CN115078256A - 一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法 - Google Patents
一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115078256A CN115078256A CN202210587512.7A CN202210587512A CN115078256A CN 115078256 A CN115078256 A CN 115078256A CN 202210587512 A CN202210587512 A CN 202210587512A CN 115078256 A CN115078256 A CN 115078256A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- support
- fixed connection
- integrated circuit
- movable
- main body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 230000017105 transposition Effects 0.000 claims abstract description 30
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 79
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 28
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000029058 respiratory gaseous exchange Effects 0.000 claims description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007306 turnover Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/8411—Application to online plant, process monitoring
Abstract
本发明公开了一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法，涉及集成电路生产技术领域，为解决现有的集成电路封装外观用检测装置灵活性较低，存在检测死角，影响检测效果的问题。所述主体支架内部的上端安装有第一分隔板，所述第一分隔板的下方安装有控制丝杆，所述控制丝杆的外部安装有移动安装块，所述移动安装块的下端安装有连接支架，所述连接支架的下端安装有调节活板，所述移动安装块下端的两侧均安装有调节推杆，所述主体支架一侧的内部安装有第一移动滑块，所述主体支架另一侧的内部安装有第二移动滑块，所述第二移动滑块和第一移动滑块之间安装有换位支架，所述换位支架的上端安装有固定吸盘。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路生产技术领域，具体为一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法。
背景技术
集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路发明者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，集成电路在生产时需要进行包装，防止集成电路在运输时受损。
但是，现有的集成电路封装外观用检测装置灵活性较低，存在检测死角，影响检测效果；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法，以解决上述背景技术中提出的集成电路封装外观用检测装置灵活性较低，存在检测死角，影响检测效果的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种集成电路封装外观用检测装置，包括主体支架，所述主体支架内部的上端安装有第一分隔板，所述第一分隔板的下方安装有控制丝杆，所述控制丝杆的外部安装有移动安装块，所述移动安装块的下端安装有连接支架，所述连接支架的下端安装有调节活板，所述移动安装块下端的两侧均安装有调节推杆，所述主体支架一侧的内部安装有第一移动滑块，所述主体支架另一侧的内部安装有第二移动滑块，所述第二移动滑块和第一移动滑块之间安装有换位支架，所述换位支架的上端安装有固定吸盘，所述主体支架的内部安装有第二分隔板，所述第二分隔板的上端安装有工作台，所述工作台的上端安装有稳固吸盘，所述工作台的内部安装有吸气管道，所述主体支架的两侧均安装有电动推杆。
