JP2006120698A - 積層セラミック電子部品およびその製造方法 - Google Patents

積層セラミック電子部品およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006120698A
JP2006120698A JP2004304286A JP2004304286A JP2006120698A JP 2006120698 A JP2006120698 A JP 2006120698A JP 2004304286 A JP2004304286 A JP 2004304286A JP 2004304286 A JP2004304286 A JP 2004304286A JP 2006120698 A JP2006120698 A JP 2006120698A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic
electronic component
porosity
internal electrode
green sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004304286A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4674456B2 (ja
Inventor
Tomotaka Hirata
朋孝 平田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2004304286A priority Critical patent/JP4674456B2/ja
Publication of JP2006120698A publication Critical patent/JP2006120698A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4674456B2 publication Critical patent/JP4674456B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

【課題】 静電容量のばらつきが小さく、かつ、層間クラックやデラミネーション等が発生しにくい積層セラミック電子部品およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 内部電極3,4はそれぞれ、容量形成部3a,4aと引出し部3b,4bとからなる。容量形成部3aと4aはセラミックグリーンシート2を介して互いに対向し、静電容量を形成する。引出し部3bはセラミックグリーンシート2の左辺に導出され、引出し部4bはセラミックグリーンシート2の右辺に導出されている。容量形成部3a,4aの空隙率は25%以下であり、引出し部3b,4bの空隙率を容量形成部3a,4aの空隙率よりも大きくする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、積層セラミック電子部品、特に、積層コンデンサ、積層バリスタ、積層LCフィルタなどの積層セラミック電子部品およびその製造方法に関する。
一般に、多数の内部電極がセラミック層を介して積層されてなるセラミック積層体を有する積層コンデンサにおいて、セラミック積層体内に存在する内部電極を微視的に観察したとき、内部電極が当該内部電極を形成すべき領域の全域にわたって緻密に形成されていることは、ほとんどない。多くの場合、内部電極を形成すべき領域内であっても、実際には、内部電極の存在しない領域がスポット的に分布している。
ところで、積層コンデンサの小型化、低容量化を図ると、内部電極の積層枚数の減少に伴って、内部電極一層が静電容量に与える影響が大きくなる。そのため、内部電極の空隙率を小さくして、内部電極を緻密にすることで容量形成部の面積のばらつきを小さくして、静電容量のばらつきを抑えることが行われている。ここで、空隙率とは、各内部電極を平面視した場合に、内部電極を形成すべき領域内に、内部電極の存在しない領域がスポット的に分布している比率をいう。
しかしながら、内部電極の存在しない領域がスポット的に分布しないように、内部電極を緻密にすると、セラミック積層体の焼結時にセラミックスと内部電極との熱収縮差で内部応力が蓄積される。このような内部応力が、焼成後の研磨工程等において、セラミック積層体の端部で層間クラックやデラミネーションを発生させる要因となっていた。
そこで、特許文献1に記載の積層セラミック電子部品のように、内部電極を緻密にし過ぎないように適正な空隙率にすることが提案されている。しかし、静電容量のばらつきを抑えつつ、層間クラック等が発生しない適正な範囲を設定することは、電子部品のサイズや誘電体材料によっては非常に困難であった。
特開平10−12476号公報
そこで、本発明の目的は、静電容量のばらつきが小さく、かつ、層間クラックやデラミネーション等が発生しにくい積層セラミック電子部品およびその製造方法を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明に係る積層セラミック電子部品は、複数の内部電極が複数のセラミック層を介して互いに対向するように積層されてなるセラミック積層体を有する積層セラミック電子部品であって、
内部電極が、前記セラミック層を介して対向している容量形成部とセラミック積層体の端面に導出された引出し部とからなり、容量形成部の空隙率が25%以下であり、引出し部の空隙率が容量形成部の空隙率よりも大きいことを特徴とする。ここで、空隙率とは、各内部電極を平面視した場合に、内部電極を形成すべき領域内に、内部電極の存在しない領域がスポット的に分布している比率をいう。
以上の構成により、容量形成部は緻密になり、容量形成部の面積のばらつきが抑えられる。一方、引出し部は空隙(スポット的に分布している電極の存在しない領域)が比較的多くなり、セラミック積層体の焼結時のセラミックスと内部電極との熱収縮差による内部応力が緩和される。
さらに、引出し部の空隙率を10%より大きく設定することにより、内部応力緩和は一層確実なものとなる。
また、本発明に係る積層セラミック電子部品の製造方法は、セラミックグリーンシートを形成する工程と、内部電極形状に対応した印刷部を有するスクリーン印刷版を用いて、セラミックグリーンシートに導電ペーストをスクリーン印刷する工程と、セラミックグリーンシートを積層してセラミック積層体を形成する工程と、セラミック積層体を焼成する工程と、焼成されたセラミック積層体に外部電極を形成する工程とを含む前述の特徴を有する積層セラミック電子部品の製造方法であって、
スクリーン印刷版の印刷部は、内部電極の引出し部に対応する部分のメッシュ開口率が、内部電極の容量形成部に対応する部分のメッシュ開口率よりも小さいことを特徴とする。ここで、メッシュ開口率は、スクリーン印刷版の印刷部の単位面積当たりのメッシュの開口面積の割合を意味する。例えば、メッシュ開口率が小さいということは、単位面積当たりのメッシュの数は等しいが、メッシュの孔の大きさが小さい場合、あるいは、メッシュの孔の大きさは等しいが、単位面積当たりのメッシュの数が少ない場合である。
本発明によれば、容量形成部の空隙率を25%以下にすることにより、容量形成部は緻密になり、容量形成部の面積のばらつきが小さくなるので、静電容量のばらつきを抑えることができる。さらに、引出し部の空隙率が容量形成部の空隙率よりも大きいので、引出し部は空隙が比較的多くなり、セラミック積層体の焼結時のセラミックスと内部電極との熱収縮差による内部応力が緩和される。この結果、静電容量のばらつきが小さく、かつ、層間クラックやデラミネーション等が発生しにくい積層セラミック電子部品を得ることができる。
また、スクリーン印刷版において、内部電極の引出し部に対応する部分のメッシュ開口率を、内部電極の容量形成部に対応する部分のメッシュ開口率よりも小さくしたので、引出し部の空隙率が容量形成部の空隙率よりも大きい内部電極が、量産に適した方法で容易に形成される。
以下、本発明に係る積層セラミック電子部品およびその製造方法の実施例について添付の図面を参照して説明する。なお、以下の実施例では、個産品を例にして説明するが、量産時にはマザーセラミックグリーンシートを使用して、マザーセラミック積層体を作成した後、このマザーセラミック積層体を所望のサイズのチップに切断して効率良くセラミック積層体を形成する。
図1に示すように、積層セラミックコンデンサ1は、内部電極3を設けたセラミックグリーンシート2と、内部電極4を設けたセラミックグリーンシート2と、予め電極を設けていない外層用セラミックグリーンシート2などで構成されている。
セラミックグリーンシート2は、誘電体セラミック粉末を有機バインダなどと一緒に混練したものを、ドクターブレード法などの方法でシート状にしたものである。
内部電極3,4はそれぞれ、容量形成部3a,4aと引出し部3b,4bとからなる。容量形成部3aと4aはセラミックグリーンシート2を介して互いに対向し、静電容量を形成する。引出し部3bはセラミックグリーンシート2の左辺に導出され、引出し部4bはセラミックグリーンシート2の右辺に導出されている。
内部電極3,4は、Ag,Pd,Cu,Niやこれらの合金などからなり、スクリーン印刷の方法により形成される。すなわち、図2に示すように、導電ペーストをセラミックグリーンシート2上に、内部電極3,4に対応した印刷部12を有するスクリーン印刷版11を用いて印刷することによって、内部電極3,4を形成する。
