CN1580750A - 缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种缺陷检测装置，用与表示记录或再生中的某一个的控制信号对应的增益，将与光盘反射的光的强度对应的反射信号放大后输出的放大部；求出所述放大部的输出的包络线后输出的包络线检测部；在所述控制信号变化时，输出所定长度的脉冲的第1脉冲生成部；将所述包络线检测部的输出积分后输出的积分部；将所述包络线检测部的输出作为第1输入信号、所述积分部的输出作为第2输入信号接收，生成差分信号后输出的差分信号生成部；比较所述差分信号生成部的输出和所定的值，将其结果作为表示有无缺陷的缺陷检测信号输出的比较部。在所述脉冲的期间，使所述第2输入信号变化，以便降低表示所述缺陷检测信号有缺陷的可能性。从而更加正确地检测光盘上的缺陷。
Description
技术领域
本发明涉及一种在光盘装置中使用的、检测光盘上的缺陷(不能正常写入及读出的部分)的缺陷检测装置。
背景技术
近几年来，在计算机系统中，伴随着处理的信息量的大幅度增加，作为数据的记录再生装置，大容量、高速而且可以随机存取的光盘装置，得到广泛采用。这种装置，作为记录媒体，例如使用CD-R(Compact Disc-Recordable)、CD-RW(CD-ReWritabie)、DVD-R/RW(Digital VersatileDisc-Recordable/ReWritabie)、DVD-RAM(DVD-Random AccessMemory)等光盘。
在这种光盘装置中使用的缺陷检测装置，一般地说，是将光束收敛照射在光盘上，通过检测与由光盘反射的反射光的强度对应的信号的包络线变化，来检测光盘上的缺陷，输出显示有无缺陷的缺陷检测信号。该缺陷检测信号，作为前值保持用信号，被控制对光盘进行跟踪及聚焦伺服的伺服电路利用，或者使用作为各种控制用装入光盘装置的CPU，为了获得判断光盘的不能记录区域的抽出信号而被利用。
图9是表示现有技术的缺陷检测装置的结构示例的方框图。图10是表示图9的缺陷检测装置中的信号波形的曲线图。讲述图9的缺陷检测装置。
首先，光束收敛照射光盘，与被光盘反射的光的强度对应的反射信号AS，被输入可变增益放大器902。可变增益放大器902，用与表示是向光盘记录时或是来自光盘的再生时的记录门信号WTGT对应的增益，将反射信号AS，放大到所定的振幅，并向高速包络线检测电路940输出。使用可变增益放大器902后，可以不将根据记录时或再生时中的某一个而变化的光盘的反射光的电平差，作为包络线变化而检测。
接着，高速包络线检测电路940，检测输入信号的包络线，向差动电路906及积分电路960输出。积分电路960，将高速包络线检测电路940的输出积分，向差动电路906输出。例如，假设由于光盘存在缺陷，反射信号AS的包络线急剧变化。这时，具有较小时间常数的包络线检测电路940输出的包络线信号EM，如图10所示，成为与包络线的急剧变化对应的波形。另一方面，积分电路的输出信号IS，却与反射信号AS的急剧变化无关，如图10所示，成为缓慢变化的波形。
差动电路906，将与包络线信号EM和积分电路960的输出信号1S的差值对应的差分信号DF向比较器908输出。比较器908将D/A变换器912输出的信号SD作为限幅电平使用，通过将差分信号DF双值化，生成缺陷检测信号DD后输出(例如，参阅日本国特开2003-196853号公报)。
可是，采用图9的电路后，当可变增益放大器902的增益设定存在偏差等时，就不可能消除记录时和再生时反射光的电平差异。因此，对光盘的动作，在从记录变成再生，或由再生变成记录时，如图10所示，可变增益放大器902的输出AP就要产生电平差。
特别是对光盘的动作，从记录变成再生时，包络线检测电路940输出的包络线信号EM，虽然跟踪反射信号AS的电平差，但它被积分的信号IS跟踪却需要时间。因此，差分信号OF超过信号SD，长时间输出错误的缺陷检测信号DD(图10的脉冲FS)，所以不能进行稳定性高的再生。另外，在对光盘的动作，由再生切换为记录时，虽然不输出错误的缺陷检测信号DD，但是要经过好长时间才能进行正确的缺陷检测。
发明内容
本发明的目的在于，为了进行稳定性高的记录及再生，更正确地检测光盘上的缺陷。
