JP2005175165A - 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】デラミネーションの発生を抑制するとともに、内部電極の位置ずれの有無を確実に検出することが可能な信頼性の高い積層セラミックコンデンサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】内部電極３ａ，３ｂの、容量形成部７ａ，７ｂの両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した、一方側および他方側の２本の延長線Ｘ，Ｙのうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するように、容量形成に寄与しないダミー電極１０を配設し、所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極１０が、一方側および他方側の２本の延長線Ｘ，Ｙ上に位置するようにする。
また、各内部電極の一方側および他方側の両方の延長線上にダミー電極を配設する。
【選択図】図１

Description

本願発明は積層セラミックコンデンサおよび積層セラミックコンデンサの製造方法に関し、詳しくは、内部電極の配設状態の良否を判定するための判定マークを備えた積層セラミックコンデンサおよびその製造方法に関する。

積層セラミックコンデンサは、図１２(ａ)，(ｂ)に示すように、セラミック積層素子５１中に、複数の内部電極５３ａ，５３ｂがセラミック層５２を介して互いに対向するように配設され、その一端側が交互にセラミック積層素子５１の異なる側の端面に引き出されており、かつ、セラミック積層素子５１の両端側に、内部電極５３ａ，５３ｂと導通するように一対の外部電極５４ａ，５４ｂが配設された構造を有している。

外部電極５４ａ，５４ｂはＡｇ粉末などの導電性金属材料、ガラスフリット、樹脂および溶剤などを含有する導電ペーストを塗布して焼き付けることにより形成されており、外部電極５４ａ，５４ｂの表面には、通常、Ａｇ電極のはんだくわれを防止するためのＮｉめっき膜５５およびはんだ付け性を向上させるためのＳｎめっき膜５６が形成されている。

ところで、上述のような構成を有する積層セラミックコンデンサにおいて、ＮｉめっきやＳｎめっきなどを行って外部電極５４ａ，５４ｂの表面にＮｉめっき膜５５やＳｎめっき膜５６を形成する際に、めっき液が、セラミック積層素子５１の端面の内部電極の露出している部分から侵入して内部欠陥を引き起こすという問題点がある。

そこで、図１３に示すように、内部電極５３ａ，５３ｂの、セラミック積層素子５１の端面に引き出される部分（引き出し部）６３ａ，６３ｂの幅Ｗ₁を、容量形成部５７ａ，５７ｂの幅Ｗ₂より狭くして、めっき液の侵入を抑制するようにした積層セラミックコンデンサが提案されている（例えば特許文献１，特許文献２参照）。

しかしながら、内部電極５３ａ，５３ｂの容量形成部５７ａ，５７ｂと引き出し部６３ａ，６３ｂの幅が異なっているので、セラミック積層素子５１（図１２）の端面に露出した内部電極５３ａ，５３ｂを観察しても内部電極５３ａ，５３ｂの容量形成部５７ａ，５７ｂが適正な位置に配設されているか否かを判定することができないという問題点がある。すなわち、内部電極５３ａ，５３ｂの、引き出し部６３ａ，６３ｂ以外の部分は、外部との導通などが生じたりしないように、セラミック積層素子５１の側面や端面から外部に露出せず、セラミック積層素子５１の内部に収まっていることが必要になるが、引き出し部６３ａ，６３ｂの幅Ｗ₁を容量形成部５７ａ，５７ｂの幅Ｗ₂より狭くした場合、セラミック積層素子５１の端面への内部電極５３ａ，５３ｂの露出状態を観察しても内部電極５３ａ，５３ｂの容量形成部５７ａ，５７ｂが適正な位置に配設されていることを確認することができないという問題点がある。

また、引き出し部分の幅を狭くすると、セラミックグリーンシートを積層し、圧着することにより、積層体（マザー積層体）を形成する工程で、引き出し部６３ａ，６３ｂの両側の内部電極の存在していない部分では、圧力がかかりにくく、十分に加圧されないため、セラミックグリーンシートの境界部での剥がれ（デラミネーション）が発生しやすくなり、十分な信頼性を確保することが困難であるという問題点がある。

また、引き出し部６３ａ，６３ｂの両側に、内部電極の存在していない部分が存在するため、図１４に示すように、セラミック積層素子５１の肩の部分が丸みを帯びた形状となることにより、実装信頼性が低下するという問題点がある。
また、上記従来例の構造では、内部電極５３ａ，５３ｂの引き出し方向へのずれも、セラミック積層素子を切断しなければ、確認できず、信頼性が低いという問題点がある。
実開昭５４−１６６５６０号公報 特開平５−３２６３１７号公報

