JP2001014691A - 光ディスク装置のディフェクト装置 - Google Patents

光ディスク装置のディフェクト装置

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JP2001014691A
JP2001014691A JP18388899A JP18388899A JP2001014691A JP 2001014691 A JP2001014691 A JP 2001014691A JP 18388899 A JP18388899 A JP 18388899A JP 18388899 A JP18388899 A JP 18388899A JP 2001014691 A JP2001014691 A JP 2001014691A
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JP
Japan
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signal
defect
pickup
gain
servo system
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Pending
Application number
JP18388899A
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English (en)
Inventor
Hiromitsu Yamakoshi
博光 山越
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ディフェクト回路で光ディスクの傷やブラッ
クドットを検出する際に、ディフェクトが解除後も続く
検出できないレベルのエラー信号の変動についても対応
し、プレイヤビリティの改善を行う。 【解決手段】 ディフェクト回路でのピックアップサー
ボを間欠的に切り換えて、ディフェクトが解除された
後、ピックアップサーボの増幅度を減少させるゲイン低
下手段を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置に関
し、特にディフェクト装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスクの再生、又は記録において、
光ディスクの反射光からフォーカスエラー信号とトラッ
キングエラー信号を検出してピックアップサーボを行う
場合、光ディスクの傷やブラックドット等でエラー信号
が乱れると、ピックアップサーボが外れてプレイヤビリ
ティが悪化するという問題がある。これを改善するため
に、従来は、ディスクの傷やブラックドットを前記ディ
フェクト装置で検出して、検出期間中に、エラー信号を
ミュートしたり、前値ホールドしたりするようにしてい
た。
【0003】このディフェクト装置の改良については、
ディフェクト検出期間中、サーボ系にローパスフィルタ
を挿入したり、反射光のレベルを検出し、該レベルによ
ってサーボ系のゲインを下げるか、或いはエラー信号の
ホールドを行うかを切り換えて使用する等の方法があ
る。これらは、特開平7−192285号公報に記載さ
れている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
のディフェクト装置は、RF信号の定められたしきい値
から検出するディフェクト期間にのみ動作するものであ
り、ディフェクトが解除された後も続くディフェクト検
出ができないレベルのエラー信号の変動については、対
応していないという欠点を有していた。このため、ピッ
クアップが光ディスクの傷やブラックドット等を通過し
て、ディフェクトが解除された後のプレイヤビリティに
ついては改善されていない。
【0005】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は光ディスクの記録および再生中に、
ディフェクト回路で検出できないレベルのエラー信号の
変動についても対応し、プレイヤビリティの改善を実現
できる光ディスク装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明の請求項1に記載の光ディスク装置では、少
なくとも、光ディスク上にレーザピックアップからレー
ザ光を照射してデータの記録または再生を行う手段と、
前記レーザピックアップを制御するためのピックアップ
サーボ系と、光ディスク上の傷やあるいはブラックドッ
トを検出するディフェクト検出手段と、検出する際、デ
ィフェクト回路内での前記ピックアップサーボ系をOF
Fするスイッチを間欠的に動作させる間欠動作手段と、
レーザピックアップが光ディスクの傷あるいはブラック
ドットを通過して前記ディフェクトが解除された後、ピ
ックアップサーボ系のスイッチを再びONしてからの一
定時間、ピックアップサーボ系のゲインを低下させるゲ
イン低下手段を有したことを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の請求項1に対応
する発明の実施の形態1について、図1、図2を参照し
ながら説明する。尚、ここで示す実施の形態はあくまで
も一例であって、必ずしもこの実施の形態に限定される
ものではない。
【0008】(実施の形態1)図1は本発明に係る光デ
ィスク装置におけるディフェクト装置のブロック図を示
している。図1において、1は光ディスク、2はピック
アップ、3はアクチュエータ駆動回路である。4はスピ
ンドルモータである。5はRF増幅器である。6はサー
ボプロセッサである。7は単安定マルチバイブレータで
ある。8はゲイン切り換え回路である。
【0009】以上のように構成された、本発明のディフ
ェクト制御装置の各構成部位について詳述する。2は光
ディスク1にレーザ光を照射するピックアップ、3はピ
ックアップ2の対物レンズをフォーカス方向、トラッキ
ング方向に駆動させるためのアクチュエータ駆動回路で
ある。
【0010】4は光ディスク1を回転させるスピンドル
モータである。5はRF信号からエラー信号5aとディ
フェクト信号5bを検出するRF増幅器である。
【0011】6は光ディスクの傷やブラックドットでデ
ィフェクト信号5bが検出されると、検出期間中、ピッ
クアップサーボ系をミュートしたり、エラー信号をホー
ルドするためのサーボプロセッサである。
【0012】7は、ディフェクト信号5bが、光ディス
ク1の傷やブラックドットで検出されたあと、ディフェ
クト検出を解除する時に、ディフェクト信号の波形エッ
ジでトリガがかかり、外付けR、Cの時定数で決まる時
間だけゲイン切り換え信号7aを出力する単安定マルチ
バイブレータである。
【0013】8はその単安定マルチバイブレータ7の出
力7aで切り換えスイッチ8aが制御されて、サーボ系
のゲインが切り換えられる、ゲイン切り換え回路であ
る。
【0014】以上のように構成された本発明の実施の形
態1にかかる光ディスク装置のディフェクト装置につい
て、以下、その動作を説明する。スピンドルモータ4を
スピンアップさせて光ディスク1を動作させると、ピッ
クアップ2は光ディスク1に対してレーザ光を照射し、
その反射光量によって、RF信号を生成する。そしてそ
のRF信号から、RF増幅器5によってエラー信号5a
とディフェクト信号5bを検出する。ディフェクト信号
5bを検出すると、検出期間中、サーボプロセッサ6に
よってピックアップサーボ系をミュートしたり、エラー
信号をホールドする。
【0015】図2は本発明の実施の形態1に係るディフ
ェクト装置の動作時の信号波形を示す図である。 (a)は光ディスクからのRF信号波形を示している。
区間αの箇所で、RF信号が、光ディスクの傷やブラッ
クドットを通過している一定期間、RF信号を停止させ
ている。
【0016】(b)はディフェクト信号を示している。
このディフェクト信号は、区間α時に、(a)のRF信
号が定められたレベル以下になるとディフェクト検出が
開始される。
【0017】(c)は単安定マルチバイブレータ出力を
示している、ディフェクト信号(b)の停止直後、区間
αの終了と同時に、一定期間出力される。この出力によ
り、ディフェクト検出解除後の一定期間、ピックアップ
サーボ系のゲインを低下させている。
【0018】(d)はRF増幅器5によって検出される
エラー信号を示している。図を見てもわかるとおり、区
間αでディフェクト検出をして、エラー信号がホールド
されている。ディフェクト検出解除後、区間βでゲイン
が低下されている。
【0019】このように区間βでピックアップサーボ系
のゲインを低下させることで、ディフェクト解除後も続
いている、対物レンズの不必要な追従を抑えることが出
来る。
【0020】つまり、光ディスク上の傷やブラックドッ
トを検出するディフェクト信号を解除する時、信号波形
のエッジをトリガにして解除後も一定期間サーボ系のゲ
インを低下させることが可能になり、ディフェクト解除
後もRF信号が変動している間は続くエラー信号の乱れ
による対物レンズの不必要な追従を抑えることで、安定
なピックアップサーボを実現し、プレイヤビリティの改
善を行う効果がある。
【0021】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項1記載の
光ディスク装置のディフェクト装置によれば、レーザピ
ックアップを制御するためのピックアップサーボ系と、
光ディスク上の傷やあるいはブラックドットを検出する
ディフェクト検出手段と、検出する際、ディフェクト回
路内での前記ピックアップサーボ系をOFFするスイッ
チを間欠的に動作させる間欠動作手段と、レーザピック
アップが光ディスクの傷あるいはブラックドットを通過
して前記ディフェクトが解除された後、ピックアップサ
ーボ系のスイッチを再びONしてからの一定時間、ピッ
クアップサーボ系のゲインを低下させるゲイン低下手段
を有することにより、信号波形のエッジをトリガにし
て、一定期間サーボ系のゲインを低下させることが可能
になる。サーボ系のゲイン低下により、ディフェクト信
号解除後において、RF信号が変動している間は、続い
ているエラー信号の乱れによって起こる対物レンズの不
必要な追従を抑えることで、安定なピックアップサーボ
が実現し、プレイヤビリティの改善を行う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1によるディフェクト制御
装置のブロック図である。
【図2】本発明の実施の形態1によるディフェクト装置
の動作時の信号波形を示す図である。
【符号の説明】
1 光ディスク 2 ピックアップ 3 アクチュエータ駆動回路 4 スピンドルモータ 5 RF増幅器 5a エラー信号 5b ディフェクト信号 6 サーボプロセッサ 7 単安定マルチバイブレータ 7a ゲイン切り換え信号 8 ゲイン切り換え回路 8a 切り換えスイッチ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも、光ディスク上にレーザピッ
    クアップからレーザ光を照射してデータの記録または再
    生を行う手段と、 前記レーザピックアップを制御するためのピックアップ
    サーボ系と、 光ディスク上の傷あるいはブラックドットを検出するデ
    ィフェクト検出手段と、 検出する際、ディフェクト回路内での前記ピックアップ
    サーボ系をOFFするスイッチを間欠的に動作させる間
    欠動作手段と、 レーザピックアップが光ディスクの傷あるいはブラック
    ドットを通過して前記ディフェクトが解除された後、ピ
    ックアップサーボ系のスイッチを再びONしてからの一
    定時間、ピックアップサーボ系のゲインを低下させるゲ
    イン低下手段と、 を有する光ディスク装置のディフェクト装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1293539C (zh) * 2003-11-17 2007-01-03 威盛电子股份有限公司 一种烧录可写式光盘的方法及其装置
CN1295497C (zh) * 2003-08-08 2007-01-17 松下电器产业株式会社 缺陷检测装置
CN100429716C (zh) * 2002-08-19 2008-10-29 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于检测记录载体上的异常的扫描设备和方法
US7848189B2 (en) 2005-11-14 2010-12-07 Panasonic Corporation Optical disk apparatus controlling focus and tracking drive in gap and recorded area when adjusting write power

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