CN106814084A - 一种新型显示面板表面缺陷检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种新型显示面板表面缺陷检测系统，不良识别子系统包括图像采集设备、主光学单元、辅助光学单元和图像处理单元；所述图像采集设备和所述图像处理单元连接；还包括可反转双面吸附装置和光源亮度自适应调节系统。优点为：(1)不良识别子系统中，图像处理单元可简单快速的区分照片中的真正不良缺陷和表面异物，具有图像处理过程简单、速度快以及效率高的优点。(2)可反转双面吸附装置中，从底面吸附面板，吸附稳定可靠且不影响机器视觉拍照；双面吸附结构，可将面板进行180度旋转，并再次稳定吸附。(3)光源亮度自适应调节系统，可以大大延长光源的使用寿命，提升设备嫁动率，有效降低设备维护成本。

Description

一种新型显示面板表面缺陷检测系统
技术领域
本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，具体涉及一种新型显示面板表面缺陷检测系统。
背景技术
现有的中小尺寸显示面板多为液晶LCD、OLED等，由于产品结构和生产工艺的复杂性，在其制造过程中还是不可避免地出现一些视觉缺陷。例如，在显示面板制造过程中，搬送是一个基础性的技术环节，但是随着超薄、Touch触摸等要求越来越高，现有的搬送技术，越来越多地暴露出如下问题：当采用吸盘方式搬送时，吸盘上附着的碎屑等经常会将显示面板表面划伤、吸盘的压力也易将像素显示区支撑结构破坏，从而导致显示面板显示不良。当采用履带式或滚轮式进行传送时，则会经常性划伤显示面板表面，造成显示面板表面破损等。而且，在将显示面板从1T减薄到0.4T或者更薄时，上述情况会进一步恶化。因此，在进行显示面板模组化工程之前，进行出厂前的显示面板表面缺陷检测是非常重要的。
现有技术中，主要采用人眼观察的方式检测显示面板表面缺陷，但具有误判率高且检测效率低下的问题。
另外，现有技术出现基于机器视觉的显示面板表面缺陷检测系统，包括图像采集单元和图像处理单元；其工作原理为：通过图像采集单元采集被测显示面板的图片；然后，图像处理单元对图像采集单元采集到的面板图片进行预处理，再对预处理后的面板图片进行特征分析，最终得到显示面板表面缺陷的情况。
上述基于机器视觉的显示面板表面缺陷检测系统，主要存在的不足为：图像处理单元对图像采集单元采集到的面板图片进行分析处理时，由于面板图片中常常既包括有表面划伤、凹点、破损等真正不良缺陷，还包括有表面灰尘、脏污等可擦除的表面异物，因此，图像处理单元常常需要采用非常复杂的算法才能区分真正不良缺陷和表面异物，具有图像处理过程复杂、耗时长的问题。如何有效解决上述问题，是目前迫切需要解决的问题。
发明内容
针对现有技术存在的缺陷，本发明提供一种新型显示面板表面缺陷检测系统，可有效解决上述问题。
本发明采用的技术方案如下：
本发明提供一种新型显示面板表面缺陷检测系统，包括不良识别子系统；所述不良识别子系统包括图像采集设备、主光学单元、辅助光学单元和图像处理单元；所述图像采集设备和所述图像处理单元连接；
其中，所述图像采集设备设置在被检测显示面板的上方；
所述主光学单元包括若干个主光源组件，各个主光源组件以图像采集设备的镜头为中心且围绕镜头设置，并且，各个主光源组件与镜头的垂直方向形成一定夹角设置，用于向被检测显示面板的表面以一定角度照射光，从而同时照亮被检测显示面板的真正不良缺陷和表面可擦除异物；
所述辅助光学单元包括若干个辅助光源组件，各个辅助光源组件布置于被检测显示面板的四周，用于发出与被检测显示面板表面平行或者近似平行的光，从而照亮被检测显示面板的表面可擦除异物；
所述图像采集设备用于：仅打开所述主光学单元，未打开所述辅助光学单元时，所述图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第1原始检测图像；仅打开所述辅助光学单元，未打开所述主光学单元时，所述图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第2原始检测图像；所述图像采集设备将所述第1原始检测图像和所述第2原始检测图像均上传给所述图像处理单元；
所述图像处理单元对比分析所述第1原始检测图像和所述第2原始检测图像，基于所述第2原始检测图像，从所述第1原始检测图像中剔除掉表面可擦除异物，然后再从所述第1原始检测图像中提取真正不良缺陷，得到被检测显示面板缺陷检测结果；
或者：
所述图像采集设备用于：同时以不同颜色打开所述主光学单元和所述辅助光学单元，所述图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第3原始检测图像；并将所述第3原始检测图像上传给所述图像处理单元；
所述图像处理单元根据颜色特征对所述第3原始检测图像进行分析，剔除掉表面可擦除异物，然后再提取真正不良缺陷，得到被检测显示面板缺陷检测结果。
优选的，所述图像采集设备为面阵相机；和/或
各个主光源组件为近平行光源组件或平行光源组件；和/或
各个主光源组件的入射光与图像采集设备的镜头的垂直方向的夹角范围在0度至90度；优选3-60度，更优选3-30度；和/或
各个主光源组件和各个辅助光源组件为平行面光源或环形面光源；和/或
各个主光源组件为围绕图像采集设备的镜头对称设置的光源；和/或
所述主光学单元所设置的主光源组件的数量为4个；和/或
所述主光学单元的每个主光源组件的光斑中心覆盖整个被检测显示面板的表面。
优选的，各个主光源组件与图像采集设备的镜头在水平方向存在一定的距离，该距离至少大于被检测显示面板在相应方向的长度，进而避免主光源组件在被检测显示面板的镜面成像；
另外，各个主光源组件与图像采集设备的镜头在垂直方向存在一定距离，且，各个主光源组件低于图像采集设备的镜头，进而避免图像采集设备及位于图像采集设备上方的各类机械结构在被检测显示面板的镜面成像。
优选的，所述主光学单元采用分层布局的光源结构，即：以图像采集设备的镜头为中心，按自内向外方向配置多个圆，每个圆上布置有若干个所述主光源组件。
优选的，所述辅助光学单元的每个辅助光源组件的光源入射角度与被检测显示面板表面的夹角为-30度-30度；优选-15-15度；更优先为-5-5度；和/或
每个辅助光源组件为平行面光源；和/或
各个辅助光源组件为围绕被检测显示面板对称设置的辅助光源组件；和/或
所述辅助光学单元包括的辅助光源组件的数量为4个，分别设置于被检测显示面板的四角位置。
