JP2005171243A - キノキサリン環を主鎖に有する有機薄膜トランジスタ用有機半導体高分子 - Google Patents

キノキサリン環を主鎖に有する有機薄膜トランジスタ用有機半導体高分子 Download PDF

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Abstract

【課題】高い電荷移動度及び低い遮断状態漏れ電流を有する複合構造のポリチエニルキノキサリン誘導体、その製造方法、及び前記ポリチエニルキノキサリン誘導体を使用した有機薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】p型半導体特性を有するポリチオフェンに、電子親和力の大きい、すなわちn型半導体特性を持つキノキサリン環を導入したp型とn型の電気的特性を同時に示すポリチエニルキノキサリン誘導を使用し、且つ、基板、ゲート電極、ゲート絶縁層、有機活性層、及びソース/ドレイン電極を含んでなる有機薄膜トランジスタを提供する。
【選択図】図4

Description

本発明は、キノキサリン環を主鎖に有する有機薄膜トランジスタ用有機半導体高分子に関し、より詳しくは、p型半導体特性を有するポリチオフェンに、例えば、電子親和力の大きいn型半導体特性を有するキノキサリン環を導入することにより、電気的にp型とn型の半導体特性を同時に示すことが可能な有機薄膜トランジスタ用有機半導体高分子に関する。
有機薄膜トランジスタ用の有機半導体材料は、ペンタセンのような低分子系材料と、ポリ(3−アルキル)チオフェン系を中心とした高分子系材料に大きく分けられる。高分子系材料は、電荷移動度などのトランジスタ素子特性が低分子系材料ほど良くはないが、印刷技術などのような溶液プロセスによって低コストで、広い面積を処理することが可能になるという長所が挙げられる。
具体的に説明すると、高分子系の有機半導体材料は、低分子系とは異なり、溶液の形成が可能なので、スクリーン印刷技術、インクジェット(Ink−Jet)技術、及びロールプリント技術などを用いて薄膜を形成することができるため、低コストで、プラスチックフィルム上に、大面積のトランジスタを製造することができる。
ケンブリッジ大学、及びセイコーエプソン社は、以前から、F8T2などのポリチオフェン系材料を使用した高分子系の有機薄膜トランジスタ素子を試作し、電荷移動度0.01〜0.02cm2/Vsを達成している(特許文献1、及び非特許文献1)。
また、ルーセントテクノロジー社のBao.Zらは、位置規則性(Regioregular)のポリチオフェンであるP3HTを用いた有機薄膜トランジスタ素子の製造を開示し、電荷移動度0.01〜0.04cm2/Vsを達成している(特許文献2)。
このような材料を用いた有機薄膜トランジスタは、前述したように、電荷移動度などの特性が低分子系材料のペンタセンを用いた有機薄膜トランジスタに比べて劣るが、高い動作周波数を必要とせず、低コストで製造が可能である。
ところが、有機薄膜トランジスタを商用化するためには、電荷移動度だけでなく、高いIon/Ioff比(on/off ratio)という重要なパラメータを満足しなければならない。このためには、遮断(off)状態における漏洩電流を可能な限り減らさなければならない。代表的な位置規則性のポリチオフェン系高分子であるP3HTは、電荷移動度が0.01cm2/Vs程度であるが、Ion/Ioff比(on/off ratio)は400以下という低い数値を示している。これは遮断状態の漏れ電流が高い(10-9A以上)ためである(特許文献2、及び特許文献3)。
このような特性を改善するためにいろいろな方法が試みられている。ルーセントテクノロジー社の研究グループは、活性層を、n型無機半導体材料とp型有機半導体材料を組み合わせで構成し、有機薄膜トランジスタ素子の物理特性を改善させたことを報告している(特許文献4参照)が、蒸着を必要とする従来のシリコン基板の薄膜トランジスタと製造工程上の差異がなく量産に適していない。
Yamamoto.Tらは、電気的に互いに異なる特性を有するヘテロ芳香族環、例えば、キシキサリン環などを高分子の主鎖に導入することにより、p型とn型の半導体特性を同時に示す有機高分子半導体について報告している(非特許文献2)。
しかしながら、有機溶媒に対する低い溶解性と、フィルム形成特性が良くないために、この有機薄膜高分子半導体を、有機薄膜トランジスタの活性層として用いた例は、未だ報告されていない。そして、現在までに、高い電荷移動度と低い遮断状態漏洩電流を同時に満足する高分子系有機薄膜トランジスタは報告されていない。
