TWM477571U - 一種用以擷取一物件影像的擷取裝置以及影像檢測裝置 - Google Patents
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Description
本新型係關於一種影像檢測裝置，尤指自動光學檢測之影像檢測裝置。
自動光學檢查(Automated Optical Inspection，AOI)為自動化有效率的檢測方法，係利用光學方式擷取一待測物的表面影像，以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵。自動光學檢查(AOI)已大量應用於液晶面板、電晶體、電路板等產品的生產製程上。
第1圖係習知的自動光學檢查之影像檢測裝置的示意圖，該影像檢測裝置用以檢測一待測物10，其包含一光反射元件11、一影像擷取模組12與一影像處理模組13；該待測物10上面的影像，會經由光路徑L進入該影像擷取模組12，再送達該影像處理模組13進行分析比對，達到檢測的目的；該待測物10側面的影像，會藉由該光反射元件11的反射，經由光路徑L1進入該影像擷取模組12；然而，由於光路徑L與光路徑L1的路徑長不同，在同時擷取影像時會產生影像的誤差，影響影像處理模組13分析比對的準確性。因此，本新型提出了一種影像檢測裝置來克服上述之缺點。
本新型之一目的係提供一種用以擷取一物件之影像擷取裝置，包含：一影像擷取模組；以及一影像調整模組；其中，該影像調整模組具有一光
調整元件，該光調整元件可調整該影像擷取模組與該物件之不同表面間的光程差異，使得該擷取裝置可以同時擷取該物件的多個表面之影像。
在一實施例中，影像擷取裝置具有一影像調整模組，其中該影像調整模組包含一光反射元件以反射該物件之一側面以及一光調整元件，其中該光調整元件係可調整該影像擷取模組與該物件之該側面與該物件之一正面間的光程差異。
在一實施例中，影像擷取裝置具有一第二影像調整模組，其中該第二影像調整模組包含一第二光反射元件以反射該物件之一第二側面以及一第二光調整元件，其中該第二光調整元件係可調整該影像擷取模組與該物件之該第二側面與該待物件之該正面間的光程差異。
在一實施例中，影像擷取裝置具有一第一影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件以反射該物件之一第一側面以及一第一光調整元件，其中該第一光調整元件設置於影像擷取模組與該物件之一正面之間，該第一光調整元件可調整該影像擷取模組與該物件之該正面與該物件之一側面間的光程差異。
在一實施例中，影像擷取裝置具有一影像調整模組，其中該影像調整模組包含一光調整元件，其中該光調整元件設置於影像擷取模組與該物件之一正面之間，該光調整元件可調整該影像擷取模組與該物件之正面之具有不同高度之多個表面的光程差異，在此時，就不需要光反射元件。
本新型之另一目的係提供一種用以檢測一待測物之影像檢測裝置，包含：一第一影像調整模組；以及一影像擷取模組；其中，該第一影像調整模組具有一第一光調整元件，該第一光調整元件係可調整該影像擷取模組與該待測物之不同表面間的光程差異，使得該影像檢測裝置可以同時檢測該待測
物的多個表面。
在一實施例中，影像檢測裝置具有一第一影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件以反射該待測物之一第一側面，其中該第一光調整元件係可調整該影像擷取模組與該待測物之該第一側面與該待測物之一正面間的光程差異。
在一實施例中，影像檢測裝置具有一第二影像調整模組，其中該第二影像調整模組包含一第二光反射元件以反射該待測物之一第二側面以及一第二光調整元件，其中該第二光調整元件係可調整該影像擷取模組與該待測物之該第二側面與該待測物之該正面間的光程差異。
在一實施例中，影像檢測裝置具有一第一影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件以反射該待測物之一第一側面以及一第一光調整元件，其中該第一光調整元件設置於影像擷取模組與該待測物之一正面之間，該第一光調整元件可調整該影像擷取模組與該待測物之該正面與該待測物之一側面間的光程差異。
在一個實施例中，該影像擷取模組包含一感光耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)，以獲取待測物的高解析度影像。
在一個實施例中，該影像調整模組包含一光反射元件，以反射待測物之側面的影像至該影像擷取模組。
在一實施例中，該光調整元件為一可透光平板，例如一平面玻璃或一平面塑膠。
在一實施例中，該光調整元件為一曲面透鏡。
在一實施例中，該光調整元件可在該光反射元件與該影像擷取模
組之間位移以調整該影像擷取模組與該待測物之該正面與該側面間的光程差異。
在一實施例中，該光調整元件為一可透光平板且具有一特定之厚度以調整該影像擷取模組與該待測物之側面與該待測物之正面間的光程差異。
10、20‧‧‧物件、待測物
11、21、23‧‧‧光反射元件
12、22‧‧‧影像擷取模組
13、26‧‧‧影像處理模組
24、25‧‧‧光調整元件
L、L1、L2‧‧‧光路徑
第1圖為先前技術之示意圖。
第2圖為本新型的一實施例之影像擷取裝置示意圖。
第3圖為本新型的一實施例之影像檢測裝置示意圖。
本新型的詳細說明於隨後描述，這裡所描述的較佳實施例是作為說明和描述的用途，並非用來限定本新型之範圍。
第2圖為本新型的一實施例之示意圖，揭露一種影像擷取裝置，係用以擷取一物件20之影像；該影像擷取裝置包含一第一影像調整模組其具有一第一光調整元件24以及一第一光反射元件21、一影像擷取模組22；其中，該第一光調整元件24係可調整該影像擷取模組22與該物件20上不同表面間的光程差異，使得該擷取裝置可以同時擷取該物件的多個表面之影像。其中，光路徑L係該物件20之正面反射；光路徑L1係代表該物件20之一側面反射光路徑。
在一實施例中，如第2圖所示，影像擷取裝置具有一第一影像調整模組以及一第二影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件21以反射該物件之一第一側面，其中該第一光調整元件24係可調整該影像擷取模組與該物件之該第一側面與該物件之一正面間的光程差異；該第二影像調整模組包含一第二光反射元件23以反射該物件之一第二側面以及一第二光調整
元件25，其中該第二光調整元件25係可調整該影像擷取模組與該物件之該第二側面與該物件之該正面間的光程差異。其中，光路徑L係該物件20之正面反射；光路徑L1係代表該物件20之該第一側面反射光路徑以及光路徑L2係代表該物件20之該第二側面之反射光路徑。
在一實施例中，影像擷取裝置具有一影像調整模組，其中該影像調整模組包含一光調整元件設置於影像擷取模組與該物件之一正面之間，其中該光調整元件係可調整該影像擷取模組與該物件之該正面與該物件之一側面間的光程差異。也就是說，一光調整元件(未圖示)可以設置在第2圖中之影像擷取模組與該物件之正面之間，而第2圖中之光調整元件24、25會被移除。因此可利用設置於影像擷取模組與該物件正面之間之光調整元件來調整該影像擷取模組與該物件之該正面與該物件之側面間的光程差異。
在一實施例中，影像擷取裝置具有一第一影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一光調整元件，其中該第一光調整元件設置於影像擷取模組與該物件之一正面之間，該第一光調整元件可調整該影像擷取模組與該物件之正面之具有不同高度之多個表面的光程差異。在此時，如果所要擷取之影像只是該物件之正面之影像而不需要側面之影像，那麼就不需要光反射元件以反射該物件之任一側面。
在一實施例中，該影像擷取模組22，係可包含一感光耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)，以獲取該物件20的高解析度影像。
在一實施例中，光調整元件24、25為一可透光平板，例如一平面玻璃或一平面塑膠。在一實施例中，其中該光調整元件24為一平面玻璃且具有一特定之厚度以調整該影像擷取模組與該物件之側面與該物件之正面間的光程差
異；以及該光調整元件25為一平面玻璃且具有一特定之厚度以調整該影像擷取模組與該物件之側面與該物件之正面間的光程差異。
技術領域中具通常知識者當可理解，該光調整元件24、25亦可為一曲面透鏡或一透鏡組；而該光調整元件24、25的材質、折射率的選擇，亦可依據光程差異的實際需求而予以變化調整。
此外，該技術領域中具通常知識者當可理解，該光調整元件24所設置的位置，並不限於第2圖中所示，只要設置於光路徑上，得以調整光程即可，其設置位置、方法亦可依據生產線組裝空間的實際需求而予以變化調整。
第3圖為本新型的一實施例之示意圖，揭露一種影像檢測裝置，係用以檢測一待測物20；該影像檢測裝置包含一第一影像調整模組其具有一第一光調整元件24以及一第一光反射元件21、一影像擷取模組22與一影像處理模組23；其中，該第一光調整元件24係可調整該影像擷取模組22與該待測物20上不同表面間的光程差異，使得該影像檢測裝置可以使用具有高準確度之影像來同時檢測該待測物20的多個表面。其中，光路徑L係該待測物20之正面反射；光路徑L1係代表該待測物20之一側面反射光路徑。該第一光調整元件可在該第一光反射元件與該影像擷取模組之間位移以調整該影像擷取模組與該待測物之該正面與該側面間的光程差異。
在一實施例中，如第3圖所示，影像檢測裝置具有一第一影像調整模組以及一第二影像調整，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件21以反射該待測物之一第一側面以及第一光調整元件24，其中該第一光調整元件24係可調整該影像擷取模組與該待測物之該第一側面與該待測物之一正面間的光程差異；該第二影像調整模組包含一第二光反射元件23以反射該待測物之一第二側面以及一第二光調整元件25，其中該第二光調整元件25係可調整該影
像擷取模組與該待測物之該第二側面與該待測物之該正面間的光程差異。其中，光路徑L係該待測物20之正面反射；光路徑L1係代表該待測物20之該第一側面之反射光路徑，光路徑L2係代表該待測物20之該第二側面之反射光路徑。
在一實施例中，影像檢測裝置具有一第一影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件21以反射該待測物之一第一側面以及一第一光調整元件24，其中該第一光調整元件24設置於影像擷取模組與該待測物之一正面之間，該第一光調整元件可調整該影像擷取模組與該待測物之該正面與該待測物之一側面間的光程差異。也就是說，一光調整元件(未圖示)可以設置在第3圖中之影像擷取模組與該物件之正面之間，而第3圖中之光調整元件24、25會被移除。因此可利用設置於影像擷取模組與該物件正面之間之光調整元件來調整該影像擷取模組與該物件之該正面與該物件之側面間的光程差異。
在一實施例中，影像檢測裝置具有一第一影像調整模組，其中該第一影像調整模組包含一第一光調整元件，其中該第一光調整元件設置於影像擷取模組與該待測物之一正面之間，該第一光調整元件可調整該影像擷取模組與該待測物之正面之具有不同高度之多個表面的光程差異。在此時，如果所要擷取之影像只是該物件之正面之影像而不需要側面之影像，那麼就不需要光反射元件以反射該物件之任一側面。
在一實施例中，該影像擷取模組22，係可包含一感光耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)，以獲取該待測物20的高解析度影像。
在一實施例中，光調整元件24為一可透光平板，例如一平面玻璃或一平面塑膠。在一實施例中，其中該光調整元件24為一平面玻璃且具有一特定
之厚度以調整該影像擷取模組與該待測物之側面與該待測物之正面間的光程差異。
技術領域中具通常知識者當可理解，該光調整元件24亦可為一曲面透鏡或一透鏡組；而該光調整元件24的材質、折射率的選擇，亦可依據光程差異的實際需求而予以變化調整。
此外，該技術領域中具通常知識者當可理解，該光調整元件24所設置的位置，並不限於第3圖中所示，只要設置於光路徑上，得以調整光程即可，其設置位置、方法亦可依據生產線組裝空間的實際需求而予以變化調整。
雖然本新型以前述之較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本新型，任何熟習本領域之技藝者，在不脫離本新型之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本新型之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。
20‧‧‧物件、待測物
21、23‧‧‧光反射元件
22‧‧‧影像擷取模組
24、25‧‧‧光調整元件
L、L1、L2‧‧‧光路徑
Claims (12)
- 一種用以擷取一物件影像之擷取裝置，包含：一影像擷取模組；以及一影像調整模組；其中，該影像調整模組具有一光調整元件，該光調整元件可調整該影像擷取模組與該物件之不同表面間的光程差異，以同時擷取該物件的多個表面之影像。
- 如申請專利範圍第1項所述之擷取裝置，其中該影像調整模組包含一光反射元件以反射該物件之一側面，其中該光調整元件設置於該影像擷取模組與該物件之一正面之間以調整該影像擷取模組與該物件之該正面與該物件之一側面間的光程差異。
- 如申請專利範圍第1項所述之擷取裝置，其中該影像調整模組包含一光反射元件以反射該物件之一側面，其中該光調整元件設置於該影像擷取模組與該光反射元件之間以調整該影像擷取模組與該物件之該側面與該物件之一正面間的光程差異。
- 如申請專利範圍第1項所述之擷取裝置，其中該光調整元件為一可透光平板。
- 如申請專利範圍第4項所述之擷取裝置，其中該可透光平板係為一平面玻璃或一平面塑膠。
- 一種用以檢測一待測物之影像檢測裝置，包含：一影像擷取模組；以及一第一影像調整模組； 其中，該第一影像調整模組具有一第一光調整元件，該第一光調整元件可調整該影像擷取模組與該待測物之不同表面間的光程差異，以同時檢測該待測物的多個表面。
- 如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置，其中該第一影像調整模組包含一第一光反射元件以反射該待測物之一第一側面，其中該第一光調整元件設置於該影像擷取模組與該第一光反射元件之間以調整該影像擷取模組與該待測物之該第一側面與該待測物之一正面間的光程差異。
- 如申請專利範圍第7項所述之檢測裝置，更包含一第二影像調整模組，其中該第二影像調整模組包含一第二光反射元件以反射該待測物之一第二側面以及一第二光調整元件，其中該第二光調整元件設置於該影像擷取模組與該第二光反射元件之間以調整該影像擷取模組與該待測物之該第二側面與該待測物之該正面間的光程差異。
- 如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置，其中該第一光調整元件為一可透光平板。
- 一種用以檢測一待測物之影像檢測裝置，包含：一影像擷取模組，位於該待測物之上方；以及一影像調整模組，包含：一光反射元件，相鄰於該待測物之一側面以反射該側面；以及一光調整元件，位於該光反射元件與該影像擷取模組之間；其中，該光調整元件可調整該影像擷取模組與該待測物之一正面與該側面間的光程差異，以同時擷取該待測物的多個表面之影像。
- 如申請專利範圍第10項所述之檢測裝置，其中該光調整元件可在該 光反射元件與該影像擷取模組之間位移以調整該影像擷取模組與該待測物之該正面與該側面間的光程差異。
- 如申請專利範圍第10項所述之檢測裝置，其中該光調整元件為一可透光平板。
Priority Applications (2)
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| TW102218944U TWM477571U (zh) | 2013-10-09 | 2013-10-09 | 一種用以擷取一物件影像的擷取裝置以及影像檢測裝置 |
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
| TWI637165B (zh) * | 2015-08-26 | 2018-10-01 | 宰體有限公司 | 視覺檢測模組及包含該模組的元件檢測系統 |
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