本願発明は、上記問題点を解決するものであり、デラミネーションの発生を抑制するとともに、内部電極の位置ずれの有無を確実に検出することが可能な信頼性の高い積層セラミックコンデンサおよびその製造方法を提供することを課題とする。

上記課題を解決するために、本願発明（請求項１）の積層セラミックコンデンサは、
複数の内部電極がセラミック層を介して互いに対向するように配設され、かつ、その一端側が交互に異なる側の端面に引き出されたセラミック積層素子の両端側に、内部電極と導通するように外部電極が配設された構造を有する積層セラミックコンデンサにおいて、
セラミック積層素子の端面への内部電極の引き出し部の幅が、内部電極の容量形成に寄与する容量形成部の幅より狭く形成されているとともに、
所定の内部電極の、容量形成部の両側辺を、内部電極引き出し方向に延長した一方側および他方側の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するように、容量形成に寄与しないダミー電極が配設され、かつ、
所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、所定の複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極が一方側の延長線上および他方側の延長線上に位置しており、
セラミック積層素子の端面へのダミー電極の露出状態を調べることにより、少なくとも内部電極の幅方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていること
を特徴としている。

また、請求項２の積層セラミックコンデンサは、前記ダミー電極が、各内部電極の容量形成部の両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した一方側および他方側の両方の延長線上に配設されていることを特徴としている。

また、請求項３の積層セラミックコンデンサは、前記ダミー電極として、内部電極の引き出し方向長さが、内部電極の引き出し方向への位置ずれ許容範囲より短いダミー電極を備えており、該ダミー電極のセラミック積層素子の端面への露出の有無により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていることを特徴としている。

また、請求項４の積層セラミックコンデンサは、前記ダミー電極の形状を、内部電極の引き出し方向の位置により幅が異なるような形状として、セラミック積層素子の端面に露出したダミー電極の幅により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていることを特徴としている。

また、請求項５の積層セラミックコンデンサは、前記ダミー電極と平行に、ダミー電極よりも長さの短い第２のダミー電極を配設し、セラミック積層素子の端面への第２のダミー電極の露出の有無により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていることを特徴としている。

また、本願発明（請求項６）の積層セラミックコンデンサの製造方法は、
複数の内部電極がセラミック層を介して互いに対向するように配設され、かつ、その一端側が交互に異なる側の端面に引き出されたセラミック積層素子の両端側に、内部電極と導通するように外部電極が配設された構造を有する積層セラミックコンデンサの製造方法において、
一対の容量形成部領域を両端側に備え、中央部に両端側の容量形成部領域を接続する、容量形成部の幅よりも幅の狭い、引き出し部領域を備え、引き出し部領域で切断することにより２個の内部電極に分割される複数の内部電極パターンと、所定の内部電極パターンを構成する一方の容量形成部領域の両側辺を、他方側の容量形成部領域の両側辺に向かって延長した、一方側および他方側の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するようにダミー電極パターンが配設されたセラミックグリーンシートを、交互に内部電極の引き出し方向となる方向に所定量だけ位置をずらせて積層、圧着して、マザー積層体を形成する工程と、
前記マザー積層体を、内部電極パターンの中央部の引き出し部領域が切断されるように所定の位置で切断することにより、内部電極を備え、かつ、所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、所定の複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極が一方側の延長線上および他方側の延長線上に位置する構造を有する個々の未焼成のセラミック積層素子に分割する工程と、
前記未焼成のセラミック積層素子を焼成する工程と、
焼成されたセラミック積層素子に外部電極を形成する工程と
を具備することを特徴としている。

また、請求項７の積層セラミックコンデンサの製造方法は、前記セラミックグリーンシートとして、前記一方側および他方側の両方の延長線上にダミー電極パターンが配設されたセラミックグリーンシートを用いることを特徴としている。

本願発明（請求項１）の積層セラミックコンデンサは、所定の内部電極の、容量形成部の両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した、一方側および他方側の２本の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するように、容量形成に寄与しないダミー電極を配設し、所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、所定の複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極が一方側の延長線上および他方側の延長線上に位置するようにしているので、セラミック積層素子の端面へのダミー電極の露出状態を調べることにより、内部電極の幅方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを確実に判定することが可能になり、不良品を除去して、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを確実に得ることが可能になる。