为了解决上述课题，本发明之1的发明采取的手段，作为缺陷检测装置，包括：将与由被光束照射的光盘反射的光的强度对应的反射信号，用与表示应该对所述光盘进行记录或再生中的某一个的控制信号对应的增益放大后输出的放大部；求出所述放大部的输出的包络线后输出的包络线检测部；在所述控制信号变化时，输出所定长度的脉冲的第1脉冲生成部；将所述包络线检测部的输出积分后输出的积分部；将所述包络线检测部的输出作为第1输入信号、所述积分部的输出作为第2输入信号接收，生成与第1输入信号和第2输入信号之差对应的差分信号后输出的差分信号生成部；比较所述差分信号生成部的输出和所定的值，将其结果作为表示有无缺陷的缺陷检测信号输出的比较部；在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，使所述差分信号生成部的第2输入信号变化，以便降低表示所述缺陷检测信号有缺陷的可能性。
采用本发明之1的发明后，由于在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，表示所述缺陷检测信号有缺陷的可能性变小，所以可以减少在对光盘的动作刚向记录或再生切换后，尽管没有缺陷却输出表示有缺陷的错误的缺陷检测信号的输出频度。
本发明之2的发明，在本发明之1所述的缺陷检测装置中，还具有在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间选择所述包络线检测部输出的信号，在其它期间选择所述积分部输出的信号，作为所述差分信号生成部的第2输出入信号输出的开关。
采用本发明之2的发明后，由于在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，差分信号生成部的第1及第2输出入信号相等，所以能够不输出错误的缺陷检测信号。
本发明之3的发明，在本发明之1所述的缺陷检测装置中，所述积分部，在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，减少其时间常数。
采用本发明之3的发明后，由于在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，差分信号生成部的第2输出入信号迅速跟踪差分信号生成部的第1输出入信号，所以能够减少错误的缺陷检测信号的输出频度。
本发明之4的发明，在本发明之1所述的缺陷检测装置中，还具有在所述第1脉冲生成部结束输出脉冲后，输出所定长度的脉冲的第2脉冲生成部；所述积分部，具有一端接地，另一端是该积分部的输出的第1电容器，而且，在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，将在没有缺陷时对所述包络线检测部输出的信号，在有缺陷时处于所述包络线检测部输出的信号一侧的所定的电压，给予所述第1电容器，在所述第2脉冲生成部输出脉冲的期间，减小该积分部的时间常数。
采用本发明之4的发明后，能够在第1脉冲生成部输出脉冲的期间，不输出错误的缺陷检测信号。另外，由于在第2脉冲生成部输出脉冲的期间，能够减少积分部的时间常数，所以在第1脉冲生成部输出脉冲的期间结束后，可以迅速重新开始缺陷检测。
本发明之5的发明，在本发明之4所述的缺陷检测装置中，所述包络线检测部，具有一端接地，另一端是该包络线检测部的输出的第2电容器，而且，在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，将所述所定的电压，给予所述第2电容器。
采用本发明之5的发明后，因为在第1脉冲生成部输出脉冲的期间，将和积分部的第1电容器相同的电压，给予包络线检测部的第2电容器，所以差分信号生成部不输出与缺陷检测时极性相反的信号。由于可以缩小差分信号生成部输出的动态范围，所以能够提高缺陷检测的灵敏度。
本发明之6的发明，其特征在于：在本发明之5所述的缺陷检测装置中，所述积分部，具有将所述所定的电压给予所述第1电容器的第1开关；所述包络线检测部，具有将所述所定的电压给予所述第2电容器的第2开关；所述第1电容器的容量和所述第1开关的ON电阻之积，和所述第2电容器的容量和所述第2开关的ON电阻之积成为基本相等的结构。
采用本发明之6的发明后，因为在第1脉冲生成部输出脉冲的期间，第1电容器及第2电容器的电压达到所定电压的时间，可以基本相等，所以可以可靠地减小差分信号生成部输出的动态范围。