优选的，还包括可反转双面吸附装置；所述可反转双面吸附装置用于将被检测显示面板进行翻转，从而实现对被检测显示面板正反两面的缺陷检测；
所述可反转双面吸附装置包括水平框架(10)，所述水平框架(10)包括平行设置的左侧边(11)和右侧边(12)；所述左侧边(11)的底部和所述右侧边(12)的底部之间设置有第1左导轨(13)和第1右导轨(14)；所述第1左导轨(13)和所述第1右导轨(14)之间可滑动安装有第1吸附台(15)，所述第1吸附台(15)在第1驱动装置(16)的驱动作用下，可沿所述第1左导轨(13)和所述第1右导轨(14)滑动；
所述左侧边(11)的顶部和所述右侧边(12)的顶部固定设置有第2左导轨(17)和第2右导轨(18)；所述第2左导轨(17)和所述第2右导轨(18)之间可滑动安装有第2吸附台(19)，所述第2吸附台(19)在第2驱动装置(20)的驱动作用下，可沿所述第2左导轨(17)和所述第2右导轨(18)滑动，进而可滑动到所述第1吸附台(15)的正上方，在垂直方向完全覆盖所述第1吸附台(15)；或滑动到所述第1吸附台(15)的侧面，在垂直方向与所述第1吸附台(15)完全不相交；
还包括第3驱动装置(21)；所述第2驱动装置(21)用于水平翻转所述水平框架(10)。
优选的，所述第1吸附台(15)和所述第2吸附台(19)在垂直方向的相对的两侧面之间距离大于被检测显示面板的厚度；
和/或
所述第1吸附台(15)和所述第2吸附台(19)均分布有若干个直径0.1mm～0.5mm的吸附孔；
还包括卡位装置(22)；所述卡位装置(22)用于缓冲水平框架翻转时的翻转运动。
优选的，所述可反转双面吸附装置的工作过程为：
步骤1：第1吸附台(15)的吸附面朝上设置，将第2吸附台(19)滑动到所述第1吸附台(15)的侧面，在垂直方向与所述第1吸附台(15)完全不相交；
步骤2：向第1吸附台(15)的吸附面放置被检测显示面板；其中，被检测显示面板的正面朝上；第1吸附台(15)的吸孔吸气产生一定的负压，进而稳定吸附被检测显示面板；
步骤3：采用不良识别子系统对被检测显示面板的正面进行图像采集；
步骤4：在第2驱动装置(20)的驱动作用下，使第2吸附台(19)沿导轨滑动至第1吸附台(15)的正上方，使其在垂直方向完全覆盖所述第1吸附台(15)；
步骤5：在第3驱动装置(21)的驱动作用下，使水平框架(10)整体进行水平翻转，使第1吸附台(15)位于上方，而第2吸附台(19)位于下方；
步骤6：对第1吸附台(15)的吸附孔减除负压，被检测显示面板在重力作用下移动至下方的第2吸附台(19)，并且，被检测显示面板的正面与第2吸附台(19)接触，而被检测显示面板的背面与第2吸附台(19)不接触；
步骤7：使第2吸附台(19)吸气产生负压，从而稳定吸附被检测显示面板；
步骤8：在第1驱动装置(16)的驱动作用下，使第1吸附台(15)沿导轨滑动，使第1吸附台(15)在垂直方向与所述第2吸附台(19)完全不相交；此时，被检测显示面板被吸附固定于第2吸附台(19)，并且，被检测显示面板的背面朝上；
步骤9：采用不良识别子系统对被检测显示面板的背面进行图像采集。
优选的，还包括光源亮度自适应调节系统；所述光源亮度自适应调节系统包括：光源实际亮度检测单元、光源控制卡和光源控制器；
所述光源实际亮度检测单元用于检测各个位置的光源实际亮度值，并传输给所述光源控制器；
所述光源控制器比对所述光源实际亮度值与预存储的光源规定亮度值，根据所述光源实际亮度值与所述光源规定亮度值的偏差，产生调整指令，并将所述调整指令发送给所述光源控制卡；所述光源控制卡调整电压或者电流对光源亮度进行补偿，形成实时补偿的闭环控制，进而确保光源亮度稳定在所需值。
优选的，所述光源实际亮度检测单元采用以下两种方式实现：
方式一：在被测光源的下方位置固定安装亮度传感器，亮度传感器实时检测光源亮度数据，并传输给所述光源控制器；
方式二：在固定位置放置标准色板；每隔一段时间使用相机拍摄标准色板，其中，相机和光源的参数设置一致；通过算法分析出拍摄的标准色板图片的灰阶数据，间接反映光源亮度的实际数据。
本发明提供的新型显示面板表面缺陷检测系统具有以下优点：
(1)本发明提供的不良识别子系统，图像处理单元可简单快速的区分照片中的真正不良缺陷和表面异物，具有图像处理过程简单、速度快以及效率高的优点。
(2)本发明提供的可反转双面吸附装置，从底面吸附面板，吸附稳定可靠且不影响机器视觉拍照；双面吸附结构，可将面板进行180度旋转，并再次稳定吸附。
(3)本发明提供的光源亮度自适应调节系统，可以大大延长光源的使用寿命，提升设备嫁动率，有效降低设备维护成本。
附图说明
图1为本发明提供的不良识别子系统的结构示意图；
其中，1－图像采集设备；2－主光学单元；3-辅助光学单元；4-被检测显示面板；5-面板真正不良缺陷点；6-面板表面可擦除异物点。
图2为本发明提供的不良识别子系统中分层布局光源组件的示意图；
图3为图像采集设备采集到的显示面板缺陷的照片；
图4为现有技术中两套吸盘式面板翻转装置及翻转过程示意图；
其中，4-被检测显示面板；7-吸附台；8-1-左吸附小型机械手臂；8-2-左吸盘；9-1-右吸附小型机械手臂；9-2-右吸盘；
图5为本发明提供的可反转双面吸附装置的结构示意图；
图6为本发明提供的光源亮度自适应调节系统的工作原理图。
具体实施方式
为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
对TFT LCD等显示面板的中间产品或模组的自动外观检测是目前正在大力度研究的技术。鉴于目前以线阵相机扫描产品表面缺陷为关键特征的检测系统所表现出的低效率和低准确性，本发明公开了一种新型显示面板表面缺陷的检测系统，该检测系统包括不良识别子系统、可反转双面吸附装置和光源亮度自适应调节系统。其中不良识别子系统包括设置在待检测显示面板上方的面阵相机、围绕面阵相机设置的主光学单元、围绕显示面板设置的辅助光学单元以及与面阵相机连接的图像处理单元。可反转双面吸附装置从底面吸附面板，吸附稳定可靠且不影响机器视觉拍照；双面吸附结构，可将面板进行180度旋转，并再次稳定吸附。光源亮度自适应调节系统为：在固定位置设置亮度传感器检测光源的亮度，或者通过相机拍摄的标准图像间接判断光源的方法。然后将检测的结果与光源的规定的亮度进行比对，再通过光源控制卡调整电压或者电流对光源进行补偿，形成实时补偿的闭环控制，以确保光源亮度可以长时间稳定。