このとき、スクリーン印刷版11の印刷部12は、内部電極3,4の引出し部3b,4bに対応する部分12bのメッシュ開口率が、内部電極3,4の容量形成部3a,4aに対応する部分12aのメッシュ開口率よりも小さく設定されている。ここで、メッシュ開口率は、スクリーン印刷版11の印刷部12の単位面積当たりのメッシュの開口面積の割合を意味する。例えば、メッシュ開口率が小さいということは、単位面積当たりのメッシュの数は等しいが、メッシュの孔の大きさが小さい場合、あるいは、メッシュの孔の大きさは等しいが、単位面積当たりのメッシュの数が少ない場合である。本実施例では、図2の円A,Bに示すように、単位面積当たりのメッシュの数は等しいが、メッシュの孔の大きさを小さくした。
これにより、メッシュ開口率が大きい部分12aからは導電ペーストが相対的に多く吐き出されるので、容量形成部3a,4aの空隙率が小さくなり、容量形成部3a,4aが緻密になる。従って、容量形成部3a,4aの面積のばらつきが小さくなり、静電容量のばらつきを抑えることができる。ここで、空隙率とは、各内部電極3,4を平面視した場合に、内部電極を形成すべき領域内に、内部電極の存在しない領域がスポット的に分布している比率をいう。
一方、メッシュ開口率が小さい部分12bからは導電ペーストが相対的に少なく吐き出されるので、引出し部3b,4bの空隙率が大きくなり、引出し部3b,4bは空隙が比較的多くなる。
各シート2は積み重ねられて圧着された後、空気雰囲気中にて500℃の温度に加熱され、有機バインダが燃焼される。その後、空気雰囲気中において1220℃で一体的に焼成され、図3に示すような直方体形状を有するセラミック積層体6とされる。このとき、内部電極3,4の引出し部3b,4bは空隙が比較的多いので、セラミック積層体6の焼成工程でのセラミックスと内部電極3,4との熱収縮差による内部応力が緩和される。
次に、セラミック積層体6の左右の端面が研磨される。このとき、セラミック積層体6の焼成工程でのセラミックスと内部電極3,4との熱収縮差による内部応力が緩和されているので、層間クラックやデラミネーション等が発生しにくい。さらに、セラミック積層体6の左右の端面に入出力外部電極7a,7bが形成される。外部電極7a,7bは、塗布焼付、スパッタリング、あるいは蒸着などの方法により形成される。外部電極7a,7bには、内部電極3,4の引出し部3a,4aがそれぞれ接続されている。さらに、外部電極7a,7bの表面に、はんだ付け性改善などの目的でNiめっきおよびSnめっきなどを施す。
以上の構成からなる積層セラミックコンデンサ1は、内部電極3,4の容量形成部3a,4aは緻密になり、容量形成部3a,4aの面積のばらつきが小さくなるので、静電容量のばらつきを抑えることができる。さらに、引出し部3b,4bの空隙率が容量形成部3a,4aの空隙率よりも大きいので、引出し部3b,4bは空隙が比較的多くなり、セラミック積層体6焼結時のセラミックスと内部電極3,4との熱収縮差による内部応力が緩和される。この結果、静電容量のばらつきが小さく、かつ、層間クラックやデラミネーション等が発生しにくい積層セラミックコンデンサ1を得ることができる。
より具体的には、表1に示すように、内部電極3,4の電極材料や部品のサイズを種々変えた積層セラミックコンデンサ1を作成して、その評価を行った。セラミックグリーンシート2の厚みは5μmで、内部電極3,4の総数は12である。また、表1中の空隙率はセラミックスと内部電極3,4の界面を剥離し、内部電極3,4の空隙率を画像解析によって求めた数値である。なお、表1において、本発明の範囲外にある試料番号には、「*」が付されている。
Figure 2006120698
表1より、容量形成部3a,4aの空隙率は、25%以下にする必要があることがわかる。容量形成部3a,4aの空隙率が25%を超えると、静電容量ばらつきが大きくなるからである(例えば試料番号5)。さらに、引出し部3b,4bの空隙率は、10%より大きく設定するとよいことがわかる。引出し部3b,4bの空隙率が10%以下であると、デラミネーション発生数が大きくなるからである(例えば試料番号3)。
なお、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。積層セラミック電子部品としては、積層コンデンサの他に、例えば積層LCフィルタ、積層バリスタなどがある。
本発明に係る積層セラミック電子部品の一実施例を示す分解斜視図。 図1に示した積層セラミック電子部品の製造方法を説明するための斜視図。 図1に示した積層セラミック電子部品の外観斜視図。
符号の説明
1…積層セラミックコンデンサ
2…セラミックグリーンシート
3,4…内部電極
3a,4a…容量形成部
3b,4b…引出し部
6…セラミック積層体
7a,7b…外部電極
11…スクリーン印刷版
12…印刷部
12a…内部電極の容量形成部に対応する部分
12b…内部電極の引出し部に対応する部分

