CN207779921U - 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置 - Google Patents

一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置 Download PDF

Info

Publication number
CN207779921U
CN207779921U CN201721779599.9U CN201721779599U CN207779921U CN 207779921 U CN207779921 U CN 207779921U CN 201721779599 U CN201721779599 U CN 201721779599U CN 207779921 U CN207779921 U CN 207779921U
Authority
CN
China
Prior art keywords
double layer
substrate
layer substrate
camera unit
edge defect
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201721779599.9U
Other languages
English (en)
Inventor
杨凯峰
杨慎东
郭连俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Hirose Opto Co Ltd filed Critical Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Priority to CN201721779599.9U priority Critical patent/CN207779921U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN207779921U publication Critical patent/CN207779921U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本实用新型涉及一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置,包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元发出的光通过双层基板的边缘到达第一摄像单元和第二摄像单元,从而避免第一基板和第二基板的相互干扰,可直接通过图像分析检测双层基板边缘的缺陷,具有检测结果准确、检测快速的优点。

Description

一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置
技术领域
本实用新型涉及一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置,属于显示面板检测设备技术领域。
背景技术
在显示面板生产过程中,通常需要对面板进行玻璃边缘的检测,确定玻璃基板的边缘是否存在裂片、划痕及破损等异常,以及时采取措施防止异常基板对后续生产制程造成影响。以往的面板生产中,由于玻璃尺寸相对较小,且产能要求相对较低,玻璃通常为单片搬运、移载和检测;例如用单层的机械手臂移载单片玻璃进行传输,进行玻璃边缘检测时,只需将载有单层玻璃的机械手臂移载到检测单元(如 CCD相机)下方进行拍照检测,每次完成单片基板的边缘检查。
而随着面板尺寸的不断增大以及生产效率的提高,单片较大基板的运输存在稳定性低容易破片等技术问题,通常会将大片的基板切割成两片,进行运输和检测等;例如机械手臂会相应设计为双层手臂,但边缘检查的时候,对应的检测装置仍只适用于单层玻璃的检测,上层玻璃检测时,下层玻璃会对上层玻璃造成影响;下层玻璃检测时,上层玻璃又会对下层玻璃造成影响,使得双层玻璃边缘检测较为困难,且效率较低。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:现有的光学检测装置只能检测单层待测物边缘的缺陷,无法对双层基板进行有效检测。
为解决技术问题,提供一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及其检测方法,从而可以同时对双层基板进行检测,并且不存在干扰,检测准确。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
一方面,本实用新型提供一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板,还包括检测装置,所述检测装置设在双层基板的一侧,所述检测装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一夹角与所述第二夹角相等。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一夹角与所述第二夹角为5°-10°。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一摄像单元和第二摄像单元与所述第一基板的间距均为 105-115mm。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一摄像单元和第二摄像单元的焦距不同。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述第一基板和第二基板之间的间距为65mm。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括照明单元,所述照明单元设置于所述双层基板边缘的另一侧,为所述检测装置提供照明。
优选地,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括支撑座,所述检测装置架设于所述支撑座上,所述照明单元设置在所述支撑座的基座平台上。
另一方面,本实用新型的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述支撑座还包括位于顶部的用于安装第一摄像单元和第二摄像单元的顶部安装板,以及位于所述基座平台与顶部安装板之间的两块分别用于固定第一基板与第二基板的固定板,两块固定板的宽度短于基座平台和顶部安装板,使得第一基板与第二基板能够从一侧伸出。
