JPH11149636A - 信号欠陥検出装置、信号欠陥検出システム及び情報再生装置 - Google Patents
信号欠陥検出装置、信号欠陥検出システム及び情報再生装置Info
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- JPH11149636A JPH11149636A JP9317856A JP31785697A JPH11149636A JP H11149636 A JPH11149636 A JP H11149636A JP 9317856 A JP9317856 A JP 9317856A JP 31785697 A JP31785697 A JP 31785697A JP H11149636 A JPH11149636 A JP H11149636A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0948—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for detection and avoidance or compensation of imperfections on the carrier, e.g. dust, scratches, dropouts
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 楔状のディフェクトであっても正確に検出す
ることができると共に、長いディフェクトと楔状のディ
フェクトを両立して正確に検出することが可能な信号欠
陥検出装置等を提供する。 【解決手段】 記録媒体からの再生ＲＦ信号Ｓrfにおけ
る上側エンベロープを検出すると共に、当該再生ＲＦ信
号Ｓrfにおける下側エンベロープを検出する。次に、検
出された上側エンベロープと下側エンベロープとを用い
て、当該上側エンベロープと当該下側エンベロープの電
圧差を１対１分圧した電圧を下側エンベロープの電圧に
加算した電圧を有するスライス信号Ｓffを生成する。そ
して、当該スライス信号ＳffをＬＰＦ４５で平均化し、
これと上側エンベロープとを比較し、当該上側エンベロ
ープの電圧が平均化したスライス信号Ｓffの電圧よりも
低い期間にディフェクトを示すディフェクト検出信号Ｓ
dffを出力する。
ることができると共に、長いディフェクトと楔状のディ
フェクトを両立して正確に検出することが可能な信号欠
陥検出装置等を提供する。 【解決手段】 記録媒体からの再生ＲＦ信号Ｓrfにおけ
る上側エンベロープを検出すると共に、当該再生ＲＦ信
号Ｓrfにおける下側エンベロープを検出する。次に、検
出された上側エンベロープと下側エンベロープとを用い
て、当該上側エンベロープと当該下側エンベロープの電
圧差を１対１分圧した電圧を下側エンベロープの電圧に
加算した電圧を有するスライス信号Ｓffを生成する。そ
して、当該スライス信号ＳffをＬＰＦ４５で平均化し、
これと上側エンベロープとを比較し、当該上側エンベロ
ープの電圧が平均化したスライス信号Ｓffの電圧よりも
低い期間にディフェクトを示すディフェクト検出信号Ｓ
dffを出力する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体に記録さ
れている情報を再生する場合において、当該情報に対応
する検出信号中に、そのレベルが検出信号として機能す
る所定のレベル以下となる信号欠陥（以下、当該信号欠
陥をディフェクトと称する。）が発生しているとき、当
該ディフェクトを検出する信号欠陥検出装置の技術分野
に属する。
れている情報を再生する場合において、当該情報に対応
する検出信号中に、そのレベルが検出信号として機能す
る所定のレベル以下となる信号欠陥（以下、当該信号欠
陥をディフェクトと称する。）が発生しているとき、当
該ディフェクトを検出する信号欠陥検出装置の技術分野
に属する。
【０００２】
【従来の技術】従来、記録媒体としての光ディスクに記
録されている情報を、当該光ディスクにレーザ光等の光
ビームを照射し、その反射光に基づいて当該情報を再生
するＣＤ（Compact Disk）プレーヤ等の情報再生装置
が広く一般化している。
録されている情報を、当該光ディスクにレーザ光等の光
ビームを照射し、その反射光に基づいて当該情報を再生
するＣＤ（Compact Disk）プレーヤ等の情報再生装置
が広く一般化している。
【０００３】ここで、上記光ディスクからの情報再生に
おいては、当該光ディスク上に傷等があった場合に、当
該傷等に対応する位置から検出された検出信号が上記デ
ィフェクトとなる場合が多い。
おいては、当該光ディスク上に傷等があった場合に、当
該傷等に対応する位置から検出された検出信号が上記デ
ィフェクトとなる場合が多い。
【０００４】一方、一般に、上記ディフェクトには、比
較的長時間に渡って検出信号のレベルが上記所定のレベ
ル以下となる長いディフェクトと、光ディスクの表面に
付着した指紋等に起因して、検出信号において比較的短
い時間だけ楔状に発生するディフェクトとがある。
較的長時間に渡って検出信号のレベルが上記所定のレベ
ル以下となる長いディフェクトと、光ディスクの表面に
付着した指紋等に起因して、検出信号において比較的短
い時間だけ楔状に発生するディフェクトとがある。
【０００５】この時、従来の情報再生装置において上記
ディフェクトを検出する方法としては、検出信号におけ
る上側エンベロープを長時定数のピークホールド回路と
短時定数のピークホールド回路とで夫々別個にピークホ
ールドし、長時定数のピークホールド回路の出力信号か
ら短時定数のピークホールド回路の出力信号を減算し、
その結果と予め設定されているディフェクト検出のため
の閾値とを比較し、当該減算した結果が閾値以上である
ときにディフェクトが発生しているとしてこれを検出し
ていた。
ディフェクトを検出する方法としては、検出信号におけ
る上側エンベロープを長時定数のピークホールド回路と
短時定数のピークホールド回路とで夫々別個にピークホ
ールドし、長時定数のピークホールド回路の出力信号か
ら短時定数のピークホールド回路の出力信号を減算し、
その結果と予め設定されているディフェクト検出のため
の閾値とを比較し、当該減算した結果が閾値以上である
ときにディフェクトが発生しているとしてこれを検出し
ていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ディフェクト検出方法だと、長いディフェクトは長時定
数のピークホールド回路の出力信号と短時定数のピーク
ホールド回路の出力信号とに差が生じる期間が長いため
容易に検出できるが、楔状の短いディフェクトは長時定
数のピークホールド回路の出力信号と短時定数のピーク
ホールド回路の出力信号とに差が生じる期間が短かく、
またその差自体も小さいため精度よく検出することがで
きない場合があるという問題点があった。
ディフェクト検出方法だと、長いディフェクトは長時定
数のピークホールド回路の出力信号と短時定数のピーク
ホールド回路の出力信号とに差が生じる期間が長いため
容易に検出できるが、楔状の短いディフェクトは長時定
数のピークホールド回路の出力信号と短時定数のピーク
ホールド回路の出力信号とに差が生じる期間が短かく、
またその差自体も小さいため精度よく検出することがで
きない場合があるという問題点があった。
【０００７】また、この問題点を解決するために上記デ
ィフェクト検出のための閾値を低く設定すると、ディフ
ェクト以外の信号をもディフェクトであるとしてこれを
検出してしまい、当該検出したディフェクトに対して全
てディフェクト用の補償動作を行ってしまうので（すな
わち、ディフェクトでない信号に対してもディフェクト
用の補償動作を実行しまうので）、この場合にも結局正
確な情報の再生ができない場合があるという問題点があ
った。
ィフェクト検出のための閾値を低く設定すると、ディフ
ェクト以外の信号をもディフェクトであるとしてこれを
検出してしまい、当該検出したディフェクトに対して全
てディフェクト用の補償動作を行ってしまうので（すな
わち、ディフェクトでない信号に対してもディフェクト
用の補償動作を実行しまうので）、この場合にも結局正
確な情報の再生ができない場合があるという問題点があ
った。
【０００８】そこで、本発明は、上記の各問題点に鑑み
てなされたもので、その課題は、楔状のディフェクトで
あってもこれのみを正確に検出することができると共
に、長いディフェクトと楔状の短いディフェクトを両立
して正確に検出することが可能な信号欠陥検出装置及び
信号欠陥検出システム並びにこれらを含む情報再生装置
を提供することにある。
てなされたもので、その課題は、楔状のディフェクトで
あってもこれのみを正確に検出することができると共
に、長いディフェクトと楔状の短いディフェクトを両立
して正確に検出することが可能な信号欠陥検出装置及び
信号欠陥検出システム並びにこれらを含む情報再生装置
を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項１に記載の発明は、情報を検出して得られ
た検出信号のうち、当該検出信号のレベルが予め設定さ
れた所定の閾値レベル未満となる前記検出信号であるデ
ィフェクト等の信号欠陥を検出する信号欠陥検出装置に
おいて、前記検出信号における上側エンベロープを検出
し、対応する上側エンベロープ信号を生成する上側エン
ベロープ検出器等の上側エンベロープ信号生成手段と、
前記検出信号における下側エンベロープを検出し、対応
する下側エンベロープ信号を生成する下側エンベロープ
検出器等の下側エンベロープ信号生成手段と、前記生成
された上側エンベロープ信号と前記生成された下側エン
ベロープ信号とを用いて、当該上側エンベロープ信号と
当該下側エンベロープ信号の電圧差を予め設定された比
で分圧した電圧を前記下側エンベロープ信号の電圧に加
算した電圧を有するスライス信号を生成する抵抗等のス
ライス信号生成手段と、前記生成されたスライス信号を
平均化し、平均化信号を生成するＬＰＦ等の平均化信号
生成手段と、前記生成された平均化信号と前記上側エン
ベロープ信号とを比較し、当該上側エンベロープ信号の
電圧が前記平均化信号の電圧よりも低い期間に前記信号
欠陥を示す欠陥検出信号を出力する減算器等の検出手段
と、を備える。
めに、請求項１に記載の発明は、情報を検出して得られ
た検出信号のうち、当該検出信号のレベルが予め設定さ
れた所定の閾値レベル未満となる前記検出信号であるデ
ィフェクト等の信号欠陥を検出する信号欠陥検出装置に
おいて、前記検出信号における上側エンベロープを検出
し、対応する上側エンベロープ信号を生成する上側エン
ベロープ検出器等の上側エンベロープ信号生成手段と、
前記検出信号における下側エンベロープを検出し、対応
する下側エンベロープ信号を生成する下側エンベロープ
検出器等の下側エンベロープ信号生成手段と、前記生成
された上側エンベロープ信号と前記生成された下側エン
ベロープ信号とを用いて、当該上側エンベロープ信号と
当該下側エンベロープ信号の電圧差を予め設定された比
で分圧した電圧を前記下側エンベロープ信号の電圧に加
算した電圧を有するスライス信号を生成する抵抗等のス
ライス信号生成手段と、前記生成されたスライス信号を
平均化し、平均化信号を生成するＬＰＦ等の平均化信号
生成手段と、前記生成された平均化信号と前記上側エン
ベロープ信号とを比較し、当該上側エンベロープ信号の
電圧が前記平均化信号の電圧よりも低い期間に前記信号
欠陥を示す欠陥検出信号を出力する減算器等の検出手段
と、を備える。
【００１０】請求項１に記載の発明の作用によれば、上
側エンベロープ信号生成手段は、検出信号における上側
エンベロープを検出し、対応する上側エンベロープ信号
を生成する。
側エンベロープ信号生成手段は、検出信号における上側
エンベロープを検出し、対応する上側エンベロープ信号
を生成する。
【００１１】これと並行して、下側エンベロープ信号生
成手段は、検出信号における下側エンベロープを検出
し、対応する下側エンベロープ信号を生成する。
成手段は、検出信号における下側エンベロープを検出
し、対応する下側エンベロープ信号を生成する。
【００１２】これらにより、スライス信号生成手段は、
生成された上側エンベロープ信号と下側エンベロープ信
号とを用いて、当該上側エンベロープ信号と下側エンベ
ロープ信号との電圧差を予め設定された比で分圧した電
圧を下側エンベロープ信号の電圧に加算した電圧を有す
るスライス信号を生成する。
生成された上側エンベロープ信号と下側エンベロープ信
号とを用いて、当該上側エンベロープ信号と下側エンベ
ロープ信号との電圧差を予め設定された比で分圧した電
圧を下側エンベロープ信号の電圧に加算した電圧を有す
るスライス信号を生成する。
【００１３】次に、平均化信号生成手段は、生成された
スライス信号を平均化し、平均化信号を生成する。
スライス信号を平均化し、平均化信号を生成する。
【００１４】そして、検出手段は、生成された平均化信
号と上側エンベロープ信号とを比較し、当該上側エンベ
ロープ信号の電圧が平均化信号の電圧よりも低い期間に
欠陥検出信号を出力する。
号と上側エンベロープ信号とを比較し、当該上側エンベ
ロープ信号の電圧が平均化信号の電圧よりも低い期間に
欠陥検出信号を出力する。
【００１５】よって、スライス信号を平均化した信号と
上側エンベロープ信号とを比較することにより信号欠陥
を検出するので、短期間の信号欠陥であっても確実に検
出することができる。
上側エンベロープ信号とを比較することにより信号欠陥
を検出するので、短期間の信号欠陥であっても確実に検
出することができる。
【００１６】上記の課題を解決するために、請求項２に
記載の発明は、請求項１に記載の信号欠陥検出装置にお
いて、前記平均化手段における平均化に用いられる時定
数は、前記上側エンベロープ信号の生成に用いられる時
定数よりも長いように構成される。
記載の発明は、請求項１に記載の信号欠陥検出装置にお
いて、前記平均化手段における平均化に用いられる時定
数は、前記上側エンベロープ信号の生成に用いられる時
定数よりも長いように構成される。
【００１７】請求項２に記載の発明の作用によれば、請
求項１に記載の発明の作用に加えて、平均化手段におけ
る平均化に用いられる時定数が、上側エンベロープ信号
の生成に用いられる時定数よりも長いので、信号欠陥を
確実に検出することが可能な平均化信号を生成すること
ができる。
求項１に記載の発明の作用に加えて、平均化手段におけ
る平均化に用いられる時定数が、上側エンベロープ信号
の生成に用いられる時定数よりも長いので、信号欠陥を
確実に検出することが可能な平均化信号を生成すること
ができる。
【００１８】上記の課題を解決するために、請求項３に
記載の発明は、請求項１又は２に記載の信号欠陥検出装
置において、前記スライス信号生成手段は、前記電圧差
を１対１の比で分圧して前記スライス信号を生成するよ
うに構成される。
記載の発明は、請求項１又は２に記載の信号欠陥検出装
置において、前記スライス信号生成手段は、前記電圧差
を１対１の比で分圧して前記スライス信号を生成するよ
うに構成される。
【００１９】請求項３に記載の発明の作用によれば、請
求項１又は２に記載の発明の作用に加えて、スライス信
号生成手段は上記電圧差を１対１の比で分圧してスライ
ス信号を生成する。
求項１又は２に記載の発明の作用に加えて、スライス信
号生成手段は上記電圧差を１対１の比で分圧してスライ
ス信号を生成する。
【００２０】よって、確実に信号欠陥を検出し得るスラ
イス信号を生成することができる。
イス信号を生成することができる。
【００２１】上記の課題を解決するために、請求項４に
記載の発明は、請求項１から３のいずれか一項に記載の
信号欠陥検出装置を含む信号欠陥検出システムであっ
て、前記上側エンベロープ信号の生成に用いられる時定
数よりも長い時定数である第２時定数を用いて前記上側
エンベロープを検出し、対応する第２上側エンベロープ
信号を生成する上側エンベロープ検出器等の第２上側エ
ンベロープ信号生成手段と、前記第２時定数よりも長い
時定数である第３時定数を用いて前記上側エンベロープ
を検出し、対応する第３上側エンベロープ信号を生成す
る上側エンベロープ検出器等の第３上側エンベロープ信
号生成手段と、前記生成された第３上側エンベロープ信
号と前記生成された第２上側エンベロープ信号との差を
示す差信号を生成する減算器等の差信号生成手段と、前
記生成された差信号と予め設定された閾値とを比較し、
当該差信号が前記閾値よりも大きい期間に前記信号欠陥
を示す第２欠陥検出信号を出力するコンパレータ等の第
２検出手段と、を備える第２信号欠陥検出装置と、前記
欠陥検出信号と前記第２欠陥検出信号とを加算し、加算
信号を生成する論理和回路等の加算手段と、を備える。
記載の発明は、請求項１から３のいずれか一項に記載の
信号欠陥検出装置を含む信号欠陥検出システムであっ
て、前記上側エンベロープ信号の生成に用いられる時定
数よりも長い時定数である第２時定数を用いて前記上側
エンベロープを検出し、対応する第２上側エンベロープ