需要强调的是，这三个系统可以为三个相互独立的系统，每个系统均可独立应用于显示面板表面缺陷检测领域。本发明并不限制要求同一套显示面板表面缺陷检测系统中，必须同时使用这三个系统。
以下对这三个系统分别详细介绍：
(一)不良识别子系统
如图1所示，为不良识别子系统的结构示意图；不良识别子系统包括设置在被检测显示面板上方的图像采集设备、主光学单元、辅助光学单元和图像处理单元。其中，图像采集设备和图像处理单元连接。不良识别子系统的核心组件是围绕图像采集设备设置的主光学单元和围绕显示面板设置的辅助光学单元。
(1)主光学单元
主光学单元包括近平行光源组件或平行光源组件以及机械结构，近平行光源组件和平行光源组件以图像采集设备的镜头为中心且围绕镜头、与镜头的垂直方向形成一定夹角进行设置，近平行光源组件和平行光源组件的入射光照射到待检测的显示面板上，从而同时照亮被检测显示面板的真正不良缺陷和表面可擦除异物，以使显示面板的真正不良缺陷和表面可擦除异物反射进入待测显示面板上方的图像采集设备的镜头中，从而检测到显示面板表面缺陷。其中，一定角度是指近平行光源组件和平行光源组件的入射光与图像采集设备镜头的垂直方向的夹角范围在0度至90度，优选3-60度，更优选3-30度。此角度范围确保显示面板的表面缺陷，例如划伤、凹点、破损等均能出现在相机图像中。此外，近平行光源组件和平行光源组件为平行面光源和环形面光源。进一步地，平行面光源为围绕图像采集设备镜头的若干个对称设置的平行面光源，优选为4个对称设置的平行面光源，在一具体实施方式中，四个平行面光源组件从前、后、左、右四个方向对称设置围绕面阵相机的镜头设置，四个平行面光源发射出的入射光以与镜头垂直方向成3～60度的角度入射，光源强度300～2000nit。
另外，因被检测显示面板有镜面成像，此近平行光源组件或平行光源组件与图像采集设备镜头在水平方向有一定的距离范围，距离范围至少大于显示面板的尺寸。例如，被测显示面板中心与镜头中心重合，显示面板边长为10cm，则光源至镜头的水平距离保证大于10cm。此时，在图像中不会有光源的镜面成像。另外，此近平行光源组件或平行光源组件位于镜头下方，不会照亮相机镜头和其他位于被测显示面板上方任何的机械结构，以保证不存在镜头相机及各类机械结构的镜面成像，即：在图像中不会有相机镜头和各类机械结构的镜面成像，简化后续图像分析处理步骤。
另外，对于主光源组件，为了获取更广的角度范围，并且，在一具体的实施方式中，显示面板表面凹点缺陷在显示面板的分布位置是随机的，且形状大小不同、深度不同。为了全面检出，就需要对本发明光源组件结构进一步完善，主要是角度范围进一步扩大，既实现大角度、又实现小角度，同时仍然要规避前述光源在显示面板中镜面成像的问题，本发明提出了分层布局的主光源组件的结构，如图2所示，为不良识别子系统中分层布局光源组件的示意图；即：以图像采集设备的镜头为中心，按自内向外方向配置多个圆，每个圆上布置有若干个主光源组件。也就是说，垂直方向距离镜头近的为一层光源，距离远的为另一层光源，以此类推，可以多层设计。其中的距离，与精确的调试结果有关。本发明实施例提到的为两层设计，参考图2，为两层布局主光源组件的布置示意图，垂直方向距离镜头，分别为5cm～200cm，10～500cm。
另外，平行面光源的光源强度在500nit-10000nit。光源的入射光为白光、红、绿、蓝等不同频率的可见光或红外紫外光，具体与面阵相机的选型和被测显示面板的缺陷的敏感度相关。
另外，主光源组件中的任一主光源，通过相应的机械设计调整，使其光斑中心覆盖整个被测显示面板的表面。
(2)辅助光学单元
辅助光学单元包括布置于被检测显示面板四周的辅助光源组件，辅助光源组件用于发出与被检测显示面板表面平行或者近似平行的光，光源入射角度与显示面板表面平行或者近似平行的作用为：该光源可照亮面板表面所有的表面可擦除异物，例如，灰尘、脏污等异物。
(3)图像采集设备和图像处理单元
本发明通过主光学单元和辅助光学单元的配合，可简化图像处理单元进行图像处理的繁琐度，可简单快速的区分图像的真正不良缺陷和表面异物。如图3所示，为图像采集设备采集到的显示面板的一种具体图；以下通过两种实施例介绍：
实施例一：
分时打开主光源和辅助光源拍照，即：仅打开主光学单元，未打开辅助光学单元时，图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第1原始检测图像；仅打开辅助光学单元，未打开主光学单元时，图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第2原始检测图像；图像采集设备将第1原始检测图像和第2原始检测图像均上传给图像处理单元；
图像处理单元对比分析第1原始检测图像和第2原始检测图像，基于第2原始检测图像，从第1原始检测图像中剔除掉表面可擦除异物，然后再从第1原始检测图像中提取真正不良缺陷，得到被检测显示面板缺陷检测结果。
实施例二：
同时打开主光源和辅助光源，但主光源和辅助光源选择不一样的光源颜色。优选的主光源和辅助光源颜色组合可以是“蓝色+红色”或者“红色+蓝色”的模式。然后使用图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第3原始检测图像；并将第3原始检测图像上传给图像处理单元；
图像处理单元根据颜色特征对第3原始检测图像进行分析，由于辅助光源能把灰尘等表面可擦除异物照亮而不能把真正不良缺陷照亮，主光源能把真正不良缺陷和表面可擦除异物同时照亮，因此，图像处理单元可根据颜色特征区分真正不良缺陷和表面可擦除异物，从而剔除掉表面可擦除异物，然后再提取真正不良缺陷，得到被检测显示面板缺陷检测结果。
其中，辅助光源入射角度与面板表面平行或者近似平行，夹角范围在-30度-30度，优选-15-15度，更优选为-5-5度。此角度范围确保显示面板表面的灰尘、脏污等表面可擦除的异物等所有异物都能被照亮。另外，辅助光源为平行面光源。进一步地，平行面光源为围绕显示面板设置的若干个对称设置的平行面光源，优选为4个对称设置的平行面光源。其中平行面光源的光源强度在500nit-10000nit。其中，光源的入射光为白光、红、绿、蓝等不同频率的可见光或红外紫外光。
对于不良识别子系统，介绍一具体实施例：
如图2所示，主光源单元中垂直方向靠近镜头的左右前后共四个光源为第一层光源，到镜头中心距离为5cm-20cm；垂直方向距镜头稍远的左右前后共四个光源为第二层光源，其距离为10cm-30cm，均使用蓝色发光二极管阵列。镜头距离LCD显示面板的距离在50cm-200cm，处于被测显示面板中央。所使用镜头焦距为20mm-80mm。辅助光源系统为围绕显示面板水平方向设置4个光源，均使用红色发光二极管阵列。距离显示面板的距离在1cm-10cm。调整主光源组件中的每个光源，使其中心光斑均覆盖被测显示面板。调整辅助光源组件中的每个光源，使其均匀照射到面板表面。同时开启主光源和辅助光源，从主光源出射光线照射被测显示面板，在凹点缺陷处总是有光线被反射，从辅助光源出射光线照射被测显示面板，在灰尘处总是有光线被反射。控制相机拍照，此时在图像中出现蓝色凹点缺陷和红色的灰尘，最终经过图像处理软件进行识别。本发明分层光源组件布局，可以使得显示面板表面凹点缺陷全面检出，不因缺陷在显示面板的分布位置、形状大小、深度等因素有结果上的不同，是本发明提升检测准确率的根本原因。
与现有技术中相比，本发明采用面阵相机，并通过建立围绕面阵相机设置的主光学系统、围绕显示面板设置的辅助光学系统，采用一次成像并结合图像处理算法，即可检出显示面板的表面缺陷，本发明的检测系统的复杂度大大降低，检测效率提升20％以上，准确率提升2％以上。
由此可见，通过本发明提供的不良识别子系统，图像处理单元可简单快速的区分照片中的真正不良缺陷和表面异物，具有图像处理过程简单、速度快以及效率高的优点。
(二)可反转双面吸附装置
由于被测显示面板的正反面均需要进行缺陷检测，因此，需要采用面板正反面翻转的设备。又由于被测显示面板的数量较多，特别是中小尺寸TFT-LCDCell，其数量数以万计，轻薄易碎，所以，需要一套高效的面板正反面翻转设备，能够快速对面板进行翻转，同时，不会对面板表面进行遮挡。
现有技术中，主要采用吸盘式面板翻转装置对面板进行翻转。参考图4，为现有技术中两套吸盘式面板翻转装置及翻转过程示意图，翻转过程为：
(1)初始时，面板处于A面朝上状态；
(2)然后，左吸盘将面板吸起，并进行1次垂直反转；
(3)接着右吸盘吸附面板B面，并进行2次垂直反转；
(4)随后右吸盘将面板放置于吸附平台1上，并且B面朝上，实现了面板反转。
从整个过程可以看到，涉及到的动作较多，效率低，特别是针对数以万计的面板检测量来说，直接影响机器检测的效率。
本发明人经过努力研究，结构变更优化多次，提出了一种新型的可反转双面吸附装置，可以应对以上的需求。
本发明可反转双面吸附装置从底面吸附面板，吸附稳定可靠且不影响机器视觉拍照；双面吸附结构，可将面板进行180度旋转，并再次稳定吸附；动作速度1s内，而上述传统方式，至少在1.5s。
如图5所示，为本发明提供的可反转双面吸附装置的结构示意图，包括水平框架10，水平框架10包括平行设置的左侧边11和右侧边12；左侧边11的底部和右侧边12的底部之间设置有第1左导轨13和第1右导轨14；第1左导轨13和第1右导轨14之间可滑动安装有第1吸附台15，第1吸附台15在第1驱动装置16的驱动作用下，可沿第1左导轨13和第1右导轨14滑动；
左侧边11的顶部和右侧边12的顶部固定设置有第2左导轨17和第2右导轨18；第2左导轨17和第2右导轨18之间可滑动安装有第2吸附台19，第2吸附台19在第2驱动装置20的驱动作用下，可沿第2左导轨17和第2右导轨18滑动，进而可滑动到第1吸附台15的正上方，在垂直方向完全覆盖第1吸附台15；或滑动到第1吸附台15的侧面，在垂直方向与第1吸附台15完全不相交；
还包括第3驱动装置21；第2驱动装置21用于水平翻转水平框架10。
实际应用中，第1吸附台15和第2吸附台19在垂直方向的相对的两侧面之间距离大于被检测显示面板的厚度；通常为1mm～5mm。
第1吸附台15和第2吸附台19均分布有若干个直径0.1mm～0.5mm的吸附孔；
还包括卡位装置22；卡位装置22用于缓冲水平框架翻转时的翻转运动。具体的，当不需要中间精确的角度位置时，即只是0度和180度，此时在轴承位置设置有带有缓冲作用的卡位装置。
实际应用中，其中，对于本发明涉及到的左右吸附台，可选用铝、钢、合金等材质，为适应多个面板型号通用，尺寸上优选宽50～100mm，长80～300mm，厚度为5mm～15mm，且为了减轻重量，结构上局部进行空心化处理，为一般机械设计人员可理解，此处不再赘述。按照液晶显示面板检测技术需求，吸附台表面进行氧化(黑化)处理，防静电涂层处理。出于本发明反转原理，两个吸附台正对，表面间距1～5mm，此间距大于面板厚度(通常为0.3～0.8mm)，同时反转后，面板在重力作用下移到另一吸附台，所以间距也不能太大。每个吸附台分布有吸附孔，直径0.1mm～0.5mm。布局上为多个吸附孔，优选8～12个，充分考虑面板的均匀受力，达到既保证稳定可靠的吸附，又确保不因吸附而产生对面板的损毁。滑轨采用高精密的滚珠滑轨。吸附台的边缘与滑轨接触。滑轨既起到对移动方向的精确控制，又起到对吸附台的支撑作用。吸附台与直线推杆或气缸相连。吸附台及滑轨等整体结构与旋转气缸或旋转马达相连，当旋转气缸或旋转马达运动时，完成旋转。特别的，不需要中间精确的角度位置时，即只是0度和180度，此时在轴承位置设置有带有缓冲作用的卡位装置。
可反转双面吸附装置的工作过程为：
步骤1：第1吸附台15的吸附面朝上设置，将第2吸附台19滑动到第1吸附台15的侧面，在垂直方向与第1吸附台15完全不相交；
步骤2：向第1吸附台15的吸附面放置被检测显示面板；其中，被检测显示面板的正面朝上；第1吸附台15的吸孔吸气产生一定的负压，进而稳定吸附被检测显示面板；
步骤3：采用不良识别子系统对被检测显示面板的正面进行图像采集；
步骤4：在第2驱动装置20的驱动作用下，使第2吸附台19沿导轨滑动至第1吸附台15的正上方，使其在垂直方向完全覆盖第1吸附台15；
步骤5：在第3驱动装置21的驱动作用下，使水平框架10整体进行水平翻转，使第1吸附台15位于上方，而第2吸附台19位于下方；
步骤6：对第1吸附台15的吸附孔减除负压，被检测显示面板在重力作用下移动至下方的第2吸附台19，并且，被检测显示面板的正面与第2吸附台19接触，而被检测显示面板的背面与第2吸附台19不接触；
步骤7：使第2吸附台19吸气产生负压，从而稳定吸附被检测显示面板；
步骤8：在第1驱动装置16的驱动作用下，使第1吸附台15沿导轨滑动，使第1吸附台15在垂直方向与第2吸附台19完全不相交；此时，被检测显示面板被吸附固定于第2吸附台19，并且，被检测显示面板的背面朝上；
步骤9：采用不良识别子系统对被检测显示面板的背面进行图像采集。
由此可见，本发明可反转双面吸附装置从底面吸附面板，吸附稳定可靠且不影响机器视觉拍照；双面吸附结构，可将面板进行180度旋转，并再次稳定吸附。
(三)光源亮度自适应调节系统
随着设备长时间运行，设备中的主要部件—光源，其亮度会出现衰减现象，引起整体设备的检测能力下降，检测设备没有起到应有的作用，导致很多的缺陷品流向后端甚至是流向客户，引起巨大的损失；现在工厂普遍的做法是更换新的光源备件来解决；但是其弊端是显而易见的，直接导致成本增加，更换光源组件也比较频繁，并且每次更换需要的时间也较长，导致设备嫁动率很难提升，生产效率低下。
因此，本发明提供一种光源亮度自适应调节系统，如图6所示，为光源亮度自适应调节系统的工作原理图，包括：光源实际亮度检测单元、光源控制卡和光源控制器；光源实际亮度检测单元用于检测各个位置的光源实际亮度值，并传输给光源控制器；光源控制器比对光源实际亮度值与预存储的光源规定亮度值，根据光源实际亮度值与光源规定亮度值的偏差，产生调整指令，并将调整指令发送给光源控制卡；光源控制卡调整电压或者电流对光源亮度进行补偿，形成实时补偿的闭环控制，进而确保光源亮度稳定在所需值。
光源实际亮度检测单元采用以下两种方式实现：
方式一：在被测光源的下方位置固定安装亮度传感器，亮度传感器实时检测光源亮度数据，并传输给光源控制器；
方式二：在固定位置放置标准色板；每隔一段时间使用相机拍摄标准色板，其中，相机和光源的参数设置一致；通过算法分析出拍摄的标准色板图片的灰阶数据，间接反映光源亮度的实际数据。
采用光源亮度自适应调节系统，可以大大延长光源的使用寿命，提升设备嫁动率，有效降低设备维护成本。
由此可见，本发明提供的新型显示面板表面缺陷检测系统具有以下优点：
(1)本发明提供的不良识别子系统，图像处理单元可简单快速的区分照片中的真正不良缺陷和表面异物，具有图像处理过程简单、速度快以及效率高的优点。
(2)本发明提供的可反转双面吸附装置，从底面吸附面板，吸附稳定可靠且不影响机器视觉拍照；双面吸附结构，可将面板进行180度旋转，并再次稳定吸附。
(3)本发明提供的光源亮度自适应调节系统，可以大大延长光源的使用寿命，提升设备嫁动率，有效降低设备维护成本。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，包括不良识别子系统；所述不良识别子系统包括图像采集设备、主光学单元、辅助光学单元和图像处理单元；所述图像采集设备和所述图像处理单元连接；
其中，所述图像采集设备设置在被检测显示面板的上方；
所述主光学单元包括若干个主光源组件，各个主光源组件以图像采集设备的镜头为中心且围绕镜头设置，并且，各个主光源组件与镜头的垂直方向形成一定夹角设置，用于向被检测显示面板的表面以一定角度照射光，从而同时照亮被检测显示面板的真正不良缺陷和表面可擦除异物；
所述辅助光学单元包括若干个辅助光源组件，各个辅助光源组件布置于被检测显示面板的四周，用于发出与被检测显示面板表面平行或者近似平行的光，从而照亮被检测显示面板的表面可擦除异物；
所述图像采集设备用于：仅打开所述主光学单元，未打开所述辅助光学单元时，所述图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第1原始检测图像；仅打开所述辅助光学单元，未打开所述主光学单元时，所述图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第2原始检测图像；所述图像采集设备将所述第1原始检测图像和所述第2原始检测图像均上传给所述图像处理单元；
所述图像处理单元对比分析所述第1原始检测图像和所述第2原始检测图像，基于所述第2原始检测图像，从所述第1原始检测图像中剔除掉表面可擦除异物，然后再从所述第1原始检测图像中提取真正不良缺陷，得到被检测显示面板缺陷检测结果；
或者：
所述图像采集设备用于：同时以不同颜色打开所述主光学单元和所述辅助光学单元，所述图像采集设备采集得到被检测显示面板的图像，记为第3原始检测图像；并将所述第3原始检测图像上传给所述图像处理单元；
所述图像处理单元根据颜色特征对所述第3原始检测图像进行分析，剔除掉表面可擦除异物，然后再提取真正不良缺陷，得到被检测显示面板缺陷检测结果。
2.根据权利要求1所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述图像采集设备为面阵相机；和/或
各个主光源组件为近平行光源组件或平行光源组件；和/或
各个主光源组件的入射光与图像采集设备的镜头的垂直方向的夹角范围在0度至90度；优选3-60度，更优选3-30度；和/或
各个主光源组件和各个辅助光源组件为平行面光源或环形面光源；和/或
各个主光源组件为围绕图像采集设备的镜头对称设置的光源；和/或
所述主光学单元所设置的主光源组件的数量为4个；和/或
所述主光学单元的每个主光源组件的光斑中心覆盖整个被检测显示面板的表面。
3.根据权利要求1所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，各个主光源组件与图像采集设备的镜头在水平方向存在一定的距离，该距离至少大于被检测显示面板在相应方向的长度，进而避免主光源组件在被检测显示面板的镜面成像；
另外，各个主光源组件与图像采集设备的镜头在垂直方向存在一定距离，且，各个主光源组件低于图像采集设备的镜头，进而避免图像采集设备及位于图像采集设备上方的各类机械结构在被检测显示面板的镜面成像。
4.根据权利要求1所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述主光学单元采用分层布局的光源结构，即：以图像采集设备的镜头为中心，按自内向外方向配置多个圆，每个圆上布置有若干个所述主光源组件。
5.根据权利要求1所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述辅助光学单元的每个辅助光源组件的光源入射角度与被检测显示面板表面的夹角为-30度-30度；优选-15-15度；更优先为-5-5度；和/或
每个辅助光源组件为平行面光源；和/或
各个辅助光源组件为围绕被检测显示面板对称设置的辅助光源组件；和/或
所述辅助光学单元包括的辅助光源组件的数量为4个，分别设置于被检测显示面板的四角位置。
6.根据权利要求1所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，还包括可反转双面吸附装置；所述可反转双面吸附装置用于将被检测显示面板进行翻转，从而实现对被检测显示面板正反两面的缺陷检测；
所述可反转双面吸附装置包括水平框架(10)，所述水平框架(10)包括平行设置的左侧边(11)和右侧边(12)；所述左侧边(11)的底部和所述右侧边(12)的底部之间设置有第1左导轨(13)和第1右导轨(14)；所述第1左导轨(13)和所述第1右导轨(14)之间可滑动安装有第1吸附台(15)，所述第1吸附台(15)在第1驱动装置(16)的驱动作用下，可沿所述第1左导轨(13)和所述第1右导轨(14)滑动；
所述左侧边(11)的顶部和所述右侧边(12)的顶部固定设置有第2左导轨(17)和第2右导轨(18)；所述第2左导轨(17)和所述第2右导轨(18)之间可滑动安装有第2吸附台(19)，所述第2吸附台(19)在第2驱动装置(20)的驱动作用下，可沿所述第2左导轨(17)和所述第2右导轨(18)滑动，进而可滑动到所述第1吸附台(15)的正上方，在垂直方向完全覆盖所述第1吸附台(15)；或滑动到所述第1吸附台(15)的侧面，在垂直方向与所述第1吸附台(15)完全不相交；
还包括第3驱动装置(21)；所述第2驱动装置(21)用于水平翻转所述水平框架(10)。
7.根据权利要求6所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述第1吸附台(15)和所述第2吸附台(19)在垂直方向的相对的两侧面之间距离大于被检测显示面板的厚度；
和/或
所述第1吸附台(15)和所述第2吸附台(19)均分布有若干个直径0.1mm～0.5mm的吸附孔；
还包括卡位装置(22)；所述卡位装置(22)用于缓冲水平框架翻转时的翻转运动。
8.根据权利要求6所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述可反转双面吸附装置的工作过程为：
步骤1：第1吸附台(15)的吸附面朝上设置，将第2吸附台(19)滑动到所述第1吸附台(15)的侧面，在垂直方向与所述第1吸附台(15)完全不相交；
步骤2：向第1吸附台(15)的吸附面放置被检测显示面板；其中，被检测显示面板的正面朝上；第1吸附台(15)的吸孔吸气产生一定的负压，进而稳定吸附被检测显示面板；
步骤3：采用不良识别子系统对被检测显示面板的正面进行图像采集；
步骤4：在第2驱动装置(20)的驱动作用下，使第2吸附台(19)沿导轨滑动至第1吸附台(15)的正上方，使其在垂直方向完全覆盖所述第1吸附台(15)；
步骤5：在第3驱动装置(21)的驱动作用下，使水平框架(10)整体进行水平翻转，使第1吸附台(15)位于上方，而第2吸附台(19)位于下方；
步骤6：对第1吸附台(15)的吸附孔减除负压，被检测显示面板在重力作用下移动至下方的第2吸附台(19)，并且，被检测显示面板的正面与第2吸附台(19)接触，而被检测显示面板的背面与第2吸附台(19)不接触；
步骤7：使第2吸附台(19)吸气产生负压，从而稳定吸附被检测显示面板；
步骤8：在第1驱动装置(16)的驱动作用下，使第1吸附台(15)沿导轨滑动，使第1吸附台(15)在垂直方向与所述第2吸附台(19)完全不相交；此时，被检测显示面板被吸附固定于第2吸附台(19)，并且，被检测显示面板的背面朝上；
步骤9：采用不良识别子系统对被检测显示面板的背面进行图像采集。
9.根据权利要求1所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，还包括光源亮度自适应调节系统；所述光源亮度自适应调节系统包括：光源实际亮度检测单元、光源控制卡和光源控制器；
所述光源实际亮度检测单元用于检测各个位置的光源实际亮度值，并传输给所述光源控制器；
所述光源控制器比对所述光源实际亮度值与预存储的光源规定亮度值，根据所述光源实际亮度值与所述光源规定亮度值的偏差，产生调整指令，并将所述调整指令发送给所述光源控制卡；所述光源控制卡调整电压或者电流对光源亮度进行补偿，形成实时补偿的闭环控制，进而确保光源亮度稳定在所需值。
10.根据权利要求9所述的新型显示面板表面缺陷检测系统，其特征在于，所述光源实际亮度检测单元采用以下两种方式实现：
方式一：在被测光源的下方位置固定安装亮度传感器，亮度传感器实时检测光源亮度数据，并传输给所述光源控制器；
方式二：在固定位置放置标准色板；每隔一段时间使用相机拍摄标准色板，其中，相机和光源的参数设置一致；通过算法分析出拍摄的标准色板图片的灰阶数据，间接反映光源亮度的实际数据。
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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107228861A (zh) * 2017-06-27 2017-10-03 北京兆维科技开发有限公司 液晶面板的缺陷检测装置
CN107402221A (zh) * 2017-08-08 2017-11-28 广东工业大学 一种基于机器视觉的显示面板缺陷识别方法及系统
CN107843604A (zh) * 2017-12-19 2018-03-27 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
CN108107614A (zh) * 2017-12-28 2018-06-01 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示检查方法及显示检查装置
CN108594487A (zh) * 2018-04-26 2018-09-28 芜湖易测自动化设备有限公司 一种液晶屏模组点亮外观检装置
CN108931534A (zh) * 2018-05-23 2018-12-04 苏州江锦自动化科技有限公司 双面视觉检测机器人及其检测方法
CN109059867A (zh) * 2018-06-14 2018-12-21 同济大学 手表外壳工件的正反姿态判断的单目机器视觉方法
CN109470704A (zh) * 2018-05-31 2019-03-15 武汉深海弈智科技有限公司 一种汽车制动支架视觉缺陷检测系统及其检测方法
CN109655174A (zh) * 2018-11-30 2019-04-19 广东骏亚电子科技股份有限公司 一种pcb压合板材的温度测试方法
CN109765183A (zh) * 2019-03-28 2019-05-17 青岛海鼎通讯技术有限公司 一种手机屏检测装置及其使用方法
CN109813652A (zh) * 2018-12-29 2019-05-28 赣州市德普特科技有限公司 一种触控屏与显示屏框贴外观检测装置
CN109959666A (zh) * 2019-04-11 2019-07-02 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板缺陷判定方法、处理器及判定系统
CN110018178A (zh) * 2019-04-28 2019-07-16 华南理工大学 一种手机曲面玻璃典型缺陷在线检测装置与方法
CN110085193A (zh) * 2019-04-10 2019-08-02 深圳市华星光电技术有限公司 光源自动补正方法、装置、存储介质及光学检测设备
CN110108713A (zh) * 2019-04-26 2019-08-09 武汉精立电子技术有限公司 一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统
CN110262092A (zh) * 2019-04-26 2019-09-20 合刃科技（武汉）有限公司 一种基于机器视觉系统的液晶屏检测方法
CN110398849A (zh) * 2019-07-31 2019-11-01 北京兆维电子(集团)有限责任公司 一种液晶显示屏光学检测系统
CN110658207A (zh) * 2019-09-30 2020-01-07 武汉精立电子技术有限公司 一种区分非偏光膜内与膜外异物的检测方法及装置
CN111272777A (zh) * 2020-02-28 2020-06-12 合肥市商巨智能装备有限公司 缺陷分层检测装置及方法
CN111474181A (zh) * 2020-03-31 2020-07-31 成都数之联科技有限公司 一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统
CN113835250A (zh) * 2021-11-25 2021-12-24 中导光电设备股份有限公司 一种液晶面板曝光光源亮度分区控制装置及方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111289536B (zh) * 2020-04-07 2021-10-26 深圳回收宝科技有限公司 一种电子设备屏幕的缺陷检测装置
CN111505849A (zh) * 2020-06-16 2020-08-07 湖南大学 一种lcd显示屏成品瑕疵检测成像装置及方法
CN111707674A (zh) * 2020-07-27 2020-09-25 北京新研创能科技有限公司 一种电堆元件识别方法、电堆元件识别装置和系统
CN112304968A (zh) * 2020-09-11 2021-02-02 嘉兴驭光光电科技有限公司 用于微纳光学元件的检测系统及检测方法
CN112666163A (zh) * 2021-01-08 2021-04-16 张家港市锦华客车配套件制造有限公司 一体化lng阀门箱用外观检测系统
CN112987356B (zh) * 2021-04-16 2021-08-31 高视科技(苏州)有限公司 液晶面板底部异物滤除装置
CN113865830A (zh) * 2021-10-12 2021-12-31 苏州华兴源创科技股份有限公司 显示屏缺陷检测方法及系统
CN114235813B (zh) * 2021-11-26 2022-10-21 江苏凡润电子有限公司 基于视觉检测的显示器背板的质量控制系统
CN115078256A (zh) * 2022-05-25 2022-09-20 安徽陆科光电科技有限公司 一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010281772A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Toppan Printing Co Ltd シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法
KR20120031835A (ko) * 2010-09-27 2012-04-04 주식회사 쓰리비 시스템 결함 검사장치
CN104407049A (zh) * 2014-10-29 2015-03-11 湖南工程学院 一种微裂纹无损检测系统及其检测方法
CN104807828A (zh) * 2014-01-27 2015-07-29 由田新技股份有限公司 面板亮点检测方法及系统
CN204629260U (zh) * 2015-05-29 2015-09-09 杭州利珀科技有限公司 一种用于金属盖缺陷智能检测设备的光源
CN105572149A (zh) * 2010-01-29 2016-05-11 康宁精密素材株式会社 平板玻璃表面的异物检测装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200942806A (en) * 2008-04-10 2009-10-16 Contrel Technology Co Ltd Inspection apparatus and image illuminace compensating method thereof
CN101329456A (zh) * 2008-07-31 2008-12-24 友达光电股份有限公司 检测设备
CN201645275U (zh) * 2010-04-02 2010-11-24 上海龙鉴机电自动化工程有限公司 铝合金硅片表面处理装置
CN104081192B (zh) * 2011-04-21 2017-02-22 艾悌亚信息技术（上海）有限公司 一种对玻璃多层面摄像的摄像装置及其方法
CN102590218B (zh) * 2012-01-16 2014-04-02 安徽中科智能高技术有限责任公司 基于机器视觉的金属零件光洁表面微缺陷检测装置及方法
CN102608130A (zh) * 2012-01-18 2012-07-25 西安麦诺兹视频科技有限公司 基于图像特征匹配技术的智能卡污渍检测系统及检测方法
CN203011848U (zh) * 2012-11-02 2013-06-19 晶彩科技股份有限公司 具有翻转机构的面板检测装置
CN103940832A (zh) * 2013-01-17 2014-07-23 北京兆维电子(集团)有限责任公司 一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010281772A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Toppan Printing Co Ltd シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法
CN105572149A (zh) * 2010-01-29 2016-05-11 康宁精密素材株式会社 平板玻璃表面的异物检测装置
KR20120031835A (ko) * 2010-09-27 2012-04-04 주식회사 쓰리비 시스템 결함 검사장치
CN104807828A (zh) * 2014-01-27 2015-07-29 由田新技股份有限公司 面板亮点检测方法及系统
CN104407049A (zh) * 2014-10-29 2015-03-11 湖南工程学院 一种微裂纹无损检测系统及其检测方法
CN204629260U (zh) * 2015-05-29 2015-09-09 杭州利珀科技有限公司 一种用于金属盖缺陷智能检测设备的光源

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107228861A (zh) * 2017-06-27 2017-10-03 北京兆维科技开发有限公司 液晶面板的缺陷检测装置
CN107228861B (zh) * 2017-06-27 2023-11-03 北京兆维科技开发有限公司 液晶面板的缺陷检测装置
CN107402221A (zh) * 2017-08-08 2017-11-28 广东工业大学 一种基于机器视觉的显示面板缺陷识别方法及系统
CN107843604A (zh) * 2017-12-19 2018-03-27 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
CN107843604B (zh) * 2017-12-19 2024-04-05 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
CN108107614A (zh) * 2017-12-28 2018-06-01 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示检查方法及显示检查装置
CN108594487A (zh) * 2018-04-26 2018-09-28 芜湖易测自动化设备有限公司 一种液晶屏模组点亮外观检装置
CN108931534A (zh) * 2018-05-23 2018-12-04 苏州江锦自动化科技有限公司 双面视觉检测机器人及其检测方法
CN108931534B (zh) * 2018-05-23 2024-02-13 苏州江锦自动化科技有限公司 双面视觉检测机器人及其检测方法
CN109470704A (zh) * 2018-05-31 2019-03-15 武汉深海弈智科技有限公司 一种汽车制动支架视觉缺陷检测系统及其检测方法
CN109059867A (zh) * 2018-06-14 2018-12-21 同济大学 手表外壳工件的正反姿态判断的单目机器视觉方法
CN109655174A (zh) * 2018-11-30 2019-04-19 广东骏亚电子科技股份有限公司 一种pcb压合板材的温度测试方法
CN109813652A (zh) * 2018-12-29 2019-05-28 赣州市德普特科技有限公司 一种触控屏与显示屏框贴外观检测装置
CN109765183A (zh) * 2019-03-28 2019-05-17 青岛海鼎通讯技术有限公司 一种手机屏检测装置及其使用方法
CN109765183B (zh) * 2019-03-28 2023-11-24 青岛海鼎通讯技术有限公司 一种手机屏检测装置及其使用方法
CN110085193A (zh) * 2019-04-10 2019-08-02 深圳市华星光电技术有限公司 光源自动补正方法、装置、存储介质及光学检测设备
CN109959666A (zh) * 2019-04-11 2019-07-02 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板缺陷判定方法、处理器及判定系统
CN110108713A (zh) * 2019-04-26 2019-08-09 武汉精立电子技术有限公司 一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统
CN110262092A (zh) * 2019-04-26 2019-09-20 合刃科技（武汉）有限公司 一种基于机器视觉系统的液晶屏检测方法
CN110018178A (zh) * 2019-04-28 2019-07-16 华南理工大学 一种手机曲面玻璃典型缺陷在线检测装置与方法
CN110398849B (zh) * 2019-07-31 2024-03-22 北京兆维电子(集团)有限责任公司 一种液晶显示屏光学检测系统
CN110398849A (zh) * 2019-07-31 2019-11-01 北京兆维电子(集团)有限责任公司 一种液晶显示屏光学检测系统
CN110658207A (zh) * 2019-09-30 2020-01-07 武汉精立电子技术有限公司 一种区分非偏光膜内与膜外异物的检测方法及装置
CN111272777A (zh) * 2020-02-28 2020-06-12 合肥市商巨智能装备有限公司 缺陷分层检测装置及方法
CN111474181A (zh) * 2020-03-31 2020-07-31 成都数之联科技有限公司 一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统
CN113835250A (zh) * 2021-11-25 2021-12-24 中导光电设备股份有限公司 一种液晶面板曝光光源亮度分区控制装置及方法

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