JP4543788B2 - 製品の検査システムおよびその検査方法 - Google Patents
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Description
1.被検査材の欠陥を検出する検査装置に欠陥検出条件の設定を行って出荷先顧客が確定している製品の検査を行う製品の検査システムであって、
前記検査装置をコントロールするコンピューター内に、設定されていた欠陥検出条件を含む出荷後の製品の検査実績情報を記憶・蓄積する記憶・蓄積手段と、顧客が該出荷後の製品に対して要求した、製品製造工場外の入力装置からの顧客側品質要求情報を記憶・蓄積する記憶・蓄積手段と、前記検査装置に設定する欠陥検出条件の変更の仕方を欠陥種類毎に登録する記憶・蓄積手段とを少なくとも具備し、前記コンピューターにより設定装置を介して前記検査装置に設定する複数レベルの欠陥検出条件の変更を各レベル毎に行うように構成したことを特徴とする製品の検査システム。
2.被検査材の欠陥を検出する検査装置に欠陥検出条件の設定を行って出荷先顧客が確定している製品の検査を行う製品の検査方法において、当該顧客向けの製品の検査時に、
前項1に記載されたコンピューターにより、記憶・蓄積手段から当該顧客が出荷後の製品に対して要求した、製品製造工場外の入力装置からの顧客側品質要求情報と、その顧客側品質要求情報に対応する出荷後の製品に対して設定されていた欠陥検出条件を含む検査実績情報とを読み出して対比・照合し、欠陥種類に応じて欠陥検出条件の変更の仕方を決定し、設定装置を介して前記検査装置に設定する複数レベルの欠陥検出条件を各レベル毎に変更することを特徴とする製品の検査方法。
Bレベル(中間):15箇所/m2、
Cレベル(軽度):7箇所/m2、
Dレベル(なし):0箇所/m2。
(当初の欠陥検出レベル)
Aレベル(悪い):20個/m2、
Bレベル(中間):15個/m2、
Cレベル(軽度):7個/m2、
Dレベル(微小):3個/m2。
(顧客側の品質要求を反映した後の欠陥検出レベル)
Aレベル(悪い):10個/m2、
Bレベル(中間):15個/m2、
Cレベル(軽度):7個/m2、
Dレベル(微小):3個/m2。
1 製造装置
2 検査装置
3 入出力装置
4 入力装置
3A 検査者
4A 顧客担当者
5 顧客側ビル
6 設定装置
7 出荷後の製品の検査実績情報を記憶・蓄積する記憶・蓄積手段
8 顧客側品質要求情報を記憶・蓄積する記憶・蓄積手段
9 欠陥検出条件の変更の仕方を欠陥種類毎に登録する記憶・蓄積手段
10、20 コンピューター
30 顧客側品質要求情報
Claims (2)
- 被検査材の欠陥を検出する検査装置に欠陥検出条件の設定を行って出荷先顧客が確定している製品の検査を行う製品の検査システムであって、
前記検査装置をコントロールするコンピューター内に、
設定されていた欠陥検出条件を含む出荷後の製品の検査実績情報を記憶・蓄積する記憶・蓄積手段と、顧客が該出荷後の製品に対して要求した、製品製造工場外の入力装置からの顧客側品質要求情報を記憶・蓄積する記憶・蓄積手段と、前記検査装置に設定する欠陥検出条件の変更の仕方を欠陥種類毎に登録する記憶・蓄積手段とを少なくとも具備し、
前記コンピューターにより設定装置を介して前記検査装置に設定する複数レベルの欠陥検出条件の変更を各レベル毎に行うように構成したことを特徴とする製品の検査システム。 - 被検査材の欠陥を検出する検査装置に欠陥検出条件の設定を行って出荷先顧客が確定している製品の検査を行う製品の検査方法において、当該顧客向けの製品の検査時に、
請求項1に記載されたコンピューターにより、記憶・蓄積手段から当該顧客が出荷後の製品に対して要求した、製品製造工場外の入力装置からの顧客側品質要求情報と、その顧客側品質要求情報に対応する出荷後の製品に対して設定されていた欠陥検出条件を含む検査実績情報とを読み出して対比・照合し、欠陥種類に応じて欠陥検出条件の変更の仕方を決定し、
設定装置を介して前記検査装置に設定する複数レベルの欠陥検出条件を各レベル毎に変更することを特徴とする製品の検査方法。
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