信号を生成する上側エンベロープ検出器等の第２上側エ
ンベロープ信号生成手段と、前記第２時定数よりも長い
時定数である第３時定数を用いて前記上側エンベロープ
を検出し、対応する第３上側エンベロープ信号を生成す
る上側エンベロープ検出器等の第３上側エンベロープ信
号生成手段と、前記生成された第３上側エンベロープ信
号と前記生成された第２上側エンベロープ信号との差を
示す差信号を生成する減算器等の差信号生成手段と、前
記生成された差信号と予め設定された閾値とを比較し、
当該差信号が前記閾値よりも大きい期間に前記信号欠陥
を示す第２欠陥検出信号を出力するコンパレータ等の第
２検出手段と、を備える第２信号欠陥検出装置と、前記
欠陥検出信号と前記第２欠陥検出信号とを加算し、加算
信号を生成する論理和回路等の加算手段と、を備える。
【００２２】請求項４に記載の発明の作用によれば、請
求項１から３のいずれか一項に記載の発明の作用に加え
て、第２信号欠陥検出装置における第２上側エンベロー
プ信号生成手段は、上側エンベロープ信号の生成に用い
られる時定数よりも長い第２時定数を用いて上側エンベ
ロープを検出し、対応する第２上側エンベロープ信号を
生成する。
求項１から３のいずれか一項に記載の発明の作用に加え
て、第２信号欠陥検出装置における第２上側エンベロー
プ信号生成手段は、上側エンベロープ信号の生成に用い
られる時定数よりも長い第２時定数を用いて上側エンベ
ロープを検出し、対応する第２上側エンベロープ信号を
生成する。
【００２３】これと並行して、第２信号欠陥検出装置に
おける第３上側エンベロープ信号生成手段は、第２時定
数よりも長い第３時定数を用いて上側エンベロープを検
出し、対応する第３上側エンベロープ信号を生成する。
おける第３上側エンベロープ信号生成手段は、第２時定
数よりも長い第３時定数を用いて上側エンベロープを検
出し、対応する第３上側エンベロープ信号を生成する。
【００２４】そして、第２信号欠陥検出装置における差
信号生成手段は差信号を生成する。
信号生成手段は差信号を生成する。
【００２５】これにより、第２信号欠陥検出装置におけ
る第２検出手段は、生成された差信号と予め設定された
閾値とを比較し、当該差信号が閾値よりも大きい期間に
信号欠陥を示す第２欠陥検出信号を出力する。
る第２検出手段は、生成された差信号と予め設定された
閾値とを比較し、当該差信号が閾値よりも大きい期間に
信号欠陥を示す第２欠陥検出信号を出力する。
【００２６】その後、加算手段は、欠陥検出信号と第２
欠陥検出信号とを加算し、加算信号を生成する。
欠陥検出信号とを加算し、加算信号を生成する。
【００２７】よって、欠陥検出信号と第２欠陥検出信号
とを加算して加算信号を生成するので、当該加算信号を
用いることにより、長い信号欠陥と短い信号欠陥を両立
して検出することができる。
とを加算して加算信号を生成するので、当該加算信号を
用いることにより、長い信号欠陥と短い信号欠陥を両立
して検出することができる。
【００２８】上記の課題を解決するために、請求項５に
記載の発明は、請求項４に記載の信号欠陥検出システム
と、前記検出信号を生成するピックアップ等の情報検出
手段と、前記加算信号に基づいて、前記信号欠陥を補償
するサーボ処理部等の補償手段と、前記信号欠陥が補償
された前記検出信号に基づいて前記情報を再生する再生
部等の再生手段と、を備える。
記載の発明は、請求項４に記載の信号欠陥検出システム
と、前記検出信号を生成するピックアップ等の情報検出
手段と、前記加算信号に基づいて、前記信号欠陥を補償
するサーボ処理部等の補償手段と、前記信号欠陥が補償
された前記検出信号に基づいて前記情報を再生する再生
部等の再生手段と、を備える。
【００２９】請求項５に記載の発明の作用によれば、請
求項４に記載の発明の作用に加えて、情報検出手段は検
出信号を生成する。
求項４に記載の発明の作用に加えて、情報検出手段は検
出信号を生成する。
【００３０】そして、補償手段は、加算信号に基づいて
信号欠陥を補償する。
信号欠陥を補償する。
【００３１】最後に、再生手段は、信号欠陥が補償され
た検出信号に基づいて情報を再生する。
た検出信号に基づいて情報を再生する。
【００３２】よって、大小全ての信号欠陥を正確に補償
して情報を再生することができる。
して情報を再生することができる。
【００３３】
【発明の実施の形態】次に、本発明に好適な実施の形態
を、図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実
施形態は、記録媒体としての光ディスクから当該光ディ
スクに記録されている情報を再生する情報再生装置に対
して本発明を適用した場合の実施形態である。
を、図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実
施形態は、記録媒体としての光ディスクから当該光ディ
スクに記録されている情報を再生する情報再生装置に対
して本発明を適用した場合の実施形態である。
【００３４】始めに、実施形態に係る情報再生装置の全
体構成及び動作について、図１を用いて説明する。
体構成及び動作について、図１を用いて説明する。
【００３５】図１に示すように、実施形態に係る情報再
生装置Ｓは、光ディスク１と、情報検出手段としてのピ
ックアップ２と、再生手段としての再生部３と、本発明
に係る信号欠陥検出装置としてのディフェクト検出部４
と、トラッキングエラー信号生成部５と、フォーカスエ
ラー信号生成部６と、補償手段としてのサーボ処理部７
と、スピンドルモータ８と、により構成されている。
生装置Ｓは、光ディスク１と、情報検出手段としてのピ
ックアップ２と、再生手段としての再生部３と、本発明
に係る信号欠陥検出装置としてのディフェクト検出部４
と、トラッキングエラー信号生成部５と、フォーカスエ
ラー信号生成部６と、補償手段としてのサーボ処理部７
と、スピンドルモータ８と、により構成されている。
【００３６】次に、動作を説明する。
【００３７】情報再生時において、光ディスク１は、後
述するスピンドル制御信号Ｓsdにより駆動されるスピン
ドルモータ８により所定回転数で回転されている。
述するスピンドル制御信号Ｓsdにより駆動されるスピン
ドルモータ８により所定回転数で回転されている。
【００３８】そして、ピックアップ２は、当該回転する
光ディスク１に対してレーザ光等の光ビームＢを出射
し、その反射光に基づいて再生すべき光ディスク１上の
情報に対応する再生ＲＦ信号Ｓrfを生成する。この再生
ＲＦ信号Ｓrf中に、光ディスク１の表面の傷等に起因す
るディフェクトが含まれていることとなる。
光ディスク１に対してレーザ光等の光ビームＢを出射
し、その反射光に基づいて再生すべき光ディスク１上の
情報に対応する再生ＲＦ信号Ｓrfを生成する。この再生
ＲＦ信号Ｓrf中に、光ディスク１の表面の傷等に起因す
るディフェクトが含まれていることとなる。
【００３９】これと並行して、ピックアップ２は、当該
反射光に基づいて、光ビームＢの焦点位置の光ディスク
１における情報記録面からのずれを示すフォーカスエラ
ー検出信号Ｓfpを生成すると共に、当該反射光に基づい
て、再生すべき情報により光ディスク１上に形成された
情報トラックの位置と光ビームＢの焦点位置との上記情
報記録面に平行な方向（トラッキング方向）のずれを示
すトラッキングエラー検出信号Ｓtpを生成する。このと
き、上記再生ＲＦ信号Ｓrf中にディフェクトが生じてい
るタイミングでは、同様にフォーカスエラー検出信号Ｓ
fp及びトラッキングエラー検出信号Ｓtpにもディフェク
トが生じていることとなる。
反射光に基づいて、光ビームＢの焦点位置の光ディスク
１における情報記録面からのずれを示すフォーカスエラ
ー検出信号Ｓfpを生成すると共に、当該反射光に基づい
て、再生すべき情報により光ディスク１上に形成された
情報トラックの位置と光ビームＢの焦点位置との上記情
報記録面に平行な方向（トラッキング方向）のずれを示
すトラッキングエラー検出信号Ｓtpを生成する。このと
き、上記再生ＲＦ信号Ｓrf中にディフェクトが生じてい
るタイミングでは、同様にフォーカスエラー検出信号Ｓ
fp及びトラッキングエラー検出信号Ｓtpにもディフェク
トが生じていることとなる。
【００４０】次に、ディフェクト検出部４は、後述の動
作により、再生ＲＦ信号Ｓrfにおけるディフェクトを検
出し、ディフェクト信号Ｓdfを再生部３及びサーボ処理
部７に出力する。
作により、再生ＲＦ信号Ｓrfにおけるディフェクトを検
出し、ディフェクト信号Ｓdfを再生部３及びサーボ処理
