JP2005063510A - ディフェクト検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光ディスクから反射された光の強さに応じた反射信号を、記録又は再生を示す制御信号に応じて増幅して出力する増幅部と、前記増幅部の出力のエンベロープを出力するエンベロープ検出部と、前記制御信号が変化したときに、所定の長さのパルスを出力する第1のパルス生成部と、前記エンベロープ検出部の出力を積分して出力する積分部と、前記エンベロープ検出部の出力を第1の入力信号として、前記積分部の出力を第2の入力信号として受け取り、両者の差に応じた差分信号を出力する差分信号生成部と、前記差分信号生成部の出力と所定の値とを比較し、その結果を、ディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号として出力する比較部とを備える。前記パルスの期間において、前記ディフェクト検出信号がディフェクトがあることを示す可能性が小さくなるように、前記第2の入力信号を変化させる。
【選択図】 図7
Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係るディフェクト検出装置の構成の例を示すブロック図である。図1のディフェクト検出装置は、増幅部としての可変ゲインアンプ102と、スイッチ104と、差分信号生成部としての差動回路106と、比較部としてのコンパレータ108と、D/A変換器112と、エッジ検出回路122と、第1のパルス生成部としてのモノマルチ(単安定マルチバイブレータ)回路124と、エンベロープ検出部としての高速エンベロープ検波回路140と、積分部としての積分回路160とを備えている。図2は、図1のディフェクト検出装置における信号の波形を示すグラフである。
図3は、本発明の第2の実施形態に係るディフェクト検出装置の構成の例を示すブロック図である。図3のディフェクト検出装置は、図1のディフェクト検出装置において、スイッチ104を備えず、積分回路160に代えて積分回路260を備えている。
図5は、本発明の第3の実施形態に係るディフェクト検出装置の構成の例を示すブロック図である。図5のディフェクト検出装置は、図3のディフェクト検出装置において、第2のパルス生成部としての第2のモノマルチ回路326を更に備え、積分回路260に代えて積分回路360を備えている。
図7は、本発明の第4の実施形態に係るディフェクト検出装置の構成の例を示すブロック図である。図7のディフェクト検出装置は、図5のディフェクト検出装置において、高速エンベロープ検波回路340に代えて高速エンベロープ検波回路440を備えている。
104,452,472 スイッチ
106,206,306,406 差動回路(差分信号生成部)
108,208,308,408 コンパレータ(比較部)
112,212,312,412 D/A変換器
122,222,322,422 エッジ検出回路
124,224,324,424 第1のモノマルチ回路(第1のパルス生成部)
326,426 第2のモノマルチ回路(第2のパルス生成部)
140,240,340,440 高速エンベロープ検波回路(エンベロープ検出部)
160,260,360,460 積分回路(積分部)
464 第1のキャパシタ
446 第2のキャパシタ
472 第1のスイッチ
452 第2のスイッチ
Claims (6)
- 光ビームを照射された光ディスクから反射された光の強さに応じた反射信号を、前記光ディスクに対して記録又は再生のいずれを行うべきであるかを示す制御信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅部と、
前記増幅部の出力のエンベロープを求めて出力するエンベロープ検出部と、
前記制御信号が変化したときに、所定の長さのパルスを出力する第1のパルス生成部と、
前記エンベロープ検出部の出力を積分して出力する積分部と、
前記エンベロープ検出部の出力を第1の入力信号として、前記積分部の出力を第2の入力信号として受け取り、前記第1の入力信号と前記第2の入力信号との差に応じた差分信号を生成して出力する差分信号生成部と、
前記差分信号生成部の出力と所定の値とを比較し、その結果を、ディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号として出力する比較部とを備え、
前記第1のパルス生成部がパルスを出力する期間において、前記ディフェクト検出信号がディフェクトがあることを示す可能性が小さくなるように、前記差分信号生成部の第2の入力信号を変化させる
ディフェクト検出装置。 - 請求項1に記載のディフェクト検出装置において、
前記第1のパルス生成部がパルスを出力する期間においては前記エンベロープ検出部から出力された信号を、その他の期間においては前記積分部から出力された信号を選択して、前記差分信号生成部の第2の入力信号として出力するスイッチを更に備える
ことを特徴とするディフェクト検出装置。 - 請求項1に記載のディフェクト検出装置において、
前記積分部は、
前記第1のパルス生成部がパルスを出力する期間においては、その時定数を小さくするものである
ことを特徴とするディフェクト検出装置。 - 請求項1に記載のディフェクト検出装置において、
前記第1のパルス生成部が出力するパルスが終了すると、所定の長さのパルスを出力する第2のパルス生成部を更に備え、
前記積分部は、
一端が接地され、他端が当該積分部の出力である第1のキャパシタを有し、かつ、前記第1のパルス生成部がパルスを出力する期間において、ディフェクトがない場合に前記エンベロープ検出部から出力される信号に対して、ディフェクトがある場合に前記エンベロープ検出部から出力される信号の側にある所定の電圧を、前記第1のキャパシタに与え、前記第2のパルス生成部がパルスを出力する期間において、当該積分部の時定数を小さくするものである
ことを特徴とするディフェクト検出装置。 - 請求項4に記載のディフェクト検出装置において、
前記エンベロープ検出部は、
一端が接地され、他端が当該エンベロープ検出部の出力である第2のキャパシタを有し、かつ、前記第1のパルス生成部がパルスを出力する期間において、前記第2のキャパシタに前記所定の電圧を与えるものである
ことを特徴とするディフェクト検出装置。 - 請求項5に記載のディフェクト検出装置において、
前記積分部は、
前記第1のキャパシタに前記所定の電圧を与える第1のスイッチを有するものであり、
前記エンベロープ検出部は、
前記第2のキャパシタに前記所定の電圧を与える第2のスイッチを有するものであり、
前記第1のキャパシタの容量と前記第1のスイッチのオン抵抗との積と、前記第2のキャパシタの容量と前記第2のスイッチのオン抵抗との積とが、ほぼ等しくなるように構成されている
ことを特徴とするディフェクト検出装置。
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