CN111103121A - 显示面板的修补方法及修补装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种显示面板的修补方法及修补装置，该修补方法包括：提供一待检测显示面板；通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据，其中，所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息；对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。该方案使修补机台可以同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，降低了漏放率，提高了面板良率。

Description

显示面板的修补方法及修补装置

技术领域

本申请涉及显示制造技术领域，具体涉及一种显示面板的修补方法及修补装置。

背景技术

显示面板在制作过程中，需要利用量测机台对包括显示面板的半成品及成品在内的待量测产品进行量测以获取显示面板的检测信息，然后根据检测信息对显示面板进行修复。但是，在现有技术中，修补机台无法同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，造成漏放率上升，面板良率下降。

发明内容

本申请提供一种显示面板的修补方法及修补装置，以解决修补机台无法同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，造成漏放率上升，面板良率下降的技术问题。

本申请提供一种显示面板的修补方法，其特征在于，包括：

提供一待检测显示面板；

通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据，其中，所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息；

对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；

修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤包括：

获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息；

基于所述缺陷类型将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第一数据分类集合，每一所述第一数据分类集合包括具有对应缺陷类型的多个所述第一检测数据；

基于所述第一指令信息，将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行分类处理，以生成第一检测数据集合的步骤包括：

获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息；

基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合，每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据；

基于所述第二指令信息，将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括对多个所述第一检测数据进行冗余处理，所述冗余处理的步骤包括：

对多个所述第一检测数据进行比对；

若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括对所述第一检测数据进行转换处理，所述转换处理的步骤包括：

获取待传送量测机台的规格信息；

基于所述规格信息对所述第一检测数据进行转换，以得到第二检测数据；

将所述第二检测数据传至所述待测机台。

在本申请提供的显示面板的修补方法中，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括：

接收一第三指令信息，所述第三指令信息用于指定多个所述量测机台中的一量测机台为处理机台，基于所述第三指令信息将多个所述第一检测数据传送至所述处理机台。

本申请还提供一种显示面板的修补装置，其特征在于，所述修补装置包括：

检测模块，所述检测模块用于对待检测显示面板进行检测，以获得所述待检测显示面板相应的第一检测数据；

数据处理模块，所述数据处理模块用于对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；

修补模块，所述修补模块用于基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

在本申请提供的显示面板的修补装置中，所述数据处理模块包括第一获取单元、第一分类单元和第一合并单元；

所述第一获取单元用于获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和一第一指令信息；

所述第一分类单元用于基于所述缺陷类型对多个所述第一检测数据进行分类处理，以生成多个第一数据分类集合；

所述第一合并单元用于基于所述第一指令信息，将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在本申请提供的显示面板的修补装置中，所述数据处理模块包括第二获取单元和第二分类单元和第二合并单元；

所述第二获取单元用于获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息；

所述第二分类单元用于基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合，每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据；

所述第二合并单元用于基于所述第二指令信息，将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在本申请提供的显示面板的修补装置中，所述数据处理模块还包括比对模块，所述比对模块用于对多个所述第一检测数据进行比对，若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

本申请提供了一种显示面板的修补方法和修补装置，通过对多个量测机台检测到的第一检测数据进行合并处理，生成第一检测数据集合。修补机台通过读取该第一检测数据集合，可以同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，降低了漏放率，提高了面板良率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第一流程示意图；

图2是图1中步骤103的流程示意图；

图3是图1中步骤103的另一流程示意图；

图4是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第二流程示意图；

图5是图4中步骤201的流程示意图；

图6是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第三流程示意图；

图7是图6中步骤301的流程示意图；

图8是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第四流程示意图；

图9是本申请实施例提供的显示面板的修补装置的第一结构示意图；

图10是图9中数据处理模块50的结构示意图；

图11是图9中数据处理模块50的另一结构示意图；

图12是本申请实施例提供的显示面板的修补装置的第二结构示意图；

图13是本申请实施例提供的显示面板的修补装置的第三结构示意图；

图14是本申请实施例提供的显示面板的修补装置的第四结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”和“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”和“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征，因此不能理解为对本申请的限制。

本申请实施例首先通过多个量测机台对待检测显示面板进行检测，若待检测显示面板存在缺陷，则量测机台生成相应的第一检测数据。其中，该第一检测数据包括待检测显示面板的缺陷信息。然后，对多个第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。最后，修补机台基于该第一检测数据集合对待检测显示面板进行修补。该方案可以使修补机台同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，降低了漏放率，提高了面板良率。