また、請求項２の積層セラミックコンデンサのように、ダミー電極を、各内部電極の容量形成部の両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した一方側および他方側の両方の延長線上に配設することにより、すべての内部電極について、幅方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否か確実に判定することが可能になり、さらに信頼性を向上させることが可能になる。

また、請求項３の積層セラミックコンデンサのように、ダミー電極として、内部電極の引き出し方向長さが、内部電極の引き出し方向への位置ずれ許容範囲より短いダミー電極を備えた構成とすることにより、ダミー電極の、セラミック積層素子の端面への露出の有無により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるようになり、さらに信頼性の高い積層セラミックコンデンサを得ることが可能になる。
なお、本願請求項３の積層セラミックコンデンサにおいては、複数のダミー電極のすべてに、または一部に、上記引き出し方向長さが、内部電極の引き出し方向への位置ずれ許容量より短いダミー電極を用いることが可能である。

また、請求項４の積層セラミックコンデンサのように、ダミー電極の形状を、内部電極の引き出し方向の位置により幅が異なるような形状とした場合、セラミック積層素子の端面に露出したダミー電極の幅により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かおよび位置ずれの大きさを判定することができるようになり、さらに信頼性の高い積層セラミックコンデンサを得ることが可能になる。
内部電極の引き出し方向の位置により幅が異なるような形状としては、例えば、延長線上に一辺が位置するような三角形状などが例示される。

また、請求項５の積層セラミックコンデンサのように、ダミー電極と平行に、ダミー電極よりも長さの短い第２のダミー電極を配設するようにした場合にも、セラミック積層素子の端面への第２のダミー電極の露出の有無により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを効率よく判定することが可能になる。
なお、第２のダミー電極の配設数に制約はなく、一つでもよく複数でもよい。さらに、複数とする場合においては、第２のダミー電極のすべてを同じ長さとすることも可能であり、また、一部あるいは全部を異なる長さとすることも可能である。

また、本願発明（請求項６）の積層セラミックコンデンサの製造方法は、一対の容量形成部領域を両端側に備え、中央部に容量形成部領域を接続する、容量形成部の幅よりも幅の狭い、引き出し部領域を備え、引き出し部領域で切断することにより２個の内部電極に分割される複数の内部電極パターンと、一方の容量形成部領域の両側辺を、他方側の容量形成部領域の両側辺に向かって延長した、一方側および他方側の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するようにダミー電極パターンが配設されたセラミックグリーンシートを、交互に内部電極の引き出し方向となる方向に所定量だけ位置をずらせて積層、圧着して、マザー積層体を形成し、これを内部電極パターンの中央の引き出し部となる部分が切断されるように所定の位置で切断した後、焼成し、外部電極を形成するようにしているので、所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、所定の複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極が一方側の延長線上および他方側の延長線上に位置する構造を備えた積層セラミックコンデンサを得ることが可能になる。そして、かかる積層セラミックコンデンサにおいては、セラミック積層素子の端面へのダミー電極の露出状態を調べることにより、内部電極の幅方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを確実に判定することが可能であるため、不良品を除去して、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを確実に得ることが可能になる。

また、請求項７の積層セラミックコンデンサの製造方法のように、セラミックグリーンシートとして、一方側および他方側の両方の延長線上にダミー電極パターンが配設されたセラミックグリーンシートを用いることにより、各内部電極の一方側および他方側の両方の延長線上にダミー電極が配設され、すべての内部電極について、幅方向への位置ずれ量を確認することが可能な、さらに信頼性の高い積層セラミックコンデンサを効率よく製造することが可能になる。

以下、本願発明の実施例を示して、本願発明の特徴とするところをさらに詳しく説明する。

図１(ａ)は本願発明の一実施例にかかる積層セラミックコンデンサを構成するセラミック積層素子の、内部電極およびダミー電極の配設態様を示す透視平面図、図１(ｂ)は内部電極３ａ，３ｂの形状を示す分解斜視図、図１(ｃ)は図１(ａ)のＣ−Ｃ線断面図（側面断面図）、図２(ａ)は本願発明の一実施例にかかる積層セラミックコンデンサの正面断面図、図２(ｂ)は斜視図である。

