JP2005156254A - 板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - Google Patents

板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。
【解決手段】 第1カメラ42の視線51を法線53の方向に対しガラス板41のエッジ41c側に傾け、第1光源44をカケが無い場合の視線51aに対しガラス面41b寄りに配置した。ガラス面41aにカケが有ると、カケによって屈折した視線51bが第1光源を見るようになり、第1カメラがカケを通った明るい光を捕らえる。第2カメラ43の視線52を法線54の方向に対してガラス面41a側に傾け、第2光源45を視線52の延長線(視線52a)に対しガラス面41b寄りに配置した。ガラス面41bにカケが有ると、カケによって屈折した視線52bが第2光源45を見るようになり、第2カメラ43がカケを通った明るい光を捕らえる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、自動車用ガラスや磁気ディスク用のガラス基板等の板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置に関するものである。
板状ガラスのエッジの切断面は、そのままでは鋭利であるため、通常は図10に示すように板状ガラス21のエッジ22の角を面取り部22a,22bのように面取りしたり、或いは図11に示すように、エッジ22全体を蒲鉾状の曲面23に研削し研磨する場合が多い。しかし、このようなエッジ研磨時に、図12に示すように、エッジ22にガラス特有のカケ24等の欠陥が生じることが有る。
このように板状ガラス21のエッジ22に存在するカケ24等の欠陥を検出するガラス板のエッジ欠陥検出装置が知られている(例えば、特許文献1参)。このエッジ欠陥検出装置は、ガラス板を挟む形でカメラと光源を配置し、ガラス板のガラス面に対して垂直上方からカメラで撮影した画像において、ガラス板の表面並びにエッジの一般面が暗くなり、エッジに存在するカケが明るくなるように、光源からカメラに至る光量を絞り調整するようにしたものである。
特開2001−153816号公報
ところで、上記特許文献に記載されたガラス板のエッジ欠陥検出装置によれば、エッジに出現するカケのみを光らせ、ガラス板の他の部分は全て暗くすることができ、カケの検出を容易にかつ効率よく行うことができる点で優れている。
しかし、このガラス板のエッジ欠陥検出装置のように、ガラス板のガラス面に対して垂直上方からカメラで撮影した画像に基づいて、半透明の摺りガラス状態になったエッジに存在するカケを検出する従来技術では、以下のような問題点が有る。
(1)図13に示すように、基本的にカメラ30の視野はガラス板31に対して垂直になるため、カメラ30と反対側のガラス面31aにカケ32が存在する場合、そのカケ32が摺りガラス状態になったエッジ33の影に隠れてしまい、カケ32を検出するのが難しい。このような問題は、エッジ33が図13の実線で示すように上下対称に研磨されずに、同図の一点鎖線で示すように上下非対称に研磨された場合(上下の削り代のバラツキが有る場合)により顕著になる。
(2)図14に示すように、カメラ30と同じ側のガラス面31bにカケ34が存在する場合、そのカケ34の背景に摺りガラス状態になったエッジ33が存在することになるため、その背景に影響されてカケ34を検出するのが難しい。このような問題は、エッジ33が図14の一点鎖線で示すように上下非対称に研磨された場合により顕著になる。
本発明は、このような従来の問題点に着目してなされたものであり、その目的は、板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、請求項1に係る発明は、板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出方法において、前記板状ガラスの一方のガラス面側に存在するカケを検出する第1撮像手段の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記板状ガラスの他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、前記他方のガラス面側に存在するカケを検出する第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、第2照明手段を、前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2撮像手段の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置することを要旨とする。
これによれば、板状ガラスの一方のガラス面にカケが有ると、第1撮像手段の視線がカケによって屈折し、その屈折した視線が第1照明手段を見るようになる。これにより、第1撮像手段は、一方のガラス面側に存在するカケを通った光強度の大きい明るい光を捕らえることができるので、一方のガラス面側に存在するカケを、摺りガラス状態になったエッジに影響されずに検出できる。
また、板状ガラスの他方のガラス面にカケが有ると、第2撮像手段の視線がカケによって屈折し、その屈折した視線が第2照明手段を見るようになる。これにより、第2撮像手段は、他方のガラス面側に存在するカケを通った光強度の大きい明るい光を捕らえることができるので、他方のガラス面側に存在するカケを、摺りガラス状態になったエッジに影響されずに検出できる。
したがって、板状ガラス板のいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の板状ガラスの欠陥検出方法において、前記第1撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記エッジ側に傾ける角度を3°〜30°とし、前記第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾ける角度を3°〜30°とすることを要旨とする。
