CN112508426B - 点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台 - Google Patents
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 title claims abstract description 97
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 239000012634 fragment Substances 0.000 title claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 63
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
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- G06Q10/0639—Performance analysis of employees; Performance analysis of enterprise or organisation operations
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- G06Q50/04—Manufacturing
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
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- Business, Economics & Management (AREA)
- Human Resources & Organizations (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Strategic Management (AREA)
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- Development Economics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Marketing (AREA)
- Entrepreneurship & Innovation (AREA)
- Educational Administration (AREA)
- Tourism & Hospitality (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Business, Economics & Management (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Primary Health Care (AREA)
- Game Theory and Decision Science (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
一种点灯机台破片抽检方法包含以下步骤:提供面板初始资料;根据第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料;判别所述第一抽检资料,并产生面板检测资料;根据第二抽检讯号检测所述面板检测资料,并产生第二抽检资料;以及判别所述第二抽检资料,并合成所述第二抽检资料和缺陷码,以产生面板最终资料。
Description
【技术领域】
本揭示涉及显示技术领域,特别涉及一种点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台。
【背景技术】
目前所知,液晶面板在制造过程中,必须对其点灯来进行瑕疵点的扫瞄,如果扫瞄出瑕疵点,则再通过激光修补程序来进行修补。
目前的点灯机于点灯完成后,出料到卸货端,但碍于卸货端会造成面板破片及刮伤,致使无有效侦测。实际上,也有发生数起大尺寸的批量破片,每次数目达到几百片,而导致成本的亏损。因此,必须预防卸货端出现大量异常的面板,减少异常发生时破片的数目,防止异常流入下制程造成材料浪费或者客户手中造成客诉。
【发明内容】
为解决上述技术问题,本发明提供一种点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台。
本发明揭示一种点灯机台破片抽检方法,包含以下步骤:
提供面板初始资料;根据第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料;判别所述第一抽检资料,并产生面板检测资料;根据第二抽检讯号检测所述面板检测资料,并产生第二抽检资料;以及判别所述第二抽检资料,并合成所述第二抽检资料和缺陷码,以产生面板最终资料。
在本申请的点灯机台破片抽检方法中,包含上传所述第一抽检资料和所述第二抽检资料至网路附属储存网盘。
在本申请的点灯机台破片抽检方法中,包含上传所述面板所述面板最终资料至资讯串接系统,以利产品履历查询系统运作。
在本申请的点灯机台破片抽检方法中,所述第一抽检资料和第二抽检资料为面板的修补等级,且所述修补等级包含不用修补、需修补的点、需修补的线。
在本申请的点灯机台破片抽检方法中,所述缺陷码包含优、良、尚可、次等。
本发明揭示一种破片抽检的点灯机台,所述破片抽检的点灯机台包含装货端、点灯装置和卸货端,且所述点灯装置包含侦测装置和第一抽检模块。所述装货端传输面板初始资料至所述点灯装置,且所述装货端递送面板至所述点灯装置。所述点灯装置传输所述面板初始资料至所述侦测装置,所述第一抽检模块发送第一抽检讯号至所述侦测装置,且所述侦测装置根据所述第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料。所述点灯装置递送所述面板至卸货端。所述卸货端包含第二抽检模块,所述点灯装置输入第二抽检讯号至所述第二抽检模块,所述第二抽检模块根据所述第二抽检讯号递送所述面板至点灯,且所述侦测装置根据所述第二抽检讯号检测所述第一抽检资料,并产生第二抽检资料。所述侦测装置合成所述第二抽检资料与缺陷码以产生面板最终资料。所述点灯装置递送所述面板至所述卸货端。
在本申请的破片抽检的点灯机台中,所述侦测装置传输所述第一抽检资料和所述面板最终资料至所述点灯装置。
在本申请的破片抽检的点灯机台中,当所述装货端递送面板至所述点灯装置,所述点灯装置会计数所述面板,并同时发送所述第一抽检讯号给所述侦测装置,使侦测装置检测每片面板。
在本申请的破片抽检的点灯机台中,当所述装货端递送面板至所述点灯装置,所述点灯装置会计数所述面板,并同时发送所述第一抽检讯号给所述侦测装置,使侦测装置抽检N片所述面板中的其中一片面板。
在本申请的破片抽检的点灯机台中,N为正整数且大于1。本申请的有益效果为优化软体的逻辑,出料至卸货端后,所述机点灯机台设置抽检的频率,再把面板进片到点灯机台再次点灯查看是否有新增破片等异常,以减少异常发生时破片的数目,防止异常流入下制程造成材料浪费或者客户手中造成客诉。
【附图说明】
图1为本发明的点灯机台破片抽检方法的流程图;
图2为本发明的破片抽检的点灯机台的示意图。
【具体实施方式】
一种点灯机台破片抽检方法,如图1所示:
步骤S10:提供面板初始资料;
步骤S20:根据第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料,其中,上传所述第一抽检资料至网路附属储存网盘;
步骤S30:判别所述第一抽检资料,并产生面板检测资料;
根据第二抽检讯号检测所述面板检测资料,并产生第二抽检资料,其中,上传所述第二抽检资料至网路附属储存网盘;
步骤S40:判别所述第二抽检资料,并合成所述第二抽检资料和缺陷码,以产生面板最终资料,其中,上传所述面板最终资料至资讯串接系统,以利产品履历查询系统运作。客户可透过所述产品履历查询系统查询产品的各个阶段的等级和使用的材料。
在上述步骤中,所述第一抽检讯和第二抽检讯号可分别为检测每片面板或抽检N片所述面板中的其中一片面板。其中,N为正整数且大于1。
本申请提供一种破片抽检的点灯机台,如图2所示,所述破片抽检的点灯机台包含装货端10、点灯装置20、卸货端30,且所述点灯装置20包含侦测装置21、第一抽检模块22。
所述装货端10传输面板初始资料至所述点灯装置20,且所述装货端10递送面板至所述点灯装置20。所述点灯装置20传输所述面板初始资料至所述侦测装置21,所述第一抽检模块22输入第一抽检讯号至所述侦测装置21,且所述侦测装置21根据所述第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料,其中所述第一抽检资料为所述面板的修补等级,且所述修补等级包含不用修补、需修补的点、需修补的线。所述侦测装置21统整完所有面板的修补等级,便上传所述第一抽检资料至网路附属储存网盘储存。
所述侦测装置21传输所述第一抽检资料至所述点灯装置20,所述点灯装置20传输所述第一抽检资料至资讯串联系统,其中所述资讯串联系统包含识别模块,所述识别模块可对应侦测装置的检测结果纪录所述修补等级,以利产品履历查询系统运作。所述产品履历查询系统可查询所述第一抽检资料是否抽检,便于回查。此外,所述点灯装置20递送所述面板至卸货端30。
所述卸货端包含第二抽检模块31,所述点灯装置20输入第二抽检讯号至所述第二抽检模块31,所述第二抽检模块31根据所述第二抽检讯号递送所述面板至点灯装置20,且所述侦测装置21根据所述第二抽检讯号检测所述第一抽检资料,并产生第二抽检资料。
所述侦测装置21合成所述第二抽检资料与缺陷码以产生面板最终资料,其中,所述缺陷码由检测人员人工判别,并自定义等级为优、良、尚可、次等,且侦测装置21上传所述缺陷码至网路附属储存网盘储存,并传输至点灯装置20。
所述点灯装置20传输所述面板最终资料至资讯串联系统,此时关闭抽检,下片正常计数,持续再满足抽检片数计数条件,並递送所述面板至所述卸货端。
在一实施例中,当所述装货端10递送面板至所述点灯装置20,所述点灯装置20会计数所述面板,并同时发送所述第一抽检讯号给所述侦测装置21,使侦测装置21检测每片面板。
在一实施例中,当所述装货端10递送面板至所述点灯装置20,所述点灯装置20会计数所述面板,并同时发送所述第一抽检讯号给所述侦测装置21,使侦测装置21抽检N片所述面板中的其中一片面板。其中,N为正整数且大于1。
此外,本申请的破片抽检的点灯机台包含先进的增产数据分析系统,所述先进的增产数据分析系统用以抽检所述修补等级写到所述网路附属储存网盘指定路径,以便后续维护系统时方便回查资料。
以上仅是本揭示的优选实施方式,应当指出,对于本领域普通技术人员,在不脱离本揭示原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本揭示的保护范围。
Claims (10)
1.一种点灯机台破片抽检方法,其特征在于,包含以下步骤:
提供面板初始资料;
在装货端传输所述面板初始资料至点灯装置,根据第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料;
判别所述第一抽检资料,并产生面板检测资料;
在所述点灯装置递送所述面板至卸货端之后,点灯机台设置抽检的频率,所述卸货端递送所述面板至所述点灯装置,根据第二抽检讯号检测所述面板检测资料,并产生第二抽检资料;以及
判别所述第二抽检资料,并合成所述第二抽检资料和缺陷码,以产生面板最终资料。
2.如权利要求1所述的点灯机台破片抽检方法,其特征在于,包含上传所述第一抽检资料和所述第二抽检资料至网路附属储存网盘。
3.如权利要求1所述的点灯机台破片抽检方法,其特征在于,包含上传所述面板最终资料至资讯串接系统,以利产品履历查询系统运作。
4.如权利要求1所述的点灯机台破片抽检方法,其特征在于,所述第一抽检资料和第二抽检资料为面板的修补等级,且所述修补等级包含不用修补、需修补的点、需修补的线。
5.如权利要求1所述的点灯机台破片抽检方法,其特征在于,所述缺陷码包含优、良、尚可、次等。
6.一种破片抽检的点灯机台,其特征在于,所述破片抽检的点灯机台包含装货端、点灯装置和卸货端,且所述点灯装置包含侦测装置和第一抽检模块;
所述装货端传输面板初始资料至所述点灯装置,且所述装货端递送面板至所述点灯装置;
所述点灯装置传输所述面板初始资料至所述侦测装置,所述第一抽检模块发送第一抽检讯号至所述侦测装置,且所述侦测装置根据所述第一抽检讯号检测所述面板初始资料,并产生第一抽检资料;
所述点灯装置递送所述面板至卸货端;
所述卸货端包含第二抽检模块,所述点灯装置输入第二抽检讯号至所述第二抽检模块,所述第二抽检模块根据所述第二抽检讯号递送所述面板至点灯装置,且所述侦测装置根据所述第二抽检讯号检测所述第一抽检资料,并产生第二抽检资料;
所述侦测装置合成所述第二抽检资料与缺陷码以产生面板最终资料;以及
所述点灯装置递送所述面板至所述卸货端。
7.如权利要求6所述的破片抽检的点灯机台,其特征在于,所述侦测装置传输所述第一抽检资料和所述面板最终资料至所述点灯装置。
8.如权利要求6所述的破片抽检的点灯机台,其特征在于,当所述装货端递送面板至所述点灯装置,所述点灯装置会计数所述面板,并同时发送所述第一抽检讯号给所述侦测装置,使侦测装置检测每片面板。
9.如权利要求6所述的破片抽检的点灯机台,其特征在于,当所述装货端递送面板至所述点灯装置,所述点灯装置会计数所述面板,并同时发送所述第一抽检讯号给所述侦测装置,使侦测装置抽检N片所述面板中的其中一片面板。
10.如权利要求9所述的破片抽检的点灯机台,其特征在于,N为正整数且大于1。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011478635.4A CN112508426B (zh) | 2020-12-15 | 2020-12-15 | 点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011478635.4A CN112508426B (zh) | 2020-12-15 | 2020-12-15 | 点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112508426A CN112508426A (zh) | 2021-03-16 |
CN112508426B true CN112508426B (zh) | 2023-12-01 |
Family
ID=74973696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011478635.4A Active CN112508426B (zh) | 2020-12-15 | 2020-12-15 | 点灯机台破片抽检方法以及破片抽检的点灯机台 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112508426B (zh) |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
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