JP2007051985A - ジッタ測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 最小周期の読取り誤差の影響を受けずに、精度の高いジッタ測定を行う。
【解決手段】 RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路57と、INH信号を入力し、最小周期の区間の位相情報を除いてクロック信号を抽出するPLL回路53〜56と、INH信号を入力し、最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行い、スライスレベルを出力するスライスレベル出力回路60と、RF信号とスライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路59であって、INH信号を入力し、最小周期の区間を2値化しない2値化回路とを備えた。
【選択図】 図5
【解決手段】 RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路57と、INH信号を入力し、最小周期の区間の位相情報を除いてクロック信号を抽出するPLL回路53〜56と、INH信号を入力し、最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行い、スライスレベルを出力するスライスレベル出力回路60と、RF信号とスライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路59であって、INH信号を入力し、最小周期の区間を2値化しない2値化回路とを備えた。
【選択図】 図5
Description
本発明は、ジッタ測定装置に関し、より詳細には、光ディスクに記録された情報を読取って、再生された信号のジッタを測定するジッタ測定装置に関する。
CD、DVDなどの光ディスクに記録された情報は、ディスク面に形成されたピットの有無をレーザ光の反射によって検出することにより、「1」、「0」の2値化信号として読取られる。ディスク面に形成するピット(以下、マークともいう)とスペースの大きさ、すなわちトラックの幅と最小周期は、レーザ光のディスク面上のスポット径に応じて決められている。
図1に、従来の光ディスクに記録された情報の読取りの方法を示す。図1(a)は、光ディスク上の1本のトラックに形成されたピットを示す。ここでは、レーザ光のスポット径SPが、隣り合うマーク/スペースにかかる周期を2Tとして、最小周期が決められている。このトラック上を走査するレーザ光を、電気信号に変換したRF信号を図1(b)に示す。RF信号を所与のスライスレベルSLと比較し、スライスレベルSLよりも高ければマーク、すなわち「1」と、スライスレベルSLよりも低ければスペース、すなわち「0」と判定して、2値化信号に変換する(図1(c)参照)。
従来の高密度記録方式の読取装置では、周期3Tのマーク/スペースは、スライスレベルSLとの比較により、「1」、「0」の2値化信号として識別することができる。しかしながら、図1(b)に示したように、周期2Tのマーク/スペースの区間A,Bは、RF信号がスライスレベルSLによって判定できる程度に振幅を有していない。そこで、従来の読取装置では、レーザ光の検出回路の応答特性が既知であることを前提に、最尤復号アルゴリズムを用いて、識別を行っていた。従って、前後のマーク/スペースから受ける符号間干渉の影響が除去され、Aの区間を周期2Tのスペースと判定し、Bの区間を、周期2Tのマーク、スペース、マークと判定していた。
このようにして、従来の高密度記録方式の読取装置は、レーザ光のスポット径Sが、隣り合うマーク/スペースにかかる周期2Tであっても、最尤復号アルゴリズムを用いて、さらには誤り訂正符号を併用することにより、マーク/スペースを判定していた。
一方、ジッタ測定装置は、基準となる検出回路を用いて、光ディスクに記録されたピットの精度を評価し、または、基準となる光ディスクを用いて、読取装置のレーザ光の検出回路の検出精度を評価する。従って、最尤復号アルゴリズムを用いて光ディスクに記録された情報を復号できたとしても、2値化信号にはジッタを含んでいるので、RF信号の振幅が、スライスレベルSLによって判定できる程度の振幅を有していなければ、ジッタ測定装置は、正確なジッタを測定することができない。なぜならば、図1(c)の2値化信号に編みかけで示したように、RF信号がスライスレベルSL近傍を上下するために、ジッタ量が増大するからである。そこで、高密度記録方式の光ディスク、読取装置のジッタ測定では、周期2Tのジッタ測定値を除いて評価を行っていた(例えば、非特許文献1参照)。
図2に、従来のジッタ測定装置の構成を示す。検出回路のピックアップから再生されたRF信号は、イコライザ21により等化された後、スライサ22によりスライスレベルと比較され、2値化信号に変換される。2値化信号は、位相比較器23、ループフィルタ24およびVCO(Voltage Controlled Oscillator)25が縦続接続されたPLL(Phase Locked Loop)回路に入力され、PLL回路から再生されたクロック信号が出力される。また、2値化信号は、タイムインターバル測定回路26に入力され、2値化信号の立上がり/立下がりエッジとクロック信号の立上がり/立下がりエッジとが比較されて、タイムインターバル測定回路26からジッタ量の測定結果が出力される。
さらに、2値化信号は、2Tパルス検出回路27に入力される。2Tパルス検出回路27は、図1(c)に示したデジタル信号のマーク/スペースの幅を検出し、マーク/スペースの幅が周期3T以下ならば、周期2Tのマーク/スペースと判定して、INH信号を出力する。ヒストグラム作成回路28は、タイムインターバル測定回路26からのジッタ量の測定結果を、2T,3T,4T・・・の周期ごとに積算し、ヒストグラムを求める。このとき、上述したように、周期2Tのジッタ量は、正確な値を反映していない可能性があるので、2Tパルス検出回路27からのINH信号により、ヒストグラムとしての積算を行わない。