Claims (3)

  1. 複数の内部電極が複数のセラミック層を介して互いに対向するように積層されてなるセラミック積層体を有する積層セラミック電子部品において、
    前記内部電極が、前記セラミック層を介して対向している容量形成部と前記セラミック積層体の端面に導出された引出し部とからなり、
    前記容量形成部の空隙率が25%以下であり、前記引出し部の空隙率が前記容量形成部の空隙率よりも大きいこと、
    を特徴とする積層セラミック電子部品。
  2. 前記引出し部の空隙率が10%より大きいことを特徴とする請求項1に記載の積層セラミック電子部品。
  3. セラミックグリーンシートを形成する工程と、内部電極形状に対応した印刷部を有するスクリーン印刷版を用いて、前記セラミックグリーンシートに導電ペーストをスクリーン印刷する工程と、前記セラミックグリーンシートを積層してセラミック積層体を形成する工程と、前記セラミック積層体を焼成する工程と、焼成された前記セラミック積層体に外部電極を形成する工程とを含む請求項1または請求項2に記載の積層セラミック電子部品の製造方法であって、
    前記スクリーン印刷版の印刷部は、前記内部電極の引出し部に対応する部分のメッシュ開口率が、前記内部電極の容量形成部に対応する部分のメッシュ開口率よりも小さいことを特徴とする積層セラミック電子部品の製造方法。
JP2004304286A 2004-10-19 2004-10-19 積層セラミック電子部品およびその製造方法 Expired - Fee Related JP4674456B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004304286A JP4674456B2 (ja) 2004-10-19 2004-10-19 積層セラミック電子部品およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004304286A JP4674456B2 (ja) 2004-10-19 2004-10-19 積層セラミック電子部品およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006120698A true JP2006120698A (ja) 2006-05-11
JP4674456B2 JP4674456B2 (ja) 2011-04-20

Family

ID=36538330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004304286A Expired - Fee Related JP4674456B2 (ja) 2004-10-19 2004-10-19 積層セラミック電子部品およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4674456B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101070095B1 (ko) 2009-12-10 2011-10-04 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
JP2017212375A (ja) * 2016-05-26 2017-11-30 日本特殊陶業株式会社 静電チャック又は電極内蔵サセプタ
JP7468498B2 (ja) 2021-12-13 2024-04-16 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0555077A (ja) * 1991-08-29 1993-03-05 Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd セラミツクコンデンサー電極用導体ペースト
JPH0969465A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層セラミックコンデンサとその製造方法
JP2000277382A (ja) * 1999-03-29 2000-10-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多連型積層セラミックコンデンサ及びその製造方法
JP2000331866A (ja) * 1999-03-17 2000-11-30 Hitachi Metals Ltd 積層型セラミック電子部品
JP2002353068A (ja) * 2001-05-29 2002-12-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層コンデンサおよびその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0555077A (ja) * 1991-08-29 1993-03-05 Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd セラミツクコンデンサー電極用導体ペースト
JPH0969465A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層セラミックコンデンサとその製造方法
JP2000331866A (ja) * 1999-03-17 2000-11-30 Hitachi Metals Ltd 積層型セラミック電子部品
JP2000277382A (ja) * 1999-03-29 2000-10-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多連型積層セラミックコンデンサ及びその製造方法
JP2002353068A (ja) * 2001-05-29 2002-12-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層コンデンサおよびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101070095B1 (ko) 2009-12-10 2011-10-04 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
JP2017212375A (ja) * 2016-05-26 2017-11-30 日本特殊陶業株式会社 静電チャック又は電極内蔵サセプタ
JP7468498B2 (ja) 2021-12-13 2024-04-16 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP4674456B2 (ja) 2011-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5297011B2 (ja) 積層セラミックコンデンサ及びその製造方法
JP7131658B2 (ja) 電子部品
KR101496814B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터, 그 제조방법 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
JP2011139021A (ja) 積層セラミックキャパシタ
JP2018067568A (ja) 積層セラミックコンデンサの製造方法
JP2017212272A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP2013115422A (ja) 積層セラミック電子部品
JP4983873B2 (ja) 積層電子部品
JP2018037473A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP2012227197A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP2021086972A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP4674456B2 (ja) 積層セラミック電子部品およびその製造方法
JP7283221B2 (ja) 電子部品の製造方法
JP2003309039A (ja) 積層セラミック電子部品の製造方法および積層セラミック電子部品
JP2005072452A (ja) 積層型電子部品およびその製法
JP2009246105A (ja) 積層コンデンサ
JP4461814B2 (ja) 積層セラミック電子部品の製造方法
JP2000269074A (ja) 積層セラミックコンデンサとその製造方法
KR101771737B1 (ko) 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법
JP5245645B2 (ja) 積層型コイル部品の製造方法
JP7180569B2 (ja) 積層セラミック電子部品
JP6015221B2 (ja) セラミック電子部品の製造方法
JP6117557B2 (ja) 積層型電子部品
JP4788484B2 (ja) セラミック積層体の製造方法
JP2018107422A (ja) 積層セラミックコンデンサ及び積層セラミックコンデンサの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070725

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091005

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091013

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091211

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100601

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100720

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101228

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110110

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140204

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4674456

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees