JP2003331450A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光源における自己発熱の影響を考慮して光源か
ら出力されるレーザ光のパワーを制御することにより、
光ディスクに対して品質の安定したデータの記録が行え
る光ディスク装置を提供する。 【解決手段】光ディスク装置１は、ＯＰＣによりデータ
の記録に適した最適パワーを取得すると、ＬＤ１１にお
いて所定時間だけ最適パワーのレーザ光を出力し、自己
発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得す
る。そして、このＩ−Ｌ特性に基づいて、データの記録
時におけるＬＤ１１に対する入力電流を制御する。これ
により、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワー
の脈動を抑えることができ、光ディスクに記録されたデ
ータの品質のばらつきを抑えることができる。
ら出力されるレーザ光のパワーを制御することにより、
光ディスクに対して品質の安定したデータの記録が行え
る光ディスク装置を提供する。 【解決手段】光ディスク装置１は、ＯＰＣによりデータ
の記録に適した最適パワーを取得すると、ＬＤ１１にお
いて所定時間だけ最適パワーのレーザ光を出力し、自己
発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を取得す
る。そして、このＩ−Ｌ特性に基づいて、データの記録
時におけるＬＤ１１に対する入力電流を制御する。これ
により、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパワー
の脈動を抑えることができ、光ディスクに記録されたデ
ータの品質のばらつきを抑えることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ
−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデ
ータを記録する光ディスク装置に関する。
−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデ
ータを記録する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−
Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録する光
ディスク装置が一般に普及している。光ディスク装置
は、光ディスクにデータを記録するときにＯＰＣを行
い、データの記録時に光源であるＬＤから出力するレー
ザ光のパワーを決定している。
Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクにデータを記録する光
ディスク装置が一般に普及している。光ディスク装置
は、光ディスクにデータを記録するときにＯＰＣを行
い、データの記録時に光源であるＬＤから出力するレー
ザ光のパワーを決定している。
【０００３】ＯＰＣは、周知のように光ディスクの内周
側に設けられているＯＰＣ領域に対して、照射するレー
ザ光のパワーを段階的に上げていきながら、データの試
し記録を行い、ここで光ディスクに記録したデータを再
生し、その品質が最適であるデータを検出し、該データ
を記録したときのレーザ光のパワーを取得する処理であ
る。光ディスク装置は、データの記録時におけるレーザ
光のパワーを、このＯＰＣで取得したパワーに決定す
る。光ディスクに対するデータの記録においては、記録
したデータの品質が最適になるレーザ光のパワーが、記
録時の周囲環境（温度や湿度等）、データを記録する光
ディスクの素材や品質等、様々な要因により変化する。
光ディスク装置は、光ディスクへのデータの記録を実行
するに際して上記ＯＰＣを実行することにより、光ディ
スクに適正な品質のデータを記録していた。
側に設けられているＯＰＣ領域に対して、照射するレー
ザ光のパワーを段階的に上げていきながら、データの試
し記録を行い、ここで光ディスクに記録したデータを再
生し、その品質が最適であるデータを検出し、該データ
を記録したときのレーザ光のパワーを取得する処理であ
る。光ディスク装置は、データの記録時におけるレーザ
光のパワーを、このＯＰＣで取得したパワーに決定す
る。光ディスクに対するデータの記録においては、記録
したデータの品質が最適になるレーザ光のパワーが、記
録時の周囲環境（温度や湿度等）、データを記録する光
ディスクの素材や品質等、様々な要因により変化する。
光ディスク装置は、光ディスクへのデータの記録を実行
するに際して上記ＯＰＣを実行することにより、光ディ
スクに適正な品質のデータを記録していた。
【０００４】また、光ディスク装置内部に堆積した塵や
埃の影響によるデータの記録・再生にかかる性能低下を
防止する技術（特開平４−３３６２号）や、光ディスク
装置で光源として使用されているＬＤを保護する技術
（特許第２５２５９９３号）や、再生時における周囲環
境の変化に応じてレーザ光のパワーを制御して再生性能
を向上させる技術（特開平７−２９２３８号）等がすで
に提案されている。
埃の影響によるデータの記録・再生にかかる性能低下を
防止する技術（特開平４−３３６２号）や、光ディスク
装置で光源として使用されているＬＤを保護する技術
（特許第２５２５９９３号）や、再生時における周囲環
境の変化に応じてレーザ光のパワーを制御して再生性能
を向上させる技術（特開平７−２９２３８号）等がすで
に提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の光デ
ィスク装置はデータの記録時において、光源であるＬＤ
から出力されているレーザ光のパワーをモニタしなが
ら、ＯＰＣで取得したパワー（以下、最適パワーと言
う。）になるように、ＬＤに対する入力電流を制御して
いる。具体的には、モニタしているＬＤから出力されて
いるレーザ光のパワー（以下、モニタパワーと言う。）
が最適パワーよりも低ければＬＤに対する入力電流を大
きくし、反対にモニタパワーが最適パワーよりも高けれ
ばＬＤに対する入力電流を小さくしている。
ィスク装置はデータの記録時において、光源であるＬＤ
から出力されているレーザ光のパワーをモニタしなが
ら、ＯＰＣで取得したパワー（以下、最適パワーと言
う。）になるように、ＬＤに対する入力電流を制御して
いる。具体的には、モニタしているＬＤから出力されて
いるレーザ光のパワー（以下、モニタパワーと言う。）
が最適パワーよりも低ければＬＤに対する入力電流を大
きくし、反対にモニタパワーが最適パワーよりも高けれ
ばＬＤに対する入力電流を小さくしている。
【０００６】ここで、ＬＤのＩ−Ｌ特性が、周囲温度の
変化に対して閾値電流が増減するだけで、その形状が特
定の一次直線で表せれば、モニタパワーと最適パワーと
の差分に応じて、ＬＤに対する入力電流を変化させるこ
とにより、ＬＤから出力されているレーザ光のパワーを
最適パワーに簡単に制御できる。具体的には、ＬＤから
出力されているレーザパワーを所定量ｐ大きくするのに
必要な入力電流の変化量ｉを予め設定しておき、モニタ
パワーと最適パワーとの差分がＸであれば、ＬＤに対す
る入力電流Ｙを、 Ｙ＝Ｘ／ｐ×ｉ だけ変化させればよい。
変化に対して閾値電流が増減するだけで、その形状が特
定の一次直線で表せれば、モニタパワーと最適パワーと
の差分に応じて、ＬＤに対する入力電流を変化させるこ
とにより、ＬＤから出力されているレーザ光のパワーを
最適パワーに簡単に制御できる。具体的には、ＬＤから
出力されているレーザパワーを所定量ｐ大きくするのに
必要な入力電流の変化量ｉを予め設定しておき、モニタ
パワーと最適パワーとの差分がＸであれば、ＬＤに対す
る入力電流Ｙを、 Ｙ＝Ｘ／ｐ×ｉ だけ変化させればよい。
【０００７】しかしながら、ＬＤのＩ−Ｌ特性は、レー
ザ光の出力により生じる自己発熱の影響を受けて変化す
る。また、自己発熱による影響は、ＬＤから出力されて
いるレーザ光のパワーにより異なるので、Ｉ−Ｌ特性を
特定の一次直線で表すことができない。このため、上記
式でＬＤから出力されるレーザ光のパワーを制御する
と、ＯＰＣで決定した最適パワーの大きさによっては、
ＬＤから出力されるレーザ光のパワーが最適パワー付近
で大きく脈動することがあり、光ディスクに記録したデ
ータの品質にばらつきが生じるという問題があった。上
記脈動の原因は、上記式における、レーザパワーを所定
量ｐ大きくするのに必要な入力電流の変化量ｉの設定が
適正でないからである。
ザ光の出力により生じる自己発熱の影響を受けて変化す
る。また、自己発熱による影響は、ＬＤから出力されて
いるレーザ光のパワーにより異なるので、Ｉ−Ｌ特性を
特定の一次直線で表すことができない。このため、上記
式でＬＤから出力されるレーザ光のパワーを制御する
と、ＯＰＣで決定した最適パワーの大きさによっては、
ＬＤから出力されるレーザ光のパワーが最適パワー付近
で大きく脈動することがあり、光ディスクに記録したデ
ータの品質にばらつきが生じるという問題があった。上
記脈動の原因は、上記式における、レーザパワーを所定
量ｐ大きくするのに必要な入力電流の変化量ｉの設定が
適正でないからである。
【０００８】この発明の目的は、光源における自己発熱
の影響を考慮して光源から出力されるレーザ光のパワー
を制御することにより、光ディスクに対して品質の安定
したデータの記録が行える光ディスク装置を提供するこ
とにある。
の影響を考慮して光源から出力されるレーザ光のパワー
を制御することにより、光ディスクに対して品質の安定
したデータの記録が行える光ディスク装置を提供するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明の光ディスク装
置は、上記課題を解決するために、以下の構成を備えて
いる。
置は、上記課題を解決するために、以下の構成を備えて
いる。
【００１０】（１）装置本体にセットされた光ディスク
に対して、レーザ光を照射する光源を有するピックアッ
プヘッドと、上記ピックアップヘッドに設けられた上記
光源から照射するレーザ光の波形、およびパワーを、該
光源に対する入力電流を制御して上記光ディスクにデー
タを記録する記録制御部と、を備え、上記記録制御部
は、上記光ディスクへのデータの記録を実行するに際し
て、該ディスクの所定の記録領域に対してレーザ光のパ
ワーを段階的に変化させながらデータの試し記録を行
い、該データの試し記録の結果に基づいてデータの実記
録時におけるレーザ光のパワーを決定する光ディスク装
置において、上記記録制御部は、上記試し記録の結果に
基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光の
パワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所
定時間入力し、この間におけるレーザ光のパワーの変動
を検出し、ここで検出したレーザ光のパワーの変動に基
づいてデータの実記録時における上記光源に対する入力
電流を制御する。
に対して、レーザ光を照射する光源を有するピックアッ
プヘッドと、上記ピックアップヘッドに設けられた上記
光源から照射するレーザ光の波形、およびパワーを、該
光源に対する入力電流を制御して上記光ディスクにデー
タを記録する記録制御部と、を備え、上記記録制御部
は、上記光ディスクへのデータの記録を実行するに際し
て、該ディスクの所定の記録領域に対してレーザ光のパ
ワーを段階的に変化させながらデータの試し記録を行
い、該データの試し記録の結果に基づいてデータの実記
録時におけるレーザ光のパワーを決定する光ディスク装
置において、上記記録制御部は、上記試し記録の結果に
基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光の
パワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所
定時間入力し、この間におけるレーザ光のパワーの変動
を検出し、ここで検出したレーザ光のパワーの変動に基
づいてデータの実記録時における上記光源に対する入力
電流を制御する。
【００１１】この構成では、記録制御部がピックアップ
ヘッドに設けられている光源（ＬＤ）に対する入力電流
を制御することにより、光源から出力されるレーザ光の
パワーを制御する。また、記録制御部は光ディスクに記
録するデータに応じて、光源から光ディスクに照射する
レーザ光の波形を制御する。また、記録制御部は光ディ
スクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスク
の所定の領域、所謂ＯＰＣ領域、に対してレーザ光のパ
ワーを段階的に変化させながら、データを記録する試し
記録（ＯＰＣ）を行い、記録されるデータの品質が最適
になるレーザ光のパワーを取得する。記録制御部は、記
録時において光ディスクに照射するレーザ光のパワー
が、ここで取得したレーザ光のパワーＰ０になるように
光源に対する入力電流を制御する。
ヘッドに設けられている光源（ＬＤ）に対する入力電流
を制御することにより、光源から出力されるレーザ光の
パワーを制御する。また、記録制御部は光ディスクに記
録するデータに応じて、光源から光ディスクに照射する
レーザ光の波形を制御する。また、記録制御部は光ディ
スクへのデータの記録を実行するに際して、該ディスク
の所定の領域、所謂ＯＰＣ領域、に対してレーザ光のパ
ワーを段階的に変化させながら、データを記録する試し
記録（ＯＰＣ）を行い、記録されるデータの品質が最適
になるレーザ光のパワーを取得する。記録制御部は、記
録時において光ディスクに照射するレーザ光のパワー
が、ここで取得したレーザ光のパワーＰ０になるように
光源に対する入力電流を制御する。
【００１２】さらに、記録制御部は上記試し記録を行っ
て取得した、データの記録時におけるレーザ光のパワー
Ｐ０に応じた大きさの入力電流を所定時間（数１００ｍ
ｓ）連続して光源に入力し、この間におけるレーザ光の
パワーの変動を検出する。ここで、光源に入力する入力
電流の大きさは一定であり、上記ＯＰＣにおいて取得し
た記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワ
ーＰ０が得られる大きさである（この入力電流は、自己
発熱による影響については考慮していない大きさであ
る。）。記録制御部が上記大きさの入力電流を所定時間
連続して光源に入力したとき、光源から出力されるレー
ザ光のパワーが、該光源の自己発熱の影響を受けて低下
する。この所定時間は、光源において自己発熱の影響が
現れるのに十分な時間である。
て取得した、データの記録時におけるレーザ光のパワー
Ｐ０に応じた大きさの入力電流を所定時間（数１００ｍ
ｓ）連続して光源に入力し、この間におけるレーザ光の
パワーの変動を検出する。ここで、光源に入力する入力
電流の大きさは一定であり、上記ＯＰＣにおいて取得し
た記録されるデータの品質が最適になるレーザ光のパワ
ーＰ０が得られる大きさである（この入力電流は、自己
発熱による影響については考慮していない大きさであ
る。）。記録制御部が上記大きさの入力電流を所定時間
連続して光源に入力したとき、光源から出力されるレー
ザ光のパワーが、該光源の自己発熱の影響を受けて低下
する。この所定時間は、光源において自己発熱の影響が
現れるのに十分な時間である。
【００１３】記録制御部は、この間におけるレーザ光の
パワーの変動に基づいてデータの記録時における、光源
に対する入力電流を制御する。例えば、所定時間経過後
に光源から出力されていたレーザ光のパワーＰ１（この
ときの入力電流をＩ１とする。）と、所定時間経過後に
上記ＯＰＣで取得した記録されるデータの品質が最適に
なるレーザ光のパワーＰ０が得られる入力電流Ｉ２を検
出することで、該光源について自己発熱による影響を受
けた特性（Ｉ−Ｌ特性）を取得し、 （Ｐ０−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ１） から、入力電流の変化に対するレーザ光のパワーの変化
を取得し、これに基づいて実記録時における光源の入力
電流を制御する。
パワーの変動に基づいてデータの記録時における、光源
に対する入力電流を制御する。例えば、所定時間経過後
に光源から出力されていたレーザ光のパワーＰ１（この
ときの入力電流をＩ１とする。）と、所定時間経過後に
上記ＯＰＣで取得した記録されるデータの品質が最適に
なるレーザ光のパワーＰ０が得られる入力電流Ｉ２を検
出することで、該光源について自己発熱による影響を受
けた特性（Ｉ−Ｌ特性）を取得し、 （Ｐ０−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ１） から、入力電流の変化に対するレーザ光のパワーの変化
を取得し、これに基づいて実記録時における光源の入力
電流を制御する。
【００１４】このように、記録制御部は自己発熱による
影響を受けた光源の特性を検出し、該特性に基づいて光
源に対する入力電流を制御するので、実記録時における
レーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディス
クに対して安定したデータの記録が行える。
影響を受けた光源の特性を検出し、該特性に基づいて光
源に対する入力電流を制御するので、実記録時における
レーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光ディス
クに対して安定したデータの記録が行える。
【００１５】また、データの記録開始前に自己発熱によ
る影響を受けた光源の特性を検出するので、装置間にお
けるばらつき（光源のばらつき）、経時変化、周囲環境
等に影響されることなく、実記録時におけるレーザ光の
パワーの脈動を抑えることができる。
る影響を受けた光源の特性を検出するので、装置間にお
けるばらつき（光源のばらつき）、経時変化、周囲環境
等に影響されることなく、実記録時におけるレーザ光の
パワーの脈動を抑えることができる。
【００１６】また、自己発熱による影響を受けた光源の
特性を検出するときに、光源から出力されたレーザ光の
照射位置については、すでに試し記録で使用した（デー
タを記録した）ＯＰＣ領域を利用することで、自己発熱
による影響を受けた光源の特性の検出において、光ディ
スクの記録領域を無駄に使用することもない。
特性を検出するときに、光源から出力されたレーザ光の
照射位置については、すでに試し記録で使用した（デー
タを記録した）ＯＰＣ領域を利用することで、自己発熱
による影響を受けた光源の特性の検出において、光ディ
スクの記録領域を無駄に使用することもない。
【００１７】（２）上記記録制御部は、上記試し記録を
実行する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて
現在の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーと
の関係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光の
パワーとの関係に基づいて上記試し記録を行う。
実行する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて
現在の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーと
の関係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光の
パワーとの関係に基づいて上記試し記録を行う。
【００１８】この構成では、試し記録を行う前に、光源
に対する入力電流と、出力されるレーザ光のパワーの特
性を検出するようにしたので、ＬＤの経時変化の影響を
受けることなく、試し記録時におけるレーザ光のパワー
を制御することができる。
に対する入力電流と、出力されるレーザ光のパワーの特
性を検出するようにしたので、ＬＤの経時変化の影響を
受けることなく、試し記録時におけるレーザ光のパワー
を制御することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態である
光ディスク装置について説明する。
光ディスク装置について説明する。
【００２０】図１は、この発明の実施形態である光ディ
スク装置の主要部の構成を示す図である。光ディスク装
置１は、本体の動作を制御する制御部２と、光ディスク
１０にレーザ光を照射するピックアップヘッド３と、ピ
ックアップヘッド３で検出された光ディスク１０からの
反射光を増幅するＲＦアンプ４と、ＲＦアンプ４の出力
をデコードするデコーダ５と、を備えている。光ディス
ク１０には、ＥＦＭ変調されたデータが記録されてい
る。デコーダ５は、このＥＦＭ変調された信号を復調し
た再生信号（アナログ音声信号やアナログ映像信号等）
を出力する。
スク装置の主要部の構成を示す図である。光ディスク装
置１は、本体の動作を制御する制御部２と、光ディスク
１０にレーザ光を照射するピックアップヘッド３と、ピ
ックアップヘッド３で検出された光ディスク１０からの
反射光を増幅するＲＦアンプ４と、ＲＦアンプ４の出力
をデコードするデコーダ５と、を備えている。光ディス
ク１０には、ＥＦＭ変調されたデータが記録されてい
る。デコーダ５は、このＥＦＭ変調された信号を復調し
た再生信号（アナログ音声信号やアナログ映像信号等）
を出力する。
【００２１】ピックアップヘッド３には、光ディスク１
０にレーザ光を照射するＬＤ１１、ＬＤ１１から照射さ
れたレーザ光を集光する対物レンズ１２、および光ディ
スク１０からの反射光を検出する受光素子１３が設けら
れている。また、ピックアップヘッド３には、ＬＤ１１
から出力されているレーザ光のパワーを検出するための
モニタ用フォトダイオード（モニタ用ＰＤ）（不図示）
が設けられている。サーボコントローラ６は、対物レン
ズ１２を光ディスク１０のデータの記録面に対して垂直
方向に変位させて、ＬＤ１１から出力されたレーザ光の
焦点を光ディスク１０のデータの記録面に合わせるフォ
ーカスサーボ制御、ピックアップヘッド３を光ディスク
の半径方向に変位させてＬＤ１１から出力されたレーザ
光の照射位置を光ディスク１０に形成されているトラッ
クの中心に制御するトラッキングサーボ制御を行う。ま
た、サーボコントローラ６は光ディスク１０を回転させ
るスピンドルモータ１４の回転速度を制御する。
０にレーザ光を照射するＬＤ１１、ＬＤ１１から照射さ
れたレーザ光を集光する対物レンズ１２、および光ディ
スク１０からの反射光を検出する受光素子１３が設けら
れている。また、ピックアップヘッド３には、ＬＤ１１
から出力されているレーザ光のパワーを検出するための
モニタ用フォトダイオード（モニタ用ＰＤ）（不図示）
が設けられている。サーボコントローラ６は、対物レン
ズ１２を光ディスク１０のデータの記録面に対して垂直
方向に変位させて、ＬＤ１１から出力されたレーザ光の
焦点を光ディスク１０のデータの記録面に合わせるフォ
ーカスサーボ制御、ピックアップヘッド３を光ディスク
の半径方向に変位させてＬＤ１１から出力されたレーザ
光の照射位置を光ディスク１０に形成されているトラッ
クの中心に制御するトラッキングサーボ制御を行う。ま
た、サーボコントローラ６は光ディスク１０を回転させ
るスピンドルモータ１４の回転速度を制御する。
【００２２】７はピックアップヘッド３に設けられてい
るＬＤ１１を駆動するＬＤドライバである。ＬＤドライ
バ７は、レーザパワー制御部８からの指示にしたがって
ＬＤ１１に対する入力電流を制御する。レーザパワー制
御部８には、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパ
ワー（モニタ用ＰＤの出力）が入力されている。また、
ＬＤドライバ７はエンコーダ９から入力された記録デー
タに基づいて、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の波形
を制御する。エンコーダ９には図示していないメモリに
記憶されている記録データ（光ディスク１０に記録する
データ）が入力される。エンコーダ９は、この入力され
た記録データをＥＦＭ変調し、ＬＤドライバ７に入力す
る。
るＬＤ１１を駆動するＬＤドライバである。ＬＤドライ
バ７は、レーザパワー制御部８からの指示にしたがって
ＬＤ１１に対する入力電流を制御する。レーザパワー制
御部８には、ＬＤ１１から出力されているレーザ光のパ
ワー（モニタ用ＰＤの出力）が入力されている。また、
ＬＤドライバ７はエンコーダ９から入力された記録デー
タに基づいて、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の波形
を制御する。エンコーダ９には図示していないメモリに
記憶されている記録データ（光ディスク１０に記録する
データ）が入力される。エンコーダ９は、この入力され
た記録データをＥＦＭ変調し、ＬＤドライバ７に入力す
る。
【００２３】なお、ＬＤドライバ７に入力される記録デ
ータ信号（ＥＦＭ変調された信号）は、図示していない
ストラテジ回路で時間軸補正処理等を行った信号であ
る。
ータ信号（ＥＦＭ変調された信号）は、図示していない
ストラテジ回路で時間軸補正処理等を行った信号であ
る。
【００２４】次に、この実施形態の光ディスク装置１に
おけるデータの記録動作について説明する。光ディスク
装置１本体には、データを記録する光ディスク１０がセ
ットされる。サーボコントローラ６は、スピンドルモー
タ１４の回転速度を制御して、本体にセットされた光デ
ィスク１０を所定の回転速度で回転させる。また、サー
ボコントローラ６は、ＬＤ１１から出力されるレーザ光
の照射位置を光ディスク１０のトラックの中心に合わせ
るトラッキングサーボ制御、およびＬＤ１１から出力さ
れるレーザ光の焦点を光ディスク１０のデータの記録面
に合わせるフォーカスサーボ制御を行う。トラッキング
サーボ制御、およびフォーカスサーボ制御については周
知であるので、ここでは説明を省略する。
おけるデータの記録動作について説明する。光ディスク
装置１本体には、データを記録する光ディスク１０がセ
ットされる。サーボコントローラ６は、スピンドルモー
タ１４の回転速度を制御して、本体にセットされた光デ
ィスク１０を所定の回転速度で回転させる。また、サー
ボコントローラ６は、ＬＤ１１から出力されるレーザ光
の照射位置を光ディスク１０のトラックの中心に合わせ
るトラッキングサーボ制御、およびＬＤ１１から出力さ
れるレーザ光の焦点を光ディスク１０のデータの記録面
に合わせるフォーカスサーボ制御を行う。トラッキング
サーボ制御、およびフォーカスサーボ制御については周
知であるので、ここでは説明を省略する。
【００２５】図２は、光ディスク装置におけるデータの
記録動作を示すフローチャートである。光ディスク装置
１には、データを記録する光ディスク１０（例えばＣＤ
−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ）がセッ
トされている。光ディスク装置１は、本体にセットされ
ている光ディスク１０に対して、トラックオンおよびフ
ォーカスオンを行い、サーボコントローラ６によりフォ
ーカス制御、およびトラッキング制御を行う。
記録動作を示すフローチャートである。光ディスク装置
１には、データを記録する光ディスク１０（例えばＣＤ
−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ）がセッ
トされている。光ディスク装置１は、本体にセットされ
ている光ディスク１０に対して、トラックオンおよびフ
ォーカスオンを行い、サーボコントローラ６によりフォ
ーカス制御、およびトラッキング制御を行う。
【００２６】光ディスク装置１は、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特
性を取得する（ｓ１）。Ｉ−Ｌ特性とは、入力電流とレ
ーザ光のパワーとの関係である（図３（Ａ）参照）。ｓ
１では、ＬＤドライバ７がＬＤ１１の入力電流を段階的
に変化させながら、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の
パワーを検出することにより、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を
取得する。
性を取得する（ｓ１）。Ｉ−Ｌ特性とは、入力電流とレ
ーザ光のパワーとの関係である（図３（Ａ）参照）。ｓ
１では、ＬＤドライバ７がＬＤ１１の入力電流を段階的
に変化させながら、ＬＤ１１から出力されるレーザ光の
パワーを検出することにより、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を
取得する。
【００２７】このように、ｓ１では実際にＬＤ１１に入
力する入力電流を変化させて、該ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性
を取得するようにしたので、そのときの周囲環境下での
Ｉ−Ｌ特性を取得することができる。通常、ＬＤ１１は
周囲温度が上がると閾値電流が増大し、反対に周囲温度
が下がると閾値電流が低下する（図３（Ｂ）参照）。
力する入力電流を変化させて、該ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性
を取得するようにしたので、そのときの周囲環境下での
Ｉ−Ｌ特性を取得することができる。通常、ＬＤ１１は
周囲温度が上がると閾値電流が増大し、反対に周囲温度
が下がると閾値電流が低下する（図３（Ｂ）参照）。
【００２８】なお、ｓ１ではＬＤ１１の自己発熱による
影響を受けていないＩ−Ｌ特性が取得される。
影響を受けていないＩ−Ｌ特性が取得される。
【００２９】光ディスク装置１は、ｓ１でＬＤ１１のＩ
−Ｌ特性を取得すると、ＯＰＣを実行する（ｓ２）。Ｏ
ＰＣでは、周知のように光ディスク１１に設けられてい
るＯＰＣ領域に対して、ＬＤ１１から出力されるレーザ
光のパワーを段階的に変化させながら、データを記録す
る（図４参照）。このとき、ＬＤドライバ７はｓ１で取
得したＩ−Ｌ特性に基づいて、ＬＤ１１に対する入力電
流を制御する。したがって、周囲環境の変化や、ＬＤ１
１の経時変化の影響を受けることなく、ＯＰＣを適正に
行うことができる（ＯＰＣにおいてＬＤ１１から出力す
るレーザ光のパワーを適正に変化させることができ
る）。
−Ｌ特性を取得すると、ＯＰＣを実行する（ｓ２）。Ｏ
ＰＣでは、周知のように光ディスク１１に設けられてい
るＯＰＣ領域に対して、ＬＤ１１から出力されるレーザ
光のパワーを段階的に変化させながら、データを記録す
る（図４参照）。このとき、ＬＤドライバ７はｓ１で取
得したＩ−Ｌ特性に基づいて、ＬＤ１１に対する入力電
流を制御する。したがって、周囲環境の変化や、ＬＤ１
１の経時変化の影響を受けることなく、ＯＰＣを適正に
行うことができる（ＯＰＣにおいてＬＤ１１から出力す
るレーザ光のパワーを適正に変化させることができ
る）。
【００３０】光ディスク装置１は、ＯＰＣ領域に対する
上記データの記録が完了すると、ＯＰＣ領域に記録した
データを再生し、品質が最適であるデータを抽出し、こ
のデータを記録したときのレーザ光のパワー（以下、最
適パワーと言う。）を実記録時にＬＤ１１から出力する
レーザ光のパワーに決定する。
上記データの記録が完了すると、ＯＰＣ領域に記録した
データを再生し、品質が最適であるデータを抽出し、こ
のデータを記録したときのレーザ光のパワー（以下、最
適パワーと言う。）を実記録時にＬＤ１１から出力する
レーザ光のパワーに決定する。
【００３１】このように、ｓ２では光ディスク１０に記
録されたデータの記録品質が最適になる最適パワーを、
実記録時にＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーに決
定している。
録されたデータの記録品質が最適になる最適パワーを、
実記録時にＬＤ１１から出力するレーザ光のパワーに決
定している。
【００３２】なお、ＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を不揮発性の
メモリに記憶しておき、これを用いてｓ２におけるＯＰ
Ｃを実行してもよい。
メモリに記憶しておき、これを用いてｓ２におけるＯＰ
Ｃを実行してもよい。
【００３３】光ディスク装置１は、ここで決定した最適
パワーのレーザ光をＬＤ１１から所定時間（数１００ｍ
ｓ）だけ出力し、この間におけるＬＤ１１から出力され
ているレーザ光のパワーの変動を検出する（ｓ３〜ｓ
５）。ｓ３〜ｓ５においては、ＬＤドライバ７がＬＤ１
１に対する入力電流を一定にする。ＬＤ１１は、自己発
熱の影響を受けて、レーザ光のパワーが徐々に低下し、
あるレベルで安定する（図５参照）。
パワーのレーザ光をＬＤ１１から所定時間（数１００ｍ
ｓ）だけ出力し、この間におけるＬＤ１１から出力され
ているレーザ光のパワーの変動を検出する（ｓ３〜ｓ
５）。ｓ３〜ｓ５においては、ＬＤドライバ７がＬＤ１
１に対する入力電流を一定にする。ＬＤ１１は、自己発
熱の影響を受けて、レーザ光のパワーが徐々に低下し、
あるレベルで安定する（図５参照）。
【００３４】光ディスク装置１は、所定時間経過後、Ｌ
Ｄ１１から出力されているレーザ光のパワーが、最適パ
ワーになる入力電流を検出する（ｓ６）。ｓ６では、Ｌ
Ｄ１１に対する入力電流を徐々に上げていきながら、レ
ーザ光のパワーが最適パワーになったときの入力電流を
検出する。
Ｄ１１から出力されているレーザ光のパワーが、最適パ
ワーになる入力電流を検出する（ｓ６）。ｓ６では、Ｌ
Ｄ１１に対する入力電流を徐々に上げていきながら、レ
ーザ光のパワーが最適パワーになったときの入力電流を
検出する。
【００３５】ｓ３〜ｓ６の間において、ＬＤ１１から出
力されたレーザ光はすでにＯＰＣで使用したＯＰＣ領域
に照射している。一度ＯＰＣで使用したＯＰＣ領域は、
２度と使用することが無いので、ｓ３〜ｓ６の処理にお
いて光ディスク１０の記録領域を無駄に使用することが
なく、光ディスク１０の記録領域を有効に利用できる。
力されたレーザ光はすでにＯＰＣで使用したＯＰＣ領域
に照射している。一度ＯＰＣで使用したＯＰＣ領域は、
２度と使用することが無いので、ｓ３〜ｓ６の処理にお
いて光ディスク１０の記録領域を無駄に使用することが
なく、光ディスク１０の記録領域を有効に利用できる。
【００３６】光ディスク装置１は、ｓ６で最適パワーが
得られる入力電流を得ると、ＬＤ１１について自己発熱
による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得する（ｓ７）。ｓ
７では、自己発熱によるレーザ光のパワーの低下量と、
ｓ６で検出した最適パワーになるときのＬＤ１１の入力
電流とに基づいて、自己発熱の影響を受けたＬＤ１１の
Ｉ−Ｌ特性を取得する。図６は、ｓ７で取得される自己
発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を示す図
である。図６に示すように、自己発熱による影響を受け
たＬＤ１１のＩ−Ｌ特性と、図３に示した自己発熱によ
る影響を受けていないＬＤ１１のＩ−Ｌ特性とは、その
形状が異なる。ＬＤ１１における自己発熱の影響は、Ｌ
Ｄ１１から出力するレーザ光のパワーにより異なる。
得られる入力電流を得ると、ＬＤ１１について自己発熱
による影響を受けたＩ−Ｌ特性を取得する（ｓ７）。ｓ
７では、自己発熱によるレーザ光のパワーの低下量と、
ｓ６で検出した最適パワーになるときのＬＤ１１の入力
電流とに基づいて、自己発熱の影響を受けたＬＤ１１の
Ｉ−Ｌ特性を取得する。図６は、ｓ７で取得される自己
発熱による影響を受けたＬＤ１１のＩ−Ｌ特性を示す図
である。図６に示すように、自己発熱による影響を受け
たＬＤ１１のＩ−Ｌ特性と、図３に示した自己発熱によ
る影響を受けていないＬＤ１１のＩ−Ｌ特性とは、その
形状が異なる。ＬＤ１１における自己発熱の影響は、Ｌ
Ｄ１１から出力するレーザ光のパワーにより異なる。
【００３７】したがって、ｓ７ではＯＰＣで決定した最
適パワーのレーザ光を出力するときのＩ−Ｌ特性（自己
発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性）を取得することができ
る。
適パワーのレーザ光を出力するときのＩ−Ｌ特性（自己
発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性）を取得することができ
る。
【００３８】光ディスク装置１は、光ディスク１０のデ
ータ領域にデータを記録するデータ記録処理を行い（ｓ
８）、本処理を終了する。ｓ８では、ｓ７で取得した自
己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１
１に対する入力電流を制御する。具体的には、ＬＤ１１
から実際に出力されているレーザ光のパワーと、最適パ
ワーとの差分に対して、ｓ７で取得した自己発熱による
影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１１に対する入
力電流を変化させる。このため、ＬＤ１１から出力され
ているレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光
ディスク１０に記録されたデータの品質のばらつきを抑
えることができる。
ータ領域にデータを記録するデータ記録処理を行い（ｓ
８）、本処理を終了する。ｓ８では、ｓ７で取得した自
己発熱による影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１
１に対する入力電流を制御する。具体的には、ＬＤ１１
から実際に出力されているレーザ光のパワーと、最適パ
ワーとの差分に対して、ｓ７で取得した自己発熱による
影響を受けたＩ−Ｌ特性に基づいてＬＤ１１に対する入
力電流を変化させる。このため、ＬＤ１１から出力され
ているレーザ光のパワーの脈動を抑えることができ、光
ディスク１０に記録されたデータの品質のばらつきを抑
えることができる。
【００３９】このように、この実施形態の光ディスク装
置１は、ＬＤ１１が最適パワーのレーザ光を出力してい
るときにおける自己発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性を検
出し、該Ｉ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時におけ
るＬＤ１１の入力電流を制御するようにしたので、ＬＤ
１１から出力されているレーザ光のパワーが最適パワー
付近で脈動するのを抑えることができ、光ディスク１０
に記録されたデータの品質のばらつきを抑えることがで
きる。
置１は、ＬＤ１１が最適パワーのレーザ光を出力してい
るときにおける自己発熱の影響を受けたＩ−Ｌ特性を検
出し、該Ｉ−Ｌ特性に基づいてデータの実記録時におけ
るＬＤ１１の入力電流を制御するようにしたので、ＬＤ
１１から出力されているレーザ光のパワーが最適パワー
付近で脈動するのを抑えることができ、光ディスク１０
に記録されたデータの品質のばらつきを抑えることがで
きる。
【００４０】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、光源
から出力されているレーザ光のパワーの脈動を抑えるこ
とができ、光ディスクに記録されたデータの品質のばら
つきを抑えることができる。
から出力されているレーザ光のパワーの脈動を抑えるこ
とができ、光ディスクに記録されたデータの品質のばら
つきを抑えることができる。
【図１】この発明の実施形態である光ディスク装置の主
要部の構成を示す図である。
要部の構成を示す図である。
【図２】この発明の実施形態である光ディスク装置にお
けるデータの記録動作を示すフローチャートである。
けるデータの記録動作を示すフローチャートである。
【図３】ＬＤのＩ−Ｌ特性を説明する図である。
【図４】ＯＰＣ時におけるＬＤから出力するレーザパワ
ーの変化を示す図である。
ーの変化を示す図である。
【図５】自己発熱による影響を説明する図である。
【図６】自己発熱による影響を受けたＬＤのＩ−Ｌ特性
を説明する図である。
を説明する図である。
１−光ディスク装置
２−制御部
３−ピックアップヘッド
７−ＬＤドライバ
８−レーザパワー制御部
１１−ｌｄ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB05 CC01 CC16
DD03 EE01 EE05 JJ01 JJ12
KK03 LL01
5D119 AA23 AA26 BA01 BB02 BB04
DA01 FA05 HA12 HA17 HA19
HA45
5D789 AA23 AA26 BA01 BB02 BB04
DA01 FA05 HA12 HA17 HA19
HA45
Claims (5)
- 【請求項１】 装置本体にセットされた光ディスクに対
して、レーザ光を照射する光源を有するピックアップヘ
ッドと、 上記ピックアップヘッドに設けられた上記光源から照射
するレーザ光の波形、およびパワーを、該光源に対する
入力電流を制御して上記光ディスクにデータを記録する
記録制御部と、を備え、 上記記録制御部は、上記光ディスクへのデータの記録を
実行するに際して、該ディスクの所定の記録領域に対し
てレーザ光のパワーを段階的に変化させながらデータの
試し記録を行い、該データの試し記録の結果に基づいて
データの実記録時におけるレーザ光のパワーを決定する
光ディスク装置において、 上記記録制御部は、上記試し記録を実行する前に、上記
光源に対する入力電流を変化させて現在の周囲環境にお
ける入力電流とレーザ光のパワーとの関係を検出し、こ
こで検出した入力電流とレーザ光のパワーとの関係に基
づいて上記試し記録を行い、また上記試し記録の結果に
基づいて決定したデータの実記録時におけるレーザ光の
パワーに応じた大きさの入力電流を上記光源に対して所
定時間入力し、すでに上記試し記録で使用した領域にレ
ーザ光を照射しながら、この間におけるレーザ光のパワ
ーの変動を検出し、さらに、データの実記録時に上記光
源から出力されているレーザ光のパワーを検出し、ここ
で検出したレーザ光のパワーに応じて上記光源に対する
入力電流を制御し、且つ該入力電流の制御を先に検出し
た上記レーザ光のパワーの変動に基づいて行う光ディス
ク装置。 - 【請求項２】 装置本体にセットされた光ディスクに対
して、レーザ光を照射する光源を有するピックアップヘ
ッドと、 上記ピックアップヘッドに設けられた上記光源から照射
するレーザ光の波形、およびパワーを、該光源に対する
入力電流を制御して上記光ディスクにデータを記録する
記録制御部と、を備え、 上記記録制御部は、上記光ディスクへのデータの記録を
実行するに際して、該ディスクの所定の記録領域に対し
てレーザ光のパワーを段階的に変化させながらデータの
試し記録を行い、該データの試し記録の結果に基づいて
データの実記録時におけるレーザ光のパワーを決定する
光ディスク装置において、 上記記録制御部は、上記試し記録の結果に基づいて決定
したデータの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じ
た大きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力
し、この間におけるレーザ光のパワーの変動を検出し、
ここで検出したレーザ光のパワーの変動に基づいてデー
タの実記録時における上記光源に対する入力電流を制御
する光ディスク装置。 - 【請求項３】 上記記録制御部は、データの実記録時に
上記光源から出力されているレーザ光のパワーを検出
し、ここで検出したレーザ光のパワーに応じて上記光源
に対する入力電流を制御する請求項２に記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項４】 上記試し記録の結果に基づいて決定した
データの実記録時におけるレーザ光のパワーに応じた大
きさの入力電流を上記光源に対して所定時間入力してい
る間、レーザ光がすでに上記試し記録で使用した領域に
照射される請求項２、または３に記載の光ディスク装
置。 - 【請求項５】 上記記録制御部は、上記試し記録を実行
する前に、上記光源に対する入力電流を変化させて現在
の周囲環境における入力電流とレーザ光のパワーとの関
係を検出し、ここで検出した入力電流とレーザ光のパワ
ーとの関係に基づいて上記試し記録を行う請求項２〜４
のいずれかに記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002135903A JP3981815B2 (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002135903A JP3981815B2 (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003331450A true JP2003331450A (ja) | 2003-11-21 |
| JP3981815B2 JP3981815B2 (ja) | 2007-09-26 |
Family
ID=29698101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002135903A Expired - Fee Related JP3981815B2 (ja) | 2002-05-10 | 2002-05-10 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3981815B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008192192A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Toshiba Corp | 光ディスク装置及びレーザ出力制御方法 |
-
2002
- 2002-05-10 JP JP2002135903A patent/JP3981815B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008192192A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Toshiba Corp | 光ディスク装置及びレーザ出力制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3981815B2 (ja) | 2007-09-26 |
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