この実施例の積層セラミックコンデンサは、図１(ａ)，(ｂ)，(ｃ)、および図２(ａ)，(ｂ)に示すように、複数の内部電極３ａ，３ｂがセラミック層２を介して互いに対向するように配設され、かつ、その一端側が交互に異なる側の端面に引き出されたセラミック積層素子（積層セラミックコンデンサ素子）１の両端側に、外部電極４ａ，４ｂが形成され、かつ、外部電極４ａ，４ｂの表面に、はんだ食われを抑制するためのＮｉめっき膜５およびはんだ付け性を向上させるためのＳｎめっき膜６が順に形成された構造を有している。

そして、この積層セラミックコンデンサにおいては、セラミック積層素子１の端面に引き出される、内部電極３ａ，３ｂの引き出し部１３ａ，１３ｂの幅Ｗ₁が、他の内部電極３ａ，３ｂとセラミック層２を介して対向することにより容量形成に寄与する容量形成部７ａ，７ｂの幅Ｗ₂より狭く形成されているとともに、各内部電極３ａ，３ｂの、容量形成部７ａ，７ｂの両側辺を内部電極３ａ，３ｂの引き出し方向に延長した、一方側および他方側の２本の延長線ＸおよびＹ上にその主要部が位置するように、容量形成に寄与しない線状のダミー電極１０が配設されている。

このように構成された積層セラミックコンデンサにおいては、図１(ｃ)に示すように、内部電極３ａ，３ｂの容量形成部７ａ，７ｂの両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した、一方側および他方側の２本の延長線Ｘ（図１(ａ)）およびＹ（図１(ａ)）上に、内部電極３ａ，３ｂを挟むようにダミー電極１０が配設された構造を有しているので、セラミック積層素子１の端面へのダミー電極１０の露出位置により、内部電極３ａ，３ｂの幅方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否か容易かつ確実に判定することができる。例えば、この実施例では、図１(ｃ)に示すように、各内部電極３ａ，３ｂの引き出し部１３ａ，１３ｂの両側のダミー電極１０がセラミック積層素子１の端面から検出されていれば、内部電極３ａ，３ｂの幅方向の位置ずれ量は許容範囲にあること（すなわち、容量形成部７ａ，７ｂがセラミック積層素子１の側面から必要なギャップを有してセラミック積層素子１内に確実に配設されていること）がわかる。したがって、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを確実に供給することが可能になる。

次に、上記の積層セラミックコンデンサを製造する方法について説明する。
上述のような構造を有する積層セラミックコンデンサを製造するにあたっては、まず、図３に示すように、セラミックグリーンシート２１上に、両端側に、他の内部電極とセラミック層を介して対向することにより容量形成に寄与する容量形成部７ａ，７ｂ（図１(ａ)，(ｂ)）となる領域（容量形成部領域）１７ａ，１７ｂが配設され、中央に、幅Ｗ₀₁（図４）が容量形成部領域１７ａ，１７ｂの幅Ｗ₀₂（図４）より狭い、セラミック積層素子１（図１）の端面への引き出し部となる領域（引き出し部領域）１３が配設され、中央の引き出し部領域１３で切断されることにより２個の内部電極３ａ，３ｂ（図１(ａ)，(ｂ)）に分割される複数の内部電極パターン２０と、所定の内部電極パターン２０を構成する一方の容量形成部領域１７ａ（１７ｂ）の両側辺を、他方側の容量形成部領域１７ｂ（１７ａ）の両側辺に向かって延長した、一方側および他方側の２本の延長線Ｘ’，Ｙ’（図４参照）の上に位置するように、容量形成に寄与しない線状のダミー電極パターン３０が配設されたセラミックグリーンシート２１を、交互に内部電極３ａ，３ｂ（図１）の引き出し方向に所定量だけ位置をずらせて積層し、圧着することにより、マザー積層体を形成する。なお、内部電極パターン２０とダミー電極パターン３０は、同一材料（導電ペースト）で形成することが工程を簡略化する見地からは望ましいが、異なる材料で形成することも可能である。