部７に出力する。
【００４１】これにより、再生部３は、上記ディフェク
ト信号Ｓdfに基づいて、再生ＲＦ信号Ｓrf中のディフェ
クトに対して、例えばエラー訂正処理等の補償処理を実
施しつつ当該再生ＲＦ信号Ｓrfに対して復調処理等を施
し、再生すべき情報に対応する再生信号Ｓpを外部に出
力する。
ト信号Ｓdfに基づいて、再生ＲＦ信号Ｓrf中のディフェ
クトに対して、例えばエラー訂正処理等の補償処理を実
施しつつ当該再生ＲＦ信号Ｓrfに対して復調処理等を施
し、再生すべき情報に対応する再生信号Ｓpを外部に出
力する。
【００４２】一方、上記トラッキングエラー検出信号Ｓ
tpが入力されているトラッキングエラー信号生成部５
は、上記トラッキングエラー検出信号Ｓtpに基づいて、
光ビームＢの上記トラッキング方向のずれを示すトラッ
キングエラー信号Ｓteを生成し、サーボ処理部７に出力
する。
tpが入力されているトラッキングエラー信号生成部５
は、上記トラッキングエラー検出信号Ｓtpに基づいて、
光ビームＢの上記トラッキング方向のずれを示すトラッ
キングエラー信号Ｓteを生成し、サーボ処理部７に出力
する。
【００４３】これと並行して、上記フォーカスエラー検
出信号Ｓfpが入力されているフォーカスエラー信号生成
部６は、上記フォーカスエラー検出信号Ｓfpに基づい
て、光ビームＢの焦点位置の上記情報記録面の位置から
ずれを示すフォーカスエラー信号Ｓfeを生成し、サーボ
処理部７に出力する。
出信号Ｓfpが入力されているフォーカスエラー信号生成
部６は、上記フォーカスエラー検出信号Ｓfpに基づい
て、光ビームＢの焦点位置の上記情報記録面の位置から
ずれを示すフォーカスエラー信号Ｓfeを生成し、サーボ
処理部７に出力する。
【００４４】これらにより、サーボ処理部７は、先ず、
上記ディフェクト信号Ｓdf及びトラッキングエラー信号
Ｓteに基づいて、当該トラッキングエラー信号Ｓte中の
ディフェクト部分に対して前値ホールド処理等の補償処
理を施しつつピックアップ２内に含まれる図示しない対
物レンズをトラッキング方向に駆動するためのトラッキ
ング駆動信号Ｓtdを生成し、ピックアップ２内の図示し
ないトラッキングアクチュエータ（上記対物レンズをト
ラッキング方向に移動させるためのトラッキングアクチ
ュエータ）に出力する。
上記ディフェクト信号Ｓdf及びトラッキングエラー信号
Ｓteに基づいて、当該トラッキングエラー信号Ｓte中の
ディフェクト部分に対して前値ホールド処理等の補償処
理を施しつつピックアップ２内に含まれる図示しない対
物レンズをトラッキング方向に駆動するためのトラッキ
ング駆動信号Ｓtdを生成し、ピックアップ２内の図示し
ないトラッキングアクチュエータ（上記対物レンズをト
ラッキング方向に移動させるためのトラッキングアクチ
ュエータ）に出力する。
【００４５】更にこれと並行して、サーボ処理部７は、
上記ディフェクト信号Ｓdf及びフォーカスエラー信号Ｓ
feに基づいて、当該フォーカスエラー信号Ｓfe中のディ
フェクト部分に対して前値ホールド処理等の補償処理を
施しつつピックアップ２内に含まれる図示しない対物レ
ンズを上記情報記録面に垂直な方向に駆動するためのフ
ォーカス駆動信号Ｓfdを生成し、ピックアップ２内の図
示しないフォーカスアクチュエータ（上記対物レンズを
情報記録面に垂直な方向に移動させるためのフォーカス
アクチュエータ）に出力する。
上記ディフェクト信号Ｓdf及びフォーカスエラー信号Ｓ
feに基づいて、当該フォーカスエラー信号Ｓfe中のディ
フェクト部分に対して前値ホールド処理等の補償処理を
施しつつピックアップ２内に含まれる図示しない対物レ
ンズを上記情報記録面に垂直な方向に駆動するためのフ
ォーカス駆動信号Ｓfdを生成し、ピックアップ２内の図
示しないフォーカスアクチュエータ（上記対物レンズを
情報記録面に垂直な方向に移動させるためのフォーカス
アクチュエータ）に出力する。
【００４６】そして、これらトラッキング駆動信号Ｓtd
及びフォーカス駆動信号Ｓfdに基づいて上記トラッキン
グアクチュエータ及びフォーカスアクチュエータが駆動
されることにより、上記対物レンズがトラッキング方向
及び情報記録面に垂直な方向に移動し、情報の再生に伴
ういわゆるトラッキングサーボ制御及びフォーカスサー
ボ制御が実行されることとなる。
及びフォーカス駆動信号Ｓfdに基づいて上記トラッキン
グアクチュエータ及びフォーカスアクチュエータが駆動
されることにより、上記対物レンズがトラッキング方向
及び情報記録面に垂直な方向に移動し、情報の再生に伴
ういわゆるトラッキングサーボ制御及びフォーカスサー
ボ制御が実行されることとなる。
【００４７】また、サーボ処理部７は、上記ディフェク
ト信号Ｓdf及び再生ＲＦ信号Ｓrfに基づいて、上記スピ
ンドルモータ８を駆動するためのスピンドル制御信号Ｓ
sdを生成し、当該スピンドルモータ８へ出力する。
ト信号Ｓdf及び再生ＲＦ信号Ｓrfに基づいて、上記スピ
ンドルモータ８を駆動するためのスピンドル制御信号Ｓ
sdを生成し、当該スピンドルモータ８へ出力する。
【００４８】次に、本発明に係るディフェクト検出部４
の構成及び動作について、図２及び図３を用いて説明す
る。
の構成及び動作について、図２及び図３を用いて説明す
る。
【００４９】図２に示すように、ディフェクト検出部４
は、ＨＰＦ１０と、第１ディフェクト検出部１１と、第
２ディフェクト検出部１２と、加算手段としての論理和
回路１３とにより構成されている。
は、ＨＰＦ１０と、第１ディフェクト検出部１１と、第
２ディフェクト検出部１２と、加算手段としての論理和
回路１３とにより構成されている。
【００５０】また、第１ディフェクト検出部１１は、第
３上側エンベロープ信号生成手段としての上側エンベロ
ープ検出器１１Ａと、第２上側エンベロープ信号生成手
段としての上側エンベロープ検出器１１Ｂと、差信号生
成手段としての減算器２８と、第２検出手段としてのコ
ンパレータ２９と、閾値電圧発生器Ｇにより構成されて
いる。
３上側エンベロープ信号生成手段としての上側エンベロ
ープ検出器１１Ａと、第２上側エンベロープ信号生成手
段としての上側エンベロープ検出器１１Ｂと、差信号生
成手段としての減算器２８と、第２検出手段としてのコ
ンパレータ２９と、閾値電圧発生器Ｇにより構成されて
いる。
【００５１】更に、第２ディフェクト検出部１２は、上
側エンベロープ信号生成手段としての上側エンベロープ
検出器１２Ａと、下側エンベロープ信号生成手段として
の下側エンベロープ検出器１２Ｂと、平均化信号生成手
段としてのＬＰＦ（Low Pass Filter）４５と、検出
手段としての減算器４６と、スライス信号生成手段とし
ての抵抗４７及び４８とにより構成されている。
側エンベロープ信号生成手段としての上側エンベロープ
検出器１２Ａと、下側エンベロープ信号生成手段として
の下側エンベロープ検出器１２Ｂと、平均化信号生成手
段としてのＬＰＦ（Low Pass Filter）４５と、検出
手段としての減算器４６と、スライス信号生成手段とし
ての抵抗４７及び４８とにより構成されている。
【００５２】更にまた、上側エンベロープ検出器１１Ａ
は、オペアンプ１５及び２０と、ダイオード１６及び１
７と、定電流源１８と、コンデンサ１９と、抵抗２１と
により構成されている。
は、オペアンプ１５及び２０と、ダイオード１６及び１
７と、定電流源１８と、コンデンサ１９と、抵抗２１と
により構成されている。
【００５３】また、上側エンベロープ検出器１１Ｂは、
オペアンプ２２及び２７と、ダイオード２３及び２４
と、定電流源２５と、コンデンサ２６と、抵抗３０とに
より構成されている。
オペアンプ２２及び２７と、ダイオード２３及び２４
と、定電流源２５と、コンデンサ２６と、抵抗３０とに
より構成されている。
【００５４】更に、上側エンベロープ検出器１２Ａは、
オペアンプ３１及び３６と、ダイオード３２及び３３
と、定電流源３４と、コンデンサ３５と、抵抗３７とに
より構成されている。
オペアンプ３１及び３６と、ダイオード３２及び３３
と、定電流源３４と、コンデンサ３５と、抵抗３７とに
より構成されている。
【００５５】更にまた、下側エンベロープ検出器１２Ｂ
は、オペアンプ３８及び４４と、ダイオード３９及び４
０と、定電流源４１と、コンデンサ４２と、抵抗４３と
により構成されている。
は、オペアンプ３８及び４４と、ダイオード３９及び４
０と、定電流源４１と、コンデンサ４２と、抵抗４３と
により構成されている。
【００５６】ここで、コンデンサ１９、２６及び３５に
ついて、夫々の容量の関係を示すと、
ついて、夫々の容量の関係を示すと、
【数１】（コンデンサ１９の容量）＞（コンデンサ２６
の容量）＞（コンデンサ３５の容量） となっており、夫々の比は、例えば、
の容量）＞（コンデンサ３５の容量） となっており、夫々の比は、例えば、
【数２】コンデンサ１９の容量：コンデンサ２６の容
量：コンデンサ３５の容量＝１０：１：０．１ とされている。
量：コンデンサ３５の容量＝１０：１：０．１ とされている。
【００５７】また、抵抗４７の抵抗値と抵抗４８の抵抗
値とは等しくなるように設定されている。
値とは等しくなるように設定されている。
【００５８】なお、上側エンベロープ検出器１１Ａ、上
側エンベロープ検出器１１Ｂ及び上側エンベロープ検出
器１２Ａの構成は、ハイパス信号Ｓhrfの上側エンベロ
ープを検出するための公知の構成であり、また、下側エ
ンベロープ検出器１２Ｂの構成は、ハイパス信号Ｓhrf
の下側エンベロープを検出するための公知の構成であ
る。
側エンベロープ検出器１１Ｂ及び上側エンベロープ検出
器１２Ａの構成は、ハイパス信号Ｓhrfの上側エンベロ
ープを検出するための公知の構成であり、また、下側エ
ンベロープ検出器１２Ｂの構成は、ハイパス信号Ｓhrf
の下側エンベロープを検出するための公知の構成であ
る。
【００５９】次に、動作を説明する。
【００６０】ここで、ディフェクト検出部４に入力され
てくる再生ＲＦ信号Ｓrfには、図３最上段に示すよう
に、光ディスク５上の傷等の大きさに応じて、長いディ
フェクトＤＡと楔状の短いディフェクトＤＢとが含まれ
ているとする。
てくる再生ＲＦ信号Ｓrfには、図３最上段に示すよう
に、光ディスク５上の傷等の大きさに応じて、長いディ
フェクトＤＡと楔状の短いディフェクトＤＢとが含まれ
ているとする。
【００６１】そして、この再生ＲＦ信号Ｓrf対してＨＰ
Ｆ１０がその直流成分を除去して図３上から二段目に示
すハイパス信号Ｓhrfを生成し、上記上側エンベロープ
検出器１１Ａ、上側エンベロープ検出器１１Ｂ、上側エ
ンベロープ検出器１２Ａ及び下側エンベロープ検出器１
２Ｂに出力する。なお、いうまでもなく、当該ハイパス
信号Ｓhrf中にも上記ディフェクトＤＡ及びＤＢが含ま
れている。
Ｆ１０がその直流成分を除去して図３上から二段目に示
すハイパス信号Ｓhrfを生成し、上記上側エンベロープ
検出器１１Ａ、上側エンベロープ検出器１１Ｂ、上側エ
ンベロープ検出器１２Ａ及び下側エンベロープ検出器１
２Ｂに出力する。なお、いうまでもなく、当該ハイパス
信号Ｓhrf中にも上記ディフェクトＤＡ及びＤＢが含ま
れている。
【００６２】次に、上記第１ディフェクト検出部１１の
動作について詳説する。
動作について詳説する。
【００６３】第１ディフェクト検出部１１内の上側エン
ベロープ検出器１１Ａは、入力されているハイパス信号
Ｓhrfの上側エンベロープを既知の方法により検出し、
図３上から三段目に実線で示すエンベロープ信号Ｓphl
を生成する。ここで、ハイパス信号Ｓhrfの上側エンベ
ロープとは、当該ハイパス信号Ｓhrfにおいて、反射光
の光量が多くなる光ディスク１の領域からの反射光に基
づくエンベロープを示している。
ベロープ検出器１１Ａは、入力されているハイパス信号
Ｓhrfの上側エンベロープを既知の方法により検出し、
図３上から三段目に実線で示すエンベロープ信号Ｓphl
を生成する。ここで、ハイパス信号Ｓhrfの上側エンベ
ロープとは、当該ハイパス信号Ｓhrfにおいて、反射光
の光量が多くなる光ディスク１の領域からの反射光に基
づくエンベロープを示している。
【００６４】これと並行して、第１ディフェクト検出部
１１内の上側エンベロープ検出器１１Ｂは、入力されて
いるハイパス信号Ｓhrfの上側エンベロープを既知の方
法により上記上側エンベロープ検出器１１Ａとは別個に
検出し、図３上から三段目に一点鎖線で示すエンベロー
プ信号Ｓphsを生成する。なお、図３上から三段目に
は、上記ハイパス信号Ｓhrf（図３上から二段目参照）
のピーク値とボトム値の波形を点線で示してある。
１１内の上側エンベロープ検出器１１Ｂは、入力されて
いるハイパス信号Ｓhrfの上側エンベロープを既知の方
法により上記上側エンベロープ検出器１１Ａとは別個に
検出し、図３上から三段目に一点鎖線で示すエンベロー
プ信号Ｓphsを生成する。なお、図３上から三段目に
は、上記ハイパス信号Ｓhrf（図３上から二段目参照）
のピーク値とボトム値の波形を点線で示してある。
【００６５】このとき、上述のように、
【数３】 （コンデンサ１９の容量）＞（コンデンサ２６の容量） の関係があるので、エンベロープ信号Ｓphlはハイパス
信号Ｓhrfの上側エンベロープを長い時定数を用いて検
出した信号となり、一方、エンベロープ信号Ｓphsはハ
イパス信号Ｓhrfの上側エンベロープを短い時定数を用
いて検出した信号となる。
信号Ｓhrfの上側エンベロープを長い時定数を用いて検
出した信号となり、一方、エンベロープ信号Ｓphsはハ
イパス信号Ｓhrfの上側エンベロープを短い時定数を用
いて検出した信号となる。
【００６６】そして、減算器２８は、エンベロープ信号
Ｓphlからエンベロープ信号Ｓphsを減算し、図３上から
四段目に示す減算信号Ｓdsを生成する。このとき、当該
減算信号Ｓdsには、ディフェクトが発生している夫々の
タイミングにおいてゼロレベルでない波形が含まれるこ
ととなる。
Ｓphlからエンベロープ信号Ｓphsを減算し、図３上から
四段目に示す減算信号Ｓdsを生成する。このとき、当該
減算信号Ｓdsには、ディフェクトが発生している夫々の
タイミングにおいてゼロレベルでない波形が含まれるこ
ととなる。
【００６７】次に、コンパレータ２９は、上記減算信号
Ｓdsとディフェクト検出のために予め設定された所定の
閾値電圧Ｖ1（閾値電圧発生器Ｇにより生成されてい
る。）とを比較し、当該減算信号Ｓdsの値が閾値電圧Ｖ
1より高いタイミングで「ＨＩＧＨ」となるディフェク
ト検出信号Ｓdfdを生成する。このとき、当該閾値電圧
Ｖ1は、本来ディフェクトでない信号までディフェクト
であると検出してしまうことを防止するために、図３上
から四段目に示すようにある程度高い電圧値であること
が必要であり、従って、ディフェクト検出信号Ｓdfdに
は長いディフェクトＤＡの長さに対応したパルスは含ま
れるが、短いディフェクトＤＢに対応したパルスは含ま
れないこととなる。
Ｓdsとディフェクト検出のために予め設定された所定の
閾値電圧Ｖ1（閾値電圧発生器Ｇにより生成されてい
る。）とを比較し、当該減算信号Ｓdsの値が閾値電圧Ｖ
1より高いタイミングで「ＨＩＧＨ」となるディフェク
ト検出信号Ｓdfdを生成する。このとき、当該閾値電圧
Ｖ1は、本来ディフェクトでない信号までディフェクト
であると検出してしまうことを防止するために、図３上
から四段目に示すようにある程度高い電圧値であること
が必要であり、従って、ディフェクト検出信号Ｓdfdに
は長いディフェクトＤＡの長さに対応したパルスは含ま
れるが、短いディフェクトＤＢに対応したパルスは含ま
れないこととなる。
【００６８】次に、上記第２ディフェクト検出部１２の
動作について詳説する。
動作について詳説する。
【００６９】第２ディフェクト検出部１２内の上側エン
ベロープ検出器１２Ａは、入力されているハイパス信号
Ｓhrfの上側エンベロープを既知の方法により検出し、
図３下から三段目に実線で示すエンベロープ信号Ｓphを
生成し、抵抗４７及び減算器４６に出力する。
ベロープ検出器１２Ａは、入力されているハイパス信号
Ｓhrfの上側エンベロープを既知の方法により検出し、
図３下から三段目に実線で示すエンベロープ信号Ｓphを
生成し、抵抗４７及び減算器４６に出力する。
【００７０】これと並行して、第２ディフェクト検出部
１２内の下側エンベロープ検出器１２Ｂは、入力されて
いるハイパス信号Ｓhrfの下側エンベロープを既知の方
法により上記上側エンベロープ検出器１２Ａとは別個に
検出し、図３下から三段目に実線で示すエンベロープ信
号Ｓbhを生成し、抵抗４８に出力する。
１２内の下側エンベロープ検出器１２Ｂは、入力されて
いるハイパス信号Ｓhrfの下側エンベロープを既知の方
法により上記上側エンベロープ検出器１２Ａとは別個に
検出し、図３下から三段目に実線で示すエンベロープ信
号Ｓbhを生成し、抵抗４８に出力する。
【００７１】ここで、ハイパス信号Ｓhrfの下側エンベ
ロープとは、当該ハイパス信号Ｓhrfにおいて、反射光
の光量が少なくなる光ディスク１の領域からの反射光に
基づくエンベロープ（すなわち、ハイパス信号Ｓhrfに
おいては、レベルが高いほど光ディスク１からの反射光
の光量が多いことを示している。）を示している。
ロープとは、当該ハイパス信号Ｓhrfにおいて、反射光
の光量が少なくなる光ディスク１の領域からの反射光に
基づくエンベロープ（すなわち、ハイパス信号Ｓhrfに
おいては、レベルが高いほど光ディスク１からの反射光
の光量が多いことを示している。）を示している。
【００７２】また、図３下から三段目には、上記ハイパ
ス信号Ｓhrf（図３上から二段目参照）のピーク値とボ
トム値の波形を点線で示してある。
ス信号Ｓhrf（図３上から二段目参照）のピーク値とボ
トム値の波形を点線で示してある。
【００７３】このとき、上述のように、
【数４】 （コンデンサ２６の容量）＞（コンデンサ３５の容量） の関係があるので、エンベロープ信号Ｓphはハイパス信
号Ｓhrfの上側エンベロープを最も短い時定数を用いて
検出した信号（すなわち、ハイパス信号Ｓhrfの上側エ
ンベロープに最も近い波形の信号）となる。
号Ｓhrfの上側エンベロープを最も短い時定数を用いて
検出した信号（すなわち、ハイパス信号Ｓhrfの上側エ
ンベロープに最も近い波形の信号）となる。
【００７４】次に、抵抗４７及び４８は、エンベロープ
信号Ｓphとエンベロープ信号Ｓbhとの電圧差を１対１に
分圧し、当該抵抗４７と抵抗４８との接続点から、エン
ベロープ信号Ｓphの電圧値とエンベロープ信号Ｓbhの電
圧値との中間の電圧値を常に有するスライス信号Ｓff
（図３下から三段目一点鎖線参照）を出力する。
信号Ｓphとエンベロープ信号Ｓbhとの電圧差を１対１に
分圧し、当該抵抗４７と抵抗４８との接続点から、エン
ベロープ信号Ｓphの電圧値とエンベロープ信号Ｓbhの電
圧値との中間の電圧値を常に有するスライス信号Ｓff
（図３下から三段目一点鎖線参照）を出力する。
【００７５】そして、ＬＰＦ４５は、当該スライス信号
Ｓffをエンベロープ信号Ｓphの生成よりも長い時定数で
平均化し、平均化信号Ｓlp（図３下から三段目に実線で
示す。）を生成する。このようにして生成された平均化
信号Ｓlpは、図３下から三段目により明らかなように、
ハイパス信号Ｓhrfにおける各ディフェクトを横切るよ
うな電圧値（すなわち、各ディフェクトの底の電圧値よ
りも高い電圧値）を有する信号となる。
Ｓffをエンベロープ信号Ｓphの生成よりも長い時定数で
平均化し、平均化信号Ｓlp（図３下から三段目に実線で
示す。）を生成する。このようにして生成された平均化
信号Ｓlpは、図３下から三段目により明らかなように、
ハイパス信号Ｓhrfにおける各ディフェクトを横切るよ
うな電圧値（すなわち、各ディフェクトの底の電圧値よ
りも高い電圧値）を有する信号となる。
【００７６】そして、減算器４６は、上記エンベロープ
信号Ｓphから当該平均化信号Ｓlpを減算し、ディフェク
ト検出信号Ｓdff（図３下から二段目参照）を出力す
る。
信号Ｓphから当該平均化信号Ｓlpを減算し、ディフェク
ト検出信号Ｓdff（図３下から二段目参照）を出力す
る。
【００７７】このとき、上述のようにエンベロープ信号
Ｓphがもっとも短い時定数を用いてハイパス信号Ｓhrf
の上側エンベロープを検出したものであると共に、平均
化信号Ｓlpがハイパス信号Ｓhrfにおける各ディフェク
トを横切るような電圧値を有する信号であることから、
当該ディフェクト検出信号Ｓdffにおいては、長いディ
フェクトＤＡに対応するパルスは実際の当該ディフェク
トＤＡよりも短くなるものの、短いディフェクトＤＢに
対応したパルスは当該ディフェクトＤＢに正確に対応し
たタイミングで含まれることとなる。
Ｓphがもっとも短い時定数を用いてハイパス信号Ｓhrf
の上側エンベロープを検出したものであると共に、平均
化信号Ｓlpがハイパス信号Ｓhrfにおける各ディフェク
トを横切るような電圧値を有する信号であることから、
当該ディフェクト検出信号Ｓdffにおいては、長いディ
フェクトＤＡに対応するパルスは実際の当該ディフェク
トＤＡよりも短くなるものの、短いディフェクトＤＢに
対応したパルスは当該ディフェクトＤＢに正確に対応し
たタイミングで含まれることとなる。
【００７８】その後、論理和回路１３は、上記ディフェ
クト検出信号Ｓdfdとディフェクト検出信号Ｓdffとの論
理和を算出し、再生ＲＦ信号Ｓrf中のディフェクトを示
す上記ディフェクト信号Ｓdfを生成する。このように生
成されたディフェクト信号Ｓdfにおいては、図３最下段
に示すように、長いディフェクトＤＡの長さに対応した
パルス幅のパルスと短いディフェクトＤＢに対応したパ
ルスの双方が含まれることとなる。
クト検出信号Ｓdfdとディフェクト検出信号Ｓdffとの論
理和を算出し、再生ＲＦ信号Ｓrf中のディフェクトを示
す上記ディフェクト信号Ｓdfを生成する。このように生
成されたディフェクト信号Ｓdfにおいては、図３最下段
に示すように、長いディフェクトＤＡの長さに対応した
パルス幅のパルスと短いディフェクトＤＢに対応したパ
ルスの双方が含まれることとなる。
【００７９】従って、当該ディフェクト信号Ｓdfに基づ
いて上記再生部３又はサーボ処理部７においてディフェ
クトの補償処理を行えば、正確にディフェクトを補償で
きることとなる。
いて上記再生部３又はサーボ処理部７においてディフェ
クトの補償処理を行えば、正確にディフェクトを補償で
きることとなる。
【００８０】以上説明したように、実施形態の情報再生
装置Ｓの動作によれば、エンベロープ信号Ｓphとエンベ
ロープ信号Ｓbhとの電圧差を１対１に分圧した電圧値を
有するスライス信号Ｓffを平均化した信号とエンベロー
プ信号Ｓphとを比較することによりディフェクトを検出
するので、短いディフェクトＤＢであっても確実に検出
することができる。
装置Ｓの動作によれば、エンベロープ信号Ｓphとエンベ
ロープ信号Ｓbhとの電圧差を１対１に分圧した電圧値を
有するスライス信号Ｓffを平均化した信号とエンベロー
プ信号Ｓphとを比較することによりディフェクトを検出
するので、短いディフェクトＤＢであっても確実に検出
することができる。
【００８１】また、スライス信号Ｓffの平均化に用いら
れる時定数がエンベロープ信号Ｓphの生成に用いられる
時定数よりも長いので、ディフェクトを確実に検出する
ことが可能な平均化信号Ｓlpを生成することができる。
れる時定数がエンベロープ信号Ｓphの生成に用いられる
時定数よりも長いので、ディフェクトを確実に検出する
ことが可能な平均化信号Ｓlpを生成することができる。
【００８２】更に、エンベロープ信号Ｓphlとエンベロ
ープ信号Ｓphsとの差に基づいて生成されたディフェク
ト検出信号Ｓdfdとディフェクト検出信号Ｓdffとを加算
してディフェクト信号Ｓdfを生成するので、当該ディフ
ェクト信号Ｓdfを用いることにより、長いディフェクト
ＤＡと短いディフェクトＤＢを両立して検出しこれらを
補償して情報を正確に再生することができる。
ープ信号Ｓphsとの差に基づいて生成されたディフェク
ト検出信号Ｓdfdとディフェクト検出信号Ｓdffとを加算
してディフェクト信号Ｓdfを生成するので、当該ディフ
ェクト信号Ｓdfを用いることにより、長いディフェクト
ＤＡと短いディフェクトＤＢを両立して検出しこれらを
補償して情報を正確に再生することができる。
【００８３】なお、上述の実施形態においては、エンベ
ロープ信号Ｓphとエンベロープ信号Ｓbhとの電圧差を１
対１に分圧してスライス信号Ｓffを生成したが、これに
限定されるものではなく、情報再生装置Ｓの設計上必要
とされるディフェクトの検出感度に対応して、分圧比を
適宜変更することができる。例えば、ディフェクト検出
の感度をより向上させるためには、スライス信号Ｓffが
より高い（すなわち、よりエンベロープ信号Ｓphに近
い）電圧値を有するように分圧比（すなわち、抵抗４７
の抵抗値と抵抗４８の抵抗値との関係）を設定してもよ
い。
ロープ信号Ｓphとエンベロープ信号Ｓbhとの電圧差を１
対１に分圧してスライス信号Ｓffを生成したが、これに
限定されるものではなく、情報再生装置Ｓの設計上必要
とされるディフェクトの検出感度に対応して、分圧比を
適宜変更することができる。例えば、ディフェクト検出
の感度をより向上させるためには、スライス信号Ｓffが
より高い（すなわち、よりエンベロープ信号Ｓphに近
い）電圧値を有するように分圧比（すなわち、抵抗４７
の抵抗値と抵抗４８の抵抗値との関係）を設定してもよ
い。
【００８４】更に、上述の実施形態においては、光ディ
スク１上の情報を光学的に再生する情報再生装置Ｓに対
