JP3981815B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録する光ディスク装置が一般に普及している。光ディスク装置は、光ディスクにデータを記録するときにＯＰＣを行い、データの記録時に光源であるＬＤから出力するレーザ光のパワーを決定している。
【０００３】
ＯＰＣは、周知のように光ディスクの内周側に設けられているＯＰＣ領域に対して、照射するレーザ光のパワーを段階的に上げていきながら、データの試し記録を行い、ここで光ディスクに記録したデータを再生し、その品質が最適であるデータを検出し、該データを記録したときのレーザ光のパワーを取得する処理である。光ディスク装置は、データの記録時におけるレーザ光のパワーを、このＯＰＣで取得したパワーに決定する。光ディスクに対するデータの記録においては、記録したデータの品質が最適になるレーザ光のパワーが、記録時の周囲環境（温度や湿度等）、データを記録する光ディスクの素材や品質等、様々な要因により変化する。光ディスク装置は、光ディスクへのデータの記録を実行するに際して上記ＯＰＣを実行することにより、光ディスクに適正な品質のデータを記録していた。
【０００４】
また、光ディスク装置内部に堆積した塵や埃の影響によるデータの記録・再生にかかる性能低下を防止する技術（特開平４−３３６２号）や、光ディスク装置で光源として使用されているＬＤを保護する技術（特許第２５２５９９３号）や、再生時における周囲環境の変化に応じてレーザ光のパワーを制御して再生性能を向上させる技術（特開平７−２９２３８号）等がすでに提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来の光ディスク装置はデータの記録時において、光源であるＬＤから出力されているレーザ光のパワーをモニタしながら、ＯＰＣで取得したパワー（以下、最適パワーと言う。）になるように、ＬＤに対する入力電流を制御している。具体的には、モニタしているＬＤから出力されているレーザ光のパワー（以下、モニタパワーと言う。）が最適パワーよりも低ければＬＤに対する入力電流を大きくし、反対にモニタパワーが最適パワーよりも高ければＬＤに対する入力電流を小さくしている。
【０００６】
ここで、ＬＤのＩ−Ｌ特性が、周囲温度の変化に対して閾値電流が増減するだけで、その形状が特定の一次直線で表せれば、モニタパワーと最適パワーとの差分に応じて、ＬＤに対する入力電流を変化させることにより、ＬＤから出力されているレーザ光のパワーを最適パワーに簡単に制御できる。具体的には、ＬＤから出力されているレーザパワーを所定量ｐ大きくするのに必要な入力電流の変化量ｉを予め設定しておき、モニタパワーと最適パワーとの差分がＸであれば、ＬＤに対する入力電流Ｙを、
Ｙ＝Ｘ／ｐ×ｉ
だけ変化させればよい。
【０００７】
しかしながら、ＬＤのＩ−Ｌ特性は、レーザ光の出力により生じる自己発熱の影響を受けて変化する。また、自己発熱による影響は、ＬＤから出力されているレーザ光のパワーにより異なるので、Ｉ−Ｌ特性を特定の一次直線で表すことができない。このため、上記式でＬＤから出力されるレーザ光のパワーを制御すると、ＯＰＣで決定した最適パワーの大きさによっては、ＬＤから出力されるレーザ光のパワーが最適パワー付近で大きく脈動することがあり、光ディスクに記録したデータの品質にばらつきが生じるという問題があった。上記脈動の原因は、上記式における、レーザパワーを所定量ｐ大きくするのに必要な入力電流の変化量ｉの設定が適正でないからである。
【０００８】
この発明の目的は、光源における自己発熱の影響を考慮して光源から出力されるレーザ光のパワーを制御することにより、光ディスクに対して品質の安定したデータの記録が行える光ディスク装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この発明の光ディスク装置は、上記課題を解決するために、以下の構成を備えている。
【００１０】
（１）装置本体にセットされた光ディスクに対して、レーザ光を照射する光源を有するピックアップヘッドと、
上記ピックアップヘッドに設けられた上記光源から照射するレーザ光の波形、およびパワーを、該光源に対する入力電流を制御して上記光ディスクにデータを記録する記録制御部と、を備え、
上記記録制御部は、上記光ディスクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスクの所定の記録領域に対してレーザ光のパワーを段階的に変化させながらデータの試し記録を行い、該データの試し記録の結果に基づいてデータの実記録時におけるレーザ光のパワーを決定する光ディスク装置において、
上記記録制御部は、上記試し記録の結果に基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力し、この所定時間経過後におけるレーザ光のパワー、およびこの所定時間経過後における上記試し記録の結果に基づいて決定したレーザ光のパワーが得られる上記光源に対する入力電流を検出し、上記光源について自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得するとともに、ここで取得したＩ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時における上記光源に対する入力電流を制御する。
【００１１】
この構成では、記録制御部がピックアップヘッドに設けられている光源（ＬＤ）に対する入力電流を制御することにより、光源から出力されるレーザ光のパワーを制御する。また、記録制御部は光ディスクに記録するデータに応じて、光源から光ディスクに照射するレーザ光の波形を制御する。また、記録制御部は光ディスクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスクの所定の領域、所謂ＯＰＣ領域、に対してレーザ光のパワーを段階的に変化させながら、データを記録する試し記録（ＯＰＣ）を行い、記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワーを取得する。記録制御部は、記録時において光ディスクに照射するレーザ光のパワーが、ここで取得したレーザ光のパワーＰ０になるように光源に対する入力電流を制御する。
