JP2005327578A - 荷電粒子線の調整方法、及び荷電粒子線装置 - Google Patents
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Abstract
本発明は、測定対象へのダメージの低減と、測定の高精度化の両立が可能な荷電粒子線装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
上記目的を解決するため、本発明によれば、試料上に形成された第1のパターンへの荷電粒子線の走査に基づいて形成される第1の画像に基づいて、荷電粒子線の焦点,画像の明るさ、及び/又は画像のコントラストを調整し、当該調整された荷電粒子線、及び/又は調整された画像を形成する調整条件を用いて、第1のパターンとは異なる第2のパターンに対する前記荷電粒子線の走査を行う。
【選択図】図2
Description
25により移動が制御される。
28内の画像メモリに蓄積されるようになっている。なお、本実施例装置は二次電子検出器12を備えているが、これに限られることはなく、反射電子を検出する反射電子検出器や光,電磁波,X線,イオンを検出する検出器を二次電子検出器に替えて、或いは一緒に備えることも可能である。
(S301)。マッチングパターンとは上述のように、その近傍に存在しないような特有の形状を持っているパターンであり、あらかじめそのウェハ上の座標がわかっているものである。
(S306)。
AFCのいずれで測長の高精度化を図るか、試料条件やオペレータの経験則に基づいて任意に設定することができる。
30…制御演算装置。
Claims (8)
- 試料への荷電粒子線の走査によって、前記試料から放出される荷電粒子を検出し、当該荷電粒子の検出に基づいて、前記試料上の走査領域の画像を形成し、当該形成された画像に基づいて、前記荷電粒子線の焦点,前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストを調整する荷電粒子線装置の調整方法において、
前記試料上に形成された第1のパターンへの前記荷電粒子線の走査に基づいて形成される第1の画像に基づいて、前記荷電粒子線の焦点,前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストを調整し、当該調整値を記憶し、当該記憶された調整条件を用いて、前記第1のパターンとは異なる第2のパターンに対する前記荷電粒子線の走査を行うことを特徴とする荷電粒子線装置の調整方法。 - 請求項1において、
前記第1のパターンは、位置決め用のパターンであり、前記第2のパターンは、測定対象パターンであることを特徴とする荷電粒子線装置の調整方法。 - 請求項1において、
前記焦点調整は、前記試料を集束するための対物レンズ、或いは前記試料に到達する前記荷電粒子線の到達エネルギーを調整するために、前記試料に印加される電圧を調整することによって行われることを特徴とする荷電粒子線装置の調整方法。 - 請求項1において、
前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストは、前記画像の階調値を調整することによって調整されることを特徴とする荷電粒子線装置の調整方法。 - 請求項1において、
前記第2のパターンの電子線による走査時に、前記第1のパターンの焦点調整の条件と、前記第1のパターンと前記第2のパターンの高さの差に基づいて決定した焦点調整の制御パラメータを用いることを特徴とする荷電粒子線装置の調整方法。 - 荷電粒子源と、当該荷電粒子源から放出された荷電粒子線を走査する走査偏向器と、前記荷電粒子線の照射に基づいて試料から放出される荷電粒子を検出する検出器と、当該検出器の出力に基づいて画像を形成する制御装置を備えた荷電粒子線装置において、
前記制御装置は、前記試料上に形成された第1のパターンへの前記荷電粒子線の走査に基づいて形成される第1の画像に基づいて、前記荷電粒子線の焦点,前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストを調整し、当該調整条件を記憶し、当該記憶された調整条件を用いて、前記第1のパターンとは異なる第2のパターンに対する前記荷電粒子線の走査を行うことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、当該荷電粒子源から放出された荷電粒子線を走査する走査偏向器と、前記荷電粒子線の照射に基づいて試料から放出される荷電粒子を検出する検出器と、当該検出器の出力に基づいて画像を形成すると共に、当該画像上のパターンと、予め記憶されたパターン形状のマッチングにより、前記荷電粒子線の走査位置を調整する制御装置を備えた荷電粒子線装置において、
前記制御装置は、前記試料上に形成されたマッチングパターンと、測定対象パターンの内、マッチングパターンにおいて選択的に、前記荷電粒子線の焦点,前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストを評価するための画像を形成することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7において、
前記制御装置は、前記荷電粒子線の焦点,前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストの評価値に基づいて、前記荷電粒子線の焦点,前記画像の明るさ、及び/又は前記画像のコントラストを調整し、当該調整値を記憶して、前記測定対象パターンに前記荷電粒子線を走査したときの前記荷電粒子線の調整条件とすることを特徴とする荷電粒子線装置。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007329081A (ja) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置、及びそれを制御するためのプログラム |
JP2010182549A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 |
WO2011089913A1 (ja) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡 |
JP2012178359A (ja) * | 2006-02-17 | 2012-09-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 撮像方法及び撮像装置 |
JP2019160432A (ja) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 断面加工観察装置、断面加工観察方法及びプログラム |
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Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4194526B2 (ja) * | 2004-05-14 | 2008-12-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線の調整方法、及び荷電粒子線装置 |
JP4579712B2 (ja) * | 2005-02-23 | 2010-11-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査電子顕微鏡 |
JP5241353B2 (ja) * | 2007-07-31 | 2013-07-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 |
US8642959B2 (en) | 2007-10-29 | 2014-02-04 | Micron Technology, Inc. | Method and system of performing three-dimensional imaging using an electron microscope |
DE102008038216A1 (de) * | 2008-08-18 | 2010-03-11 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Verfahren zum Erzeugen von Korpuskularstrahlbildern mit einem Korpuskularstrahlgerät |
CA2835713C (en) * | 2011-05-13 | 2023-04-04 | Fibics Incorporated | Microscopy imaging method and system |
US9029810B2 (en) * | 2013-05-29 | 2015-05-12 | Kla-Tencor Corporation | Using wafer geometry to improve scanner correction effectiveness for overlay control |
JP2019204618A (ja) * | 2018-05-22 | 2019-11-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡 |
JP7437262B2 (ja) * | 2020-07-31 | 2024-02-22 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子線装置および電気ノイズの計測方法 |