小宮山他、「ディジタルジッタメータTA220」、横河技報、Vol.49, No.1. pp.9-12, 2005
上述したように、従来の高密度記録方式の読取装置によって、周期2Tのマーク/スペースを読取ることができるとしても、ジッタ測定装置においては、レーザ光の検出回路おける応答特性のわずかな変動、スライスレベルのわずかな変動により、周期2Tのマーク/スペースを判定することができない。図3に、周期2Tのマーク/スペースの区間Bにおける判定の方法を示す。図3(b)に示すように、RF信号のわずかな歪みにより、図3(c)に示すように、周期2Tのマーク/スペースを他の周期のマーク/スペースと判定する可能性があった。従って、周期2Tのジッタ測定値を除いて評価を行っても、他の周期の測定結果に影響を与えてしまうという問題があった。
また、従来のジッタ測定装置では、スライサ22から出力された2値化信号をPLL回路に入力して、クロック信号を再生していたので、周期2Tの2値化信号の位相情報も、クロック信号の再生に用いられる。従って、タイムインターバル測定回路26におけるジッタ測定の基準となるクロック信号にも、周期2Tのジッタを含むため、ジッタ測定の精度が劣化するという問題もあった。
さらに、従来のジッタ測定装置におけるスライサ22は、スライスレベルSLの変動がジッタ測定に影響を与えるという問題もあった。図4に、従来のジッタ測定装置におけるスライスレベル出力回路を示す。スライスレベル出力回路29は、スライサ22から出力される2値化信号を、積分回路によって平均化して、その平均値をスライスレベルSLとして出力している。図1(a)に示したように、トラック上に形成されたピットは、方形ではなく丸みをおびており、同じ周期のマーク/スペースを比較すると、スペースの面積の方が広い。従って、周期が小さくなるほど、マーク/スペースの面積比は大きくなるので、スライサ22から出力される2値化信号の幅にも、面積比に応じたオフセットが生じる。すなわち、図3(b)に一点鎖線で示したように、周期が短くなるほど、スライスレベルSLが低くなってしまい、正確なジッタ測定を行うことができない。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、最小周期の読取り誤差の影響を受けずに、精度の高いジッタ測定を行うことのできるジッタ測定装置を提供することにある。
本発明は、このような目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、光ディスクの読取装置の検出回路から出力されたRF信号を、2値化信号に変換した際のジッタを測定するジッタ測定装置において、前記RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路(57)と、前記RF信号とスライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路(59)であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間を2値化しない2値化回路とを備えたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のジッタ測定装置において、前記RF信号を平均化して前記スライスレベルを出力するスライスレベル出力回路(60)であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行うスライスレベル出力回路をさらに備えたことを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載のジッタ測定装置において、前記RF信号からクロック信号を抽出するPLL回路(53〜56)であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出するPLL回路をさらに備えたことを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、光ディスクの読取装置の検出回路から出力されたRF信号を、2値化信号に変換した際のジッタを測定するジッタ測定方法において、前記RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路と、前記RF信号からクロック信号を抽出するPLL回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出するPLL回路と、前記RF信号を平均化してスライスレベルを出力するスライスレベル出力回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行うスライスレベル出力回路と、前記RF信号と前記スライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間を2値化しない2値化回路とを備えたことを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、光ディスクの読取装置の検出回路から出力されたRF信号を、2値化信号に変換した際のジッタを測定するジッタ測定装置であって、前記RF信号からクロック信号を抽出するPLL回路と、前記RF信号を平均化してスライスレベルを出力するスライスレベル出力回路と、前記RF信号と前記スライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路とを含むジッタ測定装置において、前記RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路を備え、前記PLL回路は、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出し、前記スライスレベル出力回路は、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行い、前記2値化回路は、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間を2値化しないことを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、2値化される前に、RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力するので、スライスレベルの変動の影響を受けることなく、最小区間を検出することができる。また、このINH信号により、最小周期のマーク/スペースの区間を2値化しないので、精度の高いジッタ測定を行うことが可能となる。
また、本発明によれば、INH信号により、最小周期の振幅情報を除いて平均化を行って、スライスレベルを出力するので、最小周期におけるマーク/スペースの面積比に応じたオフセットの影響を排除することができる。
さらに、本発明によれば、INH信号により、最小周期の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出するので、再生されたクロック信号には、最小周期のジッタを含まないので、精度の高いジッタ測定を行うことが可能となる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。
図5に、本発明の一実施形態にかかるジッタ測定装置の構成を示す。検出回路のピックアップから再生されたRF信号は、A/D変換器51によりデジタル信号に変換され、イコライザ52により等化されて、等化信号として出力される。等化信号は、位相検出器53、D/A変換器54、ループフィルタ55およびVCO56が縦続接続されたPLL回路に入力され、PLL回路から再生されたクロック信号が出力される。再生されたクロック信号は、A/D変換器51に入力され、デジタル信号の位相情報として、イコライザ52を経て位相検出器53にフィードバックされる。
図5に、本発明の一実施形態にかかるジッタ測定装置の構成を示す。検出回路のピックアップから再生されたRF信号は、A/D変換器51によりデジタル信号に変換され、イコライザ52により等化されて、等化信号として出力される。等化信号は、位相検出器53、D/A変換器54、ループフィルタ55およびVCO56が縦続接続されたPLL回路に入力され、PLL回路から再生されたクロック信号が出力される。再生されたクロック信号は、A/D変換器51に入力され、デジタル信号の位相情報として、イコライザ52を経て位相検出器53にフィードバックされる。
また、等価信号は、2Tパルス検出回路57に入力される。2Tパルス検出回路57は、デジタル信号に変換されたRF信号の振幅と時間幅を検出し、周期2Tのマーク/スペースを判定して、その区間を示すINH信号を出力する。従来のジッタ測定装置では、2値化信号のマーク/スペースの幅に基づいて、周期2Tのマーク/スペースを判定していたが、本実施形態においては、2値化される前のデジタル信号の振幅と時間幅に基づいて判定するので、スライスレベルSLの変動の影響を受けることはない。
INH信号は、位相検出器53に入力される。位相検出器53では、INH信号により、周期2Tの位相情報をD/A変換器54に出力しないので、再生されたクロック信号には、周期2Tのジッタを含まない。
さらに、等価信号は、D/A変換器58により元のRF信号に戻され、スライサ59に入力され、スライサ59によりスライスレベルと比較され、2値化信号に変換される。ここで、スライスレベルは、スライスレベル出力回路60から供給される。スライスレベル出力回路60は、イコライザ52からの等化信号を平均化して、その平均値をD/A変換器61を介してスライスレベルSLとして出力する。このとき、スライスレベル出力回路60は、2Tパルス検出回路57からのINH信号を入力し、平均値を算出する上で、周期2Tの振幅情報を用いない。従って、周期2Tにおけるマーク/スペースの面積比に応じたオフセットの影響を排除することができる。
2Tパルス検出回路57からのINH信号は、スライサ59にも入力される。スライサ59は、周期2Tにおけるマーク/スペースの判定を行わない。具体的には、周期2Tの区間を、例えば、その直前に判定したマークまたはスペースを保持して出力する。
スライサ59からの2値化信号は、タイムインターバル測定回路62に入力され、2値化信号の立上がり/立下がりエッジとクロック信号の立上がり/立下がりエッジとが比較されて、タイムインターバル測定回路62からジッタ量の測定結果が出力される。ヒストグラム作成回路63は、タイムインターバル測定回路26からのジッタ量の測定結果を、2T,3T,4T・・・の周期ごとに積算し、ヒストグラムを求める。このとき、上述したように、周期2Tのマーク/スペースは、すべて除去されているため、ジッタ量の積算を行わない。
本実施形態では、RF信号がスライサ59に入力される前に、周期2Tのマーク/スペースを検出し、2Tパルス検出回路57からINH信号を出力する。従って、周期2Tの判定において、レーザ光の検出回路おける応答特性のわずかな変動、スライスレベルのわずかな変動の影響を受けることはない。さらに、このINH信号を利用して、クロック信号から周期2Tのジッタを取り除き、スライスレベルの変動を抑制することができるので、最小周期の読取り誤差の影響を受けずに、精度の高いジッタ測定を行うことができる。
図6に、本発明の一実施形態にかかるジッタ測定装置の測定結果を示す。図6(a)にヒストグラム作成回路63からの出力結果を示し、比較のため、図6(b)に従来のジッタ測定装置の出力結果を示す。従来のジッタ測定装置では、周期2Tのジッタ測定値を除いて評価を行っても、他の周期の測定結果に影響を与えてしまうので、正確なジッタ測定を行うことができなかった。
本実施形態では、最小周期である周期2Tのマーク/スペースを検出し、スライサ59において、2値化を行わないので、他の周期の測定結果に影響を与えることがない。従って周期2Tを除いた測定結果は、周期2Tの影響を受けない正確な測定結果を得ることができる。
21,52 イコライザ
22,59 スライサ
23 位相比較器
24,55 ループフィルタ
25,56 VCO
26,62 タイムインターバル測定回路
27,57 2Tパルス検出回路
28,63 ヒストグラム作成回路
29,60 スライスレベル出力回路
51 A/D変換器
53 位相検出器
54,58,61 D/A変換器
22,59 スライサ
23 位相比較器
24,55 ループフィルタ
25,56 VCO
26,62 タイムインターバル測定回路
27,57 2Tパルス検出回路
28,63 ヒストグラム作成回路
29,60 スライスレベル出力回路
51 A/D変換器
53 位相検出器
54,58,61 D/A変換器
Claims (5)
- 光ディスクの読取装置の検出回路から出力されたRF信号を、2値化信号に変換した際のジッタを測定するジッタ測定装置において、
前記RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路と、
前記RF信号とスライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間を2値化しない2値化回路と
を備えたことを特徴とするジッタ測定装置。 - 前記RF信号を平均化して前記スライスレベルを出力するスライスレベル出力回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行うスライスレベル出力回路をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載のジッタ測定装置。
- 前記RF信号からクロック信号を抽出するPLL回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出するPLL回路をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2に記載のジッタ測定装置。
- 光ディスクの読取装置の検出回路から出力されたRF信号を、2値化信号に変換した際のジッタを測定するジッタ測定方法において、
前記RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路と、
前記RF信号からクロック信号を抽出するPLL回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出するPLL回路と、
前記RF信号を平均化してスライスレベルを出力するスライスレベル出力回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行うスライスレベル出力回路と、
前記RF信号と前記スライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路であって、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間を2値化しない2値化回路と
を備えたことを特徴とするジッタ測定装置。 - 光ディスクの読取装置の検出回路から出力されたRF信号を、2値化信号に変換した際のジッタを測定するジッタ測定装置であって、前記RF信号からクロック信号を抽出するPLL回路と、前記RF信号を平均化してスライスレベルを出力するスライスレベル出力回路と、前記RF信号と前記スライスレベルとを比較して2値化信号を出力する2値化回路とを含むジッタ測定装置において、
前記RF信号の振幅と時間幅に基づいて、最小周期のマーク/スペースを検出し、最小周期の区間を示すINH信号を出力する検出回路を備え、
前記PLL回路は、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の位相情報を除いて前記クロック信号を抽出し、前記スライスレベル出力回路は、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間の振幅情報を除いて平均化を行い、前記2値化回路は、前記INH信号を入力し、前記最小周期の区間を2値化しないことを特徴とするジッタ測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005239105A JP2007051985A (ja) | 2005-08-19 | 2005-08-19 | ジッタ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
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JP2005239105A Pending JP2007051985A (ja) | 2005-08-19 | 2005-08-19 | ジッタ測定装置 |
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Country | Link |
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2005
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