【００１２】
さらに、記録制御部は上記試し記録を行って取得した、データの記録時におけるレーザ光のパワーＰ０に応じた大きさの入力電流を所定時間（数１００ｍｓ）連続して光源に入力し、この間におけるレーザ光のパワーの変動を検出する。ここで、光源に入力する入力電流の大きさは一定であり、上記ＯＰＣにおいて取得した記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワーＰ０が得られる大きさである（この入力電流は、自己発熱による影響については考慮していない大きさである。）。記録制御部が上記大きさの入力電流を所定時間連続して光源に入力したとき、光源から出力されるレーザ光のパワーが、該光源の自己発熱の影響を受けて低下する。この所定時間は、光源において自己発熱の影響が現れるのに十分な時間である。
【００１３】
記録制御部は、この間におけるレーザ光のパワーの変動に基づいてデータの記録時における、光源に対する入力電流を制御する。具体的には、所定時間経過後に光源から出力されていたレーザ光のパワーＰ１（このときの入力電流をＩ１とする。）と、所定時間経過後に上記ＯＰＣで取得した記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワーＰ０が得られる入力電流Ｉ２を検出することで、該光源について自己発熱による影響を受けた特性（Ｉ−Ｌ特性）を取得し、
（Ｐ０−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ１）
から、入力電流の変化に対するレーザ光のパワーの変化を取得し、これに基づいて実記録時における光源の入力電流を制御する。
【００１４】
このように、記録制御部は自己発熱による影響を受けた光源の特性を検出し、該特性に基づいて光源に対する入力電流を制御するので、実記録時におけるレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディスクに対して安定したデータの記録が行える。
【００１５】
また、データの記録開始前に自己発熱による影響を受けた光源の特性を検出するので、装置間におけるばらつき（光源のばらつき）、経時変化、周囲環境等に影響されることなく、実記録時におけるレーザ光のパワーの脈動を抑えることができる。
【００１６】
また、自己発熱による影響を受けた光源の特性を検出するときに、光源から出力されたレーザ光の照射位置については、すでに試し記録で使用した（データを記録した）ＯＰＣ領域を利用することで、自己発熱による影響を受けた光源の特性の検出において、光ディスクの記録領域を無駄に使用することもない。
【００１７】
（２）上記記録制御部は、上記試し記録を実行する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて現在の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーとの関係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光のパワーとの関係に基づいて上記試し記録を行う。
【００１８】
この構成では、試し記録を行う前に、光源に対する入力電流と、出力されるレーザ光のパワーの特性を検出するようにしたので、ＬＤの経時変化の影響を受けることなく、試し記録時におけるレーザ光のパワーを制御することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施形態である光ディスク装置について説明する。
【００２０】
図１は、この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示す図である。光ディスク装置１は、本体の動作を制御する制御部２と、光ディスク１０にレーザ光を照射するピックアップヘッド３と、ピックアップヘッド３で検出された光ディスク１０からの反射光を増幅するＲＦアンプ４と、ＲＦアンプ４の出力をデコードするデコーダ５と、を備えている。光ディスク１０には、ＥＦＭ変調されたデータが記録されている。デコーダ５は、このＥＦＭ変調された信号を復調した再生信号（アナログ音声信号やアナログ映像信号等）を出力する。
【００２１】
ピックアップヘッド３には、光ディスク１０にレーザ光を照射するＬＤ１１、ＬＤ１１から照射されたレーザ光を集光する対物レンズ１２、および光ディスク１０からの反射光を検出する受光素子１３が設けられている。また、ピックアップヘッド３には、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーを検出するためのモニタ用フォトダイオード（モニタ用ＰＤ）（不図示）が設けられている。サーボコントローラ６は、対物レンズ１２を光ディスク１０のデータの記録面に対して垂直方向に変位させて、ＬＤ１１から出力されたレーザ光の焦点を光ディスク１０のデータの記録面に合わせるフォーカスサーボ制御、ピックアップヘッド３を光ディスクの半径方向に変位させてＬＤ１１から出力されたレーザ光の照射位置を光ディスク１０に形成されているトラックの中心に制御するトラッキングサーボ制御を行う。また、サーボコントローラ６は光ディスク１０を回転させるスピンドルモータ１４の回転速度を制御する。
【００２２】
７はピックアップヘッド３に設けられているＬＤ１１を駆動するＬＤドライバである。ＬＤドライバ７は、レーザパワー制御部８からの指示にしたがってＬＤ１１に対する入力電流を制御する。レーザパワー制御部８には、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワー（モニタ用ＰＤの出力）が入力されている。また、ＬＤドライバ７はエンコーダ９から入力された記録データに基づいて、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の波形を制御する。エンコーダ９には図示していないメモリに記憶されている記録データ（光ディスク１０に記録するデータ）が入力される。エンコーダ９は、この入力された記録データをＥＦＭ変調し、ＬＤドライバ７に入力する。
【００２３】
なお、ＬＤドライバ７に入力される記録データ信号（ＥＦＭ変調された信号）は、図示していないストラテジ回路で時間軸補正処理等を行った信号である。
【００２４】
次に、この実施形態の光ディスク装置１におけるデータの記録動作について説明する。光ディスク装置１本体には、データを記録する光ディスク１０がセットされる。サーボコントローラ６は、スピンドルモータ１４の回転速度を制御して、本体にセットされた光ディスク１０を所定の回転速度で回転させる。また、サーボコントローラ６は、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の照射位置を光ディスク１０のトラックの中心に合わせるトラッキングサーボ制御、およびＬＤ１１から出力されるレーザ光の焦点を光ディスク１０のデータの記録面に合わせるフォーカスサーボ制御を行う。トラッキングサーボ制御、およびフォーカスサーボ制御については周知であるので、ここでは説明を省略する。
【００２５】
図２は、光ディスク装置におけるデータの記録動作を示すフローチャートである。光ディスク装置１には、データを記録する光ディスク１０（例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ）がセットされている。光ディスク装置１は、本体にセットされている光ディスク１０に対して、トラックオンおよびフォーカスオンを行い、サーボコントローラ６によりフォーカス制御、およびトラッキング制御を行う。
【００２６】
光ディスク装置１は、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得する（ｓ１）。Ｉ−Ｌ特性とは、入力電流とレーザ光のパワーとの関係である（図３（Ａ）参照）。ｓ１では、ＬＤドライバ７がＬＤ１１の入力電流を段階的に変化させながら、ＬＤ１１から出力されるレーザ光のパワーを検出することにより、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得する。
【００２７】
このように、ｓ１では実際にＬＤ１１に入力する入力電流を変化させて、該ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得するようにしたので、そのときの周囲環境下でのＩ−Ｌ特性を取得することができる。通常、ＬＤ１１は周囲温度が上がると閾値電流が増大し、反対に周囲温度が下がると閾値電流が低下する（図３（Ｂ）参照）。
【００２８】
なお、ｓ１ではＬＤ１１の自己発熱による影響を受けていないＩ−Ｌ特性が取得される。
【００２９】
光ディスク装置１は、ｓ１でＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得すると、ＯＰＣを実行する（ｓ２）。ＯＰＣでは、周知のように光ディスク１１に設けられているＯＰＣ領域に対して、ＬＤ１１から出力されるレーザ光のパワーを段階的に変化させながら、データを記録する（図４参照）。このとき、ＬＤドライバ７はｓ１で取得したＩ−Ｌ特性に基づいて、ＬＤ１１に対する入力電流を制御する。したがって、周囲環境の変化や、ＬＤ１１の経時変化の影響を受けることなく、ＯＰＣを適正に行うことができる（ＯＰＣにおいてＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーを適正に変化させることができる）。
【００３０】
光ディスク装置１は、ＯＰＣ領域に対する上記データの記録が完了すると、ＯＰＣ領域に記録したデータを再生し、品質が最適であるデータを抽出し、このデータを記録したときのレーザ光のパワー（以下、最適パワーと言う。）を実記録時にＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーに決定する。
【００３１】
このように、ｓ２では光ディスク１０に記録されたデータの記録品質が最適になる最適パワーを、実記録時にＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーに決定している。
【００３２】
なお、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を不揮発性のメモリに記憶しておき、これを用いてｓ２におけるＯＰＣを実行してもよい。
【００３３】
光ディスク装置１は、ここで決定した最適パワーのレーザ光をＬＤ１１から所定時間（数１００ｍｓ）だけ出力し、この間におけるＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーの変動を検出する（ｓ３〜ｓ５）。ｓ３〜ｓ５においては、ＬＤドライバ７がＬＤ１１に対する入力電流を一定にする。ＬＤ１１は、自己発熱の影響を受けて、レーザ光のパワーが徐々に低下し、あるレベルで安定する（図５参照）。
【００３４】
光ディスク装置１は、所定時間経過後、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーが、最適パワーになる入力電流を検出する（ｓ６）。ｓ６では、ＬＤ１１に対する入力電流を徐々に上げていきながら、レーザ光のパワーが最適パワーになったときの入力電流を検出する。
【００３５】
ｓ３〜ｓ６の間において、ＬＤ１１から出力されたレーザ光はすでにＯＰＣで使用したＯＰＣ領域に照射している。一度ＯＰＣで使用したＯＰＣ領域は、２度と使用することが無いので、ｓ３〜ｓ６の処理において光ディスク１０の記録領域を無駄に使用することがなく、光ディスク１０の記録領域を有効に利用できる。
【００３６】