これによれば、板状ガラスの一方のガラス面側のエッジ及びその他方のガラス面側のエッジにそれぞれ存在するいろんな角度を持つカケを検出できる。
請求項3に係る発明は、板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出装置において、前記板状ガラスの一方のガラス面側に配置される第1撮像手段及び第2撮像手段と、前記板状ガラスの他方のガラス面側に配置される第1照明手段及び第2照明手段とを備え、前記一方のガラス面側に存在するカケを検出する前記第1撮像手段の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、前記第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第1撮像手段の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、前記他方のガラス面側に存在するカケを検出する前記第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、前記第2照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2撮像手段の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置したことを要旨とする。
これによれば、板状ガラスの一方のガラス面にカケが有ると、第1撮像手段の視線がカケによって屈折し、その屈折した視線が第1照明手段を見るようになるので、一方のガラス面側に存在するカケを、摺りガラス状態になったエッジに影響されずに検出できる。
また、板状ガラスの他方のガラス面にカケが有ると、第2撮像手段の視線がカケによって屈折し、その屈折した視線が第2照明手段を見るようになるので、他方のガラス面側に
存在するカケを、摺りガラス状態になったエッジに影響されずに検出できる。
したがって、板状ガラス板のいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる。
請求項4に係る発明は、請求項3に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、前記第1撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記エッジ側に傾ける角度を3°〜30°とし、前記第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾ける角度を3°〜30°とすることを要旨とする。
これによれば、板状ガラスの一方のガラス面側のエッジ及びその他方のガラス面側のエッジにそれぞれ存在するいろんな角度を持つカケを検出できる。
請求項5に係る発明は、板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出方法において、前記板状ガラスの一方のガラス面側に存在するカケを検出する第1の視線と、前記板状ガラスの他方のガラス面側に存在するカケを検出する第2の視線とを、1つの撮像手段の視野内に配置した2つの反射部材により作り、前記第1の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記板状ガラスの他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第1の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、前記第2の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、第2照明手段を、前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置することを要旨とする。
これによれば、板状ガラス板のいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できるとともに、1つの撮像手段によりカケを検出できるので、1台当たりの欠陥検出装置のコストを低減することができる。
請求項6に係る発明は、板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出装置において、1つの撮像手段と、前記撮像手段の視野内に配置され、前記板状ガラスの一方のガラス面側に存在するカケを検出する第1の視線と、前記板状ガラスの他方のガラス面側に存在するカケを検出する第2の視線とを作る2つの反射部材と、第1照明手段及び第2照明手段とを備え、前記第1の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、前記第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記板状ガラスの他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第1の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、前記第2の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、前記第2照明手段を、前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置することを要旨とする。
これによれば、板状ガラス板のいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できるとともに、1つの撮像手段によりカケを検出できるので、1台当たりの欠陥検出装置のコストを低減することができる。
請求項7に係る発明は、請求項6に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、前記1つの撮像手段と前記2つの反射部材は前記板状ガラスの一方のガラス面側に配置され、前記第1照明手段及び第2照明手段は前記他方のガラス面側に配置されていることを要旨とする。
