CN107843604B - 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及其检测方法,包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元发出的光通过双层基板的边缘到达第一摄像单元和第二摄像单元,从而避免第一基板和第二基板的相互干扰,可直接通过图像分析检测双层基板边缘的缺陷,具有检测结果准确、检测快速的优点。

Description

一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
技术领域
本发明涉及一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法,属于显示面板检测设备技术领域。
背景技术
在显示面板生产过程中,通常需要对面板进行玻璃边缘的检测,确定玻璃基板的边缘是否存在裂片、划痕及破损等异常,以及时采取措施防止异常基板对后续生产制程造成影响。以往的面板生产中,由于玻璃尺寸相对较小,且产能要求相对较低,玻璃通常为单片搬运、移载和检测;例如用单层的机械手臂移载单片玻璃进行传输,进行玻璃边缘检测时,只需将载有单层玻璃的机械手臂移载到检测单元(如CCD相机)下方进行拍照检测,每次完成单片基板的边缘检查。
而随着面板尺寸的不断增大以及生产效率的提高,单片较大基板的运输存在稳定性低容易破片等技术问题,通常会将大片的基板切割成两片,进行运输和检测等;例如机械手臂会相应设计为双层手臂,但边缘检查的时候,对应的检测装置仍只适用于单层玻璃的检测,上层玻璃检测时,下层玻璃会对上层玻璃造成影响;下层玻璃检测时,上层玻璃又会对下层玻璃造成影响,使得双层玻璃边缘检测较为困难,且效率较低。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:现有的光学检测装置只能检测单层待测物边缘的缺陷,无法对双层基板进行有效检测。
为解决技术问题,提供一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及其检测方法,从而可以同时对双层基板进行检测,并且不存在干扰,检测准确。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一方面,本发明提供一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板,还包括检测装置,所述检测装置设在双层基板的一侧,所述检测装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一夹角与所述第二夹角相等。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一夹角与所述第二夹角为5°-10°。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一摄像单元和第二摄像单元与所述第一基板的间距均为105-115mm。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一摄像单元和第二摄像单元的焦距不同。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一基板和第二基板之间的间距为65mm。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括照明单元,所述照明单元设置于所述双层基板边缘的另一侧,为所述检测装置提供照明。
优选地,本发明的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括支撑座,所述检测装置架设于所述支撑座上,所述照明单元设置在所述支撑座的基座平台上。
另一方面,本发明还提供一种用于检测双层基板边缘缺陷的检测方法,所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板,包括以下步骤:
1)架设第一摄像单元与第二摄像单元于所述双层基板的上方,使得所述第一摄像单元的第一中心线和所述第二摄像单元的第二中心线分别与所述法线的平面成第一夹角和第二夹角;
2)获取第一摄像单元与第二摄像单元的图像信息,并依据所述图像信息判定所述第一基板的边缘与所述第二基板的边缘是否存在缺陷。
本发明的有益效果是:用于检测双层基板边缘缺陷的装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元发出的光通过双层基板的边缘到达第一摄像单元和第二摄像单元,从而避免第一基板和第二基板的相互干扰,可直接通过图像分析检测双层基板边缘的缺陷,具有检测结果准确、检测快速的优点。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置的结构示意图之一;
图2是本发明实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置的结构示意图之二;
图3是本发明实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置中的系统架构图之一;
图4是本发明实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置中的系统架构图之二;
图中的附图标记为:
1.检测装置,101.第一摄像单元,102.第二摄像单元,2.双层基板,201.第一基板,202.第二基板,3.照明单元,4.法线,5.图形显示器,6.数据处理器,7.支撑座,71.基座平台,72.固定板,73.顶部安装板。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
如图1所示,本发明实施例提供的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其中,双层基板2包括第一基板201和与其平行设置的第二基板202,还包括检测装置1和照明单元3,检测装置1设在双层基板2一侧,照明单元3设在双层基板2另一侧,检测装置1包括第一摄像单元101和第二摄像单元102,且所述第一摄像单元101的第一中心线和第二摄像单元102的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角α和第二夹角β,即第一摄像单元101的第一中心线与所述法线4的平面成第一夹角α,第二摄像单元102的第二中心线与所述法线4的平面第二夹角β。所述第一夹角与所述第二夹角优选为相等为α,进一步优选地,第一摄像单元101和第二摄像单元102分别位于双层基板2边缘法线4的两侧,第一夹角α、第二夹角β为5-10°;照明单元3发出的光通过双层基板2的边缘到达第一摄像单元101和第二摄像单元102,从而检测双层基板2的边缘缺陷。具体实施时,第一基板201与第二基板202为玻璃基板、液晶面板或柔性面板等,第一基板201与第二基板202可以相同类型的基板,亦可以不同,视实际生产而定。
在上述实施例中,第一夹角α、第二夹角β优选为8°,通过该角度设置,能够更好地避免干扰,有效地检测双层基板2的边缘缺陷。
在上述实施例中,第一摄像单元101和第二摄像单元102与第一基板201的间距均为105-115mm,在该宽度范围内能有效避免干扰,成功检测双层基板。
在上述实施例中,第一摄像单元101和第二摄像单元102与第一基板201的间距为H1,均为110mm。
在上述实施例中,第一摄像单元101和第二摄像单元102的焦距不同,通过不同焦距的镜头,让不同高度的光学系统有接近的分辨率,并使短焦镜提高边缘能检测的宽度。
在上述实施例中,第一基板201和第二基板202之间的间距为H2,65mm。
在上述实施例中,如图3所示,用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括数据处理器6,第一摄像单元101和第二摄像单元102分别与数据处理器6连接。
在上述实施例中,如图4所示,用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括图像显示器5,图像显示器5用于显示第一摄像单元101和第二摄像单元102的图像信号。
在上述实施例中,如图2所示,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括支撑座7,所述检测装置架设于所述支撑座7上,所述照明单元3设置在所述支撑座7的基座平台71上。支撑座7为4层结构,位于底部的基座平台71供照明单元3放置,位于顶部的顶部安装板用于安装第一摄像单元101和第二摄像单元102,基座平台71与顶部安装板73之间设置有两块用于固定第一基板201与第二基板202的固定板72,两块固定板72的宽度短于基座平台71和顶部安装板73,使得第一基板201与第二基板202能够从一侧伸出。
用于检测双层基板边缘缺陷的装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元发出的光通过双层基板的边缘到达第一摄像单元和第二摄像单元,从而避免第一基板和第二基板的相互干扰,成功检测双层基板边缘的缺陷。
本发明的实施例还提供上述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置的检测方法,包括以下步骤:
1)架设第一摄像单元与第二摄像单元于所述双层基板的上方,使得所述第一摄像单元的第一中心线和所述第二摄像单元的第二中心线分别与所述法线的平面成第一夹角和第二夹角,即第一摄像单元101的第一中心线与所述法线4的平面成第一夹角α,第二摄像单元102的第二中心线与所述法线4的平面第二夹角β;
2)数据处理器获取第一摄像单元与第二摄像单元的图像信息,图像信息,并依据所述图像信息判定所述第一基板的边缘与所述第二基板的边缘是否存在缺陷,通过直接对玻璃边缘进行扫描,并对获取的图片进行缺陷分析;若没有缺陷,显示合格结束;若有缺陷,则显示不合格,对第一基板201和第二基板202做标记或废弃。
综上,本发明的检测装置,设置第一摄像单元101和第二摄像单元102两个摄像单元,且所述第一摄像单元101的第一中心线和第二摄像单元102的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元3发出的光通过双层基板2的边缘到达第一摄像单元101和第二摄像单元102,从而避免第一基板201和第二基板202的相互干扰,可直接通过图像分析检测双层基板2边缘的缺陷,具有检测结果准确、检测快速的优点。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (3)