光ディスク装置１は、ｓ６で最適パワーが得られる入力電流を得ると、ＬＤ１１について自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得する（ｓ７）。ｓ７では、自己発熱によるレーザ光のパワーの低下量と、ｓ６で検出した最適パワーになるときのＬＤ１１の入力電流とに基づいて、自己発熱の影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得する。図６は、ｓ７で取得される自己発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を示す図である。図６に示すように、自己発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性と、図３に示した自己発熱による影響を受けていないＬＤ１１のＩ−Ｌ特性とは、その形状が異なる。ＬＤ１１における自己発熱の影響は、ＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーにより異なる。
【００３７】
したがって、ｓ７ではＯＰＣで決定した最適パワーのレーザ光を出力するときのＩ−Ｌ特性（自己発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性）を取得することができる。
【００３８】
光ディスク装置１は、光ディスク１０のデータ領域にデータを記録するデータ記録処理を行い（ｓ８）、本処理を終了する。ｓ８では、ｓ７で取得した自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１１に対する入力電流を制御する。具体的には、ＬＤ１１から実際に出力されているレーザ光のパワーと、最適パワーとの差分に対して、ｓ７で取得した自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１１に対する入力電流を変化させる。このため、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディスク１０に記録されたデータの品質のばらつきを抑えることができる。
【００３９】
このように、この実施形態の光ディスク装置１は、ＬＤ１１が最適パワーのレーザ光を出力しているときにおける自己発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性を検出し、該Ｉ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時におけるＬＤ１１の入力電流を制御するようにしたので、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーが最適パワー付近で脈動するのを抑えることができ、光ディスク１０に記録されたデータの品質のばらつきを抑えることができる。
【００４０】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、光源から出力されているレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディスクに記録されたデータの品質のばらつきを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示す図である。
【図２】この発明の実施形態である光ディスク装置におけるデータの記録動作を示すフローチャートである。
【図３】ＬＤのＩ−Ｌ特性を説明する図である。
【図４】ＯＰＣ時におけるＬＤから出力するレーザパワーの変化を示す図である。
【図５】自己発熱による影響を説明する図である。
【図６】自己発熱による影響を受けたＬＤのＩ−Ｌ特性を説明する図である。
【符号の説明】
１−光ディスク装置
２−制御部
３−ピックアップヘッド
７−ＬＤドライバ
８−レーザパワー制御部
１１−ｌｄ
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録する光ディスク装置が一般に普及している。光ディスク装置は、光ディスクにデータを記録するときにＯＰＣを行い、データの記録時に光源であるＬＤから出力するレーザ光のパワーを決定している。
【０００３】
ＯＰＣは、周知のように光ディスクの内周側に設けられているＯＰＣ領域に対して、照射するレーザ光のパワーを段階的に上げていきながら、データの試し記録を行い、ここで光ディスクに記録したデータを再生し、その品質が最適であるデータを検出し、該データを記録したときのレーザ光のパワーを取得する処理である。光ディスク装置は、データの記録時におけるレーザ光のパワーを、このＯＰＣで取得したパワーに決定する。光ディスクに対するデータの記録においては、記録したデータの品質が最適になるレーザ光のパワーが、記録時の周囲環境（温度や湿度等）、データを記録する光ディスクの素材や品質等、様々な要因により変化する。光ディスク装置は、光ディスクへのデータの記録を実行するに際して上記ＯＰＣを実行することにより、光ディスクに適正な品質のデータを記録していた。
【０００４】
また、光ディスク装置内部に堆積した塵や埃の影響によるデータの記録・再生にかかる性能低下を防止する技術（特開平４−３３６２号）や、光ディスク装置で光源として使用されているＬＤを保護する技術（特許第２５２５９９３号）や、再生時における周囲環境の変化に応じてレーザ光のパワーを制御して再生性能を向上させる技術（特開平７−２９２３８号）等がすでに提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来の光ディスク装置はデータの記録時において、光源であるＬＤから出力されているレーザ光のパワーをモニタしながら、ＯＰＣで取得したパワー（以下、最適パワーと言う。）になるように、ＬＤに対する入力電流を制御している。具体的には、モニタしているＬＤから出力されているレーザ光のパワー（以下、モニタパワーと言う。）が最適パワーよりも低ければＬＤに対する入力電流を大きくし、反対にモニタパワーが最適パワーよりも高ければＬＤに対する入力電流を小さくしている。
【０００６】
ここで、ＬＤのＩ−Ｌ特性が、周囲温度の変化に対して閾値電流が増減するだけで、その形状が特定の一次直線で表せれば、モニタパワーと最適パワーとの差分に応じて、ＬＤに対する入力電流を変化させることにより、ＬＤから出力されているレーザ光のパワーを最適パワーに簡単に制御できる。具体的には、ＬＤから出力されているレーザパワーを所定量ｐ大きくするのに必要な入力電流の変化量ｉを予め設定しておき、モニタパワーと最適パワーとの差分がＸであれば、ＬＤに対する入力電流Ｙを、