国際公開第WO00/79617A1号パンフレット 米国特許6,207,117号明細書 米国特許6,452,207号明細書 米国特許5,652,199号明細書 Science,2000,vol.290,pp.2132−2126 J.Am.Chem.Soc.1996,118,10389
本発明は、かかる従来の技術の問題点を解決するためのもので、その目的は、従来のキノキサリン環が導入された従来のp型とn型の半導体特性を示す有機半導体高分子の主鎖に適切な長さのチオフェン誘導体を導入することにより、高い電荷移動度及び低い遮断状態漏れ電流を有する複合構造の高分子半導体材料を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記複合構造の高分子材料の製造方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記複合構造の高分子材料を有機活性層として用いて、高い電荷移動度及び低い遮断状態漏れ電流を示す有機薄膜トランジスタを提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の一側面は、下記化学式(1)で表わされるポリチエニルキノキサリン誘導体を提供する。
Figure 2005171243
式中、R1とR4はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、または炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基である。
2とR3はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式アルキル基、炭素数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基、又は炭素数6〜18のアリール基であって、前記アリール基は芳香族環又はヘテロ芳香族環を含み、前記アリール基はヒドロキシル基、炭素数1〜16の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルキル基、並びに炭素数1〜12の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルコキシ基からなる群から選択された少なくとも1種の置換基で置換されてもよい。
AはNH、O又はSであり、nは1又は2であり、そして、aとbはそれぞれ0.01≦a/(a+b)≦0.99、0.01≦b/(a+b)≦0.99を満足させる実数である。)
また、本発明の他の側面は、下記化学式(2)で表わされる単量体、下記化学式(3)で表わされる単量体、及び下記化学式(4)で表わされる単量体を、下記化学式5aまたは5bで表わされる触媒の存在下に、窒素雰囲気下、60〜120°Cで、48〜72時間重合させる段階を含むポリチエニルキノキサリン誘導体の製造方法を提供する。
Figure 2005171243
式中、R1は水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、AはNH、O又はSであり、nは1又は2であり、そして、Rは炭素原子数1〜6のアルキル基を示す。
Figure 2005171243
式中、R2及びR3はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基、又は炭素原子数6〜18のアリール基であって、前記アリール基は芳香族環又はヘテロ芳香族環を含み、前記アリール基は、ヒドロキシル基、炭素数1〜16の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルキル基、並びに炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルコキシ基からなる群から選択されたすくなくとも1種の置換基で置換されてもよく、Xはハロゲン原子を示す。
Figure 2005171243
式中、R4は水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、Rは炭素原子数1〜6のアルキル基を示し、Xはハロゲン原子を示す。
Figure 2005171243
Figure 2005171243
式中、Lはトリフェニルホスフィン、トリフェニルホスファイト、トリ(2−フリル)ホスフィン、及びトリフェニルアリシンよりなる群から選択された少なくとも1つの配位子(Ligand)を示し、Xはハロゲン原子を示す。