このとき、交互に位置をずらせて積層される内部電極パターン２０の位置関係は、図４に示すように、セラミックグリーンシートを介して互いに対向する内部電極パターン２０（２０ａ，２０ｂ）がそれぞれ備えている容量形成部領域１７ａ，１７ｂのうち、すなわち、内部電極パターン２０（２０ａ）の容量形成部領域１７ｂと内部電極パターン２０（２０ｂ）の容量形成部領域１７ａが互いに重なり合い、中央の引き出し部領域１３を切断した場合に、図１(ａ)に示すように、引き出し部１３ａ，１３ｂと、その両側のダミー電極１０がセラミック積層素子１の端面から露出するような位置関係とされている。

そして、上述のように構成されたマザー積層体を、内部電極パターン２０の中央の引き出し部領域１３が切断されるように所定の位置で切断し、個々の未焼成のセラミック積層素子１（図５）に分割する。

それから、セラミック積層素子を焼成した後、焼成されたセラミック積層素子に導電ペーストを塗布、乾燥し、焼き付けることにより外部電極を形成し、外部電極の表面に、はんだ食われを抑制するためのＮｉめっき膜およびはんだ付け性を向上させるためのＳｎめっき膜を順に形成する。
これにより、図１(ａ)，(ｂ)，(ｃ)および図２(ａ)，(ｂ)に示すような構造を有する積層セラミックコンデンサが得られる。

そして、このようにして積層セラミックコンデンサを製造する過程で、マザー積層体を所定の位置で切断して、個々の未焼成のセラミック積層素子１（図５）に分割したときに、内部電極の位置ずれ量が許容範囲にあるか否かの判定が行われる。

すなわち、図５(ａ)に示すように、内部電極の引き出し部１３ａ（１３ｂ）の両側のダミー電極１０がいずれも検出された場合、内部電極３ａ，３ｂの幅方向の位置ずれが許容範囲であると判定される。
一方、図５(ｂ)に示すように、セラミック積層素子１の側面から各ダミー電極１０，１０までの距離（ギャップ寸法）が両側で異なる場合には、狭い方のギャップ寸法を測定することにより許容範囲以内であるか否かの判定がなされる。
さらに、図５(ｃ)に示すように、内部電極の引き出し部１３ａ（１３ｂ）の両側のダミー電極１０のいずれか一方が検出されない場合、内部電極の幅方向の位置ずれが許容範囲を超えている（すなわち、内部電極の容量形成部がセラミック積層素子１の側面に露出するような状態である）と判定される。

その結果、内部電極の許容範囲を超える位置ずれの有無（内部電極の配設状態の良否）を容易かつ確実に判定することが可能になり、不良品を確実に除去して、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを提供することが可能になる。

また、図５(ａ)などに示すように、セラミック積層素子１がダミー電極１０を備えている場合、ダミー電極を備えていない場合に比べて、内部電極が配設されていない部分が少なくなり、圧着時に圧力の加わり方が均一になるため、デラミネーションの発生を抑制することが可能になる。

さらに、ダミー電極を備えていない従来の構造の場合、引き出し部の両側に、内部電極が配設されていない部分が存在するため、図１４に示すように、セラミック積層素子５１の肩の部分が丸みを帯びた形状となり、実装信頼性が低下するという問題があるが、本願発明の積層セラミックコンデンサはダミー電極を備えているため、セラミック積層素子の肩部が丸くなることを抑制することが可能で、従来の積層セラミックコンデンサで発生していた上述のような問題の発生を防止することが可能になる。

なお、上記実施例では、各内部電極の引き出し部の両側に線状のダミー電極が配設された構造を有する積層セラミックコンデンサを示したが、以下に説明するように、ダミー電極の配設態様に関し、種々の応用変形を加えることが可能である。

＜変形例１＞
図６(ａ)は、引き出し部領域１３で切断する前の内部電極パターン２０およびダミー電極パターン３０の形状および配設態様を示す図であり、図６(ｂ)は、個々のセラミック積層素子１に分割した状態の内部電極３ａ（３ｂ）とダミー電極１０の構成および位置関係を示す図である。

この積層セラミックコンデンサにおいては、図６(ｂ)に示すように、ダミー電極１０の長さを、内部電極３ａ，３ｂ（図６(ｂ)では内部電極３ａ）の引き出し方向への位置ずれ許容量より短くしている。

これにより、ダミー電極１０の、セラミック積層素子１の端面への露出の有無を調べることにより、内部電極３ａ，３ｂ（図６(ｂ)では内部電極３ａ）の引き出し方向への位置ずれ量が許容値（内部電極３ａ（３ｂ）の端部とセラミック積層素子１の端面の間に確保すべきギャップＧの大きさの目標値）の範囲内にあるか否かを判定することが可能になる。
すなわち、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲を超えると、ダミー電極の位置もそれだけずれるため、セラミック積層素子１の端面に露出しなくなり、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲を超えていることを検出することが可能になる。