Ｙ＝Ｘ／ｐ×ｉ
だけ変化させればよい。
【０００７】
しかしながら、ＬＤのＩ−Ｌ特性は、レーザ光の出力により生じる自己発熱の影響を受けて変化する。また、自己発熱による影響は、ＬＤから出力されているレーザ光のパワーにより異なるので、Ｉ−Ｌ特性を特定の一次直線で表すことができない。このため、上記式でＬＤから出力されるレーザ光のパワーを制御すると、ＯＰＣで決定した最適パワーの大きさによっては、ＬＤから出力されるレーザ光のパワーが最適パワー付近で大きく脈動することがあり、光ディスクに記録したデータの品質にばらつきが生じるという問題があった。上記脈動の原因は、上記式における、レーザパワーを所定量ｐ大きくするのに必要な入力電流の変化量ｉの設定が適正でないからである。
【０００８】
この発明の目的は、光源における自己発熱の影響を考慮して光源から出力されるレーザ光のパワーを制御することにより、光ディスクに対して品質の安定したデータの記録が行える光ディスク装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この発明の光ディスク装置は、上記課題を解決するために、以下の構成を備えている。
【００１０】
（１）装置本体にセットされた光ディスクに対して、レーザ光を照射する光源を有するピックアップヘッドと、
上記ピックアップヘッドに設けられた上記光源から照射するレーザ光の波形、およびパワーを、該光源に対する入力電流を制御して上記光ディスクにデータを記録する記録制御部と、を備え、
上記記録制御部は、上記光ディスクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスクの所定の記録領域に対してレーザ光のパワーを段階的に変化させながらデータの試し記録を行い、該データの試し記録の結果に基づいてデータの実記録時におけるレーザ光のパワーを決定する光ディスク装置において、
上記記録制御部は、上記試し記録の結果に基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力し、この所定時間経過後におけるレーザ光のパワー、およびこの所定時間経過後における上記試し記録の結果に基づいて決定したレーザ光のパワーが得られる上記光源に対する入力電流を検出し、上記光源について自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得するとともに、ここで取得したＩ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時における上記光源に対する入力電流を制御する。
【００１１】
この構成では、記録制御部がピックアップヘッドに設けられている光源（ＬＤ）に対する入力電流を制御することにより、光源から出力されるレーザ光のパワーを制御する。また、記録制御部は光ディスクに記録するデータに応じて、光源から光ディスクに照射するレーザ光の波形を制御する。また、記録制御部は光ディスクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスクの所定の領域、所謂ＯＰＣ領域、に対してレーザ光のパワーを段階的に変化させながら、データを記録する試し記録（ＯＰＣ）を行い、記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワーを取得する。記録制御部は、記録時において光ディスクに照射するレーザ光のパワーが、ここで取得したレーザ光のパワーＰ０になるように光源に対する入力電流を制御する。
【００１２】
さらに、記録制御部は上記試し記録を行って取得した、データの記録時におけるレーザ光のパワーＰ０に応じた大きさの入力電流を所定時間（数１００ｍｓ）連続して光源に入力し、この間におけるレーザ光のパワーの変動を検出する。ここで、光源に入力する入力電流の大きさは一定であり、上記ＯＰＣにおいて取得した記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワーＰ０が得られる大きさである（この入力電流は、自己発熱による影響については考慮していない大きさである。）。記録制御部が上記大きさの入力電流を所定時間連続して光源に入力したとき、光源から出力されるレーザ光のパワーが、該光源の自己発熱の影響を受けて低下する。この所定時間は、光源において自己発熱の影響が現れるのに十分な時間である。
【００１３】
記録制御部は、この間におけるレーザ光のパワーの変動に基づいてデータの記録時における、光源に対する入力電流を制御する。具体的には、所定時間経過後に光源から出力されていたレーザ光のパワーＰ１（このときの入力電流をＩ１とする。）と、所定時間経過後に上記ＯＰＣで取得した記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワーＰ０が得られる入力電流Ｉ２を検出することで、該光源について自己発熱による影響を受けた特性（Ｉ−Ｌ特性）を取得し、
（Ｐ０−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ１）
から、入力電流の変化に対するレーザ光のパワーの変化を取得し、これに基づいて実記録時における光源の入力電流を制御する。
【００１４】
このように、記録制御部は自己発熱による影響を受けた光源の特性を検出し、該特性に基づいて光源に対する入力電流を制御するので、実記録時におけるレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディスクに対して安定したデータの記録が行える。
【００１５】
また、データの記録開始前に自己発熱による影響を受けた光源の特性を検出するので、装置間におけるばらつき（光源のばらつき）、経時変化、周囲環境等に影響されることなく、実記録時におけるレーザ光のパワーの脈動を抑えることができる。
【００１６】
また、自己発熱による影響を受けた光源の特性を検出するときに、光源から出力されたレーザ光の照射位置については、すでに試し記録で使用した（データを記録した）ＯＰＣ領域を利用することで、自己発熱による影響を受けた光源の特性の検出において、光ディスクの記録領域を無駄に使用することもない。
【００１７】
（２）上記記録制御部は、上記試し記録を実行する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて現在の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーとの関係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光のパワーとの関係に基づいて上記試し記録を行う。
【００１８】
この構成では、試し記録を行う前に、光源に対する入力電流と、出力されるレーザ光のパワーの特性を検出するようにしたので、ＬＤの経時変化の影響を受けることなく、試し記録時におけるレーザ光のパワーを制御することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施形態である光ディスク装置について説明する。
【００２０】
図１は、この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示す図である。光ディスク装置１は、本体の動作を制御する制御部２と、光ディスク１０にレーザ光を照射するピックアップヘッド３と、ピックアップヘッド３で検出された光ディスク１０からの反射光を増幅するＲＦアンプ４と、ＲＦアンプ４の出力をデコードするデコーダ５と、を備えている。光ディスク１０には、ＥＦＭ変調されたデータが記録されている。デコーダ５は、このＥＦＭ変調された信号を復調した再生信号（アナログ音声信号やアナログ映像信号等）を出力する。
【００２１】
ピックアップヘッド３には、光ディスク１０にレーザ光を照射するＬＤ１１、ＬＤ１１から照射されたレーザ光を集光する対物レンズ１２、および光ディスク１０からの反射光を検出する受光素子１３が設けられている。また、ピックアップヘッド３には、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーを検出するためのモニタ用フォトダイオード（モニタ用ＰＤ）（不図示）が設けられている。サーボコントローラ６は、対物レンズ１２を光ディスク１０のデータの記録面に対して垂直方向に変位させて、ＬＤ１１から出力されたレーザ光の焦点を光ディスク１０のデータの記録面に合わせるフォーカスサーボ制御、ピックアップヘッド３を光ディスクの半径方向に変位させてＬＤ１１から出力されたレーザ光の照射位置を光ディスク１０に形成されているトラックの中心に制御するトラッキングサーボ制御を行う。また、サーボコントローラ６は光ディスク１０を回転させるスピンドルモータ１４の回転速度を制御する。
【００２２】
７はピックアップヘッド３に設けられているＬＤ１１を駆動するＬＤドライバである。ＬＤドライバ７は、レーザパワー制御部８からの指示にしたがってＬＤ１１に対する入力電流を制御する。レーザパワー制御部８には、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワー（モニタ用ＰＤの出力）が入力されている。また、ＬＤドライバ７はエンコーダ９から入力された記録データに基づいて、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の波形を制御する。エンコーダ９には図示していないメモリに記憶されている記録データ（光ディスク１０に記録するデータ）が入力される。エンコーダ９は、この入力された記録データをＥＦＭ変調し、ＬＤドライバ７に入力する。
【００２３】
なお、ＬＤドライバ７に入力される記録データ信号（ＥＦＭ変調された信号）は、図示していないストラテジ回路で時間軸補正処理等を行った信号である。
【００２４】
次に、この実施形態の光ディスク装置１におけるデータの記録動作について説明する。光ディスク装置１本体には、データを記録する光ディスク１０がセットされる。サーボコントローラ６は、スピンドルモータ１４の回転速度を制御して、本体にセットされた光ディスク１０を所定の回転速度で回転させる。また、サーボコントローラ６は、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の照射位置を光ディスク１０のトラックの中心に合わせるトラッキングサーボ制御、およびＬＤ１１から出力されるレーザ光の焦点を光ディスク１０のデータの記録面に合わせるフォーカスサーボ制御を行う。トラッキングサーボ制御、およびフォーカスサーボ制御については周知であるので、ここでは説明を省略する。
【００２５】
図２は、光ディスク装置におけるデータの記録動作を示すフローチャートである。光ディスク装置１には、データを記録する光ディスク１０（例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ）がセットされている。光ディスク装置１は、本体にセットされている光ディスク１０に対して、トラックオンおよびフォーカスオンを行い、サーボコントローラ６によりフォーカス制御、およびトラッキング制御を行う。
【００２６】
光ディスク装置１は、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得する（ｓ１）。Ｉ−Ｌ特性とは、入力電流とレーザ光のパワーとの関係である（図３（Ａ）参照）。ｓ１では、ＬＤドライバ７がＬＤ１１の入力電流を段階的に変化させながら、ＬＤ１１から出力されるレーザ光のパワーを検出することにより、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得する。
【００２７】
このように、ｓ１では実際にＬＤ１１に入力する入力電流を変化させて、該ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得するようにしたので、そのときの周囲環境下でのＩ−Ｌ特性を取得することができる。通常、ＬＤ１１は周囲温度が上がると閾値電流が増大し、反対に周囲温度が下がると閾値電流が低下する（図３（Ｂ）参照）。
【００２８】
なお、ｓ１ではＬＤ１１の自己発熱による影響を受けていないＩ−Ｌ特性が取得される。
【００２９】
光ディスク装置１は、ｓ１でＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得すると、ＯＰＣを実行する（ｓ２）。ＯＰＣでは、周知のように光ディスク１１に設けられているＯＰＣ領域に対して、ＬＤ１１から出力されるレーザ光のパワーを段階的に変化させながら、データを記録する（図４参照）。このとき、ＬＤドライバ７はｓ１で取得したＩ−Ｌ特性に基づいて、ＬＤ１１に対する入力電流を制御する。したがって、周囲環境の変化や、ＬＤ１１の経時変化の影響を受けることなく、ＯＰＣを適正に行うことができる（ＯＰＣにおいてＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーを適正に変化させることができる）。
【００３０】
光ディスク装置１は、ＯＰＣ領域に対する上記データの記録が完了すると、ＯＰＣ領域に記録したデータを再生し、品質が最適であるデータを抽出し、このデータを記録したときのレーザ光のパワー（以下、最適パワーと言う。）を実記録時にＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーに決定する。
【００３１】
このように、ｓ２では光ディスク１０に記録されたデータの記録品質が最適になる最適パワーを、実記録時にＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーに決定している。
【００３２】
なお、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を不揮発性のメモリに記憶しておき、これを用いてｓ２におけるＯＰＣを実行してもよい。
【００３３】
光ディスク装置１は、ここで決定した最適パワーのレーザ光をＬＤ１１から所定時間（数１００ｍｓ）だけ出力し、この間におけるＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーの変動を検出する（ｓ３〜ｓ５）。ｓ３〜ｓ５においては、ＬＤドライバ７がＬＤ１１に対する入力電流を一定にする。ＬＤ１１は、自己発熱の影響を受けて、レーザ光のパワーが徐々に低下し、あるレベルで安定する（図５参照）。
【００３４】
光ディスク装置１は、所定時間経過後、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーが、最適パワーになる入力電流を検出する（ｓ６）。ｓ６では、ＬＤ１１に対する入力電流を徐々に上げていきながら、レーザ光のパワーが最適パワーになったときの入力電流を検出する。
【００３５】
ｓ３〜ｓ６の間において、ＬＤ１１から出力されたレーザ光はすでにＯＰＣで使用したＯＰＣ領域に照射している。一度ＯＰＣで使用したＯＰＣ領域は、２度と使用することが無いので、ｓ３〜ｓ６の処理において光ディスク１０の記録領域を無駄に使用することがなく、光ディスク１０の記録領域を有効に利用できる。
【００３６】
光ディスク装置１は、ｓ６で最適パワーが得られる入力電流を得ると、ＬＤ１１について自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得する（ｓ７）。ｓ７では、自己発熱によるレーザ光のパワーの低下量と、ｓ６で検出した最適パワーになるときのＬＤ１１の入力電流とに基づいて、自己発熱の影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得する。図６は、ｓ７で取得される自己発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を示す図である。図６に示すように、自己発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性と、図３に示した自己発熱による影響を受けていないＬＤ１１のＩ−Ｌ特性とは、その形状が異なる。ＬＤ１１における自己発熱の影響は、ＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーにより異なる。
【００３７】
したがって、ｓ７ではＯＰＣで決定した最適パワーのレーザ光を出力するときのＩ−Ｌ特性（自己発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性）を取得することができる。
【００３８】
光ディスク装置１は、光ディスク１０のデータ領域にデータを記録するデータ記録処理を行い（ｓ８）、本処理を終了する。ｓ８では、ｓ７で取得した自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１１に対する入力電流を制御する。具体的には、ＬＤ１１から実際に出力されているレーザ光のパワーと、最適パワーとの差分に対して、ｓ７で取得した自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１１に対する入力電流を変化させる。このため、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディスク１０に記録されたデータの品質のばらつきを抑えることができる。
【００３９】
このように、この実施形態の光ディスク装置１は、ＬＤ１１が最適パワーのレーザ光を出力しているときにおける自己発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性を検出し、該Ｉ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時におけるＬＤ１１の入力電流を制御するようにしたので、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワーが最適パワー付近で脈動するのを抑えることができ、光ディスク１０に記録されたデータの品質のばらつきを抑えることができる。
【００４０】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、光源から出力されているレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディスクに記録されたデータの品質のばらつきを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示す図である。
【図２】この発明の実施形態である光ディスク装置におけるデータの記録動作を示すフローチャートである。
【図３】ＬＤのＩ−Ｌ特性を説明する図である。
【図４】ＯＰＣ時におけるＬＤから出力するレーザパワーの変化を示す図である。
【図５】自己発熱による影響を説明する図である。
【図６】自己発熱による影響を受けたＬＤのＩ−Ｌ特性を説明する図である。
【符号の説明】
１−光ディスク装置
２−制御部
３−ピックアップヘッド
７−ＬＤドライバ
８−レーザパワー制御部
１１−ｌｄ
Claims (5)
- 装置本体にセットされた光ディスクに対して、レーザ光を照射する光源を有するピックアップヘッドと、
上記ピックアップヘッドに設けられた上記光源から照射するレーザ光の波形、およびパワーを、該光源に対する入力電流を制御して上記光ディスクにデータを記録する記録制御部と、を備え、
上記記録制御部は、上記光ディスクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスクの所定の記録領域に対してレーザ光のパワーを段階的に変化させながらデータの試し記録を行い、該データの試し記録の結果に基づいてデータの実記録時におけるレーザ光のパワーを決定する光ディスク装置において、
上記記録制御部は、
上記試し記録を実行する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて現在の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーとの関係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光のパワーとの関係に基づいて上記試し記録を行い、
また上記試し記録の結果に基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力して、すでに上記試し記録で使用した領域にレーザ光を照射し、
この所定時間経過後におけるレーザ光のパワー、およびこの所定時間経過後における上記試し記録の結果に基づいて決定したレーザ光のパワーが得られる上記光源に対する入力電流を検出し、上記光源について自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得するとともに、
さらに、データの実記録時に上記光源から出力されているレーザ光のパワーを検出し、ここで検出したレーザ光のパワーに応じて上記光源に対する入力電流を制御し、且つ該入力電流の制御を先に取得したＩ−Ｌ特性に基づいて行う、
光ディスク装置。
すでに上記試し記録で使用した領域にレーザ光を照射しながら、この間におけるレーザ光のパワーの変動を検出し、さらに、データの実記録時に上記光源から出力されているレーザ光のパワーを検出し、ここで検出したレーザ光のパワーに応じて上記光源に対する入力電流を制御し、且つ該入力電流の制御を先に取得したＩ−Ｌ特性に基づいて行う光ディスク装置。 - 装置本体にセットされた光ディスクに対して、レーザ光を照射する光源を有するピックアップヘッドと、
上記ピックアップヘッドに設けられた上記光源から照射するレーザ光の波形、およびパワーを、該光源に対する入力電流を制御して上記光ディスクにデータを記録する記録制御部と、を備え、
上記記録制御部は、上記光ディスクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスクの所定の記録領域に対してレーザ光のパワーを段階的に変化させながらデータの試し記録を行い、該データの試し記録の結果に基づいてデータの実記録時におけるレーザ光のパワーを決定する光ディスク装置において、
上記記録制御部は、上記試し記録の結果に基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力し、この所定時間経過後におけるレーザ光のパワー、およびこの所定時間経過後における上記試し記録の結果に基づいて決定したレーザ光のパワーが得られる上記光源に対する入力電流を検出し、上記光源について自己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得するとともに、ここで取得したＩ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時における上記光源に対する入力電流を制御する光ディスク装置。 - 上記記録制御部は、データの実記録時に上記光源から出力されているレーザ光のパワーを検出し、ここで検出したレーザ光のパワーに応じて上記光源に対する入力電流を制御する請求項２に記載の光ディスク装置。
- 上記試し記録の結果に基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力している間、レーザ光がすでに上記試し記録で使用した領域に照射される請求項２、または３に記載の光ディスク装置。
- 上記記録制御部は、上記試し記録を実行する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて現在の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーとの関係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光のパワーとの関係に基づいて上記試し記録を行う請求項２〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
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