また、本発明のさらに他の側面は、基板、ゲート電極、ゲート絶縁層、有機活性層及びソース/ドレイン電極を含んでなる有機薄膜トランジスタにおいて、前記有機活性層が前記化学式(1)のポリチエニルキノキサリン誘導体を含むことを特徴とする有機薄膜トランジスタを提供する。
本発明に係る高分子半導体は、n型の半導体特性を示すキノキサリン誘導体を含んでいるため、空気中における安定性が大きく増加し、有機薄膜トランジスタなどの電子素子で活性層として用いられる場合には、低い遮断状態漏れ電流を保つと同時に高いIonoff比、及び電荷移動度を得ることができる。また、本発明に係る高分子半導体は、一般有機溶媒に対する溶解性、加工性及び薄膜特性に優れるという利点がある。
以下、本発明をより詳細に説明する。本発明のポリチエニルキノキサリン誘導体は、下記化学式(1)で表わされるもので、キノキサリン環がポリチオフェン誘導体の主鎖に導入された構造をもっている。
Figure 2005171243
式中、R1とR4はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、または炭素数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基である。
2とR3はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝状もしくは環式のアルキル基、炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基、又は炭素原子数6〜18のアリール基であって、前記アリール基は芳香族環又はヘテロ複素芳香族環を含み、前記アリール基はヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルキル基、並びに炭素数1〜12の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルコキシ基からなる群から選択された少なくとも1種の置換基で置換されてもよい。
AはNH、O又はSであり、nは1又は2であり、そしてaとbはそれぞれ0.01≦a/(a+b)≦0.99、0.01≦b/(a+b)≦0.99を満足させる実数である。
本発明のポリチエニルキノキサリン誘導体は、有機溶媒に対する優れた溶解性、共平面性(co−planarity)を有し、空気中での安定性を示すとともに、有機薄膜トランジスタの活性層に適用される場合には高い電荷移動度、低い遮断状態漏洩電流を示す。
本発明に係るポリチエニルキノキサリン誘導体は、下記化学式(2)、化学式(3)及び化学式(4)で表わされる単量体を用いて製造される。
Figure 2005171243
式中、R1は、水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、AはNH、O又はSであり、nは1又は2であり、Rは炭素原子数1〜6のアルキル基を示す。
Figure 2005171243
式中、R2及びR3はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝状もしくは環式のアルキル基、炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基、又は炭素原子数6〜18のアリール基であって、前記アリール基は芳香族環又はヘテロ芳香族環を含み、前記アリール基はヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルキル基、並びに炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状及び環式アルコキシ基からなる群から選択された少なくとも1種の置換基で置換されていてもよく、Xはハロゲン原子を示す。
Figure 2005171243
式中、R4は水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、Rは炭素原子数1〜6のアルキル基を示し、Xはハロゲン原子を示す。前記化学式(3)で表わされるキノキサリン誘導体は、o−フェニレンジアミンと1,2−ジケトン誘導体を原料として用いて脱水反応による芳香族環形成反応で合成され、その反応経路は下記反応式(a)に示した通りである。
Figure 2005171243
このようなキノキサリン誘導体の代表的な例としては、下記化学式6a〜6cで表わされるものを挙げることができる。
Figure 2005171243
Figure 2005171243
Figure 2005171243
