KR100850707B1

KR100850707B1 - 광 디스크의 결함신호 발생장치 및 그 방법

Info

Publication number: KR100850707B1
Application number: KR1020020029556A
Authority: KR
Inventors: 박현수; 심재성
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2002-05-28
Filing date: 2002-05-28
Publication date: 2008-08-06
Also published as: US20030223145A1; US7057991B2; KR20030091484A

Abstract

본 발명은 광디스크에서 읽어낸 신호의 결함 여부를 검출하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 광 디스크 신호의 결함신호 발생장치는 소정의 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값의 평균값인 평균최대값을 구하는 평균최대값 검출부, 상기 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값의 평균값인 평균최소값을 구하는 평균최소값 검출부, 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최대값인 순시최대값을 구하는 순시최대값 검출부, 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최소값인 순시최소값을 구하는 순시최소값 검출부 및 상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 소정의 상위 문턱값 및 하위 문턱값을 기준으로 상기 RF 신호가 비정상임을 나타내는 결함신호를 발생시키는 결함신호 발생부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따르면 결함 신호를 정확히 판별할 수 있을 뿐만 아니라 결함 신호를 판별하는 조건을 조절할 수 있기 때문에 디스크 조건에 따라 원하는 사양에 맞는 결함 신호를 검출할 수 있다.

Description

광 디스크의 결함신호 발생장치 및 그 방법{Method of generating defect signal of optical disc and apparatus thereof}

도 1은 종래의 결함신호를 검출하는 장치의 구성도를 보이고 있으며,

도 2는 본 발명에 따른 결함신호 발생장치의 블록 구성도를 보이고 있으며,

도 3은 도 2의 평균 최대값 검출부에서 평균최대값을 검출하는 과정을 보이고 있으며,

도 4는 도 2의 평균 최소값 검출부에서 평균최소값을 검출하는 과정을 보이고 있으며,

도 5는 도 2의 순시 최대값 검출부에서 순시 최대값을 검출하는 과정을 보이고 있으며,

도 6은 도 2의 순시 최소값 검출부에서 순시 최소값을 검출하는 과정을 보이고 있으며,

도 7은 도 2의 결함신호 발생부에서 결함신호를 발생시키는 과정을 보이고 있다.

본 발명은 광디스크에서 읽어낸 신호의 결함 여부를 검출하는 것으로 특히 입력 신호의 크기에 상관없이 결함 신호를 정확히 감지하는 장치 및 그 방법에 관한 것이다.

광 디스크는 디스크 표면에 레이저를 쏘아 반사된 빛의 세기를 전기적 신호로 바꿈으로써 데이터를 읽는 구조를 가지고 있다. 이 때 읽어낸 전기적 신호를 RF(Radio Frequency) 신호라고 하는데 RF 신호를 이치화된 이진 신호로 바꾸고 바뀌어진 이진 신호는 복조 과정을 통해 필요한 용도로 쓰이게 된다. 그러나 실제로 광 디스크의 표면은 여러 가지 흠집이나 먼지 등이 묻어 있어 RF신호의 크기는 항상 일정하게 나오지 않는다. 또한 데이터를 디스크의 여러 부분에서 읽기 위해서는 광 디스크의 표면을 레이저가 내주에서 외주로 순차적으로만 읽는 것이 아니라 원하는 위치로 점프하는 경우도 있는데 이러한 점프 순간에 RF신호는 정상적인 경우에 비해 줄어든다. 이렇게 비정상적인 RF 신호가 입력되는 경우에 현재 신호가 비정상적이라는 것을 알려주는 신호를 결함(defect) 신호라고 한다.

도 1은 종래의 결함신호를 검출하는 장치의 구성도를 보이고 있다. 도 1을 참조하여 종래의 결함신호를 검출하는 방법을 설명하면, 종래에 결함 신호를 검출하는 방법은 입력 신호의 상한 치만을 추종하는 peak hold(101)회로와 하한 치만을 추종하는 bottom hold(102) 회로로 구성되어 있다. peak hold 회로(101)와 bottom hold 회로(102)는 일반적인 경우 필터를 사용해서 구성되며 입력 신호의 상한 치와 하한 치가 검출되면 검출된 상한 치와 하한 치에 비교기(comparator)(103)를 두어 일정한 레벨보다 크거나 작은 신호는 블랭크로 검출을 하게 된다.

이러한 종래의 기술에 의하면 입력 신호의 상한 치를 추종하는 PEAK HOLD 회로와 입력 신호의 하한 치를 추종하는 BOTTOM HOLD신호를 추출하는 회로의 경우 필터를 사용하기 때문에 입력 신호에 대해 빠른 추종을 할 수 없다. 만약 필터의 임계 주파수를 높여서 빠르게 추종을 할 경우 광디스크 RF 신호에 포함되어 있는 장 주기의 신호 대역을 침범함으로써 결함 신호가 제대로 검출되지 않는다는 단점이 있다. 따라서 정확한 시점에서의 정확한 결함 신호를 검출하기가 힘들다는 단점이 있다. 또 다른 문제점으로는 지문이나 디스크의 반사율 차이로 인해 RF 신호의 크기가 바뀌는 경우에 종래의 회로의 경우 peak hold나 bottom hold의 임계 치(threshold level)가 고정이 되어 있기 때문에 신호의 크기가 크게 바뀌면 결함 검출이 제대로 이루어지지 않는다는 단점이 있다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 상술한 문제점을 해결하기 위하여 광 디스크에서 읽어들인 신호인 입력신호의 크기의 변화에도 효율적으로 결함신호를 검출하는 방법 및 그 장치를 제공하는데 있다.

상기 문제점을 해결하기 위한 본 발명에 따른 광디스크의 결함신호 발생장치는 소정의 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값의 평균값인 평균최대값을 구하는 평균최대값 검출부, 상기 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값의 평균값인 평균최소값을 구하는 평균최소값 검출부, 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최대값인 순시최대값을 구하는 순시최대값 검출부, 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최소값인 순시최소값을 구하는 순시최소값 검출부 및 상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 소정의 상위 문턱값 및 하위 문턱값을 기준으로 상기 RF 신호가 비정상임을 나타내는 결함신호를 발생시키는 결함신호 발생부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

여기서 상기 평균최대값 검출부는 상기 입력받은 RF 신호를 소정의 시간간격 T1 별로 나누고, 상기 시간간격에 대응되는 RF 신호의 최대값들을 구한 후에, 마지막으로 입력받은 RF 신호의 최대값을 기준으로 소정 개수의 최대값들의 평균인 평균최대값을 구하는 것을 특징으로 할 수 있으며, 상기 평균최소값 검출부는 상기 입력받은 RF 신호를 소정의 시간간격 T2 별로 나누고, 상기 시간간격에 대응되는 RF 신호의 최소값들을 구한 후에, 마지막으로 입력받은 RF 신호의 최소값을 기준으로 소정 개수의 최소값들의 평균인 평균 최소값을 구하는 것을 특징으로 할 수 있고, 상기 순시최대값 검출부는 소정의 시간간격 T3 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값을 구하는 것을 특징으로 할 수 있다.

또한 상기 순시 최소값 검출부는 소정의 시간간격 T4 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값을 구하는 것을 특징으로 할 수 있으며, 상기 결함신호 발생부는 상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 상기 평균최대값에서 소정의 상위 문턱값을 뺀 값보다 상기 순시최대값이 작거나 상기 평균최소값에서 소정의 하위 문턱값을 뺀 값보다 상기 순시최소값이 큰 경우 에는 상기 결함신호를 발생시키고 그렇지 않은 경우에는 상기 결함신호를 종료시키는 것을 특징으로 할 수 있다.

상기 문제점을 해결하기 위한 본 발명에 따른 광디스크의 결함신호 발생방법은 (a) 광디스크에 기록된 데이터에 대응되는 RF 신호를 입력받는 단계, (b) 상기 RF 신호를 제공받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값의 평균값인 평균최대값을 구하는 단계, (c) 상기 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값의 평균값인 평균최소값을 구하는 단계, (d) 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최대값인 순시최대값을 구하는 단계, (e) 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최소값인 순시최소값을 구하는 단계 및 (f) 상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 소정의 상위 문턱값 및 하위 문턱값을 기준으로 상기 RF 신호가 비정상임을 나타내는 결함신호를 발생시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를(들을) 상세히 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 결함신호 발생장치의 블록 구성도를 보이고 있다. 도 2를 참조하면, 평균값 검출부(201), 평균최소값 검출부(202), 순시 최대값 검출부(203), 순시최소값 검출부(204)에는 RF 신호가 입력된다. 본 명세서에서 RF 신호란 광 디스크에서 픽업을 통해 읽어낸 신호가 pre-processing을 거친 신호를 말한다. pre-processing 이란 픽업에서 읽어낸 여러 가지 신호를 가공해서 이진 데이터 를 만들기 위한 합(summing)신호(RF 신호)를 만들어내는 역할을 한다.

평균값 검출부(201)는 위 RF 신호를 입력받고, 위 RF 신호의 평균최대값을 구하는 기능을 수행한다. 여기서 평균최대값이란 소정의 시간간격 별로 위 RF 신호를 구분한 후에 위 시간간격들에 대응되는 RF 신호들의 최대값들의 평균 값을 의미한다. 도 3은 도 2의 평균 최대값 검출부에서 평균최대값을 검출하는 과정을 보이고 있다. 먼저 입력된 RF 신호의 값이 초기화된 값을 갖는 변수 max 값 보다 큰지 여부를 판단(301)하여 참인 경우에는 위 RF 신호의 값을 위 변수 max에 저장(302)한다. 한편 위 301 단계에서 판단한 결과 거짓인 경우 또는 302 단계를 수행한 후에는 위에는 위 RF 신호를 입력받은 시간이 소정의 설정시간 T1보다 큰지 여부를 판단(303)한다. 위 303 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T1 시간보다 더 작은 경우에는 위 301 단계로 이동한다. 그리고 위 303 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T1 시간보다 더 큰 경우에는 위 변수 max에 저장되어 있는 값을 초기값으로 설정된 변수 sum에 저장되어 있는 값과 합을 구하여 위 변수 sum에 저장한다. 그리고 위 변수 sum에 합산된 변수 max에 저장되어 있는 값들의 개수를 카운트(304)한다. 위 카운트한 수가 소정의 개수보다 큰지 여부를 판단(305)하여 작은 경우에는 위 변수 max를 초기화시키고(307) 위 301 단계로 이동한다. 한편 위 305 단계에서 판단한 결과 위 카운트 수가 위 소정의 개수보다 큰 경우에는 위 변수 sum에 저장되어 있는 값과 위 카운트 수를 이용하여 위 변수 max에 저장되어 있던 최대 값들의 평균값을 구하여 출력하고 위 변수 sum과 카운트 수를 초기화(306)시킨 후에 위 307 단계로 이동하게 된다.

평균최소값 검출부(202)는 위 RF 신호를 입력받고, 위 RF 신호의 평균최소값을 구하는 기능을 수행한다. 여기서 평균최소값이란 소정의 시간간격 별로 위 RF 신호를 구분한 후에 위 시간간격들에 대응되는 RF 신호들의 최소값들의 평균값을 의미한다. 도 4는 도 2의 평균 최소값 검출부(202)에서 평균최소값을 검출하는 과정을 보이고 있다. 먼저 입력된 RF 신호의 값이 초기화된 값을 갖는 변수 min 값 보다 작은지 여부를 판단(401)하여 참인 경우에는 위 RF 신호의 값을 위 변수 min에 저장(402)한다. 한편 위 401 단계에서 판단한 결과 거짓인 경우 또는 402 단계를 수행한 후에는 위에는 위 RF 신호를 입력받은 시간이 소정의 설정시간 T2보다 큰지 여부를 판단(403)한다. 위 403 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T2 시간보다 더 작은 경우에는 위 401 단계로 이동한다. 그리고 위 403 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T2 시간보다 더 큰 경우에는 위 변수 max에 저장되어 있는 값을 초기 값으로 설정된 변수 sum에 저장되어 있는 값과 합을 구하여 위 변수 sum에 저장한다. 그리고 위 변수 sum에 합산된 변수 max에 저장되어 있는 값들의 개수를 카운트(404)한다. 위 카운트한 수가 소정의 개수보다 큰지 여부를 판단(405)하여 작은 경우에는 위 변수 min을 초기화시키고(407) 위 401 단계로 이동한다. 한편 위 405 단계에서 판단한 결과 위 카운트 수가 위 소정의 개수보다 큰 경우에는 위 변수 sum에 저장되어 있는 값과 위 카운트 수를 이용하여 위 변수 min에 저장되어 있던 최대 값들의 평균값을 구하여 출력하고 위 변수 sum과 카운트 수를 초기화(406)시킨 후에 위 407 단계로 이동하게 된다.

순시최대값 검출부(203)는 위 RF 신호를 입력받고, 위 RF 신호의 순시최대값을 구하는 기능을 수행한다. 여기서 순시최대값이란 위 RF 신호가 입력되는 당시의 최대값을 의미하거나 또는 작은 시간간격 동안에 입력된 위 RF 신호 중의 최대값을 의미한다. 도 5는 도 2의 순시 최대값 검출부에서 순시 최대값을 검출하는 과정을 보이고 있다. 먼저 입력된 RF 신호의 값이 초기화된 값을 갖는 변수 peak 값 보다 큰지 여부를 판단(501)하여 참인 경우에는 위 RF 신호의 값을 위 변수 peak에 저장(502)한다. 한편 위 501 단계에서 판단한 결과 거짓인 경우 또는 502 단계를 수행한 후에는 위에는 위 RF 신호를 입력받은 시간이 소정의 설정시간 T3보다 큰지 여부를 판단(503)한다. 위 503 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T3 시간보다 더 작은 경우에는 위 501 단계로 이동한다. 그리고 위 503 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T3 시간보다 더 큰 경우에는 위 변수 peak 에 저장되어 있는 값을 순시최대값으로 출력하고 위 변수 peak를 초기화시킨(504)후에 위 501 단계로 이동한다.

순시최소값 검출부(204)는 위 RF 신호를 입력받고, 위 RF 신호의 순시최소값을 구하는 기능을 수행한다. 여기서 순시최소값이란 위 RF 신호가 입력되는 당시의 최소값을 의미하거나 또는 작은 시간간격 동안에 입력된 위 RF 신호 중의 최소값을 의미한다. 도 6은 도 2의 순시 최소값 검출부(204)에서 순시 최소값을 검출하는 과정을 보이고 있다. 먼저 입력된 RF 신호의 값이 초기화된 값을 갖는 변수 bottom 값 보다 작은지 여부를 판단(601)하여 참인 경우에는 위 RF 신호의 값을 위 변수 bottom 에 저장(602)한다. 한편 위 601 단계에서 판단한 결과 거짓인 경우 또는 602 단계를 수행한 후에는 위에는 위 RF 신호를 입력받은 시간이 소정의 설정시간 T4보다 큰지 여부를 판단(603)한다. 위 603 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T3 시간보다 더 작은 경우에는 위 601 단계로 이동한다. 그리고 위 603 단계에서 판단한 결과 위 RF 신호를 입력받은 시간이 위 T4 시간보다 더 큰 경우에는 위 변수 bottom 에 저장되어 있는 값을 순시최소값으로 출력하고 위 변수 bottom를 초기화시킨(604)후에 위 601 단계로 이동한다.

결함신호 발생부(205)는 위 평균최대값, 평균최소값, 순시최대값, 순시최소값을 입력받고, 소정의 미리 설정된 상위 문턱값 및 하위 문턱값에 기초하여 위 입력된 RF 신호에 결함이 존재하는지 여부를 판정하여 결함이 있는 경우에는 결함신호를 발생시키는 기능을 수행한다.

위 결함신호 발생부(205)는 아래의 수학식 1과 같은 논리식에 따라서 결함신호를 발생시킨다.

if ((평균최대값l-상위 문턱값)>순시최대값)

or (평균최소값-하위 문턱값)<순시최소값))

then 결함신호를 발생시킴

else 결함신호를 발생시키지 않음.

도 7은 도 2의 결함신호 발생부에서 결함신호를 발생시키는 과정을 보이고 있다. 먼저 평균최대값, 평균최소값, 순시최대값, 순시최소값을 입력받고(701), 소정의 상위 문턱 값 및 하위 문턱 값을 설정(702)받는다. 그리고 평균최대값에서 상위 문턱 값을 뺀 값이 위 순시최대값 보다 큰지 여부를 판단(703)한다. 그 결과 거짓인 경우에는 평균최소값에서 하위 문턱 값을 뺀 값이 순시최소값보다 작은지 여부를 판단(704)한다. 위 703 단계에서 참이거나 위 704 단계에서 참인 경우에는 위 결함신호를 발생(705)시킨다. 한편 위 704 단계에서 거짓인 경우에는 결함신호를 발생시키지 않는다(706). 그리고 위 701 단계로 이동하게 된다.

한편 본 발명에 따른 결함신호 발생장치는 위 결함 신호를 능동적으로 검출하기 위한 위 상위 및 하위 문턱 값을 설정하는 제어부(도면에 미 도시)를 더 포함할 수 있다. 위 제어부는 일반적으로 마이컴이나 기타 프로그램이 가능한 디지털 회로로부터 결함 검출에 필요한 각종 신호를 발생하는 역할을 하도록 할 수 있으며, 이때 상위 문턱 값(peak threshold), 하위 문턱 값(bottom threshold)외에 최대값 검출 주기(T1), 평균최대값을 구하기 위한 최대값들의 개수, 최소값 검출 주기(T2), 평균 최소값을 검출하기 위한 최소값의 개수, 순시 최대치 검출 주기(T3), 순시 최소치 검출 주기(T4)를 출력하는 역할을 수행할 수 있다.

그리고 위 과정을 통하여 검출된 결함 신호는 다양한 용도로 사용될 수 있는데 그 중 한 실시예는 위상동기 제어 루프(PLL circuit)에 입력되어 결함 신호가 검출되는 동안 위상 동기 제어 루프를 휴지(hold)시킴으로써 잘못된 신호가 들어와 회로가 오동작하는 경우를 막는 용도에 사용할 수 있다. 위상동기 제어 루프의 실시예는 한국 특허출원번호 10-1999-0019020에 상세히 설명되어 있으므로 여기서는 더 이상의 언급은하지 않겠다.

일반적인 경우에 위 평균최대치 또는 평균최소치를 구하는 주기인 T1, T2는 순시최대치나 순시최소치를 구하는 주기인 T3, T4에 비해 큰 값이 사용되며, 평균값을 구하기위한 최대값 또는 최소값들의 개수는 A1, A2의 값은 64~256 정도로 제어 수단에 의해 자유롭게 값을 바꿀 수 있다.

한편, 상술한 본 발명의 실시예들은 컴퓨터에서 실행될 수 있는 프로그램으로 작성가능하고, 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 이용하여 상기 프로그램을 동작시키는 범용 디지털 컴퓨터에서 구현될 수 있다.

상기 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체는 마그네틱 저장매체(예를 들면, 롬, 플로피 디스크, 하드디스크 등), 광학적 판독 매체(예를 들면, 씨디롬, 디브이디 등) 및 캐리어 웨이브(예를 들면, 인터넷을 통한 전송)와 같은 저장매체를 포함한다.

이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.

본 발명에서 제시하는 결함 검출 회로를 사용할 경우 입력 신호의 크기를 자동으로 판별한 다음 판별된 크기에 대해 일정 크기 이상의 이상 신호가 발생되면 결함 신호로 판단을 하기 때문에 원하는 결함 신호를 정확히 판별할 수 있을 뿐만 아니라 결함 신호를 판별하는 조건을 제어 수단에 의해 조절할 수 있기 때문에 디스크 조건에 따라 원하는 사양에 맞는 결함 신호를 검출할 수 있다. 또한 검출된 결함 신호를 PLL에 사용함으로써 PLL의 오동작을 막을 수 있기 때문에 전체적인 시스템 성능이 향상되는 효과가 있다.

Claims

소정의 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값의 평균값인 평균최대값을 구하는 평균최대값 검출부;

상기 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값의 평균값인 평균최소값을 구하는 평균최소값 검출부;

상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최대값인 순시최대값을 구하는 순시최대값 검출부;

상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최소값인 순시최소값을 구하는 순시최소값 검출부; 및

상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 소정의 상위 문턱값 및 하위 문턱값을 기준으로 상기 RF 신호가 비정상임을 나타내는 결함신호를 발생시키는 결함신호 발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생장치.
제1항에 있어서, 상기 평균최대값 검출부는

상기 입력받은 RF 신호를 소정의 시간간격 T1 별로 나누고, 상기 시간간격에 대응되는 RF 신호의 최대값들을 구한 후에, 마지막으로 입력받은 RF 신호의 최대값을 기준으로 소정 개수의 최대값들의 평균인 평균최대값을 구하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생장치.
제1항에 있어서, 상기 평균최소값 검출부는

상기 입력받은 RF 신호를 소정의 시간간격 T2 별로 나누고, 상기 시간간격에 대응되는 RF 신호의 최소값들을 구한 후에, 마지막으로 입력받은 RF 신호의 최소값을 기준으로 소정 개수의 최소값들의 평균인 평균 최소값을 구하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생장치.
제1항에 있어서, 상기 순시최대값 검출부는

소정의 시간간격 T3 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값을 구하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생장치.
제1항에 있어서, 상기 순시 최소값 검출부는

소정의 시간간격 T4 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값을 구하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생장치.
제1항에 있어서, 상기 결함신호 발생부는

상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 상기 평균최대값에서 소정의 상위 문턱값을 뺀 값보다 상기 순시최대값이 작거나 상기 평균최소값에서 소정의 하위 문턱값을 뺀 값보다 상기 순시최소값이 큰 경우에는 상기 결함신호를 발생시키고 그렇지 않은 경우에는 상기 결함신호를 종료시키는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생장치.
(a) 광디스크에 기록된 데이터에 대응되는 RF 신호를 입력받는 단계;

(b) 상기 RF 신호를 제공받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최대값의 평균값인 평균최대값을 구하는 단계;

(c) 상기 RF 신호를 입력받고, 소정의 기간간격 동안 입력받은 상기 RF 신호의 최소값의 평균값인 평균최소값을 구하는 단계;

(d) 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최대값인 순시최대값을 구하는 단계;

(e) 상기 RF 신호를 입력받고, 입력받는 당시의 상기 RF 신호의 최소값인 순시최소값을 구하는 단계; 및

(f) 상기 평균최대값, 상기 평균최소값, 상기 순시최대값, 상기 순시최소값을 제공받고, 소정의 상위 문턱값 및 하위 문턱값을 기준으로 상기 RF 신호가 비정상임을 나타내는 결함신호를 발생시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함신호 발생방법.
제7항의 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.