CN103439339A - 贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置及缺陷检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置及缺陷检测方法。该缺陷检测装置包括:红外图像输入装置(100),获取并输出贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的图像;信号处理装置(200),基于贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的图像获得贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的预缺陷图像,并且基于预缺陷图像的尺寸和外形与对比数据库中的缺陷图像的尺寸和外形的比较结果来判断预缺陷图像是否为缺陷;报警装置(300),基于信号处理装置(200)的判断结果来判断是否发出报警信号。本发明可对贴附有偏振片的液晶面板上存在的异物和/或气泡进行实时检测,极大地降低了具有缺陷的液晶面板漏检的风险,同时降低了生产成本,提高了生产效率。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示领域,更具体地讲,涉及一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置及缺陷检测方法。
背景技术
液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay,LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点而被广泛地应用。液晶显示装置的具体构造请参照图1,其主要包括液晶面板10以及与该液晶面板10相对设置的背光模组20;其中,液晶面板10包括第一基板11以及与第一基板11面对设置的第二基板12,并且在第一基板11与第二基板12之间夹设液晶层13。靠近背光模组20设置的第一基板11通常为薄膜晶体管阵列基板,而远离背光模组20设置的第二基板12通常为滤色片基板。液晶层13包括若干液晶分子,但其本身并不发光,而是通过施加电压来控制液晶分子的偏转方向,并将背光模组20提供的光折射出来而产生画面。
液晶分子是细长的棒状分子,具有仅使沿某一方向偏动的光(偏振光)透过的性质。背光模组20提供的光并不是仅沿特定方向振动的光,而是沿所有方向振动的自然光。因此,为了将这些沿所有方向振动的自然光变为沿特定方向振动的光,需要在第一基板11的与背光模组20面对的表面上贴附偏振片14,且亦需要在第二基板12的与第一基板11背对的表面上贴附偏振片15。
然而,在利用光学膜贴附设备贴附偏振片时,容易在偏振片与各个基板表面之间产生糊状物、膜的切屑等异物以及空气卷入形成的气泡等缺陷,这就需要将这些存在的缺陷检测出来。目前,所采用的检测方法通常是在液晶面板贴附偏振片后利用点灯检测,这种方法可以将贴附有偏振片的液晶面板中存在的缺陷作为亮点而检测出来。但是在目前的点灯检测方法中,由于点灯检测设备和人力方面的成本限制,贴附有偏振片的液晶面板的抽检无法全部进行检查,而是按照一定的比例来进行抽检,这样就会造成具有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的漏检,存在很大的风险。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题,本发明的目的在于提供一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置,其中,所述缺陷检测装置包括:红外图像输入装置,获取并输出贴附有偏振片的液晶面板的图像;信号处理装置,根据贴附有偏振片的液晶面板的图像与存储在信号处理装置中未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像的比较结果来获得贴附有偏振片的液晶面板的预缺陷图像,并且基于所述预缺陷图像的尺寸和外形与存储在所述信号处理装置的对比数据库中的缺陷图像的尺寸和外形的比较结果来判断所述预缺陷图像是否为偏振片与液晶面板之间的缺陷;报警装置,基于所述信号处理装置的判断结果来判断是否发出报警信号。
本发明的另一目的还在于提供一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法,所述缺陷检测方法包括步骤:a)获取贴附有偏振片的液晶面板的图像;b)根据获取的贴附有偏振片的液晶面板的图像与未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像的比较结果来获得贴附有偏振片的液晶面板的预缺陷图像;c)基于所述预缺陷图像的尺寸和外形与对比数据库中的缺陷图像的尺寸和外形的比较结果来判断所述预缺陷图像是否为偏振片与液晶面板之间的缺陷;d)基于步骤c)的判断结果,判断是否发出报警信号。
进一步地,当所述预缺陷图像的尺寸大于所述缺陷图像的尺寸时,所述信号处理装置判断所述预缺陷为所述缺陷。
进一步地,当所述预缺陷图像的尺寸不大于所述缺陷图像的尺寸时,所述信号处理装置对所述预缺陷图像的外形与所述缺陷图像的外形进行比较,其中,当所述预缺陷图像的外形符合所述缺陷图像的外形时,所述信号处理装置判断所述预缺陷为所述缺陷。
进一步地,当所述信号处理装置判断所述预缺陷为所述缺陷时,所述报警装置发出报警信号。