1.一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板,其特征在于,还包括检测装置,所述检测装置设在双层基板的一侧,所述检测装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;
所述第一夹角与所述第二夹角相等;
所述第一夹角与所述第二夹角为5°-10°;
所述第一摄像单元和第二摄像单元与所述第一基板的间距均为105-115mm;
所述第一摄像单元和第二摄像单元的焦距不同;
所述第一基板和第二基板之间的间距为65mm;
所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括照明单元,所述照明单元设置于所述双层基板边缘的另一侧,为所述检测装置提供照明;
所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括支撑座,所述检测装置架设于所述支撑座上,所述照明单元设置在所述支撑座的基座平台上。
2.一种用于检测双层基板边缘缺陷的检测方法,基于权利要求1所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板,其特征在于,包括以下步骤:
1)架设第一摄像单元与第二摄像单元于所述双层基板的上方,使得所述第一摄像单元的第一中心线和所述第二摄像单元的第二中心线分别与所述法线的平面成第一夹角和第二夹角;
2)获取第一摄像单元与第二摄像单元的图像信息,并依据所述图像信息判定所述第一基板的边缘与所述第二基板的边缘是否存在缺陷。
3.根据权利要求2所述的用于检测双层基板边缘缺陷的方法,其特征在于,在步骤2)中,还包括将所述图像信息进行显示的步骤。
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