＜変形例２＞
図７(ａ)は、変形例２にかかる積層セラミックコンデンサの、引き出し部領域１３で切断する前の内部電極パターン２０およびダミー電極パターン３０の形状および配設態様を示す図であり、図７(ｂ)は、個々のセラミック積層素子１に分割した状態の内部電極３ａ（３ｂ）とダミー電極１０の構成および位置関係を示す図である。なお、図７(ａ)，(ｂ)において、図６(ａ)，(ｂ)と同一符号を付した部分は同一または相当する部分を示している。

この積層セラミックコンデンサにおいては、図７(ｂ)に示すように、上記実施例１と同じ構成で、ダミー電極１０の内側に、さらに、ダミー電極１０よりも長さの短い第２のダミー電極１０ａが配設されている。したがって、第２のダミー電極１０ａの、セラミック積層素子１の端面への露出の有無により、内部電極３ａ，３ｂ（図７(ｂ)では内部電極３ａ）の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定することが可能になる。なお、内部電極３ａ（３ｂ）の幅方向への許容範囲を超える位置ずれは、ダミー電極１０により検出することができる。

＜変形例３＞
図８(ａ)は、変形例３にかかる積層セラミックコンデンサの、引き出し部領域１３で切断する前の内部電極パターン２０およびダミー電極パターン３０の形状および配設態様を示す図であり、図８(ｂ)は、個々のセラミック積層素子１に分割した状態の内部電極３ａ（３ｂ）とダミー電極１０の構成および位置関係を示す図である。なお、図８(ａ)，(ｂ)において、図６(ａ)，(ｂ)と同一符号を付した部分は同一または相当する部分を示している。

この積層セラミックコンデンサにおいては、図８(ｂ)に示すように、引き出し部１３ａ，１３ｂ（図８(ｂ)では引き出し部１３ａ）の両側のダミー電極として、長さの長いダミー電極１０と長さの短いダミー電極１０（１０ｂ）を配設しているので、内部電極３ａ，３ｂ（図８(ｂ)では内部電極３ａ）の引き出し方向への位置ずれを長さの短い方のダミー電極１０（１０ｂ）により検出し、内部電極３ａ（３ｂ）の幅方向への位置ずれの有無は、長さの長い方のダミー電極１０により検出することができる。

＜変形例４＞
図９(ａ)は、変形例４にかかる積層セラミックコンデンサの、引き出し部領域１３で切断する前の内部電極パターン２０およびダミー電極パターン３０の形状および配設態様を示す図であり、図９(ｂ)は、個々のセラミック積層素子１に分割した状態の内部電極３ａ（３ｂ）とダミー電極１０の構成および位置関係を示す図である。なお、図９(ａ)，(ｂ)において、図６(ａ)，(ｂ)と同一符号を付した部分は同一または相当する部分を示している。

この積層セラミックコンデンサにおいては、図９(ｂ)に示すように、ダミー電極１０の形状を、内部電極３ａ，３ｂ（図９(ｂ)では内部電極３ａ）の引き出し方向の位置により幅が異なるような扁平な３角形の形状としている。
したがって、内部電極の引き出し方向に位置ずれが生じた場合、セラミック積層素子１の端面に露出したダミー電極１０の幅が変化するため、セラミック積層素子１の端面に露出したダミー電極の幅を調べることにより、内部電極３ａ（３ｂ）の幅方向への許容範囲を超えた位置ずれの有無、および、内部電極３ａ（３ｂ）の引き出し方向の位置ずれ量を検出することが可能になる。

＜変形例５＞
図１０は、変形例５にかかる積層セラミックコンデンサの側面断面図である。 この積層セラミックコンデンサにおいては、図１０に示すように、ダミー電極１０を、各内部電極３ａ（３ｂ）のそれぞれの両側には配置せず、各内部電極３ａ（３ｂ）の引き出し部１３ａ，１３ｂの一方側にのみダミー電極１０を配設し、互いに対向する一対の内部電極の引き出し部についてみた場合には、その両側にダミー電極１０が配設された構造となるように構成されている。この構成の場合にも、内部電極の幅方向の位置ずれを検出することが可能になる。