これによれば、板状ガラスの搬送方向による制約を受けずに、板状ガラスに対して配置が可能な欠陥検出装置を実現できる。
請求項8に係る発明は、請求項6に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、前記1
つの撮像手段は前記板状ガラスのエッジの側方に配置され、前記2つの反射部材のうちの前記第1の視線を作る反射部材と前記第2照明手段は前記一方のガラス面側に配置され、そして、前記2つの反射部材のうちの前記第2の視線を作る反射部材と前記第1照明手段は前記他方のガラス面側に配置されていることを要旨とする。
これによれば、板状ガラスの搬送方向に沿って延びているエッジに存在するカケを検出するのに好適な欠陥検出装置を実現することができる。
以上説明したように、本発明によれば、板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる。
以下、本発明を具体化した実施の形態を図面に基づいて説明する。
[第1実施形態]
本発明の第1実施形態を図1〜図7に基づいて説明する。図1は第1実施形態に係る板状ガラスの欠陥検出装置の光学系を示し、図2はその電気的構成を示している。
図1に示す板状ガラスの欠陥検出装置40は、ガラス板41のエッジ41cに存在するカケを検出する検査装置で、摺りガラス状態になっている正常な研削面であるエッジ41cと、クリアな鏡面状となっているカケ部分とでは、光源からの光の屈折状態が異なることを利用して、カケを検出するようになっている。本実施形態では、板状ガラスとして、磁気ディスク用のガラス基板等の、両面が平行なガラス板41を用いている。
この欠陥検出装置40は、図1に示すように、ガラス板41の一方のガラス面41a側に配置される第1撮像手段としての第1カメラ42と、第2撮像手段としての第2カメラ43と、ガラス板41の他方のガラス面41b側に配置される第1照明手段としての第1光源44と、第2照明手段としての第2光源45とを備えている。
第1カメラ42と第2カメラ43は、それぞれCCDカメラである。また、第1光源44と第2光源45はそれぞれ、半導体レーザダイオード等で構成した点光源、線光源或いは面光源である。
欠陥検出装置40では、ガラス板41の一方のガラス面41a側に存在するカケを検出する第1の視線(第1カメラ42の視線)51を、一方のガラス面41aにおける法線方向(法線53の方向)に対してエッジ41c側に傾ける。つまり、第1カメラ42は、第1の視線51が法線方向(図1で上下方向)に対して同図で右側に所定の角度傾くように、設置される。また、第1光源44を、一方のガラス面41aからガラス板41に入射して他方のガラス面41bのカケの無い個所から出射する第1の視線51の延長線(視線51a)に対して他方のガラス面41b寄りに配置してある。
また、この欠陥検出装置40では、ガラス板41の他方のガラス面41b側に存在するカケを検出する第2の視線(第2カメラ43の視線)52を一方のガラス面41aにおける法線方向(法線54の方向)に対して一方のガラス面41a側に傾ける。つまり、第2カメラ43は、第2の視線52が法線方向(図1で上下方向)に対して同図で左側に所定の角度傾くように、設置される。また、第2光源45を、一方のガラス面41aからガラス板41に入射して他方のガラス面41bのカケの無い個所から出射する第2の視線52の延長線(視線52a)に対して他方のガラス面41b寄りに配置してある。
欠陥検出装置40は、図2に示すように、第1カメラ42及び第2カメラ43からそれ
ぞれ出力される映像信号を画像として表示する画像表示装置47と、この画像表示装置47で表示される画像中に有る輝点がカケであるか否かを判別し、その判別結果を表示して作業者に知らせる欠陥判別装置48とを備える。
図3は、両面が平行なガラス板41に一方のガラス面41aから入射角度α1で入射した光が、その他方のガラス面41bから入射角と同じ角度で出射する様子を示している。ガラス板41の屈折率をnとした場合、sin(α1)/sin(α2)=nの関係式で表わされる角度(屈折角α2)で光はガラス板41の内部に入射し、出射時にはその逆の角度で、つまり、その他方のガラス面41bから入射角度α1と同じ角度で出射する。その結果、ガラス面41bからの出射光は、入射光に対してガラス板41の厚さtに比例した分だけシフトするが、入射光と同じ方向に進む。
そのシフト量をs、ガラス板41内の光路長をL、ガラス板41の厚さをtとすると、
t/L=cos(α2)と
s/L=sin(α1−α2)より、
s=t×sin(α1−α2)/cos(α2)
となる。
光には可逆性が有るため、図1に示す矢印付の実線及び破線は、光の入射経路或いは光の出射経路として考えることができるし、入っていくる光をカメラで捕らえる「カメラの視線」として考えることもできる。そこで、本明細書では、「入射」及び「出射」はカメラの視線、即ち第1カメラ42の視線である第1の視線51及び第2カメラ43の視線である第2の視線52のことを言う。そして、ガラス板41の一方のガラス面41aにそれぞれ入射する第1の視線51及び第2の視線52の傾き角度をそれぞれ「視線の入射角度」といい、θ或いはαで表わす(図3〜図7参照)。
図1に示す欠陥検出装置40では、カメラの視線(第1の視線51及び第2の視線52)がガラス板41に入射する個所(一方のガラス面41a)或いは視線がガラス板41から出射する個所(他方のガラス面41b)にカケが有ると、その個所でカメラの視線の出射角度が変わるのを利用して、カケを検出するようになっている。
図4は、一方のガラス面41aからガラス板41に入射して他方のガラス面41bのカケの無い個所から出射する第2の視線52の延長線である「カケが無い場合の視線」52aと、他方のガラス面41bのエッジ41cに有るカケ62によって第2の視線52が屈折した「カケによって屈折した視線」52bとを示している。
また、図5は、一方のガラス面41aのカケの無い個所からガラス板41に入射して他方のガラス面41bから出射する第1の視線51の延長線である「カケが無い場合の視線」51aと、一方のガラス面41bのエッジ41cに有るカケ61によって第1の視線51が屈折した「カケによって屈折した視線」51bとを示している。
カケ61,62のような実際のカケの形状は貝殻のような曲面になっているため、ミクロ的に見ると、CCDカメラである第1カメラ42及び第2カメラ43の各画素に対応するカケの各部分で視線51,52の出射していく角度が異なるが、以下の説明では、代表としてカケの傾き角度(カケ傾き)をφとする。
図4において、ガラス板41の他方のガラス面41bに有るカケ62の傾き角度(カケ傾き)をφとすると、ガラス板41内を通ってカケ62に入射する第2の視線52の入射角度β1は、
β1=α2−φ
となる。カケ傾きφが大きくなると、その入射角度β1が小さくなるので、カケ62によって屈折した視線52bの出射角度β2も小さくなる。つまり、カケ62によって屈折した視線52bの出射角度β2は、カケが無い場合の視線52aよりも小さくなり、その視線52bは視線52aよりも他方のガラス面41b寄りの出射になる。
φ>α2になった場合、カケ62によって屈折した視線52bは、ガラス板41内における視線52の通路(L)の延長線より他方のガラス面41b寄りの出射になるため、φ≦α2の場合よりも、ガラス面41b側により一層寄った出射になる。
このため、欠陥検出装置40では、図1及び図4に示すように、第2光源45を、カケが無い場合の視線52aよりも他方のガラス面41b寄りの位置に配置し、ガラス面41bにカケ62が有ると、第2の視線52がカケ62によって屈折し、カケ62によって屈折した視線52bが第2光源45を見るようになっている。カケ62によって屈折した視線52bが第2光源45を見ることで、第2カメラ43は、カケ62を通った光強度の大きい光(明るい光)を捕らえることができ、他方のガラス面41bのエッジ41cに存在するカケ62が検出される。
また、図5において、ガラス板41の一方のガラス面41aに有るカケ61の傾き角度(カケ傾き)をφとすると、カケ61の個所でガラス板41に入射する第1の視線51の入射角度γ1は、
γ1=θ−φ
となる。カケ傾きφが大きくなると、その入射角度γ1が小さくなるので、カケ61によって屈折する第1の視線51の屈折角度γ2も小さくなり、ガラス板41内を通る視線51の光路長(L)がカケ61が無い場合における光路長(L)よりも長くなる。つまり、第1の視線51がカケ61によって屈折した視線51bが他方のガラス面41bから出射する位置は、カケ61が無い場合における第1の視線51の出射位置よりもエッジ41cから離れ、カケが無い場合の視線51aよりも他方のガラス面41b寄りの出射になる。
なお、カケ61によって屈折した視線51bは、
sin(δ2)/sin(δ1)=n(n:ガラス板41の屈折率)
の関係式で表わされる角度(屈折角δ2)で、他方のガラス面41bから大気中へ出射する。
このため、欠陥検出装置40では、図1及び図5に示すように、第1光源44を、カケが無い場合の視線51aから外して、他方のガラス面41b寄りの位置に配置してあるので、ガラス面41aにカケ61が有ると、第1の視線51がカケ61によって屈折し、カケ61によって屈折した視線51bが第1光源44を見るようになっている。カケ61によって屈折した視線51bが第1光源44を見ることで、第1カメラ42は、カケ61を通った光強度の大きい光(明るい光)を捕らえることができ、一方のガラス面41aのエッジ41cに存在するカケ61が検出される。
次に、上記構成を有する欠陥検出装置40において、第1カメラ42を、第1の視線51が法線方向に対してエッジ41c側に所定の角度傾くように設置する際の、その所定の角度(視線51の角度)と、第1光源44を配置する位置とについて、図6及び図7を参照して説明する。この説明において、ガラス板41の屈折率nをn=1.52とする。
上述したように、ガラス板41のエッジ41cに存在するカケは、扇形の貝殻状の形状をしており、カケの向きは一定ではないが、一番面積の大きい代表的な面の角度で考える。ここでは、カケ61が図6に示すようにガラス板41の一方のガラス面41aにあり、第1カメラ42をガラス面41aにおける法線方向に対してエッジ41c側に傾けた配置
について考える。
カケ61全体にガラス板41を透過した光が散乱されずに入るためには、図6に示すように他方のガラス面41b側からガラス板41に入射する光がガラス板41内でβの角度で進む必要が有る。
エッジ41cを研磨する際の上下削り代のばらつき、及びカケ61の幅を考慮した場合、経験上、図6に示すdの幅はガラス板41の厚さtの1割程度必要になる。
つまり、d>0.1×t、β>atan(0.1)=5.71°にする必要が有る。
カケ傾きφがφ=0°の場合、β=5.71°とすると、図7に示すように、視線51の入射角度αは、
α=1.52×sin(β)=8.70°となる。
カケ傾きφは、代表的な面で考えた場合、0°〜30°に分布している場合がほとんどで、特に10°付近の値になる場合が多い。
α=8.70°で、カケ傾きφを10°とすると、
γ=asin(sin(asin(sin(8.7−10)/1.52)+10)×
1.52)=13.98°となる。
また、視線51の入射角度がαとなるように第1カメラ42を設置した場合、第1光源44を、視線51の延長線であるカケが無い場合の視線51a(図5参照)よりも他方のガラス面41b寄りに配置するには、経験上
(γ−α)>2°
とする必要が有る。
上記より、いろんな角度(カケ傾きθ)を持つカケを検出するためには、第1カメラ42及び第1光源44を、下記の条件に設置するのが望ましい。
(A)3°<α<30°
(B)(α+3)<γ<(α+20)
即ち、第1カメラ42の視線51を法線方向に対してエッジ41c側に傾ける角度(第1の視線51の入射角度α)を、3°〜30°の範囲内にし、第1光源44を、視線51の出射角度γが上記の条件(B)を満足する視線上に位置させるのが望ましい。
αが3°より小さいと、視線51が上下削り代の差であるd(図6参照)の幅の中に入ってしまい、カケ欠陥を検出できるだけの光量が得られないことがあるので、好ましくない。
また、αが30°より大きいと、視線51bが光源44から外れてしまうことがあるので、好ましくない。
また、第2カメラ43を、第2の視線52が法線方向に対してエッジ41c側に所定の角度傾くように設置する際の、その所定の角度(視線52の角度)と、第2光源45を配置する位置とは、上述した第1カメラ42と第1光源44の場合と同様である。即ち、いろんな角度(カケ傾きθ)を持つカケを検出するためには、第2カメラ43及び第2光源45を、上記の条件(A)及び(B)を満足するように設置するのが望ましい。
以上のように構成された第1実施形態によれば、以下の作用効果を奏する。
(イ)ガラス板41の一方のガラス面41a側に存在するカケを検出する第1の視線(第1カメラ42の視線)51を、ガラス面41aにおける法線方向に対してエッジ41c側に傾けてあり、第1光源44を、カケが無い場合の視線51aから外して、他方のガラ
ス面41b寄りの位置に配置してある。このため、一方のガラス面41aにカケ61が有ると、第1の視線51がカケ61によって屈折し、カケ61によって屈折した視線51bが第1光源44を見るようになる。これにより、第1カメラ42は、カケ61を通った光強度の大きい明るい光を捕らえることができる。したがって、一方のガラス面41aのエッジ41cに存在するカケ61を、摺りガラス状態になったエッジ41cに影響されずに検出できる。
(ロ)ガラス板41の他方のガラス面41b側に存在するカケを検出する第2の視線(第2カメラ43の視線)52を一方のガラス面41aにおける法線方向に対して一方のガラス面41a側に傾けてあり、第2光源45を、ガラス面41bのカケの無い個所から出射する第2の視線52の延長線(視線52a)に対してガラス面41b寄りに配置して有る。このため、他方のガラス面41bにカケ62が有ると、第2の視線52がカケ62によって屈折し、カケ62によって屈折した視線52bが第2光源45を見るようになる。これにより、第2カメラ43は、カケ62を通った光強度の大きい明るい光を捕らえることができる。したがって、他方のガラス面41bのエッジ41cに存在するカケ62を、摺りガラス状態になったエッジ41cに影響されずに検出できる。
(ハ)上記(イ)と(ロ)により、ガラス板41のいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジ41cに影響されずにカケを検出できる。
(ニ)第1カメラ42及び第1光源44を、上記の条件(A),(B)に設置することにより、一方のガラス面41a側のエッジ41cに存在するいろんな角度(カケ傾きθ)を持つカケ61を検出できる。
(ホ)第2カメラ43及び第2光源45を、上記の条件(A),(B)に設置することにより、他方のガラス面41b側のエッジ41cに存在するいろんな角度(カケ傾きθ)を持つカケ62を検出できる。
(ヘ)第1カメラ42及び第1光源44と第2カメラ43及び第2光源45とをそれぞれ、上記の条件(A),(B)に設置することにより、図1に示す板状ガラスの欠陥検出装置40の光学系ユニットをコンパクトに構成することができる。これにより、欠陥検出装置40を複数個用意し、これらの装置の光学系ユニットをガラス板41の搬送方向に沿って配置して、エッジ41cに存在するカケを複数個の欠陥検出装置40により検出する際に、各光学系ユニットを配置するためのスペースを小さくすることができる。
[第2実施形態]
本発明の第2実施形態を図8に基づいて説明する。本実施形態の説明において、上記第1実施形態と同様の部位には同一の符号を付して重複した説明を省略する。
図8に示す板状ガラスの欠陥検出装置40Aの光学系は、撮像手段としての1つのカメラ70と、反射部材としての2つのミラー73,74と、第1照明手段としての第1光源44と、第2照明手段としての第2光源45とを備えている。
カメラ70は、上記第1実施形態のカメラ42,43と同様のCCDカメラであり、ガラス板41の一方のガラス面41a側の空間に配置されている。2つのミラー73,74は、ガラス板41の一方のガラス面41a側の空間に配置され、2つの光源44,45は他方のガラス面41b側の空間に配置されている。
ミラー73,74はカメラ70の視野内に配置され、ミラー73はガラス板41の一方のガラス面41aに存在するカケ61を検出する第1の視線71を作り、ミラー74は他方のガラス面41bに存在するカケ62を検出する第2の視線72を作るようにそれぞれ
配置されている。
こうして、カメラ70と2つのミラー73,74はガラス板41の一方のガラス面41a側の空間に配置され、2つの光源44,45は他方のガラス面41b側の空間に配置されている。
ここで、第1の視線71は図1における第1の視線51に、第2の視線72は同図における第2の視線52にそれぞれ相当する。また、視線71a,視線71b,視線72aおよび視線72bは、図1に示す上記視線51a,視線51b,視線52aおよび視線52bにそれぞれ相当する。
以上のように構成された第2実施形態によれば、上記第1実施形態の奏する作用効果に加えて、以下の作用効果を奏する。
(ト)1つのカメラ70によりガラス板41のいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジ41cに影響されずにカケを検出できる。したがって、1台当たりの欠陥検出装置40Aのコストを低減することができる。
(チ)カメラ70と2つのミラー73,74は、ガラス板41の一方のガラス面41a側の空間に配置され、2つの光源44,45は他方のガラス面41b側の空間に配置された構成により、欠陥検出装置40Aの光学系を、ガラス板41の搬送方向による制約を受けずに、ガラス板41に対して配置することができる。
[第3実施形態]
本発明の第3実施形態を図9に基づいて説明する。
図9に示す板状ガラスの欠陥検出装置40Bの光学系は、撮像手段としての1つのカメラ80と、反射部材としての2つのミラー83,84と、第1照明手段としての第1光源44と、第2照明手段としての第2光源45とを備えている。
カメラ80は、上記カメラ42,43と同様のCCDカメラであり、ガラス板41のエッジ41cの側方の空間に配置されている。ミラー83と第2光源45はガラス板41の一方のガラス面41a側の空間に配置され、ミラー84と第1光源44は他方のガラス面41b側の空間に配置されている。
ミラー83,84はカメラ80の視野内に配置され、ミラー83は一方のガラス面41aに存在するカケ61を検出する第1の視線81を作り、ミラー84は他方のガラス面41bに存在するカケ62を検出する第2の視線82を作るようにそれぞれ配置されている。
ここで、第1の視線81は図1における第1の視線51に、第2の視線82は同図における第2の視線52にそれぞれ相当する。また、また、視線81a,視線81b,視線82aおよび視線82bは、図1に示す上記視線51a,視線51b,視線52aおよび視線52bにそれぞれ相当する。
以上のように構成された第3実施形態によれば、上記第1実施形態の奏する作用効果に加えて、以下の作用効果を奏する。
(リ)上記第2実施形態の奏する作用効果(ト)と同様の理由により、1台当たりの欠陥検出装置40Bのコストを低減することができる。
(ヌ)カメラ80はガラス板41のエッジ41cの側方に配置され、ミラー83と第2光源45はガラス板41の一方のガラス面41a側の空間に配置され、ミラー84と第1
光源44は他方のガラス面41b側の空間に配置されている。この構成により、ガラス板41が図9の紙面に垂直な方向に搬送されるとすると、その搬送方向に沿って延びているエッジ41cに存在するカケを検出するのに好適な欠陥検出装置40Bを実現することができる。
なお、この発明は以下のように変更して具体化することもできる。
・上記第1実施形態では、板状ガラスとして、磁気ディスク用のガラス基板等の、両面が平行なガラス板41を用いているが、本発明は両面が平行なガラス板41のカケを検出するのに広く適用可能である。
・上記第1実施形態では、板状ガラスとして両面が平行な平面であるガラス板41を用いているが、本発明は、自動車用ガラスや建築物の窓用ガラスのように両面が曲面になっている板状ガラスのエッジに存在するカケを検出するのに広く適用可能である。
・上記第1実施形態では、欠陥検出装置40に用いる電気的構成の一例を図2で示して説明したが、本発明の欠陥検出装置に用いる電気的構成は、同図に示す構成に限定されない。その電気的構成は、第1カメラ42及び第2カメラ43からの出力に基づいてカケが有るか否かを判別し、その判別結果を表示或いは音等で作業者に知らせることのできる欠陥判別装置を備えるものであればよい。
以下、上記一実施形態から把握できる技術思想について説明する。
(1)上記請求項2に記載の板状ガラスの欠陥検出方法において、
前記第1撮像手段及び第1照明手段を下記の条件を満たすように設置し、
(条件1)3°<α<30°
(条件2)(α+3)<γ<(α+20)
ここで、αは前記一方のガラス面に対する前記第1撮像手段の視線及び前記第2撮像手段の視線の入射角度、γは前記他方のガラス面から出射する前記第1撮像手段の視線及び前記第2撮像手段の視線の出射角度であり、
前記第2撮像手段及び第2照明手段を上記の条件を満たすように設置することを特徴とする板状ガラスの欠陥検出方法。
これによれば、板状ガラスの一方のガラス面側及び他方のガラス面側の各エッジにそれぞれ存在するいろんな角度(カケ傾きθ)を持つカケを検出できる。また、装置の光学系ユニットをコンパクトに構成することができ、エッジに存在するカケを複数個の欠陥検出装置により検出する際に、各光学系ユニットを配置するためのスペースを小さくすることができる。
(2)上記請求項3に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、
前記第1撮像手段及び第1照明手段を下記の条件を満たすように設置し、
(条件1)3°<α<30°
(条件2)(α+3)<γ<(α+20)
ここで、αは前記一方のガラス面に対する前記第1撮像手段の視線及び前記第2撮像手段の視線の入射角度、γは前記他方のガラス面から出射する前記第1撮像手段の視線及び前記第2撮像手段の視線の出射角度であり、
前記第2撮像手段及び第2照明手段を上記の条件を満たすように設置することを特徴とする板状ガラスの欠陥検出装置。
これによれば、板状ガラスの一方のガラス面側及び他方のガラス面側の各エッジにそれぞれ存在するいろんな角度(カケ傾きθ)を持つカケを検出できる。また、装置の光学系ユニットをコンパクトに構成することができ、エッジに存在するカケを複数個の欠陥検出
装置により検出する際に、各光学系ユニットを配置するためのスペースを小さくすることができる。
第1実施形態に係る板状ガラスの欠陥検出装置の光学系を示す側面図。 同欠陥検出装置に用いる電気的構成を示すブロック図。 ガラス板への入射光と、入射光と同じ角度で出射する出射光を示す説明図。 第2カメラと第2光源の配置を示す説明図。 第1カメラと第1光源の配置を示す説明図。 カケが有る場合における視線の入射角度と出射角度を示す説明図。 カケが無い場合における視線の入射角度と出射角度を示す説明図。 第2実施形態に係る板状ガラスの欠陥検出装置の光学系を示す側面図。 第3実施形態に係る板状ガラスの欠陥検出装置の光学系を示す側面図。 面取りしたガラス板のエッジを示す側面図。 研磨したガラス板のエッジを示す側面図。 エッジにカケが有るガラス板の一部を示す斜視図。 従来技術でガラス板の一方のガラス面に有るカケを検出する場合の説明図。 従来技術でガラス板の他方のガラス面に有るカケを検出する場合の説明図。
符号の説明
40,40A,40B…欠陥検出装置、41…ガラス板、41a,41b…ガラス面、41c…エッジ、42…第1カメラ、43…第2カメラ、44…第1光源、45…第2光源、51,51a,51b,52,52a,52b,71a,71b,72a,72b,81a,81b,82a,82b…視線、51,71,81…第1の視線、52,72,82…第2の視線、61,62…カケ、70,80…カメラ。

Claims (8)

  1. 板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出方法において、
    前記板状ガラスの一方のガラス面側に存在するカケを検出する第1撮像手段の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記板状ガラスの他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、
    前記他方のガラス面側に存在するカケを検出する第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、第2照明手段を、前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2撮像手段の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置することを特徴とする板状ガラスの欠陥検出方法。
  2. 請求項1に記載の板状ガラスの欠陥検出方法において、
    前記第1撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記エッジ側に傾ける角度を3°〜30°とし、
    前記第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾ける角度を3°〜30°とすることを特徴とする板状ガラスの欠陥検出方法。
  3. 板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出装置において、
    前記板状ガラスの一方のガラス面側に配置される第1撮像手段及び第2撮像手段と、前記板状ガラスの他方のガラス面側に配置される第1照明手段及び第2照明手段とを備え、
    前記一方のガラス面側に存在するカケを検出する前記第1撮像手段の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、前記第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第1撮像手段の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、
    前記他方のガラス面側に存在するカケを検出する前記第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、前記第2照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2撮像手段の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置したことを特徴とする板状ガラスの欠陥検出装置。
  4. 請求項3に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、
    前記第1撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記エッジ側に傾ける角度を3°〜30°とし、
    前記第2撮像手段の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾ける角度を3°〜30°とすることを特徴とする板状ガラスの欠陥検出装置。
  5. 板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出方法において、
    前記板状ガラスの一方のガラス面側に存在するカケを検出する第1の視線と、前記板状ガラスの他方のガラス面側に存在するカケを検出する第2の視線とを、1つの撮像手段の視野内に配置した2つの反射部材により作り、
    前記第1の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記板状ガラスの他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第1の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、
    前記第2の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、第2照明手段を、前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置することを特徴とする板状ガラスの欠陥検出方法
  6. 板状ガラスのエッジに生じるカケを検出する板状ガラスの欠陥検出装置において、
    1つの撮像手段と、
    前記撮像手段の視野内に配置され、前記板状ガラスの一方のガラス面側に存在するカケを検出する第1の視線と、前記板状ガラスの他方のガラス面側に存在するカケを検出する第2の視線とを作る2つの反射部材と、
    第1照明手段及び第2照明手段とを備え、
    前記第1の視線を前記一方のガラス面における法線方向に対して前記エッジ側に傾けるとともに、前記第1照明手段を、前記一方のガラス面から前記板状ガラスに入射して前記板状ガラスの他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第1の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置し、
    前記第2の視線を前記法線方向に対して前記一方のガラス面側に傾けるとともに、前記第2照明手段を、前記他方のガラス面のカケの無い個所から出射する前記第2の視線の延長線に対して前記他方のガラス面寄りに配置することを特徴とする板状ガラスの欠陥検出装置。
  7. 請求項6に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、
    前記1つの撮像手段と前記2つの反射部材は前記板状ガラスの一方のガラス面側に配置され、前記第1照明手段及び第2照明手段は前記他方のガラス面側に配置されていることを特徴とする板状ガラスの欠陥検出装置。
  8. 請求項6に記載の板状ガラスの欠陥検出装置において、
    前記1つの撮像手段は前記板状ガラスのエッジの側方に配置され、前記2つの反射部材のうちの前記第1の視線を作る反射部材と前記第2照明手段は前記一方のガラス面側に配置され、そして、前記2つの反射部材のうちの前記第2の視線を作る反射部材と前記第1照明手段は前記他方のガラス面側に配置されていることを特徴とする板状ガラスの欠陥検出装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007147433A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Nano Scope Ltd セラミック板の欠陥検出方法と装置
KR100791277B1 (ko) * 2006-09-12 2008-01-04 주식회사 케이엔제이 평판 디스플레이 패널 검사장치
WO2012153718A1 (ja) * 2011-05-12 2012-11-15 コニカミノルタホールディングス株式会社 ガラスシートの端面検査方法、及びガラスシートの端面検査装置
WO2019160769A1 (en) * 2018-02-13 2019-08-22 Corning Incorporated Apparatus and method for inspecting a glass sheet

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008014697A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Nikon Corp 表面検査装置
KR101318246B1 (ko) * 2007-02-21 2013-10-16 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 불량 판별 장치 및 방법
JP5418983B2 (ja) * 2010-02-26 2014-02-19 旭硝子株式会社 矩形板状物の割れ検査方法及び検査装置
CN103175569B (zh) * 2011-12-21 2015-07-15 北京兆维电子(集团)有限责任公司 单光源双相机的采集装置
HUE056308T2 (hu) * 2013-03-19 2022-02-28 Hennecke Systems Gmbh Eljárás és rendszer sík félvezetõ tárgyak ellenõrzéséhez
TWI557407B (zh) * 2014-03-05 2016-11-11 晶元光電股份有限公司 晶粒檢測方法
CN107131832B (zh) * 2016-02-29 2019-07-09 深圳市升瑞科仪光电有限公司 Lcd玻璃磨边效果检测方法和装置
CN107843604B (zh) * 2017-12-19 2024-04-05 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
CN109916910B (zh) * 2019-03-27 2022-02-25 中建材凯盛机器人(上海)有限公司 光伏玻璃边部缺陷检测系统及相应的方法
CN109855672A (zh) * 2019-04-25 2019-06-07 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 一种带倒角弧度玻璃板自动检测装置
CN110596138A (zh) * 2019-08-14 2019-12-20 深圳格兰达智能装备股份有限公司 一种ic料条视觉检测及墨点标记设备
JP6755603B1 (ja) * 2019-12-25 2020-09-16 上野精機株式会社 電子部品の処理装置
TWI805931B (zh) * 2020-06-23 2023-06-21 方碼科技有限公司 物件之符碼的讀取方法及其讀取設備

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3013903B2 (ja) * 1991-01-31 2000-02-28 セントラル硝子株式会社 板ガラスの欠点検出装置
JP3141974B2 (ja) * 1993-12-24 2001-03-07 日立電子エンジニアリング株式会社 ガラスディスクの外周欠陥検出装置および外周欠陥検出方法
JP2738300B2 (ja) * 1994-06-20 1998-04-08 白柳式撰果機株式会社 塊状青果物のカメラ選別機に用いる間接照明型多面撮影装置
JP2001208702A (ja) * 2000-01-31 2001-08-03 Nippon Sheet Glass Co Ltd 欠点検査方法及び欠点検査装置
JP2003098122A (ja) * 2001-09-21 2003-04-03 Toshiba Ceramics Co Ltd ガラス基板の外観検査装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007147433A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Nano Scope Ltd セラミック板の欠陥検出方法と装置
KR100791277B1 (ko) * 2006-09-12 2008-01-04 주식회사 케이엔제이 평판 디스플레이 패널 검사장치
WO2012153718A1 (ja) * 2011-05-12 2012-11-15 コニカミノルタホールディングス株式会社 ガラスシートの端面検査方法、及びガラスシートの端面検査装置
WO2019160769A1 (en) * 2018-02-13 2019-08-22 Corning Incorporated Apparatus and method for inspecting a glass sheet
CN111837027A (zh) * 2018-02-13 2020-10-27 康宁公司 用于检测玻璃片的设备和方法
JP2021513080A (ja) * 2018-02-13 2021-05-20 コーニング インコーポレイテッド ガラスシートを検査するための装置及び方法
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