JP2005536040A - 半導体基板上に複数のゲート積層物を有する半導体基板の製造方法ならびに半導体構造 - Google Patents
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Abstract
Description
集積DRAMメモリー回路のメモリーセルは、ビット線コンタクト、選択トランジスタおよび蓄積キャパシタを有する。そのキャパシタは、溝形キャパシタまたはゲート線上の積層キャパシタとして具体化することができる。
例えばビット線コンタクト用のドープSiO2の前記の自己整合コンタクトホールエッチングを最適化しようと、これまでにかなりの努力が行われてきた。主要な問題は、収縮係数によって側面の寸法は小さくなるが、ゲート積層物の高さはほとんど減らないという点にある。それによって、重要なコンタクトホールエッチングにおけるいわゆるアスペクト比(高さ/幅)がますます悪くなる。
本発明に係る製造方法ならびに半導体構造が特に有利な点は、改善されたスペース条件により、コンタクトホールエッチング時の短絡の不具合エリアの減少を実現可能にし、その結果、その工程における歩留まり、例えばDRAM作製工程での歩留まりを大幅に上昇可能にすることを意味する点である。さらに本発明は、不具合エリアのさらなる縮小の可能性を与えるものである。
ある好ましい展開によれば、ゲート積層物は半導体基板上に平行な帯状に設けられる。
別の好ましい展開によれば、ゲート積層物は半導体基板上にほぼ同じ形状及び間隔で設けられる。
別の好ましい展開によれば、制御電極として機能するゲート積層物の側壁上における側壁オキサイドの除去は、マスクを用いて行われる。
別の好ましい展開によれば、ゲート積層物は、ポリシリコンから形成された下側の第1の層と、金属ケイ化物、特にケイ化タングステンから形成されたオーバーレイの第2の層とを有する。
別の好ましい展開によれば、前記窒化ケイ素側壁スペーサーは、ゲート積層物上の側壁上に形成される。
図1〜5は、本発明の一実施形態として、半導体基板上に複数のゲート積層物を有する半導体構造の製造方法の一連の方法段階を図示したものである。
図1において、参照符号1は、シリコン半導体基板を指し、そこにおいて、相当するメモリーセルに対して溝形キャパシタTK1、TK2、TK3、TK4が設けられている。参照符号60〜65は、半導体基板1に導入されたドーピング領域を指し、それらは本セクションで示される選択トランジスタのドレイン領域およびソース領域であり、それらはゲート積層物GS2、GS3、GS6、GS7によって駆動される。領域60、62、63、65は、関連する蓄積キャパシタTK1〜TK4のための接続領域として同時に機能する。領域61および64はそれぞれ、2つの隣接する選択トランジスタと同時に関連する。
図2に示される工程段階において、ゲート積層物GS1〜GS8の2つの側壁は酸化されて、一般的に4〜15nmの厚さを有する通常の側壁オキサイド40を形成する。この側壁オキサイド40は、ビット線とゲート線との間の短絡を防止するための電気的絶縁を提供する。
留意すべき点として、後にビット線コンタクトを形成しなければならないゲート積層物GS2とGS3との間、ゲート積層物GS6とGS7との間のこれらの領域において、両側で側壁オキサイドが薄くなった結果として、後により多くの横側方向のスペースが利用可能となる。
以上、好ましい例示的な実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、多様な形態で変更を加えることが可能である。
Claims (12)
- 半導体基板(1)上に複数のゲート積層物(GS1〜GS8)を有する半導体構造を製造する方法であって、前記ゲート積層物は蓄積キャパシタ(TK1〜TK4)を有するメモリーセルの個々の選択トランジスタ用の制御電極として機能し、該製造方法は、
ゲート誘電体(5)を備える前記半導体基板(1)上に、前記ゲート積層物(GS1〜GS8)を互いに隣接するように設ける工程と、
前記ゲート積層物(GS1〜GS8)の未被覆の側壁上に側壁オキサイド(40)を形成する工程と、
前記関連する蓄積キャパシタ(TK1〜TK4)から離れ、制御電極として機能する前記ゲート積層物(GS1〜GS8)の側壁上で、前記側壁オキサイド(40)を少なくとも部分的に除去する工程と
を有することを特徴とする方法。 - 前記ゲート積層物(GS1〜GS8)は前記半導体基板(1)上に平行な帯状に設けられる請求項1に記載の方法。
- 前記ゲート積層物(GS1〜GS8)は前記半導体基板(1)上にほぼ同じ形状および間隔で設けられる請求項2に記載の方法。
- 前記選択トランジスタのアクティブ領域(60〜65)は前記ゲート積層物(GS1〜GS8)間の中間部に自己整合的に設けられる請求項3に記載の方法。
- 制御電極として機能する前記ゲート積層物(GS1〜GS8)の側壁上における前記側壁オキサイド(40)の除去はマスク(M)を用いて行われる請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記側壁オキサイド(40)は、2つの選択トランジスタ用の接続部として同時に機能する個々のアクティブ領域(61、64)の上側で、隣接するゲート積層物(GS2、GS3;GS6、GS7)の対向する側壁上で除去される請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 個々のビット線コンタクトが、少なくとも部分的に除去された側壁オキサイド(40)を有する隣接するゲート積層物(GS2、GS3;GS6、GS7)の側壁間に形成される請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ゲート積層物(GS1〜GS8)は、ポリシリコンから形成された下側の第1の層(10)と、金属ケイ化物、特にケイ化タングステンから形成されたオーバーレイの第2の層(20)とを有する請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ゲート積層物(GS1〜GS8)は、前記ゲート誘電体(5)上に前記第1の層、前記オーバーレイの第2の層およびオーバーレイの第3の層(10、20、30)を塗布およびパターニングすることにより形成される請求項8に記載の方法。
- 前記第3の層(30)は窒化ケイ素層である請求項9に記載の方法。
- 前記窒化ケイ素側壁スペーサー(40)は、前記ゲート積層物(GS1〜GS8)上の前記側壁上に形成される請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。
- ゲート誘電体(5)が設けられた半導体基板(1)上に複数のゲート積層物(GS1〜GS7)を有する半導体構造であって、前記ゲート積層物は蓄積キャパシタ(TK1〜TK4)を有するメモリーセルの個々の選択トランジスタ用の制御電極として機能し、前記側壁オキサイド(40)は前記関連する蓄積キャパシタ(TK1〜TK4)から離れた制御電極として機能する前記ゲート蓄積物(GS1〜GS8)の側壁上で薄膜化または除去されている半導体構造。
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