JP2006155852A - ページバッファおよびこれを用いたフラッシュメモリ素子の検証方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】デュアルレジスタ構造のページバッファにおいて、メインラッチの入力端子の電位に応じて駆動され、消去検証信号を出力するスイッチと、メインラッチの出力端子の電位に応じて駆動され、プログラム検証信号を出力するスイッチをさらに含み、メインラッチのみを用いてプログラム検証および消去検証を行うようにする。
【選択図】図1
Description
、ノードQBの電位を出力する。
N102 …NMOSトランジスタ
N103 …NMOSトランジスタ
N104 …NMOSトランジスタ
N105 …NMOSトランジスタ
N106 …NMOSトランジスタ
N107 …NMOSトランジスタ
P101 …PMOSトランジスタ
P102 …PMOSトランジスタ
P103 …PMOSトランジスタ
N201 …NMOSトランジスタ
N202 …NMOSトランジスタ
110 …メインラッチ
120…キャッシュラッチ
200 …ビットライン選択部
Claims (11)
- ビットライン選択信号に応じて、メモリセルアレイにそれぞれ連結されたイブンビットラインまたはオッドビットラインを選択的にセンシングノードに連結させるためのビットライン選択部と、
プリチャージ信号に応じて、前記センシングノードに所定の電圧を供給して前記イブンビットラインまたは前記オッドビットラインをプリチャージさせるための第1スイッチと、
前記センシングノードの電位およびメインラッチ信号に応じて、前記選択されたセルの状態データを格納するためのメインレジスタと、
前記メインレジスタの第1端子の電位に応じて消去検証信号を出力するための第2スイッチと、
前記メインレジスタの第2端子の電位に応じてプログラム検証信号を出力するための第3スイッチと、
プログラム時の制御信号に応じてプログラムデータを格納するためのキャッシュレジスタと、
前記キャッシュレジスタに格納されたデータを前記メインレジスタに伝達するための第4スイッチと、
プログラム信号に応じて、前記メインレジスタに格納されたプログラムデータを用いて前記選択されたメモリセルにプログラムするための第5スイッチとを含むことを特徴とするページバッファ。 - 前記ビットライン選択部は、
第1および第2ディスチャージ信号に応じて、前記イブンビットラインまたは前記オッドビットラインに連結されたメモリセルをそれぞれディスチャージするための第1および第2NMOSトランジスタと、
第1および第2ビットライン選択信号に応じて前記イブンビットラインまたは前記オッドビットラインと前記ノードをそれぞれ連結させるための第3および第4NMOSトランジスタとを含むことを特徴とする請求項1記載のページバッファ。 - 前記第1スイッチは、前記プリチャージ信号に応じて前記センシングノードに電源電圧を供給するための第1PMOSトランジスタを含むことを特徴とする請求項1記載のページバッファ。
- 前記メインレジスタは、
前記メモリセルアレイの選択セルの状態によるデータを格納するためのラッチと、
前記センシングノードの電位に応じて駆動される第5NMOSトランジスタと、
前記メインラッチ信号に応じて駆動される第6NMOSトランジスタとを含むことを特徴とする請求項1記載のページバッファ。 - 前記メインレジスタは、初期化信号に応じて前記ラッチを初期化させるための第7NMOSトランジスタをさらに含むことを特徴とする請求項4記載のページバッファ。
- 前記第2スイッチは、前記メインレジスタの前記第1端子の電位に応じて電源電圧レベルまたはフローティング状態の前記消去検証信号を出力する第2PMOSトランジスタを含むことを特徴とする請求項1記載のページバッファ。
- 前記第3スイッチは、前記メインレジスタの前記第2端子の電位に応じて電源電圧レベルまたはフローティング状態の前記プログラム検証信号を出力する第3PMOSトランジスタを含むことを特徴とする請求項1記載のページバッファ。
- プログラムまたは消去検証のために選択されたビットラインをディスチャージさせた後、メインラッチを初期化させる段階と、
選択されたビットラインを所定の電位にプリチャージさせた後、前記選択されたビットラインに連結されたセルをエバリュエーションする段階と、
前記選択されたメモリセルの状態によるデータを前記メインラッチに格納する段階と、
前記メインラッチの第1端子の電位に応じて消去検証信号を出力する段階と、
前記メインラッチの第2端子の電位に応じてプログラム検証信号を出力する段階とを含むことを特徴とするフラッシュメモリ素子の検証方法。 - 前記セルの状態データは、前記セルが消去された状態の場合にはローレベルを維持し、前記セルがプログラムされた状態の場合にはハイレベルを維持することを特徴とする請求項8記載のフラッシュメモリ素子の検証方法。
- 前記消去検証信号は、前記セルが消去された状態の場合にはフローティング状態を維持し、前記セルが消去されていない状態の場合にはハイレベルを維持することを特徴とする請求項8記載のフラッシュメモリ素子の検証方法。
- 前記プログラム検証信号は、前記セルがプログラムされた状態の場合にはハイレベルを維持し、前記セルがプログラムされていない状態の場合にはプローティング状態を維持することを特徴とする請求項8記載のフラッシュメモリ素子の検証方法。
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