式中、R5及びR6はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、Xはハロゲン原子である。
本発明のポリチエニルキノキサリン誘導体の合成法としては、前記モノマーを用いるヘテロ芳香族化合物の代表的重合法である化学的または電気化学的酸化重合法、ニッケルやパラジウムなどの遷移金属を含む有機遷移金属化合物を用いる縮合重合法がいずれも使用できる。
本発明のポリチエニルキノキサリン誘導体は、より好ましくは、下記化学式(5a)で表わされるパラジウム(0)化合物または化学式(5b)で表わされるパラジウム(II)化合物の存在下、下記反応式2で表わされる反応経路を経て合成される。
Figure 2005171243
Figure 2005171243
式中、Lはトリフェニルホスフィン、トリフェニルホスファイト、トリ(2−フリル)ホスフィン、及びトリフェニルアリシンよりなる群から選択された少なくとも1種の配位子(Ligand)を示し、Xはハロゲン原子を示す。
尚、縮合重合は、以下に示す反応式(b)により行われる。
Figure 2005171243
前記ポリチエニルキノキサリン誘導体の合成反応において、前記化学式(2)で表わされるチオフェン誘導体と、化学式(3)で表わされるキノキサリン誘導体は等モル量で使用され、一方、化学式(4)で表わされるチオフェン誘導体は、前記化学式(2)で表されるチオフェン誘導体と、前記化学式(3)で表わされるキノキサリン誘導体のそれぞれのモル数に対して0.01:0.99〜0.99:0.01のモル比で使用される。
この際、触媒として、好ましくはパラジウム(0)化合物であるテトラキストリフェニルホスフィンパラジウム(0)(Pd(PPh34)を、モノマーに対して0.2〜10モル%の範囲で使用する。また、重合溶媒としてはトルエン、ジメチルホルムアルデヒド(DMF)、テトラヒドロフラン(THF)、N−メチル−2−ピロリジノン(NMP)などを使用することができ、重合反応は60〜120°Cの温度、窒素雰囲気中で、48〜72時間行われる。前記重合反応によって得られるポリチエニルキノキサリン誘導体の数平均分子量は約40000〜80000である。
本発明のポリチエニルキノキサリン誘導体は、有機薄膜トランジスタ素子の活性層を形成する従来にない有機半導体材料として用いられる。この際、有機活性層はスクリーン印刷法、プリント法、スピンコート法、ディッピング法、及びインクジェット法で形成できる。
このような有機薄膜トランジスタ素子は、通常、基板/ゲート電極/ゲート絶縁層/活性層/ソース・ドレイン電極、または基板/ゲート電極/ゲート絶縁層/ソース・ドレイン電極/活性層などの構造で形成できるが、これらに限定されるものではない。
前記有機薄膜トランジスタ素子を構成するゲート絶縁層としては、通常用いられる誘電率の大きい絶縁体により構成され、具体的には、Ba0.33Sr0.66TiO3(BST:Barium Strontium Titanate)を代表としてAl23、Ta25、La25、Y23、TiO2などの強誘電性の絶縁体系列、PbZr0.33Ti0.663(PZT)、Bi4Ti312、BaMgF4、SrBi2(TaNb)29、Ba(ZrTi)O3、BaTiO3、SrTiO3、Bi4Ti312、SiO2、SiNx、AlONなどの無機絶縁体、またはポリイミド、BCB(benzocyclobuteneベンゾシクロブテン)、パリレン、ポリアクリレート、ポリビニルアルコール、ポリビニルフェノールなどの有機絶縁体を使用することができるが、これらに限定されるものではない。
本発明の有機薄膜トランジスタ素子を構成するゲート電極及びソース、ドレイン電極は、電極として通常用いられる金属により構成され、具体的には、金、銀、アルミニウム、ニッケル、インジウム錫酸化物などを使用することができるが、これらに限定されるものではない。
本発明の有機薄膜トランジスタ素子を構成する基板材料としては、ガラス、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート、ポリビニルアルコール、ポリアクリレート、ポリイミド、ポリノルボルネン、ポリエテールスルホン(PES)などが使用できるが、これらに限定されるものではない。
以下、実施例によって本発明をより詳しく説明する。尚、これらの実施例は本発明を説明するためのもので、本発明は、これらの実施例に制限されるものではない。
[実施例1]
以下に示す製造例1で製造されたチオフェン単量体、製造例3で製造されたキノキサリン単量体、及び製造例4で製造された重合触媒を用いて製造例5に示すポリチエニルキノキサリンを製造した。
製造例1:2,5−ビス(トリメチルスタニル)チオフェン(2,5-Bis(trimethylstannyl)thiophene)の合成
窒素雰囲気の下で−50℃に冷却したジブロモチオフェン3.0g(12.4mmol)のテトラヒドロフラン(50mL)溶液にn−ブチルリチウム(n−BuLi、1.63M(モル/リットル)のヘキサン溶液)溶液18.4mL(30mmol)を仕込んで30分間反応させた後、トリメチルスタニルクロライド(以下、SnMe3Cl、25mmol)5gを仕込んで−50℃で4〜5時間程度反応させた。
次に、水とエーテルを分離して得た有機層を乾燥剤で乾燥させた後、溶媒を除去した。エーテルを用いて2回再結晶させて白色の結晶3.1gを得た(収率:60%)。
1H-NMR(300 MHz、CDCl3) ( (ppm)0.38 (CH3、18H)、7.38 (2H, Thiophene-H)。
製造例2:2,5−ビス(トリメチルスタニル)ビチオフェンの合成
ジブロモチオフェンの代わりにジブロモビチオフェンを用いた以外は、前記製造例1と同一の方法で行って、2,5−ビス(トリメチルスタニル)ビチオフェンを製造した(収率:68%)。
1H-NMR(300 MHz、CDCl3) ( (ppm)0.38(CH3、18H)、7.08 (d、2H、Thiophene-H)、7.27 (d、2H、Thiophene-H)。
製造例3:5,8−ジブロモキノキサリン誘導体の合成
(1)5、8−ジブロモキノキサリン誘導体(a)の合成
3、6−ジブロモ−o−フェニレンジアミン4.0g(15.0mmol)と、4、4´−ジメトキシベンジル4.88g(18.0mmol)とを溶かしたブタノール溶液60mLに氷酢酸を2〜3滴落とした後、120°Cで5時間攪拌した。反応後、0°Cまで冷やした反応溶液を濾過して、分離した固体を熱エタノールで2回洗浄した後、乾燥して目的物を得た。(9.6mmol、収率:64%)。
1H-NMR (300MHz、CDCl3) ( (ppm)3.85(s、6H、Phenyl-O-CH3)、6.89(d、4H、 Phenyl-H)、7.66(d、4H、Phenyl-H)、7.85(d、2H、Quinoxaline-H)。
(2)5,8−ジブロモキノキサリン誘導体(b)の合成
ナスフラスコに前記で得られた5,8−ジブロモキノキサリン誘導体(a)4.55g(9.1mmol)と約30当量のピリジンヒドロクロライド(Py−HCl、40g)を仕込んで200°Cで8時間攪拌した後、室温まで冷却した。反応混合物に塩酸水溶液(2.5%)80mLを入れてよく攪拌した後、エーテルを加えた。有機層を希塩酸水溶液、水酸化ナトリウム水溶液及び塩酸水溶液の順で処理した後、さらにエーテルを加えた。有機層を水で洗浄し、乾燥剤で乾燥させることにより黄色粉末の5,8−ジブロモキノキサリン誘導体(b)(8.7mmol、収率:96%)を得て、次の反応に直ちに使用した。
(3)5,8−ジブロモキノキサリン誘導体(c)の合成
製造例3の(2)で得た5,8−ジブロモキノキサリン誘導体(b)6.0g(12.7mmol)と水酸化カリウム水溶液(KOH、0.5M、32mmol)を、エタノールに加えて室温で1時間攪拌した後、ブロモヘキサン5.25g(32mmol)を添加した。70°Cで24時間反応させた後、反応混合物を−20°Cまで降温してから濾過した。カラムクロマトグラフィ(展開溶媒:クロロホルム、充填剤:シリカゲルSiO2)によって精製して黄色の固体を得た(2.2mmol、収率:51%)。得られた5.8−ジブロモキノキサリン誘導体 (c)の1H−NMRを図1に示す。
1H-NMR (300 MHz、CDCl3) ( (ppm) 0.92 (6H, CH3)、1.32〜1.50(m、2nH、-(CH2)n-)、 1.80 (m、4H、-CH2-)、 3.99 (t、4H、Phenyl-O-CH2-)、6.87 (d、4H、Phenyl-H)、7.64 (d、4H、Phenyl-H)、7.85 (d、2H、Quinoxaline-H)。
製造例4:以下に示す反応式(c)による2−ブロモ−3−ヘキシル−5−トリメチルスタニルチオフェン(e)の合成
Figure 2005171243
3−ヘキシルチオフェンと、同量のN−ブロモ琥珀酸イミド(以下、NBS)を、DMF中で15時間室温にて反応させて得られた2−ブロモ−3−ヘキシルチオフェン(d)12.4g(50mmol)を、−80〜−90℃程度で、リチウムジイソプロピルアミン溶液(以下「LDA」という。2.0M(モル/リットル)のTHF/ヘキサン混合溶液)28mL(56mmol)の無水THF40mL溶液に、攪拌しながら仕込んだ。
同一の温度で20〜30分間反応させた後、Me3SnCl10.0g(50mmol)のTHF溶液を入れて−50°Cで1時間攪拌した。反応後、反応混合物を、エーテルと水で抽出し、有機層を濃縮した後、蒸留によって無色オイル状の生成物を78%の収率で得た。得られたチオフェン誘導体(e)の1H−NMRを図2に示す。
1H-NMR (300MHz、CDCl3) ( (ppm) 0.34(9H、CH3)、0.88 (3H、CH3)、 1.31 (broad、 2nH、-(CH2)n-)、1.56 (m、2H、-CH2-)、2.55 (t、2H、Thiophene-CH2-)、6.84 (s、 Thiophene-H)。
製造例5:ポリチエニルキノキサリン(PTQx−T)の合成
窒素雰囲気で反応器に、製造例1で製造されたチオフェン単量体0.5g(1.22mmol)、製造例3の(3)で製造されたキノキサリン単量体0.78g(1.22mmol)を仕込み、弱く加熱しながら無水DMFに完全に溶解させた後、製造例4で製造された2−ブロモ−3−ヘキシル−5−トリメチルスタニルチオフェン1.5g(3.66mmol)と、重合触媒としてパラジウム(0)化合物のPd(PPh34を単量体の合計量に対して7.0モル%の割合で仕込んだ後、85°Cで72時間反応させた。
反応後に室温まで冷やした反応混合液を濾過して、得られた高分子固体を塩酸/クロロホルムで2回、アンモニア水溶液/クロロホルムで2回、水/クロロホルムで1回洗浄した後、メタノール中で再沈殿させて回収した。収得された固体を乾燥させることにより、黒色の高分子物質を得た(収量:0.6g)。得られた重合体1の1H−NMRを図3に示す。
1H-NMR (300 MHz、CDCl3) ( (ppm) 0.92 (CH3)、1.35〜1.44 (CH2)、1.72 (CH2)、2.81 (Thiophene-CH2)、3.76〜4.0 (-O-CH2)、6.74 (Phenyl-H)、6.98 (Thiophene-H)、7.61〜7.80(Thiophene-H and Phenyl-H)、8.04 (Qunioxaline-H)。
[比較例1]:ポリチエニルキノキサリン(PTQx)の合成
製造例5で2−ブロモ−3−ヘキシル−5−トリメチルスタニルチオフェン(製造例4)を添加しない以外は、前記製造例5と同様に行って、前記化学式(1)の構造をもたないポリチエニルキノキサリン誘導体(PTQx)を製造した。
[実施例2]:ポリチエニルキノキサリン(PTQx−T)を用いた有機薄膜トランジスタ素子の製造
製造例5で得られたPTQx−Tを用いて有機薄膜トランジスタを製造した。まず、洗浄したシリコン基板にCVD法によりシリコン酸化膜を3000Åの厚さに蒸着した。その後、真空蒸着法により厚さ2000ÅのAlのゲート電極を形成した。その上に、ポリビニルフェノール類の化合物をNMPに10質量%溶かした溶液を用いて、スピンコート法によって1000rpmで7000Åの厚さに塗布した後、窒素雰囲気下、100°Cで1時間ベーキングして有機ゲート絶縁膜を形成した。
次に、PTQx−Tをトルエンに1質量%溶かした溶液を、スピンコート(約1000Åの厚さ)して、窒素雰囲気下、100°Cで1時間ベーキングして活性層を形成した。ソース・ドレイン電極の材料としてAuを用い、チャネル長さ100μm、チャネル幅2mmのシャドウマスクを用いて、図4に示すトップコンタクト(top contact)方式の有機薄膜トランジスタを製造した。(1:基板、2:ゲート電極、3:ゲート絶縁層、4:ソース電極、5:ドレイン電極、6:有機活性層)
[比較例2]:ポリチエニルキノキサリン(PTQx)を用いた有機薄膜トランジスタ素子の製造
比較例1で得られたPTQxを用いて、実施例2と同一の製造方法により、図4に示すトップコンタクト(top contact)方式と同一タイプの有機薄膜トランジスタを製造した。
実施例2及び比較例2で得られた有機薄膜トランジスタの電流伝達曲線を、KEITHLEY社のSemiconductor Characterization System(4200−SCS)を用いて測定し、図5a及び図5bにそれぞれプロットした。また、前記電流伝達曲線を用いて下記数式1(飽和領域の電流式)から電荷移動度を計算した。
Figure 2005171243
前記数式1によれば(ISD1/2−VG関係のグラフの傾きから下記数式2のように電荷移動度を求めることができる。
Figure 2005171243
*ISD:ソース・ドレイン電流、μFET:電荷移動度、CO:絶縁層静電容量、W:チ ャネル幅、L:チャネル長さ、VG:ゲート電圧、VT:しきい値電圧
遮断状態漏れ電流は、遮断状態で流れる電流を測定して示した。また、Ion/Ioff比は、オン状態における最大電流値とオフ状態における最小電流値の比で求めた。
Figure 2005171243
表1より、比較製造例で合成したポリチエニルキノキサリン誘導体(PTQx)は、電子親和力の大きいキノキサリン環を導入することにより、有機薄膜トランジスタの遮断状態漏れ電流が10-11Aまで相当低くなったが、移動度及び電流点滅比には著しい向上が見られなかった。
これに比べて、本発明のポリチエニルキノキサリン誘導体(製造例5、PTQx−T)は、前記高分子PTQxと比較してみたとき、低い漏れ電流(10-11A以下)を保ちながら電流点滅比及び移動度も1オーダ以上増加する結果を示している。
以上、本発明の実施形態を、図を用いて説明したが、本発明はその技術思想の範囲内で様々な改変が可能である。
本発明の製造例3の(3)で製造されたキノキサリン誘導体の1H−NMRスペクトル曲線を示す図である。 本発明の製造例4で製造されたチオフェン誘導体の1H−NMRスペクトル曲線を示す図である。 本発明の製造例5で製造されたポリチエニルキノキサリン誘導体の1H−NMRスペクトル曲線を示す図である。 本発明の実施例1で製造された素子構造を示す断面図である。 本発明の実施例2で製造された素子の電流伝達特性曲線を示す図である。 本発明の比較例2で製造された素子の電流伝達特性曲線を示す図である。
符号の説明
1 基板
2 ゲート電極
3 ゲート絶縁層
4 ソース電極
5 ドレイン電極
6 有機活性層

Claims (11)

  1. 下記化学式(1)
    Figure 2005171243
    [式中、R1及びR4はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、
    2及びR3はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基、又は炭素原子数6〜18のアリール基(前記アリール基は、芳香族環又はヘテロ芳香族環を含み、前記アリール基はヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルキル基、並びに炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルコキシ基からなる群から選択された少なくとも1種の置換基で置換されてもよい)で、
    AはNH、O又はSであり、
    nは1又は2であり、そして、
    aとbはそれぞれ0.01≦a/(a+b)≦0.99、0.01≦b/(a+b)≦0.99を満足させる実数である。]で表されることを特徴とするポリチエニルキノキサリン誘導体。
  2. 下記化学式(2)
    Figure 2005171243
    (式中、R1は水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、
    AはNH、O又はSであり、
    nは1又は2であり、そして
    Rは炭素原子数1〜6のアルキル基を示す。)で表される単量体と、
    下記化学式(3)
    Figure 2005171243
    [式中、R2及びR3はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基、又は炭素原子数6〜18のアリール基(前記アリール基は、芳香族環又はヘテロ芳香族環を含み、前記アリール基は、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルキル基、並びに炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状及び環式のアルコキシ基からなる群から選択された少なくとも1種の置換基で置換されてもよい)であり、
    Xはハロゲン原子を示す。]で表される単量体と、及び
    下記化学式(4)
    Figure 2005171243
    (式中、R4は水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基であり、
    Rは炭素原子数1〜6のアルキル基を示し、
    Xはハロゲン原子を示す。)で表される単量体とを、
    下記化学式(5a)
    Figure 2005171243
    [式中、Lはトリフェニルホスフィン、トリフェニルホスファイト、トリ(2−furyl)ホスフィン、及びトリフェニルアリシンよりなる群から選択された少なくとも1つの配位子(ligand)を示す。]、または
    下記化学式(5b)
    Figure 2005171243
    [式中、Lはトリフェニルホスフィン、トリフェニルホスファイト、トリ(2−furyl)ホスフィン、及びトリフェニルアリシンよりなる群から選択された少なくとも1つの配位子(ligand)を示し、Xはハロゲン原子を示す。]で表される触媒の存在下に、窒素雰囲気下、60〜120°Cで、48〜72時間重合させる段階を含むポリチエニルキノキサリン誘導体の製造方法。
  3. 前記化学式(2)で表わされる単量体及び、化学式(3)で表わされる単量体は、等モル量で使用され、これらそれぞれのモル数に対する化学式(4)で表わされる単量体の使用モル数は0.01:0.99〜0.99:0.01であることを特徴とする請求項2記載のポリチエニルキノキサリン誘導体の製造方法。
  4. 前記化学式3で表わされる単量体が、下記化学式(6a)
    Figure 2005171243
    (式中、R5及びR6はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基を示し、Xはハロゲン原子を示す。)で表される化合物、
    下記化学式(6b)
    Figure 2005171243
    (式中、R5及びR6はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基を示し、Xはハロゲン原子を示す。)で表される化合物、および
    下記化学式(6c)
    Figure 2005171243
    (式中、R5及びR6はそれぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基、炭素原子数1〜16の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルキル基、又は炭素原子数1〜12の直鎖状、分枝鎖状もしくは環式のアルコキシ基を示し、Xはハロゲン原子を示す。)で表される化合物で表わされるものよりなる群から選択された少なくとも1種であることを特徴とする請求項2記載のポリチエニルキノキサリン誘導体の製造方法。
  5. 使用する触媒がテトラキストリフェニルホスフィンパラジウム(0)であることを特徴とする請求項2記載のポリチエニルキノキサリン誘導体の製造方法。
  6. 製造するポリチエニルキノキサリン誘導体の数平均分子量が40000〜80000の範囲であることを特徴とする請求項2記載のポリチエニルキノキサリン誘導体の製造方法。
  7. 基板上にゲート電極、ゲート絶縁層、有機活性層及びソース/ドレイン電極を含んでなる有機薄膜トランジスタにおいて、前記有機活性層が請求項1記載のポリチエニルキノキサリン誘導体からなることを特徴とする有機薄膜トランジスタ。
  8. 前記有機活性層がスクリーン印刷法、プリント法、スピンコーティング法、ディッピング法またはインクジェット法によって薄膜に形成されることを特徴とする請求項7記載の有機薄膜トランジスタ。
  9. 前記絶縁層が、Ba0.33Sr0.66TiO3、Al23、Ta25、La25、Y23及びTiO2よりなる群から選択された強誘電性絶縁体、PbZr0,33Ti0.663(PZT)、Bi4Ti312、BaMgF4、SrBi2(TaNb)29、Ba(ZrTi)O3、BaTiO3、SrTiO3、Bi4Ti312、SiO2、SiNx及びAlONよりなる群から選択された無機絶縁体、及びポリイミド、BCB(ベンゾシクロブテン)、パリレン、ポリアクリレート、ポリビニールアルコール、及びポリビニールフェノールよりなる群から選択された有機絶縁体で形成されることを特徴とする請求項7記載の有機薄膜トランジスタ。
  10. 前記基板が、ガラス、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート、ポリビニールアルコール、ポリアクリレート、ポリイミド、ポリノルボルネン、及びポリエテールスルホン(PES)よりなる群から選択された材料で形成されることを特徴とする請求項7記載の有機薄膜トランジスタ。
  11. 前記ゲート電極、及びソース・ドレイン電極が、金、銀、アルミニウム、ニッケル、及びインジウム錫酸化物よりなる群から選択された材料で形成されることを特徴とする請求項7記載の有機薄膜トランジスタ。
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