以下进行详细介绍。

请参阅图1，图1是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第一流程示意图，该显示面板的修补方法包括：

101、提供一待检测显示面板。

该待检测显示面板可以是显示面板的半成品或显示面板成品，比如衬底基板、阵列基板、彩膜基板或者成盒后的显示面板等，本申请实施例对此不作限定。

102、通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据，其中，所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息。

具体的，每一量测机台针对一面板缺陷类型对待检测显示面板进行检测。当多个量测机台分别对同一待检测显示面板进行相关缺陷检测时，若待检测显示面板存在相应的缺陷，则量测机台生成相应的第一检测数据。该第一检测数据包括相应的缺陷信息。该缺陷信息可以包括缺陷类型、产生缺陷的位置坐标和缺陷等级等。其中，缺陷类型是实际生产中待检测显示面板可能存在的缺陷，比如电性不良、存在破损、亮点或暗点等。此外，第一检测数据的生成采用现有技术即可，在此不再赘述。

可以理解的是，该第一检测数据还包括待检测显示面板的标识信息、量测机台的标识信息及量测机台的站点信息等。该标识信息和站点信息可根据实际要求进行设置，本申请对此不做具体限定。其中，该站点信息可以理解为，工厂对多台量测机台进行区域划分时产生的区域标识。

需要说明的是，若待检测显示面板不存在与量测机台检测的面板缺陷类型相应的缺陷，则量测机台可以不生成第一检测数据；或者，该量测机台同样生成相应的第一检测数据，该第一检测数据包括相应的缺陷信息，该缺陷信息包括对待检测显示面板不存在相应缺陷的说明。

103、对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

具体的，通过对多个第一检测数据进行合并处理，将包括相应特征信息的多个第一检测数据进行合并，以生成第一检测数据集合。该第一检测数据集合可以存储在指定的一量测机台对应的存储文件夹中，便于后续修补机台对该第一检测数据集合进行读取。

比如，在一些实施例中，可将包括指定缺陷类型的多个第一检测数据进行合并，具体的请参阅图2，步骤103包括：

1031、获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息；

其中，该缺陷类型并不限于一种缺陷类型，具体可根据实际生产中的修补机台的修补功能进行设定。该第一指令信息包括合并逻辑以及需要合并的检测信息，比如将多个第一检测数据中的面板标识信息、缺陷位置信息和缺陷等级信息进行合并，具体可根据实际生产要求设置该第一指令信息，本申请对此不作限定。

1032、基于所述缺陷类型将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第一数据分类集合，每一所述第一数据分类集合包括具有对应缺陷类型的多个所述第一检测数据；

可以理解的是，在实际生产过程中，一些修补机台针对特定的显示面板缺陷类型进行修补。比如，电性不良修补机台专用于修补造成待检测显示面板电性不良的缺陷。而待检测显示面板的不同缺陷类型由不同量测机台进行检测，并生成相应的第一检测数据存储在每一量测机台对应的存储文件夹中，修补机台每次只能读取一个量测机台对应的第一检测数据。因此，根据第一检测数据包括的缺陷信息将多个第一检测数据进行分类，将包括对应缺陷类型的多个第一检测数据生成第一数据分类集合。

1033、基于所述第一指令信息，将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

基于第一指令信息，将第一数据分类集合中的每一第一检测数据中的相应的的面板信息或者缺陷位置信息等进行合并，生成一第一检测数据集合。

此时，修补机台通过读取该第一检测数据集合，可以同时修补多个量测机台检测到的待检测面板的缺陷。

在一些实施例中，可将包括指定站点信息的多个第一检测数据进行合并，具体的请参阅图3，步骤103包括：

1034、获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息。

其中，该站点信息可以理解为，工厂对多台量测机台进行区域划分时产生的区域标识。该对应站点信息并不限于一个站点，具体可根据实际生产中修补机台的修补功能进行设定，本申请对此不做具体限定。该第二指令信息包括合并逻辑以及需要合并的检测信息，比如将第一检测数据中的面板标识信息、缺陷位置信息和缺陷等级信息等进行合并，具体可根据实际生产要求设置该第一指令信息，本申请对此不作限定。

1035、基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合，每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据；

可以理解的是，在实际生产过程中，工厂分布有多个站点，每一站点内设置有多个量测机台。一些修补机台可以修复指定站点内的所有量测机台检测到的缺陷类型。因此，根据第一检测数据包括的站点信息将多个第一检测数据进行分类，将包括对应站点信息的多个第一检测数据生成第二数据分类集合。

1036、基于所述第二指令信息，将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

基于第二指令信息，将第二数据分类集合包括的每一第一检测数据中的相应的的面板信息或者缺陷位置信息等进行合并，生成一第一检测数据集合。

此时，修补机台通过读取该第一检测数据集合，可以同时修补多个量测机台检测到的待检测面板的缺陷。

104、修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

具体的，修补机台读取对应量测机台中的第一检测数据集合，并根据该第一检测数据集合中包括的各缺陷信息对待检测显示面板进行修补。

本申请实施例通过对多个量测机台检测到的待检测显示面板的第一检测数据进行分类处理，生成第一检测数据集合。修补机台通过读取该第一检测数据集合，可以同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，降低了漏放率，提高了面板良率。

请参阅图4，图4是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第二流程示意图。如图4所示，本申请实施例提供的显示面板的修补方法与图1中显示面板的修补方法的区别在于，在步骤103之前，还包括步骤201，即对多个第一检测数据进行冗余处理。

具体的，请参阅图5，步骤201包括：

2011、对多个所述第一检测数据进行比对。

具体的，对多个第一检测数据中的缺陷信息进行比对。该缺陷信息包括待检测显示面板的缺陷类型、产生缺陷的位置坐标和缺陷等级等。

2012、若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

可以理解的是，为了提高检测准确率，一些量测机台会针对待检测显示面板可能存在的同一缺陷类型进行检测，但采用的检测方式不同，比如不同量测机台分别利用光学、电学等不同技术对待检测显示面板可能存在的同一缺陷类型进行检测。而采用不同的检测方式对待检测显示面板可能存在的同一缺陷类型进行检测时，多个量测机台生成的多个第一检测数据可能对应待检测显示面板的同一缺陷信息。此时，通过对多个第一检测数据中的缺陷信息进行比对，若多个第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个第一检测数据中的一个即可，从而去除冗余数据。

本申请实施例通过对多个第一检测数据进行比对，去除量测过程中产生的冗余数据，能够有效避免修补机台对待检测显示面板的同一缺陷进行重复修补，节约了产能，提高了生产效率。

请参阅图6，图6是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第三流程示意图。如图6所示，本申请实施例提供的显示面板的修补方法与图1中显示面板的修补方法的区别在于，在步骤103之前，还包括步骤301，即对第一检测数据进行转换处理。

具体的，请参阅图7，步骤301包括：

3011、获取待传送量测机台的规格信息。

其中，该待传送量测机台可以是同一工厂里的不同规格的量测机台，也可以是不同工厂的量测机台。该规格信息包括检测资料的内容格式、逻辑关系等信息。比如，在待传送量测机台生成的第一检测数据中，判断缺陷程度的等级信息规格、表明缺陷位置的标注形式等。

3012、基于该规格信息对所述第一检测数据进行转换，以得到第二检测数据。

具体的，基于待传送量测机台的规格信息，对第一检测数据的内容格式和相关缺陷信息之间的逻辑关系进行转换，得到第二检测数据。该第二检测数据与待传送量测机台生成的第一检测数据的格式一致。

3013、将所述第二检测数据传至所述待传送量测机台。

具体的，将该第二检测数据传至待传送量测机台。与该待传送检测机台对应的修补机台可以读取该第二检测信息，以对待检测显示面板进行修补。

本申请实施例通过对第一检测数据进行转换，生成第二检测数据，使第二检测数据的内容格式和逻辑关系等与具有不同规格信息的量测机台相匹配，使得与待传送量测机台对应的修补机台能够读取该第二检测数据，以对待检测显示面板进行修补。因此，避免了待传送量测机台对待检测显示面板进行二次检测，或者对与待传送量测机台对应的修补机台进行改造，以使该修补机台能够读取第一检测数据，从而降低了机台改造成本和人力成本。

需要说明的是，在一些实施例中，也可以在步骤103之后，获取待传送量测机台的规格信息，基于该规格信息直接对第一检测数据集合进行转换，进一步提高转换效率，在此不再赘述。

请参阅图8，图8是本申请实施例提供的显示面板的修补方法的第四流程示意图。如图8所示，本申请实施例提供的显示面板的修补方法与图1中显示面板的修补方法的区别在于，在步骤103之前，还包括：

401、接收一第三指令信息，所述第三指令信息用于指定多个所述量测机台中的一量测机台为处理机台，基于所述第三指令信息将多个所述第一检测数据传送至所述处理机台上。

具体的，该第三指令信息包括处理机台的标识信息。该标识信息可以是处理机台的编号或者型号。基于该第三指令信息，可以将多个第一检测数据同时传送至处理机台，也可以按照一定顺序将多个第一检测数据传送至处理机台，本申请实施例对此不做具体限定。

可以理解的是，在步骤102中，对于同一待检测显示面板，经过多个量测机台检测后，将会生成多个第一检测数据。该多个第一检测数据分别存储在与每一量测机台对应的存储文件夹中。在步骤102之后，获取一第三指令信息，该第三指令信息用于指定多个量测机台中的一量测机台为处理机台。基于该指令将多个第一检测数据传送至该处理机台上，即传送至该处理机台对应的存储文件夹中。本申请实施例可以使多个第一检测数据存储在同一位置，便于后续数据处理中对多个第一检测数据的读取和处理，进一步提高工作效率。

为了更好地实施以上方法，本申请实施例还提供一种显示面板的修补装置。

请参阅图9，图9是本申请实施例提供的显示面板的修补装置的结构示意图。该修补装置100包括：检测模块40、数据处理模块50和修补模块60，如下：

(1)检测模块40；

检测模块40用于对待检测显示面板进行检测，以获得待检测显示面板相应的第一检测数据。

具体的，检测模块40内包括多个量测机台。量测机台对待检测显示面板进行检测，若待检测显示面板存在缺陷，则量测机台生成相应的第一检测数据。其中，该第一检测数据包括待检测显示面板的缺陷信息。

(2)数据处理模块50；

数据处理模块50用于对多个第一检测数据进行分类处理，以生成第一检测数据集合。

比如，在一些实施例中，请参阅图10，数据处理模块50包括第一获取单元501、第一分类单元502和第一合并单元503。第一获取单元501获取每一第一检测数据对应的缺陷类型和一第一指令信息。第一分类单元502基于该缺陷类型将多个第一检测数据进行分类，以生成多个第一数据分类集合。每一第一数据分类集合包括具有对应缺陷类型的多个第一检测数据。第一合并单元503基于第一指令信息将第一数据分类集合中的多个第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

在另一些实施例中，请参阅图11，数据处理模块50包括第二获取单元504、第二分类单元505和第二合并单元506。第二获取单元504获取每一第一检测数据对应的站点信息和一第二指令信息。第二分类单元505基于该站点信息将多个第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合。每一第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个第一检测数据。第二合并单元506基于第二指令信息，将第二数据分类集合中的多个第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

需要说明的是，数据处理模块50可以集成在网络设备中，该网络设备可以是终端或服务器等设备，其中，该终端可以包括平板电脑、笔记本电脑、个人计算机等。

(3)修补模块60；

修补模块60用于基于第一检测数据集合对待检测显示面板进行修补。

具体的，修补机台读取对应量测机台中的第一检测数据集合，并根据该第一检测数据集合中包括的各缺陷信息对待检测显示面板进行修补。

需要说明的是，修补模块60内包括多个修补机台。其中，一些修补机台可以针对特定的显示面板缺陷类型进行修补。一些修补机台可以修复指定站点内的所有量测机台检测到的缺陷类型。

可以理解的是，该修补装置100还可以包括存储模块(图中未示出)。该存储模块用于存储第一检测数据和第一检测数据集合等检测数据。在一些实施例中，该存储模块可以是分布式文件管理系统。每一量测机台对应的第一检测数据均存储在分布式文件管理系统中该量测机台对应的存储文件夹内。

由上可知，本申请实施例提供的显示面板的显示装置通过数据处理模块50对检测模块40检测到的待检测显示面板的多个第一检测数据进行合并处理，生成第一检测数据集合，修补装置通过读取该第一检测数据集合，可以同时对多个量测机台检测到的面板缺陷进行修补，降低了漏放率，提高了面板良率。

请参阅图12，与图9中的修补装置100的不同之处在于，本申请实施例中的修补装置200还包括比对模块70。比对模块70用于在对多个第一检测数据进行分类处理之前，对多个第一检测数据进行比对，若多个第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个第一检测数据中的一个第一检测数据。从而去除多个第一检测数据中的冗余数据。

本申请实施例通过比对模块70去除多个第一检测数据中的冗余数据，能够有效避免修补装置100对待检测显示面板的同一缺陷进行重复修补，节约了产能，提高了生产效率。

请参阅图13，与图9中的修补装置100的不同之处在于，本申请实施例中的修补装置300还包括转换模块80。转换模块80用于对第一检测数据进行转换处理。

具体的，转换模块80用于获取待传送量测机台的规格信息。该规格信息包括检测资料的内容格式、逻辑关系等信息。然后基于该规格信息，对第一检测数据的内容格式和相关缺陷信息之间的逻辑关系进行转换，得到第二检测数据。该第二检测数据与待传送量测机台生成的第一检测数据的格式一致。最后，将该第二检测数据传至待传送量测机台。

本申请实施例通过转换模块80对多个第一检测数据进行转换，生成第二检测数据，使第二检测数据的内容格式和逻辑关系等与具有不同规格信息的量测机台相匹配，使得与待传送量测机台对应的修补机台能够直接读取该第二检测数据，以对待检测显示面板进行修补。因此，避免了待传送量测机台对待检测显示面板进行二次检测，或者对与待传送量测机台对应的修补机台进行改造以使其能够读取第一检测数据，从而降低了机台改造和人力成本。

请参阅图14，与图9中的修补装置100的不同之处在于，本申请实施例中的修补装置400还包括指令模块90。指令模块90用于接收一第三指令信息；该第三指令信息用于指定多个量测机台中的一量测机台为处理机台；基于该第三指令信息将多个第一检测数据传送至处理机台上。多个第一检测数据存储在同一位置，便于后续数据处理中对多个第一检测数据的读取和处理，进一步提高工作效率。

以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板的修补方法，其特征在于，包括：

提供一待检测显示面板；

通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据，其中，所述第一检测数据包括所述待检测显示面板的缺陷信息；

对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；

修补机台基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

2.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法，其特征在于，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤包括：

获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息；

基于所述缺陷类型将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第一数据分类集合，每一所述第一数据分类集合包括具有对应缺陷类型的多个所述第一检测数据；

基于所述第一指令信息，将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

3.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法，其特征在于，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤包括：

获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息；

基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合，每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据；

基于所述第二指令信息，将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

4.根据权利要求2或3所述的显示面板的修补方法，其特征在于，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括对多个所述第一检测数据进行冗余处理，所述冗余处理的步骤包括：

对多个所述第一检测数据进行比对；

若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

5.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法，其特征在于，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括对所述第一检测数据进行转换处理，所述转换处理的步骤包括：

获取待传送量测机台的规格信息；

基于所述规格信息对所述第一检测数据进行转换，以得到第二检测数据；

将所述第二检测数据传至所述待传送量测机台。

6.根据权利要求1所述的显示面板的修补方法，其特征在于，所述对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合的步骤之前，还包括：

接收一第三指令信息，所述第三指令信息用于指定多个所述量测机台中的一量测机台为处理机台，基于所述第三指令信息将多个所述第一检测数据传送至所述处理机台。

7.一种显示面板的修补装置，其特征在于，所述修补装置包括：

检测模块，所述检测模块用于对待检测显示面板进行检测，以获得所述待检测显示面板相应的第一检测数据；

数据处理模块，所述数据处理模块用于对多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合；

修补模块，所述修补模块用于基于所述第一检测数据集合对所述待检测显示面板进行修补。

8.根据权利要求7所述的修补装置，其特征在于，所述数据处理模块包括第一获取单元、第一分类单元和第一合并单元；

所述第一获取单元用于获取每一所述第一检测数据对应的缺陷类型和第一指令信息；

所述第一分类单元用于基于所述缺陷类型对多个所述第一检测数据进行分类处理，以生成多个第一数据分类集合；

所述第一合并单元用于基于所述第一指令信息，将所述第一数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

9.根据权利要求7所述的修补装置，其特征在于，所述数据处理模块包括第二获取单元和第二分类单元和第二合并单元；

所述第二获取单元用于获取每一所述第一检测数据对应的站点信息和第二指令信息；

所述第二分类单元用于基于所述站点信息将多个所述第一检测数据进行分类，以生成多个第二数据分类集合，每一所述第二数据分类集合包括具有对应站点信息的多个所述第一检测数据；

所述第二合并单元用于基于所述第二指令信息，将所述第二数据分类集合中的多个所述第一检测数据进行合并处理，以生成第一检测数据集合。

10.根据权利要求8或9所述的显示面板的修补装置，其特征在于，所述数据处理模块还包括比对模块，所述比对模块用于对多个所述第一检测数据进行比对，若多个所述第一检测数据对应的缺陷信息一致，则保留对应的多个所述第一检测数据中的一所述第一检测数据。

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