して本発明を適用した場合について説明したが、これ以
外に、例えば、テープ状の記録媒体上の情報を磁気的に
再生する際のディフェクトの検出に本発明を適用しても
よい。
スク１上の情報を光学的に再生する情報再生装置Ｓに対
して本発明を適用した場合について説明したが、これ以
外に、例えば、テープ状の記録媒体上の情報を磁気的に
再生する際のディフェクトの検出に本発明を適用しても
よい。
【００８５】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明によれば、上側エンベロープ信号と下側エンベロー
プ信号との電圧差を予め設定された比で分圧した電圧を
下側エンベロープ信号の電圧に加算した電圧を有するス
ライス信号を平均化した信号と上側エンベロープ信号と
を比較することにより信号欠陥を検出するので、短期間
の信号欠陥であっても確実に検出することができる。
発明によれば、上側エンベロープ信号と下側エンベロー
プ信号との電圧差を予め設定された比で分圧した電圧を
下側エンベロープ信号の電圧に加算した電圧を有するス
ライス信号を平均化した信号と上側エンベロープ信号と
を比較することにより信号欠陥を検出するので、短期間
の信号欠陥であっても確実に検出することができる。
【００８６】よって、記録媒体の傷等に起因する微少な
信号欠陥をも確実に検出することができる。
信号欠陥をも確実に検出することができる。
【００８７】請求項２に記載の発明によれば、請求項１
に記載の発明の効果に加えて、平均化に用いられる時定
数が上側エンベロープ信号の生成に用いられる時定数よ
りも長いので、信号欠陥を確実に検出することが可能な
平均化信号を生成することができる。
に記載の発明の効果に加えて、平均化に用いられる時定
数が上側エンベロープ信号の生成に用いられる時定数よ
りも長いので、信号欠陥を確実に検出することが可能な
平均化信号を生成することができる。
【００８８】請求項３に記載の発明によれば、請求項１
又は２に記載の発明の効果に加えて、スライス信号生成
手段が上記電圧差を１対１の比で分圧してスライス信号
を生成するので、確実に信号欠陥を検出し得るスライス
信号を生成することができる。
又は２に記載の発明の効果に加えて、スライス信号生成
手段が上記電圧差を１対１の比で分圧してスライス信号
を生成するので、確実に信号欠陥を検出し得るスライス
信号を生成することができる。
【００８９】請求項４に記載の発明によれば、請求項１
から３のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、第
２上側エンベロープ信号と第３上側エンベロープ信号と
の差信号に基づいて生成された第２欠陥信号と欠陥検出
信号とを加算して加算信号を生成するので、当該加算信
号を用いることにより、長い信号欠陥と短い信号欠陥を
両立して検出することができる。
から３のいずれか一項に記載の発明の効果に加えて、第
２上側エンベロープ信号と第３上側エンベロープ信号と
の差信号に基づいて生成された第２欠陥信号と欠陥検出
信号とを加算して加算信号を生成するので、当該加算信
号を用いることにより、長い信号欠陥と短い信号欠陥を
両立して検出することができる。
【００９０】従って、あらゆる信号欠陥を確実に検出す
ることができる。
ることができる。
【００９１】請求項５に記載の発明によれば、請求項４
に記載の発明の効果に加えて、大小全ての信号欠陥を正
確に補償して情報を正確に再生することができる。
に記載の発明の効果に加えて、大小全ての信号欠陥を正
確に補償して情報を正確に再生することができる。
【図１】情報再生装置の概要構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】ディフェクト検出部の細部構成を示すブロック
図である。
図である。
【図３】ディフェクト検出部の動作を示す波形図であ
る。
る。
１…光ディスク ２…ピックアップ ３…再生部 ４…ディフェクト検出部 ５…トラキングエラー信号生成部 ６…フォーカスエラー信号生成部 ７…サーボ処理部 ８…スピンドルモータ １０…ＨＰＦ １１…第１ディフェクト検出部 １１Ａ、１１Ｂ、１２Ａ…上側エンベロープ検出器 １２…第２ディフェクト検出部 １２Ｂ…下側エンベロープ検出器 １３…論理和回路 １５、２０、２２、２７、３１、３６、３８、４４…オ
ペアンプ ２８、４６…減算器 １６、１７、２３、２４、３２、３３、３９、４０…ダ
イオード １８、２５、３４、４１…定電流源 １９、２６、３５、４２…コンデンサ ２１、３０、３７、４３、４７、４８…抵抗 ２９…コンパレータ ４５…ＬＰＦ Ｓ…情報再生装置 Ｂ…光ビーム Ｓrf…再生ＲＦ信号 Ｓp…再生信号 Ｓtp…トラッキングエラー検出信号 Ｓfp…フォーカスエラー検出信号 Ｓdf…ディフェクト信号 Ｓte…トラッキングエラー信号 Ｓfe…フォーカスエラー信号 Ｓtd…トラッキング駆動信号 Ｓsd…スピンドル制御信号 Ｓfd…フォーカス駆動信号 Ｓhrf…ハイパス信号 Ｓphl、Ｓphs、Ｓph…エンベロープ信号 Ｓbh…エンベロープ信号 Ｓff…スライス信号 Ｓlp…平均化信号 Ｓds…減算信号 Ｇ…閾値電圧発生器 ＤＡ、ＤＢ…ディフェクト
ペアンプ ２８、４６…減算器 １６、１７、２３、２４、３２、３３、３９、４０…ダ
イオード １８、２５、３４、４１…定電流源 １９、２６、３５、４２…コンデンサ ２１、３０、３７、４３、４７、４８…抵抗 ２９…コンパレータ ４５…ＬＰＦ Ｓ…情報再生装置 Ｂ…光ビーム Ｓrf…再生ＲＦ信号 Ｓp…再生信号 Ｓtp…トラッキングエラー検出信号 Ｓfp…フォーカスエラー検出信号 Ｓdf…ディフェクト信号 Ｓte…トラッキングエラー信号 Ｓfe…フォーカスエラー信号 Ｓtd…トラッキング駆動信号 Ｓsd…スピンドル制御信号 Ｓfd…フォーカス駆動信号 Ｓhrf…ハイパス信号 Ｓphl、Ｓphs、Ｓph…エンベロープ信号 Ｓbh…エンベロープ信号 Ｓff…スライス信号 Ｓlp…平均化信号 Ｓds…減算信号 Ｇ…閾値電圧発生器 ＤＡ、ＤＢ…ディフェクト
Claims (5)
- 【請求項１】 情報を検出して得られた検出信号のう
ち、当該検出信号のレベルが予め設定された所定の閾値
レベル未満となる前記検出信号である信号欠陥を検出す
る信号欠陥検出装置において、 前記検出信号における上側エンベロープを検出し、対応
する上側エンベロープ信号を生成する上側エンベロープ
信号生成手段と、 前記検出信号における下側エンベロープを検出し、対応
する下側エンベロープ信号を生成する下側エンベロープ
信号生成手段と、 前記生成された上側エンベロープ信号と前記生成された
下側エンベロープ信号とを用いて、当該上側エンベロー
プ信号と当該下側エンベロープ信号の電圧差を予め設定
された比で分圧した電圧を前記下側エンベロープ信号の
電圧に加算した電圧を有するスライス信号を生成するス
ライス信号生成手段と、 前記生成されたスライス信号を平均化し、平均化信号を
生成する平均化信号生成手段と、 前記生成された平均化信号と前記上側エンベロープ信号
とを比較し、当該上側エンベロープ信号の電圧が前記平
均化信号の電圧よりも低い期間に前記信号欠陥を示す欠
陥検出信号を出力する検出手段と、 を備えることを特徴とする信号欠陥検出装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の信号欠陥検出装置にお
いて、 前記平均化手段における平均化に用いられる時定数は、
前記上側エンベロープ信号の生成に用いられる時定数よ
りも長いことを特徴とする信号欠陥検出装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載の信号欠陥検出装
置において、 前記スライス信号生成手段は、前記電圧差を１対１の比
で分圧して前記スライス信号を生成することを特徴とす
る信号欠陥検出装置。 - 【請求項４】 請求項１から３のいずれか一項に記載の
信号欠陥検出装置を含む信号欠陥検出システムであっ
て、 前記上側エンベロープ信号の生成に用いられる時定数よ
りも長い時定数である第２時定数を用いて前記上側エン
ベロープを検出し、対応する第２上側エンベロープ信号
を生成する第２上側エンベロープ信号生成手段と、 前記第２時定数よりも長い時定数である第３時定数を用
いて前記上側エンベロープを検出し、対応する第３上側
エンベロープ信号を生成する第３上側エンベロープ信号
生成手段と、 前記生成された第３上側エンベロープ信号と前記生成さ
れた第２上側エンベロープ信号との差を示す差信号を生
成する差信号生成手段と、 前記生成された差信号と予め設定された閾値とを比較
し、当該差信号が前記閾値よりも大きい期間に前記信号
欠陥を示す第２欠陥検出信号を出力する第２検出手段
と、を備える第２信号欠陥検出装置と、 前記欠陥検出信号と前記第２欠陥検出信号とを加算し、
加算信号を生成する加算手段と、 を備えることを特徴とする信号欠陥検出システム。 - 【請求項５】 請求項４に記載の信号欠陥検出システム
と、 前記検出信号を生成する情報検出手段と、 前記加算信号に基づいて、前記信号欠陥を補償する補償
手段と、 前記信号欠陥が補償された前記検出信号に基づいて前記
情報を再生する再生手段と、 を備えることを特徴とする情報再生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317856A JPH11149636A (ja) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | 信号欠陥検出装置、信号欠陥検出システム及び情報再生装置 |
| US09/192,330 US6172953B1 (en) | 1997-11-19 | 1998-11-16 | Defect detector and information reproduction apparatus employing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317856A JPH11149636A (ja) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | 信号欠陥検出装置、信号欠陥検出システム及び情報再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11149636A true JPH11149636A (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=18092832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9317856A Pending JPH11149636A (ja) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | 信号欠陥検出装置、信号欠陥検出システム及び情報再生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6172953B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11149636A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1178486A3 (en) * | 2000-06-23 | 2004-03-31 | Pioneer Corporation | Servo control apparatus for optical disc driver |
| WO2004047087A1 (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-03 | Pioneer Corporation | 汚れ検出装置及び方法並びに光学式情報再生装置 |
| US7023782B2 (en) | 2001-10-24 | 2006-04-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dropout detection circuit and optical disc apparatus |
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|---|---|---|---|---|
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| JP3808683B2 (ja) * | 2000-03-01 | 2006-08-16 | 三菱電機株式会社 | 光ディスク装置 |
| US7016280B2 (en) * | 2001-01-25 | 2006-03-21 | Dphi Acquisitions, Inc. | Tracking and focus servo system with defect detection |
| US7522480B2 (en) | 2001-01-25 | 2009-04-21 | Dphi Acquisitions, Inc. | Digital tracking servo system with multi-track seek with an acceleration clamp |
| US6556292B2 (en) * | 2001-02-23 | 2003-04-29 | Seagate Technology Llc | Head slap characterization using optical surface analyzer |
| KR100850707B1 (ko) * | 2002-05-28 | 2008-08-06 | 삼성전자주식회사 | 광 디스크의 결함신호 발생장치 및 그 방법 |
| US6882611B2 (en) * | 2002-06-04 | 2005-04-19 | Media Tek Inc. | Method and apparatus for defect detection in optical disc drives |
| JP4245436B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2009-03-25 | パナソニック株式会社 | ディフェクト検出装置 |
| JP4187667B2 (ja) * | 2004-01-30 | 2008-11-26 | アルパイン株式会社 | 光ディスク再生装置 |
| US8164846B1 (en) | 2007-12-20 | 2012-04-24 | Marvell International Ltd. | Hybrid defect detection for recording channels |
| CN112712834B (zh) * | 2019-10-25 | 2024-09-06 | 长鑫存储技术(上海)有限公司 | 写操作电路、半导体存储器和写操作方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09237421A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Sony Corp | 記録再生装置および方法 |
-
1997
- 1997-11-19 JP JP9317856A patent/JPH11149636A/ja active Pending
-
1998
- 1998-11-16 US US09/192,330 patent/US6172953B1/en not_active Expired - Fee Related
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| EP1178486A3 (en) * | 2000-06-23 | 2004-03-31 | Pioneer Corporation | Servo control apparatus for optical disc driver |
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| US7567488B2 (en) | 2001-10-24 | 2009-07-28 | Panasonic Corporation | Dropout detection circuit and optical disc apparatus |
| WO2004047087A1 (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-03 | Pioneer Corporation | 汚れ検出装置及び方法並びに光学式情報再生装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6172953B1 (en) | 2001-01-09 |
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