本实用新型的有益效果是:用于检测双层基板边缘缺陷的装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元发出的光通过双层基板的边缘到达第一摄像单元和第二摄像单元,从而避免第一基板和第二基板的相互干扰,可直接通过图像分析检测双层基板边缘的缺陷,具有检测结果准确、检测快速的优点。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置的结构示意图之一;
图2是本实用新型实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置的结构示意图之二;
图3是本实用新型实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置中的系统架构图之一;
图4是本实用新型实施例的用于检测双层基板边缘缺陷的装置中的系统架构图之二;
图中的附图标记为:
1.检测装置,101.第一摄像单元,102.第二摄像单元,2.双层基板,201.第一基板,202.第二基板,3.照明单元,4.法线,5.图形显示器,6.数据处理器,7.支撑座,71.基座平台,72.固定板, 73.顶部安装板。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1所示,本实用新型实施例提供的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其中,双层基板2包括第一基板201和与其平行设置的第二基板202,还包括检测装置1和照明单元3,检测装置1设在双层基板2一侧,照明单元3设在双层基板2另一侧,检测装置1包括第一摄像单元101和第二摄像单元102,且所述第一摄像单元101的第一中心线和第二摄像单元102的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角α和第二夹角β,即第一摄像单元101的第一中心线与所述法线4的平面成第一夹角α,第二摄像单元102的第二中心线与所述法线4的平面第二夹角β。所述第一夹角与所述第二夹角优选为相等为α,进一步优选地,第一摄像单元101和第二摄像单元102 分别位于双层基板2边缘法线4的两侧,第一夹角α、第二夹角β为 5-10°;照明单元3发出的光通过双层基板2的边缘到达第一摄像单元101和第二摄像单元102,从而检测双层基板2的边缘缺陷。具体实施时,第一基板201与第二基板202为玻璃基板、液晶面板或柔性面板等,第一基板201与第二基板202可以相同类型的基板,亦可以不同,视实际生产而定。
在上述实施例中,第一夹角α、第二夹角β优选为8°,通过该角度设置,能够更好地避免干扰,有效地检测双层基板2的边缘缺陷。
在上述实施例中,第一摄像单元101和第二摄像单元102与第一基板201的间距均为105-115mm,在该宽度范围内能有效避免干扰,成功检测双层基板。
在上述实施例中,第一摄像单元101和第二摄像单元102与第一基板201的间距为H1,均为110mm。
在上述实施例中,第一摄像单元101和第二摄像单元102的焦距不同,通过不同焦距的镜头,让不同高度的光学系统有接近的分辨率,并使短焦镜提高边缘能检测的宽度。
在上述实施例中,第一基板201和第二基板202之间的间距为H2,65mm。
在上述实施例中,如图3所示,用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括数据处理器6,第一摄像单元101和第二摄像单元102分别与数据处理器6连接。
在上述实施例中,如图4所示,用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括图像显示器5,图像显示器5用于显示第一摄像单元101和第二摄像单元102的图像信号。
在上述实施例中,如图2所示,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括支撑座7,所述检测装置架设于所述支撑座7上,所述照明单元3设置在所述支撑座7的基座平台71上。支撑座7为4层结构,位于底部的基座平台71供照明单元3放置,位于顶部的顶部安装板用于安装第一摄像单元101和第二摄像单元102,基座平台71 与顶部安装板73之间设置有两块用于固定第一基板201与第二基板 202的固定板72,两块固定板72的宽度短于基座平台71和顶部安装板73,使得第一基板201与第二基板202能够从一侧伸出。
用于检测双层基板边缘缺陷的装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元发出的光通过双层基板的边缘到达第一摄像单元和第二摄像单元,从而避免第一基板和第二基板的相互干扰,成功检测双层基板边缘的缺陷。
本实用新型的实施例还提供上述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置的检测方法,包括以下步骤:
1)架设第一摄像单元与第二摄像单元于所述双层基板的上方,使得所述第一摄像单元的第一中心线和所述第二摄像单元的第二中心线分别与所述法线的平面成第一夹角和第二夹角,即第一摄像单元 101的第一中心线与所述法线4的平面成第一夹角α,第二摄像单元 102的第二中心线与所述法线4的平面第二夹角β;
2)数据处理器获取第一摄像单元与第二摄像单元的图像信息,图像信息,并依据所述图像信息判定所述第一基板的边缘与所述第二基板的边缘是否存在缺陷,通过直接对玻璃边缘进行扫描,并对获取的图片进行缺陷分析;若没有缺陷,显示合格结束;若有缺陷,则显示不合格,对第一基板201和第二基板202做标记或废弃。
综上,本实用新型的检测装置,设置第一摄像单元101和第二摄像单元102两个摄像单元,且所述第一摄像单元101的第一中心线和第二摄像单元102的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角;照明单元3发出的光通过双层基板2的边缘到达第一摄像单元101和第二摄像单元102,从而避免第一基板201和第二基板202的相互干扰,可直接通过图像分析检测双层基板2边缘的缺陷,具有检测结果准确、检测快速的优点。
以上述依据本实用新型的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (9)

1.一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置,所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板,其特征在于,还包括检测装置,所述检测装置设在双层基板的一侧,所述检测装置包括第一摄像单元和第二摄像单元,且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角。
2.根据权利要求1所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述第一夹角与所述第二夹角相等。
3.根据权利要求1所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述第一夹角与所述第二夹角为5°-10°。
4.根据权利要求2所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述第一摄像单元和第二摄像单元与所述第一基板的间距均为105-115mm。
5.根据权利要求3所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述第一摄像单元和第二摄像单元的焦距不同。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述第一基板和第二基板之间的间距为65mm。
7.根据权利要求1所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括照明单元,所述照明单元设置于所述双层基板边缘的另一侧,为所述检测装置提供照明。
8.根据权利要求7所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述用于检测双层基板边缘缺陷的装置还包括支撑座,所述检测装置架设于所述支撑座上,所述照明单元设置在所述支撑座的基座平台上。
9.根据权利要求8所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置,其特征在于,所述支撑座还包括位于顶部的用于安装第一摄像单元和第二摄像单元的顶部安装板,以及位于所述基座平台与顶部安装板之间的两块分别用于固定第一基板与第二基板的固定板,两块固定板的宽度短于基座平台和顶部安装板,使得第一基板与第二基板能够从一侧伸出。
CN201721779599.9U 2017-12-19 2017-12-19 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置 Active CN207779921U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721779599.9U CN207779921U (zh) 2017-12-19 2017-12-19 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721779599.9U CN207779921U (zh) 2017-12-19 2017-12-19 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN207779921U true CN207779921U (zh) 2018-08-28

Family

ID=63226885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201721779599.9U Active CN207779921U (zh) 2017-12-19 2017-12-19 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN207779921U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107843604A (zh) * 2017-12-19 2018-03-27 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107843604A (zh) * 2017-12-19 2018-03-27 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
CN107843604B (zh) * 2017-12-19 2024-04-05 苏州精濑光电有限公司 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI264532B (en) Substrate inspection device
CN109765234B (zh) 同时对物体正反两个表面进行光学检测的装置及方法
TWI459073B (zh) 檢測顯示裝置之設備及其方法
CN104081192B (zh) 一种对玻璃多层面摄像的摄像装置及其方法
CN107228861A (zh) 液晶面板的缺陷检测装置
CN105044942B (zh) 液晶显示面板的对位检查设备及对位检查方法
EP2482059A2 (en) Apparatus for optical inspection
CN100439862C (zh) 被检查体的外观检查装置
WO2021203650A1 (zh) 一种电子设备屏幕的缺陷检测装置
JP2009014617A (ja) 基板外観検査装置
KR20030093956A (ko) 편광 필름의 검사법 및 검사 장치
KR20120088128A (ko) 평판 유리 이물질 검사 장치 및 검사 방법
US11635646B2 (en) Detecting device and detecting method thereof, and detecting apparatus
US10169855B2 (en) Method and device for detecting defects on a display subtrate
JP2004233184A (ja) 液晶パネルの偏光板貼付け精度検査方法
JP2015105930A (ja) 透光性基板の微小欠陥検査方法および透光性基板の微小欠陥検査装置
KR100840832B1 (ko) 엘시디패널의 외관 검사장치
CN207779921U (zh) 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置
CN107843604A (zh) 一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置及检测方法
JP2007212939A (ja) 位置ずれ検査方法、プログラム及び位置ずれ検査装置
JP2007212690A (ja) 液晶パネルの検査装置及びその検査方法
CN210534020U (zh) 一种大尺寸外观模组屏全检系统
JP2001091475A (ja) 透明積層体の検査装置
TW201425910A (zh) 顯示裝置之光學層件之缺陷檢測方法
CN112924472A (zh) 一种Mini LED晶圆外观缺陷检测系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant