JP2006155710A5 - - Google Patents

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  1. 1回だけデータを書き込むことが可能な複数のデータ記憶セルと、
    1回だけデータを書き込むことが可能な選択用記憶セルを有し、その選択用記憶セルに書き込まれた内容に応じて、上記複数のデータ記憶セルのうちの何れかを選択して、選択されたデータ記憶セルに書き込まれた内容に応じてデータを出力する読み出し選択回路と、
    1回だけデータを書き込むことが可能な選択用記憶セルを有し、上記選択用記憶セルに書き込まれた内容に応じて、上記複数のデータ記憶セルのうちの何れかを選択してデータを書き込む書き込み選択回路と、
    を備えたことを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 請求項1の半導体記憶装置であって、
    上記読み出し選択回路は、上記複数のデータ記憶セルから出力される信号のうちの何れかを選択して出力するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  3. 請求項1の半導体記憶装置であって、
    上記読み出し選択回路は、上記複数のデータ記憶セルのうちの何れかを選択して読み出し信号を与えるように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  4. 請求項1の半導体記憶装置であって、
    上記読み出し選択回路と上記書き込み選択回路とが同一の上記選択用記憶セルを兼用するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  5. 請求項4の半導体記憶装置であって、
    上記兼用される読み出し選択回路および書き込み選択回路は、読み出しが行われるデータ記憶セルとは異なるデータ記憶セルを書き込み用に選択するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  6. 請求項1の半導体記憶装置であって、
    上記書き込み選択回路の選択用記憶セルは複数設けられ、上記書き込み選択回路は、上記選択用記憶セルに書き込まれた内容に応じて、書き込みの行われるデータ記憶セルと供に、書き込み選択回路の選択用記憶セルを選択するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  7. 1回だけデータを書き込むことが可能な複数のデータ記憶セルと、
    上記複数のデータ記憶セルのうちの何れかを選択してデータを書き込む書き込み選択回路と、
    上記データ記憶セルの数に応じたパルスを含むパルス信号における上記パルスごとに、各データ記憶セルへの書き込みの有無に応じて出力信号を反転させるフリップフロップ回路を有し、上記複数のデータ記憶セルのうち、書き込みが行われたデータ記憶セルの数に応じたデータを出力する読み出し回路と、
    を備えたことを特徴とする半導体記憶装置。
  8. 請求項7の半導体記憶装置であって、
    上記書き込み選択回路は、上記読み出し回路から出力されるデータを異ならせる場合に、上記データ記憶セルに書き込まれている内容に基づいて、データの書き込まれるデータ記憶セルを選択するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  9. 請求項7の半導体記憶装置であって、
    上記書き込み選択回路は、所定の順序で隣り合うデータ記憶セルの1方がデータの書き込みがなされたデータ記憶セルであり、他方がデータの書き込みがなされていないデータ記憶セルである場合に、上記他方のデータ記憶セルを選択するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  10. 請求項1および請求項7のうちの何れか1項の半導体記憶装置であって、
    上記複数のデータ記憶セルを複数組備え、所定ビット長のデータを出力し得るように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  11. 請求項10の半導体記憶装置であって、
    上記所定ビット長分のデータ記憶セルをさらに複数ワード分備え、上記読み出し選択回路は、アドレス信号に応じたワードのデータを出力するように構成されていることを特徴とする半導体記憶装置。
  12. 各々1回だけデータを書き込むことが可能な複数のデータ記憶セルからなる複数のデータ記憶セル群と、
    各々1回だけデータを書き込むことが可能な複数の選択用記憶セルと、
    上記複数の選択用記憶セルの出力をデコードするデコード回路と、
    を有し、上記デコード回路の出力に応じて、上記複数のデータ記憶セル群のうちの何れかのデータ記憶セル群を選択して、選択されたデータ記憶セル群に書き込まれた内容に応じてデータを出力する読み出し選択回路と、
    を備えたことを特徴とする半導体記憶装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7633816B2 (en) * 2004-07-21 2009-12-15 Panasonic Corporation Semiconductor memory device, rewrite processing method therefor, and program thereof
JP5028967B2 (ja) * 2006-11-15 2012-09-19 富士通セミコンダクター株式会社 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法
US7515498B2 (en) * 2007-02-13 2009-04-07 International Business Machines Corporation Electronic fuse apparatus and methodology including addressable virtual electronic fuses
JP2009087453A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Sanyo Electric Co Ltd 情報記憶回路
US8275927B2 (en) * 2007-12-31 2012-09-25 Sandisk 3D Llc Storage sub-system for a computer comprising write-once memory devices and write-many memory devices and related method
JP2010146636A (ja) * 2008-12-18 2010-07-01 Toshiba Corp 半導体集積回路装置及びメモリシステム
KR20100079185A (ko) * 2008-12-30 2010-07-08 주식회사 동부하이텍 퓨즈 회로 및 그의 레이아웃 방법
KR101185549B1 (ko) * 2009-12-29 2012-09-24 에스케이하이닉스 주식회사 결함 단위셀의 구제를 위한 리던던시 회로를 포함한 반도체 메모리 장치
US8331126B2 (en) * 2010-06-28 2012-12-11 Qualcomm Incorporated Non-volatile memory with split write and read bitlines
US10579290B2 (en) * 2016-03-23 2020-03-03 Winbond Electronics Corp. Option code providing circuit and providing method thereof
JP7185573B2 (ja) * 2019-03-22 2022-12-07 タワー パートナーズ セミコンダクター株式会社 半導体装置
US11164610B1 (en) 2020-06-05 2021-11-02 Qualcomm Incorporated Memory device with built-in flexible double redundancy
US11177010B1 (en) 2020-07-13 2021-11-16 Qualcomm Incorporated Bitcell for data redundancy

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63187498A (ja) * 1987-01-28 1988-08-03 Nec Corp 複数回プログラム可能読出し専用メモリ装置
JP2654215B2 (ja) * 1990-01-19 1997-09-17 株式会社東芝 半導体メモリシステム
US5966339A (en) * 1998-06-02 1999-10-12 International Business Machines Corporation Programmable/reprogrammable fuse
US6384664B1 (en) 2000-10-05 2002-05-07 Texas Instruments Incorporated Differential voltage sense circuit to detect the state of a CMOS process compatible fuses at low power supply voltages
US6594181B1 (en) * 2002-05-10 2003-07-15 Fujitsu Limited System for reading a double-bit memory cell
US7002829B2 (en) * 2003-09-30 2006-02-21 Agere Systems Inc. Apparatus and method for programming a one-time programmable memory device
US7180102B2 (en) * 2003-09-30 2007-02-20 Agere Systems Inc. Method and apparatus for using cobalt silicided polycrystalline silicon for a one time programmable non-volatile semiconductor memory
US7477570B2 (en) * 2004-08-20 2009-01-13 Micron Technology, Inc. Sequential access memory with system and method
JP4675082B2 (ja) * 2004-10-21 2011-04-20 富士通セミコンダクター株式会社 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法

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