优选的，所述第二分隔板上端的两侧均安装有整位气缸，所述整位气缸与第二分隔板固定连接，所述整位气缸的伸缩端安装有整位推板，所述整位推板与整位气缸固定连接，所述整位推板的内部安装有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧与整位推板固定连接，所述缓冲弹簧的上端安装有调节推件，所述调节推件与缓冲弹簧固定连接，所述调节推件与整位推板通过卡槽滑动连接。
优选的，所述第一分隔板的上端安装有计算机主体，所述计算机主体与第一分隔板固定连接，所述第二移动滑块与主体支架通过卡槽滑动连接，所述换位支架与第二移动滑块和第一移动滑块均通过轴承连接，所述固定吸盘与换位支架固定连接。
优选的，所述主体支架内部的下端安装有电气件，所述电气件与主体支架固定连接，所述第二分隔板与主体支架固定连接，所述稳固吸盘与工作台固定连接，所述吸气管道与工作台固定连接，所述电动推杆与第二移动滑块和第一移动滑块均固定连接。
优选的，所述第一分隔板下方的两侧均安装有照明灯，所述照明灯与第一分隔板固定连接。
优选的，所述主体支架的另一侧均安装有弹性遮挡布，所述弹性遮挡布的一端与主体支架固定连接，所述弹性遮挡布的另一侧与第二移动滑块固定连接。
优选的，所述第二分隔板下方的一侧安装有第一真空泵，所述第二分隔板下方的另一侧安装有第二真空泵。
优选的，所述调节活板的下端安装有工业相机，所述工业相机与调节活板固定连接，所述第一分隔板与主体支架固定连接，所述控制丝杆与主体支架通过轴承旋转连接，所述移动安装块与控制丝杆通过丝杆轴承连接，所述调节活板与连接支架旋转连接，所述调节推杆与移动安装块固定连接，所述第一移动滑块与主体支架通过卡槽滑动连接。
一种集成电路封装外观用检测装置的检测方法，包括如下步骤：
步骤一：工作人员将物料放置在工作台上端，然后整位气缸伸长，推动整位推板进行移动，使调节推件与物料接触，将物料推至指定位置，调节物料的位置，然后第一真空泵启动，通过稳固吸盘将物料吸附住；
步骤二：控制丝杆旋转带动移动安装块进行移动，调节工业相机的位置，然后调节推杆推动调节活板旋转，调节工业相机的采集角度，然后工业相机多角度采集物料外部情况；
步骤三：待物料上端采集完毕后，换位支架旋转，使换位支架外部的固定吸盘与物料上部接触，然后第二真空泵通过固定吸盘将物料上部吸附住，然后换位支架旋转，使物料翻面，然后电动推杆推动第二移动滑块和第一移动滑块进行移动，调整物料的横向位置，工业相机多角度采集物料外部情况，即可完成对物料背面信息采集。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明通过安装控制丝杆可以灵活控制工业相机的横向位置，增强装置的灵活性，安装调节活板可以使工业相机进行侧向旋转，排侧侧向角度的画面，使装置检测能更加细致，不错过任何一个死角，增强装置的实用性，提高检测的准确性，安装第二移动滑块和第一移动滑块使其配合电动推杆可以进一步提高装置灵活性，使物料翻面后能进行位置调节，增强装置的实用性，使装置更加灵活，安装电动推杆可以吸住物料防止物料晃动；
2、本发明通过安装缓冲弹簧可以起到缓冲的作用，使调节推件在调整物料位置的同时，不影响换位支架取料，增强装置的实用性，安装固定吸盘可以固定住物料，防止物料晃动，安装电动推杆可以调节物料的位置，使物料在翻面后能回到原始位置。
附图说明
图1为本发明一种集成电路封装外观用检测装置的结构示意图；
图2为本发明一种集成电路封装外观用检测装置的主视图；
图3为本发明一种集成电路封装外观用检测装置的侧视结构示意图；
图4为本发明一种集成电路封装外观用检测装置的侧视图；
图5为本发明A部分放大图；
图6为本发明换位支架与固定吸盘的连接关系图。
图中：1、主体支架；2、第一分隔板；3、计算机主体；4、移动安装块；5、连接支架；6、调节活板；7、工业相机；8、调节推杆；9、照明灯；10、第一移动滑块；11、换位支架；12、固定吸盘；13、第二移动滑块；14、第二分隔板；15、工作台；16、稳固吸盘；17、吸气管道；18、第一真空泵；19、第二真空泵；20、整位气缸；21、电气件；22、整位推板；23、调节推件；24、电动推杆；25、弹性遮挡布；26、缓冲弹簧；27、控制丝杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
请参阅图1-6，本发明提供的一种实施例：一种集成电路封装外观用检测装置，包括主体支架1，主体支架1内部的上端安装有第一分隔板2，第一分隔板2的下方安装有控制丝杆27，安装控制丝杆27可以灵活控制工业相机7的横向位置，增强装置的灵活性，控制丝杆27的外部安装有移动安装块4，移动安装块4的下端安装有连接支架5，连接支架5的下端安装有调节活板6，安装调节活板6可以使工业相机7进行侧向旋转，排侧侧向角度的画面，使装置检测能更加细致，不错过任何一个死角，增强装置的实用性，提高检测的准确性，移动安装块4下端的两侧均安装有调节推杆8，主体支架1一侧的内部安装有第一移动滑块10，主体支架1另一侧的内部安装有第二移动滑块13，安装第二移动滑块13和第一移动滑块10使其配合电动推杆24可以进一步提高装置灵活性，使物料翻面后能进行位置调节，增强装置的实用性，使装置更加灵活，第二移动滑块13和第一移动滑块10之间安装有换位支架11，换位支架11的上端安装有固定吸盘12，主体支架1的内部安装有第二分隔板14，第二分隔板14的上端安装有工作台15，工作台15的上端安装有稳固吸盘16，安装电动推杆24可以吸住物料防止物料晃动，工作台15的内部安装有吸气管道17，主体支架1的两侧均安装有电动推杆24。
进一步，第二分隔板14上端的两侧均安装有整位气缸20，整位气缸20与第二分隔板14固定连接，整位气缸20的伸缩端安装有整位推板22，整位推板22与整位气缸20固定连接，整位推板22的内部安装有缓冲弹簧26，缓冲弹簧26与整位推板22固定连接，缓冲弹簧26的上端安装有调节推件23，调节推件23与缓冲弹簧26固定连接，调节推件23与整位推板22通过卡槽滑动连接，安装缓冲弹簧26可以起到缓冲的作用，使调节推件23在调整物料位置的同时，不影响换位支架11取料，增强装置的实用性。
进一步，第一分隔板2的上端安装有计算机主体3，计算机主体3与第一分隔板2固定连接，第二移动滑块13与主体支架1通过卡槽滑动连接，换位支架11与第二移动滑块13和第一移动滑块10均通过轴承连接，固定吸盘12与换位支架11固定连接，安装固定吸盘12可以固定住物料，防止物料晃动。
进一步，主体支架1内部的下端安装有电气件21，电气件21与主体支架1固定连接，第二分隔板14与主体支架1固定连接，稳固吸盘16与工作台15固定连接，吸气管道17与工作台15固定连接，电动推杆24与第二移动滑块13和第一移动滑块10均固定连接，第一分隔板2下方的两侧均安装有照明灯9，照明灯9与第一分隔板2固定连接，主体支架1的另一侧均安装有弹性遮挡布25，弹性遮挡布25的一端与主体支架1固定连接，弹性遮挡布25的另一侧与第二移动滑块13固定连接，安装电动推杆24可以调节物料的位置，使物料在翻面后能回到原始位置，第二分隔板14下方的一侧安装有第一真空泵18，第二分隔板14下方的另一侧安装有第二真空泵19，调节活板6的下端安装有工业相机7，工业相机7与调节活板6固定连接，第一分隔板2与主体支架1固定连接，控制丝杆27与主体支架1通过轴承旋转连接，移动安装块4与控制丝杆27通过丝杆轴承连接，调节活板6与连接支架5旋转连接，调节推杆8与移动安装块4固定连接，第一移动滑块10与主体支架1通过卡槽滑动连接。
一种集成电路封装外观用检测装置的检测方法，包括如下步骤：
步骤一：工作人员将物料放置在工作台15上端，然后整位气缸20伸长，推动整位推板22进行移动，使调节推件23与物料接触，将物料推至指定位置，调节物料的位置，然后第一真空泵18启动，通过稳固吸盘16将物料吸附住；
步骤二：控制丝杆27旋转带动移动安装块4进行移动，调节工业相机7的位置，然后调节推杆8推动调节活板6旋转，调节工业相机7的采集角度，然后工业相机7多角度采集物料外部情况；
步骤三：待物料上端采集完毕后，换位支架11旋转，使换位支架11外部的固定吸盘12与物料上部接触，然后第二真空泵19通过固定吸盘12将物料上部吸附住，然后换位支架11旋转，使物料翻面，然后电动推杆24推动第二移动滑块13和第一移动滑块10进行移动，调整物料的横向位置，工业相机7多角度采集物料外部情况，即可完成对物料背面信息采集。
工作原理：使用时，工作人员将物料放置在工作台15上端，然后整位气缸20伸长，推动整位推板22进行移动，使调节推件23与物料接触，将物料推至指定位置，调节物料的位置，然后第一真空泵18启动，通过稳固吸盘16将物料吸附住，然后控制丝杆27旋转带动移动安装块4进行移动，调节工业相机7的位置，然后调节推杆8推动调节活板6旋转，调节工业相机7的采集角度，然后工业相机7多角度采集物料外部情况，待物料上端采集完毕后，换位支架11旋转，使换位支架11外部的固定吸盘12与物料上部接触，然后第二真空泵19通过固定吸盘12将物料上部吸附住，然后换位支架11旋转，使物料翻面，然后电动推杆24推动第二移动滑块13和第一移动滑块10进行移动，调整物料的横向位置，工业相机7多角度采集物料外部情况，即可完成对物料背面信息采集，本装置安装控制丝杆27可以灵活控制工业相机7的横向位置，增强装置的灵活性，安装调节活板6可以使工业相机7进行侧向旋转，排侧侧向角度的画面，使装置检测能更加细致，不错过任何一个死角，增强装置的实用性，提高检测的准确性，安装第二移动滑块13和第一移动滑块10使其配合电动推杆24可以进一步提高装置灵活性，使物料翻面后能进行位置调节，增强装置的实用性，使装置更加灵活，安装电动推杆24可以吸住物料防止物料晃动，安装缓冲弹簧26可以起到缓冲的作用，使调节推件23在调整物料位置的同时，不影响换位支架11取料，增强装置的实用性，安装固定吸盘12可以固定住物料，防止物料晃动，安装电动推杆24可以调节物料的位置，使物料在翻面后能回到原始位置。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (9)
1.一种集成电路封装外观用检测装置，包括主体支架(1)，其特征在于：所述主体支架(1)内部的上端安装有第一分隔板(2)，所述第一分隔板(2)的下方安装有控制丝杆(27)，所述控制丝杆(27)的外部安装有移动安装块(4)，所述移动安装块(4)的下端安装有连接支架(5)，所述连接支架(5)的下端安装有调节活板(6)，所述移动安装块(4)下端的两侧均安装有调节推杆(8)，所述主体支架(1)一侧的内部安装有第一移动滑块(10)，所述主体支架(1)另一侧的内部安装有第二移动滑块(13)，所述第二移动滑块(13)和第一移动滑块(10)之间安装有换位支架(11)，所述换位支架(11)的上端安装有固定吸盘(12)，所述主体支架(1)的内部安装有第二分隔板(14)，所述第二分隔板(14)的上端安装有工作台(15)，所述工作台(15)的上端安装有稳固吸盘(16)，所述工作台(15)的内部安装有吸气管道(17)，所述主体支架(1)的两侧均安装有电动推杆(24)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述第二分隔板(14)上端的两侧均安装有整位气缸(20)，所述整位气缸(20)与第二分隔板(14)固定连接，所述整位气缸(20)的伸缩端安装有整位推板(22)，所述整位推板(22)与整位气缸(20)固定连接，所述整位推板(22)的内部安装有缓冲弹簧(26)，所述缓冲弹簧(26)与整位推板(22)固定连接，所述缓冲弹簧(26)的上端安装有调节推件(23)，所述调节推件(23)与缓冲弹簧(26)固定连接，所述调节推件(23)与整位推板(22)通过卡槽滑动连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述第一分隔板(2)的上端安装有计算机主体(3)，所述计算机主体(3)与第一分隔板(2)固定连接，所述第二移动滑块(13)与主体支架(1)通过卡槽滑动连接，所述换位支架(11)与第二移动滑块(13)和第一移动滑块(10)均通过轴承连接，所述固定吸盘(12)与换位支架(11)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述主体支架(1)内部的下端安装有电气件(21)，所述电气件(21)与主体支架(1)固定连接，所述第二分隔板(14)与主体支架(1)固定连接，所述稳固吸盘(16)与工作台(15)固定连接，所述吸气管道(17)与工作台(15)固定连接，所述电动推杆(24)与第二移动滑块(13)和第一移动滑块(10)均固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述第一分隔板(2)下方的两侧均安装有照明灯(9)，所述照明灯(9)与第一分隔板(2)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述主体支架(1)的另一侧均安装有弹性遮挡布(25)，所述弹性遮挡布(25)的一端与主体支架(1)固定连接，所述弹性遮挡布(25)的另一侧与第二移动滑块(13)固定连接。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述第二分隔板(14)下方的一侧安装有第一真空泵(18)，所述第二分隔板(14)下方的另一侧安装有第二真空泵(19)。
8.根据权利要求1所述的一种集成电路封装外观用检测装置，其特征在于：所述调节活板(6)的下端安装有工业相机(7)，所述工业相机(7)与调节活板(6)固定连接，所述第一分隔板(2)与主体支架(1)固定连接，所述控制丝杆(27)与主体支架(1)通过轴承旋转连接，所述移动安装块(4)与控制丝杆(27)通过丝杆轴承连接，所述调节活板(6)与连接支架(5)旋转连接，所述调节推杆(8)与移动安装块(4)固定连接，所述第一移动滑块(10)与主体支架(1)通过卡槽滑动连接。
9.一种集成电路封装外观用检测装置的检测方法，基于权利要求1-8任意一项集成电路封装外观用检测装置实现，其特征在于，包括如下步骤：
步骤一：工作人员将物料放置在工作台(15)上端，然后整位气缸(20)伸长，推动整位推板(22)进行移动，使调节推件(23)与物料接触，将物料推至指定位置，调节物料的位置，然后第一真空泵(18)启动，通过稳固吸盘(16)将物料吸附住；
步骤二：控制丝杆(27)旋转带动移动安装块(4)进行移动，调节工业相机(7)的位置，然后调节推杆(8)推动调节活板(6)旋转，调节工业相机(7)的采集角度，然后工业相机(7)多角度采集物料外部情况；
步骤三：待物料上端采集完毕后，换位支架(11)旋转，使换位支架(11)外部的固定吸盘(12)与物料上部接触，然后第二真空泵(19)通过固定吸盘(12)将物料上部吸附住，然后换位支架(11)旋转，使物料翻面，然后电动推杆(24)推动第二移动滑块(13)和第一移动滑块(10)进行移动，调整物料的横向位置，工业相机(7)多角度采集物料外部情况，即可完成对物料背面信息采集。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210587512.7A CN115078256A (zh) | 2022-05-25 | 2022-05-25 | 一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210587512.7A CN115078256A (zh) | 2022-05-25 | 2022-05-25 | 一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115078256A true CN115078256A (zh) | 2022-09-20 |
Family
ID=83249151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210587512.7A Pending CN115078256A (zh) | 2022-05-25 | 2022-05-25 | 一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN115078256A (zh) |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102445454A (zh) * | 2011-12-26 | 2012-05-09 | 常州天华新能源科技有限公司 | 太阳能电池板层压后吸盘式外观检测机 |
| CN202651181U (zh) * | 2012-07-06 | 2013-01-02 | 常州天华新能源科技有限公司 | 太阳能电池板层压件翻转移动装置 |
| CN105259182A (zh) * | 2015-10-28 | 2016-01-20 | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 | 一种具有自动翻转功能的aoi视觉检测装置 |
| CN110834948A (zh) * | 2019-11-27 | 2020-02-25 | 诸暨咯星新能源科技有限公司 | 一种太阳能板检测器 |
| CN110849906A (zh) * | 2016-06-08 | 2020-02-28 | 周娇 | 一种新型显示面板表面缺陷检测系统 |
| CN111673167A (zh) * | 2020-06-29 | 2020-09-18 | 安徽福瑞尔铝业科技有限公司 | 一种仿木纹铝单板裁切用定位机构及方法 |
| CN213398219U (zh) * | 2020-09-25 | 2021-06-08 | 天津市金百特科技发展有限公司 | 一种多方位的视觉检测仪 |
| CN214682944U (zh) * | 2021-03-05 | 2021-11-12 | 安徽微泰导航电子科技有限公司 | 一种半导体封装设备检测装置 |
| CN113884506A (zh) * | 2021-09-15 | 2022-01-04 | 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 | 一种硅片边缘及表面自动化视觉检测系统及检测方法 |
-
2022
- 2022-05-25 CN CN202210587512.7A patent/CN115078256A/zh active Pending
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102445454A (zh) * | 2011-12-26 | 2012-05-09 | 常州天华新能源科技有限公司 | 太阳能电池板层压后吸盘式外观检测机 |
| CN202651181U (zh) * | 2012-07-06 | 2013-01-02 | 常州天华新能源科技有限公司 | 太阳能电池板层压件翻转移动装置 |
| CN105259182A (zh) * | 2015-10-28 | 2016-01-20 | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 | 一种具有自动翻转功能的aoi视觉检测装置 |
| CN110849906A (zh) * | 2016-06-08 | 2020-02-28 | 周娇 | 一种新型显示面板表面缺陷检测系统 |
| CN110834948A (zh) * | 2019-11-27 | 2020-02-25 | 诸暨咯星新能源科技有限公司 | 一种太阳能板检测器 |
| CN111673167A (zh) * | 2020-06-29 | 2020-09-18 | 安徽福瑞尔铝业科技有限公司 | 一种仿木纹铝单板裁切用定位机构及方法 |
| CN213398219U (zh) * | 2020-09-25 | 2021-06-08 | 天津市金百特科技发展有限公司 | 一种多方位的视觉检测仪 |
| CN214682944U (zh) * | 2021-03-05 | 2021-11-12 | 安徽微泰导航电子科技有限公司 | 一种半导体封装设备检测装置 |
| CN113884506A (zh) * | 2021-09-15 | 2022-01-04 | 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 | 一种硅片边缘及表面自动化视觉检测系统及检测方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2011029456A (ja) | 半導体検査用ウエハプローバ及び検査方法 | |
| CN115078256A (zh) | 一种集成电路封装外观用检测装置及其检测方法 | |
| JP2020518011A (ja) | シリコンウェーハ処理装置及び方法 | |
| CN204387640U (zh) | 一种便携式物证摄录支架 | |
| CN114047674A (zh) | 一种用于光刻机的压紧装置 | |
| CN205588320U (zh) | 一种自动机械手的吸盘 | |
| CN110854421B (zh) | 一种电芯和外壳的入壳装置 | |
| CN213847467U (zh) | 一种半导体电子元器件smt表面贴装设备 | |
| CN215582531U (zh) | 一种自动化smt贴片机吸附设备 | |
| CN215035017U (zh) | 一种高精度自动对位平台 | |
| CN215656528U (zh) | 一种盒装晶圆检测的结构 | |
| CN205680007U (zh) | 一种高精度辅助定位滑台装置 | |
| CN207656088U (zh) | 一种压料平台 | |
| CN114143974B (zh) | 一种pcb板图像对位检测装置及对位检测方法 | |
| CN201608167U (zh) | 一种视觉成像处理定位贴装机器 | |
| CN207268604U (zh) | 引脚位置校准装置 | |
| CN220549716U (zh) | 一种电子元件静电导正吸附机构 | |
| CN218473514U (zh) | 一种新型电路板印刷机快速取料机构 | |
| CN108364900B (zh) | 一种气缸校准台 | |
| CN213770425U (zh) | 一种电动毛发修剪器的充电引脚抓取装置 | |
| CN216349494U (zh) | 一种用以显示模组检测的承载台 | |
| CN211318670U (zh) | Pcba测试装置 | |
| CN116469805A (zh) | 一种固晶机贴装头及使用方法 | |
| CN217582762U (zh) | 定位机构及贴屏机 | |
| CN216600204U (zh) | 一种pcb通用夹具 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20220920 |