＜変形例６＞
図１１は、変形例６にかかる積層セラミックコンデンサの側面断面図である。 この積層セラミックコンデンサにおいては、図１１に示すように、ダミー電極１０を、所定の内部電極３ａ（３ｂ）の引き出し部１３ａ，１３ｂの一方側にのみ配設し、所定の複数の内部電極についてみた場合には、両側にダミー電極１０が配設された構造となるように構成されている。この構成の場合にも、内部電極の幅方向の位置ずれを検出することが可能になる。

なお、本願発明は、上記実施例および変形例に限定されるものではなく、内部電極およびダミー電極の具体的な形状や積層数、ダミー電極の配設態様などに関し、発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることができる。

本願発明においては、所定の内部電極の、容量形成部の両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した、一方側および他方側の２本の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するように、容量形成に寄与しないダミー電極を配設し、セラミック積層素子の端面へのダミー電極の露出状態により、内部電極の位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定するようにしているので、内部電極の許容範囲を超える位置ずれを確実に検出して、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを確実に供給することが可能になる。
したがって、本願発明は、内部電極の引き出し部の幅を容量形成部よりも狭くした構造を有する積層セラミックコンデンサおよびその製造方法に広く適用することが可能である。

(ａ)は本願発明の一実施例にかかる積層セラミックコンデンサを構成するセラミック積層素子の、内部電極およびダミー電極の配設態様を示す透視平面図、(ｂ)は内部電極の形状を示す分解斜視図、(ｃ)は(ａ)のＣ−Ｃ線断面図（側面断面図）である。 (ａ)は本願発明の一実施例にかかる積層セラミックコンデンサの正面断面図、(ｂ)は斜視図である。 本願発明の積層セラミックコンデンサの製造に用いた、セラミックグリーンシートに配設した内部電極パターンおよびダミー電極パターンの形状および位置関係を示す平面図である。 本願発明の積層セラミックコンデンサの製造に用いた、セラミックグリーンシートに配設した内部電極パターンおよびダミー電極パターンの重なり状態を示す図である。 (ａ)，(ｂ)，(ｃ)は、本願発明の一実施例にかかる積層セラミックコンデンサを構成するセラミック積層素子の端面への内部電極の引き出し部の露出状態を示す図である。 (ａ)は、変形例１における、引き出し部領域で切断する前の内部電極パターンおよびダミー電極パターンの形状および配設態様を示す図であり、(ｂ)は、個々のセラミック積層素子に分割した状態の内部電極とダミー電極の構成および位置関係を示す図である。 (ａ)は、変形例２における、引き出し部領域で切断する前の内部電極パターンおよびダミー電極パターンの形状および配設態様を示す図であり、(ｂ)は、個々のセラミック積層素子に分割した状態の内部電極とダミー電極の構成および位置関係を示す図である。 (ａ)は、変形例３における、引き出し部領域で切断する前の内部電極パターンおよびダミー電極パターンの形状および配設態様を示す図であり、(ｂ)は、個々のセラミック積層素子に分割した状態の内部電極とダミー電極の構成および位置関係を示す図である。 (ａ)は、変形例４における、引き出し部領域で切断する前の内部電極パターンおよびダミー電極パターンの形状および配設態様を示す図であり、(ｂ)は、個々のセラミック積層素子に分割した状態の内部電極とダミー電極の構成および位置関係を示す図である。 本願発明の積層セラミックコンデンサのさらに他の変形例を示す図である。 本願発明の積層セラミックコンデンサのさらに他の変形例を示す図である。 (ａ)は、従来の積層セラミックコンデンサの正面断面図、(ｂ)は斜視図である。 従来の他の積層セラミックコンデンサの内部電極の形状を示す図である。 従来の積層セラミックコンデンサの問題点を説明するためのセラミック積層素子の側面断面図である。

符号の説明

１ セラミック積層素子
２ セラミック層
３ａ，３ｂ 内部電極
４ａ，４ｂ 外部電極
５ Ｎｉめっき膜
６ Ｓｎめっき膜
７ａ，７ｂ 容量形成部
１０ ダミー電極
１０ａ 第２のダミー電極
１０ｂ 長さの短いダミー電極
１３ 引き出し部領域
１３ａ，１３ｂ 引き出し部
１７ａ，１７ｂ 容量形成部領域
２０（２０ａ，２０ｂ） 内部電極パターン
２１ セラミックグリーンシート
３０ ダミー電極パターン
Ｇ 内部電極の端部とセラミック積層素子の端面の間のギャップ
Ｘ，Ｙ 内部電極の容量形成部からの延長線
Ｘ’，Ｙ’ 内部電極パターンの容量形成部領域からの延長線
Ｗ₁，Ｗ₀₁ 引き出し部の幅
Ｗ₂，Ｗ₀₂ 容量形成部の幅

