
JP2004503312A (ja) * 2000-06-15 2004-02-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 容量性マイクロマシン超音波振動子

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002521890A (ja) * 1998-07-23 2002-07-16 イギリス国 容量性超音波変換器を製造する方法
JP2004503312A (ja) * 2000-06-15 2004-02-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 容量性マイクロマシン超音波振動子
WO2003011749A2 (en) * 2001-07-31 2003-02-13 Koninklijke Philips Electronics N.V. Micro-machined ultrasonic transducer (mut) array

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008038454A1 (fr) * 2006-09-28 2008-04-03 Hitachi, Ltd. Sonde à ultrasons et dispositif d'imagerie à ultrasons
JP4776691B2 (ja) * 2006-09-28 2011-09-21 株式会社日立製作所 超音波探触子及び超音波撮像装置
JP2008193652A (ja) * 2007-02-07 2008-08-21 Ind Technol Res Inst 柔軟容量性超音波変換器およびその製作方法
JP2008288813A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Hitachi Ltd 半導体装置
WO2008146600A1 (ja) 2007-05-29 2008-12-04 Hitachi Medical Corporation 超音波探触子及び超音波診断装置
US8551003B2 (en) 2007-05-29 2013-10-08 Hitachi Medical Corporation Ultrasonic probe and ultrasonic diagnosis device
JP2012509475A (ja) * 2008-11-21 2012-04-19 コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ 材料に埋め込まれた複数のcMUT変換器を使用する、コンクリートなどの前記材料中の微小多孔質部の音響分析のための方法およびデバイス
US9074985B2 (en) 2008-11-21 2015-07-07 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Method and device for acoustic analysis of microporosities in a material such as concrete using multiple cMUTs transducers incorporated in the material
JP2012191497A (ja) * 2011-03-11 2012-10-04 Seiko Epson Corp 超音波センサーおよび電子機器
DE102015215799A1 (de) 2014-08-22 2016-02-25 Fujifilm Corporation Zusammensetzung für Schallwellensonde und Siliconharz für Schallwellensonde, Schallwellensonde und Ultraschallsonde unter Verwendung derselben sowie Vorrichtung zum Messen einer Schallwelle, Ultraschall-Diagnosevorrichtung, Vorrichtung zum Messen von Photoschallwelle und Ultraschallendoskop
WO2017130890A1 (ja) 2016-01-28 2017-08-03 富士フイルム株式会社 音響波プローブ用組成物、これを用いた音響波プローブ用シリコーン樹脂、音響波プローブおよび超音波プローブ、ならびに、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置および超音波内視鏡
CN109152568A (zh) * 2016-08-24 2019-01-04 株式会社日立制作所 电容检测型超声波换能器及具备其的超声波拍摄装置
WO2018061991A1 (ja) 2016-09-27 2018-04-05 富士フイルム株式会社 音響波プローブ用樹脂材料、音響レンズ、音響波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置および超音波内視鏡
WO2019049984A1 (ja) 2017-09-11 2019-03-14 富士フイルム株式会社 音響波プローブ用組成物、音響波プローブ用シリコーン樹脂、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置および超音波内視鏡
US20200353507A1 (en) * 2018-05-10 2020-11-12 Boe Technology Group Co., Ltd. Ultrasonic sensor and manufacturing method therefor, and ultrasonic sensor array and display device
US11602771B2 (en) * 2018-05-10 2023-03-14 Boe Technology Group Co., Ltd. Ultrasonic sensor and manufacturing method therefor, and ultrasonic sensor array and display device
WO2020137966A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 京セラ株式会社 超音波デバイス
JPWO2020137966A1 (ja) * 2018-12-26 2021-11-11 京セラ株式会社 超音波デバイス
JP2022530532A (ja) * 2019-04-30 2022-06-29 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 容量性微細加工超音波トランスデューサ(cmut)デバイス
JP7427027B2 (ja) 2019-04-30 2024-02-02 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 容量性微細加工超音波トランスデューサ(cmut)デバイス
WO2021044823A1 (ja) 2019-09-06 2021-03-11 富士フイルム株式会社 音響レンズ用組成物、音響レンズ、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置及び超音波内視鏡並びに音響波プローブの製造方法
WO2021131430A1 (ja) 2019-12-24 2021-07-01 富士フイルム株式会社 音響レンズ用組成物、音響レンズ、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置及び超音波内視鏡並びに音響波プローブの製造方法
CN112949603A (zh) * 2020-07-20 2021-06-11 神盾股份有限公司 指纹感测装置
WO2023090217A1 (ja) 2021-11-16 2023-05-25 富士フイルム株式会社 音響レンズ用組成物、音響レンズ、音響波プローブ、超音波プローブ、音響波測定装置、超音波診断装置、光音響波測定装置及び超音波内視鏡並びに音響波プローブの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4503423B2 (ja) 2010-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4503423B2 (ja) 容量性マイクロマシン超音波振動子及びその製造方法、並びに、超音波トランスデューサアレイ
US9497552B2 (en) Capacitive transducer, capacitive transducer manufacturing method, and object information acquisition apparatus
US20050075572A1 (en) Focusing micromachined ultrasonic transducer arrays and related methods of manufacture
JP4804961B2 (ja) 超音波振動子及びそれを搭載した体腔内超音波診断装置
US9440258B2 (en) Thin film ultrasound transducer
JP4624763B2 (ja) 静電容量型超音波振動子、及びその製造方法
US20130331705A1 (en) Ultrasonic cmut with suppressed acoustic coupling to the substrate
US9143877B2 (en) Electromechanical transducer device and method of making the same
JP6123171B2 (ja) 超音波トランスデューサー、超音波プローブおよび超音波検査装置
JPWO2008056643A1 (ja) 超音波探触子及びこれを用いた超音波診断装置
JP5178791B2 (ja) 静電容量型超音波振動子
JP4755500B2 (ja) 超音波探触子
JP2013138411A (ja) 静電容量型トランスデューサの製造方法
JP7218134B2 (ja) 静電容量型トランスデューサ、及びその製造方法
JP2008119318A (ja) 超音波探触子及び超音波診断装置
US20140313861A1 (en) Transducer, method for manufacturing transducer, and object information acquiring apparatus
JP6763731B2 (ja) 超音波トランスデューサ、その製造方法および超音波撮像装置
JP2019212992A (ja) 静電容量型トランスデューサ、及びその製造方法
JP5188188B2 (ja) 容量型超音波トランスデューサの製造方法
JP2009244235A (ja) 水中用超音波アレイセンサ
US10139338B2 (en) Electromechanical transducer
JP2020092293A (ja) 超音波トランスデューサ、その製造方法および超音波撮像装置
EP4360767A1 (en) An ultrasound transducer and a method for producing an ultrasound transducer
US20240024916A1 (en) Ultrasonic transducer array device
WO2024027730A1 (zh) 基底同侧设置有双pmut的微机械超声换能器结构及其制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20061206

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070705

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090914

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090924

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100420

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100421

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees