JP2005167006A - フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法 - Google Patents

フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005167006A
JP2005167006A JP2003404607A JP2003404607A JP2005167006A JP 2005167006 A JP2005167006 A JP 2005167006A JP 2003404607 A JP2003404607 A JP 2003404607A JP 2003404607 A JP2003404607 A JP 2003404607A JP 2005167006 A JP2005167006 A JP 2005167006A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal foil
polyimide
flexible metal
polyimide substrate
glass transition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003404607A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigehiro Hoshida
繁宏 星田
Toshikatsu Yamamuro
利克 山室
Tadashi Amano
正 天野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Chemical Co Ltd filed Critical Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority to JP2003404607A priority Critical patent/JP2005167006A/ja
Priority to TW093134965A priority patent/TW200524485A/zh
Priority to US11/001,017 priority patent/US20050121138A1/en
Priority to KR1020040100134A priority patent/KR20050053500A/ko
Priority to CNA2004100954694A priority patent/CN1638169A/zh
Publication of JP2005167006A publication Critical patent/JP2005167006A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/04Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material
    • B32B15/08Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material of synthetic resin
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/06Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the heating method
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/10Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the pressing technique, e.g. using action of vacuum or fluid pressure
    • B32B37/1018Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the pressing technique, e.g. using action of vacuum or fluid pressure using only vacuum
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0313Organic insulating material
    • H05K1/032Organic insulating material consisting of one material
    • H05K1/0346Organic insulating material consisting of one material containing N
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2309/00Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
    • B32B2309/60In a particular environment
    • B32B2309/62Inert
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2309/00Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
    • B32B2309/60In a particular environment
    • B32B2309/68Vacuum
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2311/00Metals, their alloys or their compounds
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2379/00Other polymers having nitrogen, with or without oxygen or carbon only, in the main chain
    • B32B2379/08Polyimides
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/08PCBs, i.e. printed circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0313Organic insulating material
    • H05K1/0353Organic insulating material consisting of two or more materials, e.g. two or more polymers, polymer + filler, + reinforcement
    • H05K1/036Multilayers with layers of different types
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0137Materials
    • H05K2201/0154Polyimide
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0335Layered conductors or foils
    • H05K2201/0355Metal foils
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/06Lamination
    • H05K2203/068Features of the lamination press or of the lamination process, e.g. using special separator sheets
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/022Processes for manufacturing precursors of printed circuits, i.e. copper-clad substrates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

【課題】 ガラス転移点が350℃以上であるポリイミドフィルムの両側にガラス転移点が300℃以下であるポリイミド層を積層した複合フィルムの両側に、金属箔をそれぞれ重ね合わせ、真空度が5トル以下の真空雰囲気中又は酸素濃度が0.5体積%以下の窒素雰囲気中で加熱圧着装置により連続的に加熱圧着させることを特徴とするフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法。
【解決手段】 本発明の製造方法によれば、酸化による金属箔の劣化のない表面性に優れたフレキシブル金属箔ポリイミド基板を連続的に製造することができる。
【選択図】 なし

Description

本発明は、電子部品として利用されているプリント基板やフレキシブルプリント基板に使用されるフレキシブル金属箔ポリイミド基板を連続して製造する方法に関する。
従来、フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法としては、ガラス転移点が低いいわゆる熱可塑性ポリイミドを導体上に形成してから張り合わせる方法が行われており、特開平1−244841号公報(特許文献1)、特開2000−103010号公報(特許文献2)、特開平6−190967号公報(特許文献3)等に開示されている。
このうち、特開平1−244841号公報には、真空雰囲気中で製造することや窒素雰囲気中で製造することが記載されており、現実に製造方法を検討していくと金属箔の酸化をいかに防止するかが極めて重要である。
しかしながら、従来の方法では、酸化により表面の金属箔が劣化してしまい、酸化による金属箔の劣化のない表面性に優れたフレキシブル金属箔ポリイミド基板を連続的に製造することは困難であった。
特開平1−244841号公報 特開2000−103010号公報 特開平6−190967号公報
本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、電子材料として有用なフレキシブル金属箔ポリイミド基板において、酸化による金属箔の劣化のない表面性に優れたフレキシブル金属箔ポリイミド基板を連続的に製造する方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記目的を達成するため鋭意研究を重ねた結果、ガラス転移点が350℃以上であるポリイミドフィルムの両側にガラス転移点が300℃以下であるポリイミド層を積層した複合フィルムの両側に、金属箔をそれぞれ重ね合わせ、真空度が5トル以下の真空雰囲気中又は酸素濃度が0.5体積%以下の窒素雰囲気中で加熱圧着装置により連続的に加熱圧着させる方法により、極めて安定した表面性の良いフレキシブル金属箔ポリイミド基板を製造し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。
従って、本発明は、ガラス転移点が350℃以上であるポリイミドフィルムの両側にガラス転移点が300℃以下であるポリイミド層を積層した複合フィルムの両側に、金属箔をそれぞれ重ね合わせ、真空度が5トル以下の真空雰囲気中又は酸素濃度が0.5体積%以下の窒素雰囲気中で加熱圧着装置により連続的に加熱圧着させることを特徴とするフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法を提供する。
本発明の製造方法によれば、酸化による金属箔の劣化のない表面性に優れたフレキシブル金属箔ポリイミド基板を連続的に製造することができる。
本発明で使用される複合フィルムは、ガラス転移点が350℃以上であるポリイミドフィルム(A)の両側に、ガラス転移点が300℃以下であるポリイミド層(B)を積層したものである。
この複合フィルムの中心層であるポリイミドフィルム(A)は、フレキシブル金属箔ポリイミド基板の耐熱性を高めるため、ガラス転移点が350℃以上であることが必須であり、好ましくは400℃以上650℃以下、より好ましくは400℃以上600℃以下である。ガラス転移点が350℃未満であると、耐熱性が低下し、利用用途が限定される。
本発明で使用されるポリイミドフィルム(A)は、適当な酸無水物とジアミンから合成されるポリアミック酸をイミド化することにより作られたものでよい。
ここで、本発明の(A)ポリイミドフィルム製造時に使用される酸無水物としては、テトラカルボン酸無水物並びにその誘導体等が挙げられる。なお、以下ではテトラカルボン酸として例示するが、これらのエステル化物、酸無水物、酸塩化物も勿論使用できる。即ち、カルボン酸としては、ピロメリット酸、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテトラカルボン酸、2,3,3’,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルメタンテトラカルボン酸、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、3,4,9,10−テトラカルボキシペリレン、2,2−ビス〔4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、ブタンテトラカルボン酸、シクロペンタンテトラカルボン酸等が挙げられる。また、トリメリット酸及びその誘導体等も挙げられる。
更に、反応性官能基を有する化合物で変成し、架橋構造やラダー構造を導入することもできる。
一方、本発明の(A)ポリイミドフィルム製造時に使用されるジアミンとしては、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、2’−メトキシ−4,4’−ジアミノベンズアニリド、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、ジアミノトルエン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,2−ビス(アニリノ)エタン、ジアミノジフェニルスルホン、ジアミノベンズアニリド、ジアミノベンゾエード、ジアミノジフェニルスルフィド、2,2−ビス(p−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(p−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,5−ジアミノナフタレン、ジアミノトルエン、ジアミノベンゾトリフルオライド、1,4−ビス(p−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−(p−アミノフェノキシ)ビフェニル、ジアミノアントラキノン、4,4’−ビス(3−アミノフェノキシフェニル)ジフェニルスルホン、1,3−ビス(アニリノ)ヘキサフルオロプロパン、1,4−ビス(アニリノ)オクタフルオロプロパン、1,5−ビス(アニリノ)デカフルオロプロパン、1,7−ビス(アニリノ)テトラデカフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(p−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(2−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)−3,5−ジメチルフェニル〕ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)−3,5−ジトリフルオロメチルフェニル〕ヘキサフルオロプロパン、p−ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェノキシ)ビフェニル、4,4’−ビス(4−アミノ−3−トリフルオロメチルフェノキシ)ビフェニル、4,4’−ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェノキシ)ジフェニルスルホン、4,4’−ビス(4−アミノ−5−トリフルオロメチルフェノキシ)ジフェニルスルホン、2,2−ビス〔4−(4−アミノ−3−トリフルオロメチルフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、ベンジジン、3,3’,5,5’−テトラメチルベンジジン、オクタフルオロベンジジン、3,3’−メトキシベンジジン、o−トリジン、m−トリジン、2,2’,5,5’,6,6’−ヘキサフルオロトリジン、4,4’’−ジアミノターフェニル、4,4’’’−ジアミノクォーターフェニル等のジアミン類、並びにこれらのジアミンとホスゲン等の反応によって得られるジイソシアネート類、更にジアミノシロキサン類等が挙げられる。
ポリイミドフィルムの製造は、既存の製造方法でよく、特に限定されるものではない。また、下記に示すような一般に市販されているポリイミドフィルムを使用することも可能である。
鐘淵化学工業社製 商品名:アピカル
東レ・デュポン社製 商品名:カプトン
宇部興産社製 商品名:ユーピレックス
上記ポリイミドフィルム(A)の厚さは、フィルムとしての取り扱い性から5μm以上50μm以下であることが好ましく、更に好ましくは5μm以上25μm以下である。厚さが5μm未満であるとフィルムのコシがなく、取扱いが困難となり、シワができる場合があり、50μmを超えると経済的でない。
また、上記ポリイミドフィルム(A)の両側に積層されるポリイミド(B)は、ガラス転移点が300℃以下であることが必須であり、半田耐熱等の面から好ましくは150℃以上300℃以下、より好ましくは200℃以上300℃以下である。ガラス転移点が300℃を超えると、ラミネートするために極めて高温に加熱する必要があり、そのため極めて高価な装置が必要となる。
上記ポリイミドフィルム(B)の厚さは、金属箔との張り合わせを目的とするので、厚い必要はなく、5μm以下、特に2μm以上5μm以下で十分である。5μmを超える厚さでは、経済的でない。
本発明においては、上記2種類のポリイミドを組み合わせることで複合フィルムとするが、その組み合わせ方法はどのような方法でもよく、中心層を構成するポリイミド(A)をフィルムに成型後、両側層を構成するポリイミド(B)を塗布もしくは張り合わせてもよいし、中心層を構成するポリイミド(A)と両側層を構成するポリイミド(B)を同時にフィルム成型してもよい。ここで言う成型とは、いわゆる一般的なポリイミドフィルム成型方法でよく、キャスティング、押し出し等が利用できる。
本発明で使用する金属箔としては、銅、鉄、モリブデン、亜鉛、タングステン、ニッケル、クロム、アルミニウム、銀、又はそれらの合金、例えばステンレス等が挙げられ、プリント基板、フレキシブル基板に多用される電子材料として好ましくは銅である。
また、導体である金属箔は、表面処理として金属メッキ、表面酸化、物理的な凹凸等を付すなどしてもよく、更に、シランカップリング剤等のカップリング剤による処理がなされていてもよい。また、金属箔の厚みとしては、5〜50μmであることが好ましく、より好ましくは5〜25μmである。
本発明においては、上記複層ポリイミドフィルムの両側に金属箔を重ね合わせて加熱圧着することが必須要件であるが、加熱圧着の方法は既に知られている一般的な方法でよく、例えば、特開平8−244168号公報、特開2003−118060号公報、特開平5−31869号公報等で用いられている2つの金属ロールで挟み、ラミネートするロールラミネート方法や、特開平9−116254号公報に示されているようなダブルベルトプレス法といわれる方法を用いることができる。
また、この際の加熱温度は、両側に用いられるポリイミド(B)のガラス転移点以上の温度であればよいが、好ましくは280℃以上、更に好ましくは330℃以上である。またこの場合、ポリイミド(A)のガラス転移点以下の温度であることが好ましい。圧着時の圧力は、用いるポリイミドのフロー性によって異なるが、ロールラミネート機等では線圧にて5kg/cm以上であることが好ましく、より好ましくは10kg/cm以上であり、ベルトプレス機等では面圧にて10kg/cm2以上であることが好ましく、より好ましくは20kg/cm2以上である。その上限は適宜選定されるが、破壊、損傷がない限り高圧が可能である。
本発明においては、金属箔の酸化防止のため、真空もしくは窒素雰囲気の中で加熱圧着装置により連続的に加熱圧着させることが必須である。真空雰囲気にする場合は、真空度5トル以下、好ましくは4トル以下、より好ましくは3トル以下で加熱圧着させる。真空度が5トルを超えると金属箔が酸化する。また窒素雰囲気にする場合は、酸素濃度が0.5体積%以下、好ましくは0.4体積%以下、より好ましくは0.3体積%以下である。酸素濃度が0.5体積%を超えると真空時と同様に金属箔が酸化する。
真空や窒素雰囲気とする場合、連続的に加熱圧着するには巻き出しロールと巻き取りロールを含めた加熱圧着装置全体を真空装置内もしくは窒素雰囲気内に置くことが、装置が簡単になるという点で好ましいが、本発明はそれに縛られず、巻き出しロール、巻き取りロールをラミネート部分と離して、ラミネート部分のみ真空もしくは窒素雰囲気として、装置の巻き出しロール及び巻き取りロールとラミネート部分の接続部に真空保持もしくは窒素雰囲気保持のシール部を設けることもできる。
また、本発明においては、加熱圧着させる装置の金属箔と接触する部分に、超硬合金を使用することが好ましい。加熱圧着させる装置の金属箔と接触する部分としては、加熱圧着ロール部分が好適である。これは原因が不明であり、一般のステンレス鋼や、カーボンスチールの上にクロムメッキ等をしたものでも張り合わせることは可能であるが、張り合わせているときに金属箔が切れる現象が起きやすく、超硬合金を使用するとこの現象が少なくなる。なお、ここで言う超硬合金としては、一般的に用いられている炭化タングステンを主成分としたコバルト、ニッケル等との混合物が挙げられるが、この他にも酸化アルミニウム、炭化クロム、炭化珪素、炭化硼素等の硬度の高いもの(ビッカース硬度にて1,000以上を示すもの)を成分としたものでよい。これら例示の中で、炭化タングステン、炭化クロムを用いるのが好ましい。また超硬合金としては、ビッカース硬度で1,000以上3,000以下を示すものを用いるのが好ましい。
本発明では、ラミネート部分が真空もしくは窒素雰囲気になる構造とするので、金属箔に接する部分に使用する超硬合金が酸化されず、該超硬合金表面の劣化が起こることがある。それを防止するため、超硬合金の表面を時々酸化させてやることで、表面に酸化した保護膜を形成し、長期間の表面劣化を防ぐことができる。
以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるものではない。なお、ガラス転移点の測定法は、Differential Scanning Calorimetry(DSC法)が用いられる。
[実施例1]
熱可塑性ポリイミド(ガラス転移点242℃)をそれぞれ厚さ約3μmで両面に設けたポリイミド(宇部興産社製、商品名:ユーピレックスVT:中心のポリイミドはガラス転移点400℃以上)(厚み25μm)の両側に銅箔(ジャパンエナジー社製、圧延銅箔)(厚み18μm)を積層し、ロールラミネート機(西村マシナリー社製)にて300℃、20kg/cmにて加熱圧着し、張り合わせたものをロール状に巻き取った。一対の加熱圧着ロールは、表面が炭化タングステン系合金で被覆されているものを使用した。この時、加熱圧着部は真空ベッセルの中に入れてラミネートした。真空度は3トルであった。
得られたものを評価するため、高温引張テスト、表面観察を行った。また、ポリイミドフィルムのガラス転移点を測定した。結果を表1に示した。
[比較例1]
加熱圧着時の真空度を7トルとした以外は実施例1と同様とした。
[実施例2]
実施例1にて真空ベッセル内を窒素で置換して常圧に戻し、酸素濃度0.4体積%の窒素雰囲気とした以外は実施例1と同様とした。
[比較例2]
実施例2にて、酸素濃度0.7体積%の窒素雰囲気とした以外は実施例2と同様とした。
[実施例3]
ピロメリット酸(PMDA)220gをジメチルアセトアミド(DMAc)10kgに溶解し、10℃に冷却後、p−フェニレンジアミン(PPD)110gを徐々に加えて反応させ、ポリイミド前駆体樹脂溶液を得た。得られた溶液をキャスティングし、溶媒を飛ばした後に350℃に加熱することでポリイミド化し、ポリイミドフィルムを得た。このポリイミドフィルムの厚みは30μmであり、またこのフィルムのガラス転移点は400℃以上であった。
得られたポリイミドフィルムの両側に熱可塑性を示すポリエーテルイミドフィルム(三菱樹脂製:ガラス転移点216℃、厚み20μm)を、更にその両側に銅箔(ジャパンエナジー社製、電解銅箔)厚み9μmを積層し、ロールラミネート機(西村マシナリー社製)にて340℃、8kg/cmにて加熱圧着し、張り合わせたものをロール状に巻き取った。一対の加熱圧着ロールは、表面が炭化クロム系合金で被覆されているものを使用した。この時、加熱圧着部は窒素雰囲気とし、この窒素雰囲気中の酸素濃度は0.2体積%であった。
得られたものを評価するため、高温引張テスト、表面観察を行った。また、ポリイミドフィルムのガラス転移点を測定した。結果を表1に示した。
[実施例4]
加熱圧着の温度を280℃、圧力を50kg/cmとする以外は実施例3と同様とした。
[実施例5]
中心層に使用するポリイミドフィルムを宇部興産社製、商品名:ユーピレックスS(ガラス転移点400℃以上、厚さ25μm)とすること以外は実施例3と同様とした。
[実施例6]
ロールラミネート機の一対の加熱圧着ロールの表面をクロムメッキ被覆した以外は実施例5と同様とした。
[比較例3]
実施例5において、中心層のポリイミドフィルムをポリエーテルイミドフィルム(三菱樹脂製:ガラス転移点216℃、厚さ20μm)に変更する以外は実施例5と同様とした。
[比較例4]
実施例5において、両側のポリイミドフィルムをカプトンENフィルム(ポリイミドフィルム、東レ・デュポン製:ガラス転移点355℃、厚さ25μm)に変更する以外は実施例5と同様とした。
なお、高温引張テスト、表面観察は、下記評価方法により測定、評価した。
高温引張テスト
JIS C 2318に準拠して、1cm巾のテスト片を作製し、引張試験機(オリエンテック社UCT型)にて引張強度を200℃の恒温炉の中で測定した。
表面観察
積層板の表面を目視にて観察し、表面の変色観察と銅箔のはがれ観察を下記の基準で評価した。
〈表面の変色観察〉
○:銅箔に酸化による変色がない。
×:銅箔に酸化による変色がある。
〈銅箔のはがれ観察〉
○:銅箔のはがれなし。
△:銅箔のはがれ若干あり。
×:銅箔のはがれ著しい。
Figure 2005167006
*比較例4は銅箔を張り合わせたが、すぐに剥がれてしまった(実質的に張り付けることができなかった)。

Claims (5)

  1. ガラス転移点が350℃以上であるポリイミドフィルムの両側にガラス転移点が300℃以下であるポリイミド層を積層した複合フィルムの両側に、金属箔をそれぞれ重ね合わせ、真空度が5トル以下の真空雰囲気中又は酸素濃度が0.5体積%以下の窒素雰囲気中で加熱圧着装置により連続的に加熱圧着させることを特徴とするフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法。
  2. 真空雰囲気の真空度が、4トル以下であることを特徴とする請求項1に記載のフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法。
  3. 真空雰囲気中の酸素濃度が、0.4体積%以下であることを特徴とする請求項1に記載のフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法。
  4. 加熱圧着させる装置の金属箔と接触する部分に、超硬合金を使用することを特徴とする請求項1,2又は3に記載のフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法。
  5. 超硬合金の表面を酸化させて用いることを特徴とする請求項4に記載のフレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法。
JP2003404607A 2003-12-03 2003-12-03 フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法 Pending JP2005167006A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003404607A JP2005167006A (ja) 2003-12-03 2003-12-03 フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法
TW093134965A TW200524485A (en) 2003-12-03 2004-11-15 Preparation of flexible metal foil/polyimide laminate
US11/001,017 US20050121138A1 (en) 2003-12-03 2004-12-02 Preparation of flexible metal foil/polyimide laminate
KR1020040100134A KR20050053500A (ko) 2003-12-03 2004-12-02 연성 금속박 폴리이미드 기판의 제조 방법
CNA2004100954694A CN1638169A (zh) 2003-12-03 2004-12-03 柔性金属箔/聚酰亚胺层压制品的制备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003404607A JP2005167006A (ja) 2003-12-03 2003-12-03 フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005167006A true JP2005167006A (ja) 2005-06-23

Family

ID=34631685

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003404607A Pending JP2005167006A (ja) 2003-12-03 2003-12-03 フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20050121138A1 (ja)
JP (1) JP2005167006A (ja)
KR (1) KR20050053500A (ja)
CN (1) CN1638169A (ja)
TW (1) TW200524485A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007168123A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Hitachi Chem Co Ltd 金属箔付フレキシブル基板
JP2007223205A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Shin Etsu Chem Co Ltd フレキシブル積層板及びその製造方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005000576A1 (ja) * 2003-06-25 2005-01-06 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. フレキシブル金属箔ポリイミド積層板
JP3952196B2 (ja) * 2003-06-25 2007-08-01 信越化学工業株式会社 フレキシブル金属箔ポリイミド積層板の製造方法
JP2006015681A (ja) * 2004-07-05 2006-01-19 Shin Etsu Chem Co Ltd フレキシブル金属箔ポリイミド積層板及びその製造方法
JP2006068920A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Shin Etsu Chem Co Ltd フレキシブル銅箔ポリイミド積層板の製造方法
KR101096967B1 (ko) 2004-10-05 2011-12-20 가부시키가이샤 가네카 접착 시트 및 동장 적층판
TWI253455B (en) * 2004-11-12 2006-04-21 Chang Chun Plastics Co Ltd New process for preparing polyimide
KR20090004894A (ko) * 2006-03-31 2009-01-12 구라시키 보세키 가부시키가이샤 열가소성 폴리이미드층을 갖는 연성 적층판 및 그의 제조 방법
TWI319748B (en) * 2006-07-26 2010-01-21 Polyimide composite flexible board and its preparation
CN101164771B (zh) * 2006-10-17 2011-08-10 长春人造树脂厂股份有限公司 聚酰亚胺复合软板及其制法
US20090074615A1 (en) * 2007-09-17 2009-03-19 Ysi Incorporated Microfluidic module including an adhesiveless self-bonding rebondable polyimide
EP2402148B1 (en) * 2010-06-30 2014-10-01 Siemens Aktiengesellschaft Casting method for manufacturing a work piece
CN112646222B (zh) * 2020-12-23 2022-02-11 无锡顺铉新材料有限公司 一种可热压合的高硬度聚酰亚胺薄膜及其制备方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4018631A (en) * 1975-06-12 1977-04-19 General Electric Company Coated cemented carbide product
DE3342678C2 (de) * 1983-11-25 1995-08-31 Held Kurt Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Herstellung metallkaschierter Laminate
EP0483375B1 (en) * 1990-05-15 1996-03-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Sputtering target and production thereof
EP0459452A3 (en) * 1990-05-30 1992-04-08 Ube Industries, Ltd. Aromatic polyimide film laminated with metal foil
SE517473C2 (sv) * 1996-07-19 2002-06-11 Sandvik Ab Vals för varmvalsning med beständighet mot termiska sprickor och förslitning
JP4147639B2 (ja) * 1998-09-29 2008-09-10 宇部興産株式会社 フレキシブル金属箔積層体
US6379784B1 (en) * 1999-09-28 2002-04-30 Ube Industries, Ltd. Aromatic polyimide laminate
JP4362917B2 (ja) * 2000-01-31 2009-11-11 宇部興産株式会社 金属箔積層体およびその製法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007168123A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Hitachi Chem Co Ltd 金属箔付フレキシブル基板
JP2007223205A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Shin Etsu Chem Co Ltd フレキシブル積層板及びその製造方法
JP4692758B2 (ja) * 2006-02-24 2011-06-01 信越化学工業株式会社 フレキシブル積層板及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20050121138A1 (en) 2005-06-09
TW200524485A (en) 2005-07-16
KR20050053500A (ko) 2005-06-08
CN1638169A (zh) 2005-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPWO2008004496A1 (ja) 熱可塑性ポリイミド、これを用いた積層ポリイミドフィルムならびに金属箔積層ポリイミドフィルム
JP2005167006A (ja) フレキシブル金属箔ポリイミド基板の製造方法
JP5163490B2 (ja) 軟磁性金属薄帯積層体およびその製造方法
JP2006068920A (ja) フレキシブル銅箔ポリイミド積層板の製造方法
TWI405522B (zh) Flexible laminated board and its manufacturing method, and flexible printed circuit board
JP6948418B2 (ja) フレキシブル金属張積層板の製造方法
JP5095142B2 (ja) フレキシブルプリント配線板用基板及びその製造方法
JP2007098791A (ja) フレキシブル片面銅張ポリイミド積層板
JP6713825B2 (ja) 片面金属張積層板の製造方法および両面金属張積層板の製造方法
KR100620474B1 (ko) 내열성 플랙서블 적층판의 제조 방법 및 그에 따라제조되는 내열성 플랙서블 적층판
JP4345188B2 (ja) フレキシブル金属箔積層体およびその製造方法
JP2007055165A (ja) フレキシブル銅張積層板及びその製造方法
JP4692758B2 (ja) フレキシブル積層板及びその製造方法
WO2006059692A1 (ja) ポリイミド金属積層体およびこれを用いたハードディスク用サスペンション
JP2006059865A (ja) 基板及びその製造方法
JP4389338B2 (ja) フレキシブル金属箔積層体の製造法
JP2007118477A (ja) 両面金属箔積層板およびその製造方法
JP4332739B2 (ja) フレキシブル銅張積層板の製造方法
JP4408277B2 (ja) ポリイミド金属積層体
JP4174676B2 (ja) フレキシブル銅張積層板の製造方法
JP2003127276A (ja) ポリイミド金属箔積層板及びその製造方法
JP4841100B2 (ja) ポリイミド金属積層板
JP4389337B2 (ja) フレキシブル金属箔積層体及びその製造法
JP2001270038A (ja) フレキシブル金属箔積層体の製造方法
JP2007265543A (ja) Hddサスペンション用積層体の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080618

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081112