Claims (7)

1. 複数の内部電極がセラミック層を介して互いに対向するように配設され、かつ、その一端側が交互に異なる側の端面に引き出されたセラミック積層素子の両端側に、内部電極と導通するように外部電極が配設された構造を有する積層セラミックコンデンサにおいて、
   セラミック積層素子の端面への内部電極の引き出し部の幅が、内部電極の容量形成に寄与する容量形成部の幅より狭く形成されているとともに、
   所定の内部電極の、容量形成部の両側辺を、内部電極引き出し方向に延長した一方側および他方側の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するように、容量形成に寄与しないダミー電極が配設され、かつ、
   所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、所定の複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極が一方側の延長線上および他方側の延長線上に位置しており、
   セラミック積層素子の端面へのダミー電極の露出状態を調べることにより、少なくとも内部電極の幅方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていること
   を特徴とする積層セラミックコンデンサ。
2. 前記ダミー電極が、各内部電極の容量形成部の両側辺を内部電極の引き出し方向に延長した一方側および他方側の両方の延長線上に配設されていることを特徴とする請求項１記載の積層セラミックコンデンサ。
3. 前記ダミー電極として、内部電極の引き出し方向長さが、内部電極の引き出し方向への位置ずれ許容範囲より短いダミー電極を備えており、該ダミー電極のセラミック積層素子の端面への露出の有無により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていることを特徴とする請求項１または２記載の積層セラミックコンデンサ。
4. 前記ダミー電極の形状を、内部電極の引き出し方向の位置により幅が異なるような形状として、セラミック積層素子の端面に露出したダミー電極の幅により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていることを特徴とする請求項１または２記載の積層セラミックコンデンサ。
5. 前記ダミー電極と平行に、ダミー電極よりも長さの短い第２のダミー電極を配設し、セラミック積層素子の端面への第２のダミー電極の露出の有無により、内部電極の引き出し方向への位置ずれ量が許容範囲にあるか否かを判定できるように構成されていることを特徴とする請求項１または２記載の積層セラミックコンデンサ。
6. 複数の内部電極がセラミック層を介して互いに対向するように配設され、かつ、その一端側が交互に異なる側の端面に引き出されたセラミック積層素子の両端側に、内部電極と導通するように外部電極が配設された構造を有する積層セラミックコンデンサの製造方法において、
   一対の容量形成部領域を両端側に備え、中央部に両端側の容量形成部領域を接続する、容量形成部の幅よりも幅の狭い、引き出し部領域を備え、引き出し部領域で切断することにより２個の内部電極に分割される複数の内部電極パターンと、所定の内部電極パターンを構成する一方の容量形成部領域の両側辺を、他方側の容量形成部領域の両側辺に向かって延長した、一方側および他方側の延長線のうち、一方側、および／または、他方側の延長線上に少なくともその一部が位置するようにダミー電極パターンが配設されたセラミックグリーンシートを、交互に内部電極の引き出し方向となる方向に所定量だけ位置をずらせて積層、圧着して、マザー積層体を形成する工程と、
   前記マザー積層体を、内部電極パターンの中央部の引き出し部領域が切断されるように所定の位置で切断することにより、内部電極を備え、かつ、所定の一つの内部電極についてみた場合、および／または、所定の複数の内部電極についてみた場合に、ダミー電極が一方側の延長線上および他方側の延長線上に位置する構造を有する個々の未焼成のセラミック積層素子に分割する工程と、
   前記未焼成のセラミック積層素子を焼成する工程と、
   焼成されたセラミック積層素子に外部電極を形成する工程と
   を具備することを特徴とする積層セラミックコンデンサの製造方法。
7. 前記セラミックグリーンシートとして、前記一方側および他方側の両方の延長線上にダミー電極パターンが配設されたセラミックグリーンシートを用いることを特徴とする請求項６記載の積層セラミックコンデンサの製造方法。

Images