WO2023131570A1 (en) * | 2022-01-05 | 2023-07-13 | Asml Netherlands B.V. | Software, methods, and systems for determination of a local focus point |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62169458A (ja) | 1986-01-22 | 1987-07-25 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置 |
JPH077653B2 (ja) | 1987-04-11 | 1995-01-30 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡による観察装置 |
JPH04269613A (ja) | 1991-02-25 | 1992-09-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 荷電ビームの焦点合わせ方法 |
JP3081393B2 (ja) * | 1992-10-15 | 2000-08-28 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡 |
JP3243784B2 (ja) | 1995-11-07 | 2002-01-07 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | 作業テーブルの位置決め装置 |
JP3545542B2 (ja) | 1996-07-09 | 2004-07-21 | 大日本スクリーン製造株式会社 | ウェハの回転方向検出方法 |
JP3892565B2 (ja) * | 1997-02-28 | 2007-03-14 | 株式会社東芝 | パターン形成方法 |
JP2000048756A (ja) * | 1998-07-27 | 2000-02-18 | Seiko Instruments Inc | 荷電粒子ビーム光学系の調整を行う方法およびその装置 |
JP2001068048A (ja) | 1999-06-23 | 2001-03-16 | Hitachi Ltd | 荷電粒子線装置および自動非点収差調整方法 |
JP3870636B2 (ja) | 1999-11-22 | 2007-01-24 | 株式会社日立製作所 | 走査形電子顕微鏡 |
JP3951590B2 (ja) * | 2000-10-27 | 2007-08-01 | 株式会社日立製作所 | 荷電粒子線装置 |
JP2002245960A (ja) | 2001-02-20 | 2002-08-30 | Nikon Corp | 荷電粒子ビーム装置及びそのような装置を用いたデバイス製造方法 |
US6864493B2 (en) * | 2001-05-30 | 2005-03-08 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam alignment method and charged particle beam apparatus |
WO2002103337A2 (en) * | 2001-06-15 | 2002-12-27 | Ebara Corporation | Electron beam apparatus and method for using said apparatus |
JP3997066B2 (ja) * | 2001-08-20 | 2007-10-24 | 株式会社日立製作所 | 電子線を用いたプロセス変動監視システムおよび方法 |
WO2003021186A1 (fr) | 2001-08-29 | 2003-03-13 | Hitachi, Ltd. | Procede pour mesurer les dimensions d'un echantillon et microscope electronique a balayage |
JP3513500B2 (ja) | 2001-10-31 | 2004-03-31 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 基板検査方法及び基板検査装置 |
US7361894B2 (en) * | 2002-10-22 | 2008-04-22 | Hitachi High-Technologies Corporation | Method of forming a sample image and charged particle beam apparatus |
JP4014916B2 (ja) | 2002-04-11 | 2007-11-28 | 株式会社キーエンス | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP4401814B2 (ja) * | 2004-02-25 | 2010-01-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 測長用標準部材及び電子ビーム測長装置 |
JP4194526B2 (ja) * | 2004-05-14 | 2008-12-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線の調整方法、及び荷電粒子線装置 |
JP4276140B2 (ja) * | 2004-06-25 | 2009-06-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料 |
JP4579712B2 (ja) * | 2005-02-23 | 2010-11-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査電子顕微鏡 |
-
2004
- 2004-05-14 JP JP2004144284A patent/JP4194526B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-05-12 US US11/127,248 patent/US7154090B2/en active Active
-
2006
- 2006-12-04 US US11/607,928 patent/US7511272B2/en active Active
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8853630B2 (en) | 2006-02-17 | 2014-10-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning electron microscope and a method for imaging a specimen using the same |
JP2012178359A (ja) * | 2006-02-17 | 2012-09-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 撮像方法及び撮像装置 |
US8642957B2 (en) | 2006-02-17 | 2014-02-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning electron microscope and a method for imaging a specimen using the same |
JP2007329081A (ja) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置、及びそれを制御するためのプログラム |
JP2010182549A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 |
JP5624999B2 (ja) * | 2010-01-25 | 2014-11-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡 |
WO2011089913A1 (ja) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡 |
US9110384B2 (en) | 2010-01-25 | 2015-08-18 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning electron microscope |
JP2019160432A (ja) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 断面加工観察装置、断面加工観察方法及びプログラム |
JP7171010B2 (ja) | 2018-03-07 | 2022-11-15 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 断面加工観察装置、断面加工観察方法及びプログラム |
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US11276552B2 (en) | 2019-12-12 | 2022-03-15 | Hitachi High-Tech Corporation | Method for image adjustment and charged particle beam system |
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