本发明通过在光学膜贴附设备内增加缺陷检测装置,可对贴附有偏振片的液晶面板上存在的异物和/或气泡进行实时检测,极大地降低了具有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的漏检的风险,并且改善了偏振片贴附品质的同时无需对贴附有偏振片的液晶面板进行点灯检测,很大程度的减少人力、物力的投入,降低了生产成本,并提高了生产效率。
附图说明
图1是现有技术的一种液晶显示装置的结构示意图。
图2是根据本发明的实施例的贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置。
图3是根据本发明的实施例的贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法流程图。
具体实施方式
现在对本发明的实施例进行详细的描述,其示例表示在附图中,其中,相同的标号始终表示相同部件。下面通过参照附图对实施例进行描述以解释本发明。在附图中,为了清晰起见,可以夸大层和区域的厚度。在下面的描述中,为了避免公知结构和/或功能的不必要的详细描述所导致的本发明构思的混淆,可省略公知结构和/或功能的不必要的详细描述。
图2是根据本发明的实施例的贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置。
参照图2,根据本发明的实施例的缺陷检测装置包括红外图像输入装置100、信号处理装置200和报警装置300。
具体而言,红外图像输入装置100可设置于光学膜贴附设备400内,并且红外图像输入装置100可面对光学膜贴附设备400的支撑准备贴附偏振片600的液晶面板500的平台401,这样,当液晶面板500放置于平台401上后,红外图像输入装置100可面对液晶面板500。
当光学膜贴附设备400对放置在其平台401上的液晶面板500贴附偏振片600完成后,红外图像输入装置100(诸如红外扫描仪、红外光栅扫描仪等)可发射红外电磁波到贴附有偏振片600的液晶面板500来对该贴附有偏振片600的液晶面板500进行红外光扫描,进而获得该贴附有偏振片600的液晶面板500的光信号,将该光信号转换为模拟信号,再将该模拟信号转换为数字信号,而后红外图像输入装置100将该数字信号传输到信号处理装置(诸如计算机)200。信号处理装置200将接收到的数字信号还原为模拟信号,进而获取贴附有偏振片600的液晶面板500的图像。
信号处理装置200将获得的贴附有偏振片600的液晶面板500的图像与在信号处理装置200中存储的未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像进行比较,得到贴附有偏振片600的液晶面板500的图像与未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像的不同之处,并将该不同之处作为偏振片600与液晶面板500之间的预缺陷的图像。这里所述的预缺陷还未被确定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷(即液晶面板500与偏振片600之间的糊状物、膜的切屑等异物以及空气卷入形成的气泡等),其需要进一步地判断。
信号处理装置200将所述预缺陷的图像的尺寸与在信号处理装置200中存储的对比数据库中的缺陷图像的尺寸进行比较。当所述预缺陷的图像的尺寸大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸时,信号处理装置200直接将该预缺陷确定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷。当所述预缺陷的图像的尺寸不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸时,进一步地,信号处理装置200要对该预缺陷的图像进行外形形状的判断,其中,当信号处理装置200确定该预缺陷的图像的外形符合对比数据库中的缺陷图像的外形时,则该预缺陷的图像的尺寸即使不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,信号处理装置200也将该预缺陷判定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷;当信号处理装置200确定该预缺陷的图像的外形符合对比数据库中的非缺陷图像的外形时;则该预缺陷不为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷。此处,对比数据库中的缺陷图像的外形通常呈现尖锐的凸起,即表示偏振片600与液晶面板500之间存在气泡和糊状物或膜的切屑或颗粒等,这种情况下,即使预缺陷的图像的尺寸不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,其也被信号处理装置200判定为缺陷。对比数据库中的非缺陷图像的外形呈现圆滑的凸起,即表示偏振片600与液晶面板500之间只存在气泡等,这种情况下,当预缺陷的图像的尺寸大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,信号处理装置200直接该预缺陷判定为缺陷;而当预缺陷的图像的尺寸不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,需进一步地对该预缺陷的图像的外形进行判断,只有该预缺陷的图像的外形呈现上述的圆滑的凸起,信号处理装置200才将该预缺陷判断为非缺陷。
报警装置300基于信号处理装置200的判断结果来决定是否发出报警信号;当信号处理装置200将预缺陷判定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷时,报警装置300发出报警信号来提醒工作人员此时的贴附有偏振片600的液晶面板500存在缺陷,当信号处理装置200判定预缺陷判断不是液晶面板500与偏振片600之间的缺陷时,报警装置300不发出报警信号,光学膜贴附设备400继续对下一液晶面板执行偏振片贴附的操作。这里,报警装置300可内置于信号处理装置200中,也可外设于信号处理装置200。
本发明还提供了一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法,具体请参照图3,其示出了根据本发明的实施例的贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法流程图。
一并参照图2、图3,根据本发明的实施例的贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法包括步骤:
S1:获取贴附有偏振片600的液晶面板500的预缺陷图像;
S2:基于所述预缺陷图像的尺寸和外形与对比数据库中的缺陷图像的尺寸和外形的比较结果来判断所述预缺陷图像是否为偏振片600与液晶面板500之间的缺陷;
S3:基于步骤S2的判断结果,判断是否发出报警信号。
在步骤S1中,可利用红外图像输入装置100(诸如红外扫描仪、红外光栅扫描仪等)发射红外电磁波到贴附有偏振片600的液晶面板500来对该贴附有偏振片600的液晶面板500进行红外光扫描,进而获得该贴附有偏振片600的液晶面板500的光信号,将该光信号转换为模拟信号,再将该模拟信号转换为数字信号,而后红外图像输入装置100将该数字信号传输到信号处理装置(诸如计算机)200。信号处理装置200将接收到的数字信号还原为模拟信号,进而获取贴附有偏振片600的液晶面板500的图像。信号处理装置200将获得的贴附有偏振片600的液晶面板500的图像与在信号处理装置200中存储的未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像进行比较,得到贴附有偏振片600的液晶面板500的图像与未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像的不同之处,并将该不同之处作为偏振片600与液晶面板500之间的预缺陷的图像。这里所述的预缺陷还未被确定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷(即液晶面板500与偏振片600之间的糊状物、膜的切屑等异物以及空气卷入形成的气泡等),其需要进一步地判断。
在步骤S2中,可利用信号处理装置200(诸如计算机)将所述预缺陷的图像的尺寸与在信号处理装置200中存储的对比数据库中的缺陷图像的尺寸进行比较。当所述预缺陷的图像的尺寸大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸时,信号处理装置200直接将该预缺陷确定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷。当所述预缺陷的图像的尺寸不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸时,需要对所述预缺陷图像的外形进行进一步判断来确定该预缺陷图像是否为缺陷图像。
当利用信号处理装置200确定该预缺陷的图像的外形符合对比数据库中的缺陷图像的外形时,则该预缺陷的图像的尺寸即使不大于尺寸,信号处理装置200也将该预缺陷判定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷;当利用信号处理装置200确定该预缺陷的图像的外形符合对比数据库中的非缺陷图像的外形时;则该预缺陷不为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷。此处,对比数据库中的缺陷图像的外形通常呈现尖锐的凸起,即表示偏振片600与液晶面板500之间存在气泡和糊状物或膜的切屑或颗粒等,这种情况下,即使预缺陷的图像的尺寸不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,其也被信号处理装置200判定为缺陷。对比数据库中的非缺陷图像的外形呈现圆滑的凸起,即表示偏振片600与液晶面板500之间只存在气泡等,这种情况下,当预缺陷的图像的尺寸大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,信号处理装置200直接该预缺陷判定为缺陷;而当预缺陷的图像的尺寸不大于对比数据库中的缺陷图像的尺寸,需进一步地对该预缺陷的图像的外形进行判断,只有该预缺陷的图像的外形呈现上述的圆滑的凸起,信号处理装置200才将该预缺陷判断为非缺陷。
在步骤S3中,可利用报警装置300基于步骤S2中的判断结果来决定是否发出报警信号。当信号处理装置200将预缺陷判定为液晶面板500与偏振片600之间的缺陷时,报警装置300发出报警信号来提醒工作人员此时的贴附有偏振片600的液晶面板500存在缺陷,当信号处理装置200判定预缺陷判断不是液晶面板500与偏振片600之间的缺陷时,报警装置300不发出报警信号,光学膜贴附设备400继续对下一液晶面板执行偏振片贴附的操作。这里,报警装置300可内设于信号处理装置200中,也可外设于信号处理装置200中。
综上所述,通过在光学膜贴附设备内增加缺陷检测装置,可对贴附有偏振片的液晶面板上存在的异物和/或气泡进行实时检测,极大地降低了具有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的漏检的风险,并且改善了偏振片贴附品质。同时无需对贴附有偏振片的液晶面板进行点灯检测,极大程度地减少人力、物力的投入,降低了生产成本,提高了生产效率。
尽管已经参照其示例性实施例具体显示和描述了本发明,但是本领域的技术人员应该理解,在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下,可以对其进行形式和细节上的各种改变。
Claims (10)
1.一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测装置,其特征在于,所述缺陷检测装置包括:
红外图像输入装置(100),获取并输出贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的图像;
信号处理装置(200),根据贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的图像与存储在信号处理装置(200)中未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像的比较结果来获得贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的预缺陷图像,并且基于所述预缺陷图像的尺寸和外形与存储在所述信号处理装置(200)的对比数据库中的缺陷图像的尺寸和外形的比较结果来判断所述预缺陷图像是否为偏振片(600)与液晶面板(500)之间的缺陷;
报警装置(300),基于所述信号处理装置(200)的判断结果来判断是否发出报警信号。
2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,当所述预缺陷图像的尺寸大于所述缺陷图像的尺寸时,所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷。
3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测装置,其特征在于,当所述预缺陷图像的尺寸不大于所述缺陷图像的尺寸时,所述信号处理装置(200)对所述预缺陷图像的外形与所述缺陷图像的外形进行比较,
其中,当所述预缺陷图像的外形符合所述缺陷图像的外形时,所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷。
4.根据权利要求1或2所述的缺陷检测装置,其特征在于,当所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷时,所述报警装置(300)发出报警信号。
5.根据权利要求3所述的缺陷检测装置,其特征在于,当所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷时,所述报警装置(300)发出报警信号。
6.一种贴附有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法,其特征在于,所述缺陷检测方法包括步骤:
a)获取贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的图像;
b)根据获取的贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的图像与未有缺陷的贴附有偏振片的液晶面板的图像的比较结果来获得贴附有偏振片(600)的液晶面板(500)的预缺陷图像;
c)基于所述预缺陷图像的尺寸和外形与对比数据库中的缺陷图像的尺寸和外形的比较结果来判断所述预缺陷图像是否为偏振片(600)与液晶面板(500)之间的缺陷;
d)基于步骤c)的判断结果,判断是否发出报警信号。
7.根据权利要求6所述的缺陷检测方法,其特征在于,当所述预缺陷图像的尺寸大于所述缺陷图像的尺寸时,所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷。
8.根据权利要求6或7所述的缺陷检测方法,其特征在于,当所述预缺陷图像的尺寸不大于所述缺陷图像的尺寸时,所述信号处理装置(200)对所述预缺陷图像的外形与所述缺陷图像的外形进行比较,
其中,当所述预缺陷图像的外形符合所述缺陷图像的外形时,所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷。
9.根据权利要求6或7所述的缺陷检测方法,其特征在于,当所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷时,所述报警装置(300)发出报警信号。
10.根据权利要求8所述的缺陷检测方法,其特征在于,当所述信号处理装置(200)判断所述预缺陷为所述缺陷时,所述报警装置(300)发出报警信号。
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---|---|
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WO (1) | WO2015027525A1 (zh) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104359917A (zh) * | 2014-11-18 | 2015-02-18 | 北京凌云光技术有限责任公司 | 液晶屏内部灰尘检测方法及装置 |
CN104992220A (zh) * | 2015-07-07 | 2015-10-21 | 武汉华星光电技术有限公司 | 偏光片操作装置及方法 |
CN105628710A (zh) * | 2014-11-28 | 2016-06-01 | 浙江金徕镀膜有限公司 | 物料检测系统及其检测方法 |
CN106204598A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-12-07 | 东方晶源微电子科技(北京)有限公司 | 在自动缺陷分类流程中管理缺陷的方法及系统 |
CN106768865A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-05-31 | 惠科股份有限公司 | 偏光片贴附品质检测系统及方法 |
WO2020134967A1 (zh) * | 2018-12-24 | 2020-07-02 | 惠科股份有限公司 | 偏光片贴附检测方法、装置和显示装置 |
CN112508426A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-03-16 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008107100A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Sharp Corp | 液晶パネルの検査装置、及び液晶パネルの検査方法 |
CN102753960A (zh) * | 2010-02-08 | 2012-10-24 | 住友化学株式会社 | 贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法 |
CN103207183A (zh) * | 2011-12-28 | 2013-07-17 | 株式会社其恩斯 | 外观检查装置和外观检查方法 |
CN103257465A (zh) * | 2013-04-17 | 2013-08-21 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种检测装置及检测方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003149558A (ja) * | 2001-11-14 | 2003-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線顕微鏡およびこれを用いたレーザー欠陥修正装置および液晶パネルの観察方法 |
JP2007278928A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Olympus Corp | 欠陥検査装置 |
TW201132963A (en) * | 2010-02-08 | 2011-10-01 | Sumitomo Chemical Co | An inspection method for defect in a liquid crystal panel laminated with polarizing plates |
-
2013
- 2013-09-02 CN CN201310392957.0A patent/CN103439339B/zh active Active
- 2013-09-04 WO PCT/CN2013/082922 patent/WO2015027525A1/zh active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008107100A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Sharp Corp | 液晶パネルの検査装置、及び液晶パネルの検査方法 |
CN102753960A (zh) * | 2010-02-08 | 2012-10-24 | 住友化学株式会社 | 贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法 |
CN103207183A (zh) * | 2011-12-28 | 2013-07-17 | 株式会社其恩斯 | 外观检查装置和外观检查方法 |
CN103257465A (zh) * | 2013-04-17 | 2013-08-21 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种检测装置及检测方法 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104359917A (zh) * | 2014-11-18 | 2015-02-18 | 北京凌云光技术有限责任公司 | 液晶屏内部灰尘检测方法及装置 |
CN105628710A (zh) * | 2014-11-28 | 2016-06-01 | 浙江金徕镀膜有限公司 | 物料检测系统及其检测方法 |
CN104992220A (zh) * | 2015-07-07 | 2015-10-21 | 武汉华星光电技术有限公司 | 偏光片操作装置及方法 |
CN104992220B (zh) * | 2015-07-07 | 2018-03-13 | 武汉华星光电技术有限公司 | 偏光片操作装置及方法 |
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