综上所述，采用本发明后，可以降低输出错误的缺陷检测信号的可能性，可以更正确地检测光盘上的缺陷。其结果就能进行稳定性高的记录及再生。
附图说明
图1是表示本发明的第1实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。
图2是表示图1的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
图3是表示本发明的第2实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。
图4是表示图3的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
图5是表示本发明的第3实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。
图6是表示图5的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
图7是表示本发明的第4实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。
图8是表示图7的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
图9是表示现有技术的缺陷检测装置的结构示例的方框图。
图10是表示图9的缺陷检测装置中的信号波形的曲线图。
具体实施方式
下面，参阅附图，讲述本发明的实施方式。
(第1实施方式)
图1是表示本发明的第1实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。图1的缺陷检测装置，包括：作为放大部的可变增益放大器102，开关104，作为差分信号生成部的差动电路106，作为比较部的比较器108，D/A变换器112，边缘检测电路122，作为第1脉冲生成部的单稳态多谐振荡(单稳态多谐振荡器)电路124，作为包络线检测部的高速包络线检波电路140，作为积分部的积分电路160。图2是表示图1的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
收敛照射光盘的光束，被该光盘反射。多个受光元件(图中未示出)接收被反射的光，变换成与其强度对应的电信号后输出。将这些多个受光元件的输出全部相加后得出的全加信号，作为反射信号AS输入可变增益放大器102。
另外，还给可变增益放大器102输入记录门信号WTGT。记录门信号WTGT，是表示应该对光盘进行记录或再生中的哪一个的信号，例如：往光盘上记录时，成为“H”；来自光盘的再生时，成为“L”(“H”及“L”分别表示高逻辑状态及低逻辑状态)。
在记录时，照射光盘的光束，调制成例如在从最大15mW到最小0.5mW的范围内进行功率变化。另外，在再生时，光束用比较小的一定的功率照射。光束的功率越大、越明亮，反射信号AS的电平就变大，所以再生时的反射信号AS的电平和记录时的反射信号AS的平均电平，产生较大的差(参阅图2)。可变增益放大器102按照记录门信号WTGT变更增益，以便使该差变小。就是说，可变增益放大器102在记录时使增益变小，再生时使增益变大，将反射信号AS放大，将得到的放大器输出信号AP向高速包络线检波电路140输出。
高速包络线检波电路140，是一般的检波电路，求出放大器输出信号AP上侧(明侧)包络线后输出。高速包络线检波电路140包括：放大器142，电流源144、148，电容器146。电容器146的一端接地，另一端成为高速包络线检波电路140的输出。在高速包络线检波电路140中，电流源144用大小与放大器输出信号AP对应的电流给电容器146充电，电流源148用大小已经设定的电流给电容器146放电。高速包络线检波电路140将电容器146的电压，作为包络线信号EM，向开关104、差动电路106的反相输入端子及积分电路160输出。
积分电路160具有电阻162和电容器164。电阻162的一端，被给予包络线信号EM。电阻162的另一端，与开关104连接，进而与电容器164的一端连接。电容器164的另一端接地。就是说，积分电路160，向开关104输出将包络线信号EM积分后得到的信号。
边缘检测电路122，在记录门信号WTGT的信号电平变化后，向单稳态多谐振荡电路124输出脉冲。单稳态多谐振荡电路124接收来自边缘检测电路122的脉冲后，在所定长度的时间t1中，生成成为“H”的脉冲后输出。单稳态多谐振荡电路124，将其输出信号MM1向开关104输出。
开关104，在信号MM1是“L”时，选择积分电路160的输出，在信号MM1是“H”时，选择包络线信号EM，向差动电路106的正相输入端子输出。
差动电路106，求出高速包络线检波电路140给予的输入信号——包络线信号EM和开关104给予的输入信号IS之差，作为差分信号DF，向比较器108输出。
向D/A变换器112预先输入数字值，将该值变换成电压，作为阈值SD，向比较器108输出。比较器108比较差分信号DF和阈值SD，将差分信号DF大于阈值SD时成为“H”的信号、差分信号DF小于阈值SD时成为“L”的信号，作为缺陷检测信号DD输出。由于可以将任意的值给予D/A变换器112，所以可以自由设定旨在进行缺陷检测的阈值。
下面，讲述在进行缺陷检测时图1的缺陷检测装置的动作。在这里，作为例子，讲述再生时的情况，但记录时的情况也一样。再生开始后稍过一会，由于单稳态多谐振荡电路124的输出信号MM1是“L”，所以开关104选择积分电路160的输出。
在光盘上存在在缺陷时，从那儿反射的光变弱，所以反射信号AS及放大器输出信号AP的电平通常降低。高速包络线检波电路140跟踪电平因缺陷而降低的放大器输出信号AP，输出电平与该信号基本上相同的包络线信号EM。
另一方面，积分电路160，因其时间常数比高速包络线检波电路160长，所以不跟踪包络线信号EM的电平因缺陷而出现的降低。就是说，选择积分电路160的输出的开关104的输出IS，在包络线信号EM的电平因缺陷而出现降低的期间，电平几乎不变。
所以，存在缺陷时，求出开关104的输出IS和包络线信号EM之差的差动电路106输出的差分信号DF就要变大。于是，比较器108将表示检测到缺陷的脉冲TS1，作为缺陷检测信号DD输出(参阅图2)。
下面，讲述将对光盘的动作、即将光束的光输出及光盘装置的状态由记录切换成再生或由再生切换成记录时，图1的缺陷检测装置的动作。在可变增益放大器102的增益设定存在偏差等、增益不适当时，如图2所示，在记录时和再生时，放大器输出信号AP的包络线(上侧包络线)的电平往往产生差异。
将对光盘的动作由记录切换成再生或由再生切换成记录时，放大器输出信号AP的上侧包络线的电平降低后，就成为与缺陷检测时同样的状态，所以比较器108，作为缺陷检测信号DD输出脉冲(伪缺陷信号FS1)。
因此，如图2所示，记录门信号WTGT的信号电平变化后，在时间t1的期间，使单稳态多谐振荡器124的输出信号MM1成为“H”，使开关104选择包络线信号EM。于是，给差动电路106的2个输入信号成为相同的信号，所以差动电路106输出的差分信号DF成为零。因为差分信号DF小于阈值SD，所以比较器106输出的缺陷检测信号DD仍旧是“L”，不产生伪缺陷信号FS1。虽然经过时间t1后，要产生伪缺陷信号FS1。但如果将时间t1设定得足够长，就可以防止产生伪缺陷信号FS1。
这样，采用第1实施方式的缺陷检测装置后，在单稳态多谐振荡电路124输出脉冲的期间，可以不产生伪缺陷信号，所以可以降低伪缺陷信号FS1产生的可能性。
(第2实施方式)
图3是表示本发明的第2实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。图3的缺陷检测装置，是在图1的缺陷检测装置中，不包括开关104，取代积分电路160，具有积分电路260。
另外，图3的缺陷检测装置，包括：可变增益放大器202，差动电路206，比较器208，D/A变换器212，边缘检测电路222，单稳态多谐振荡电路224及高速包络线检波电路140。它们分别与图1的缺陷检测装置中的可变增益放大器102、差动电路106、比较器108、D/A变换器112、边缘检测电路122、单稳态多谐振荡电路124及高速包络线检波电路140对应，具有相同的结构，所以不再赘述。图4是表示图3的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
在图3中，积分电路260具有电阻262、电容器264和开关266。电阻262的一端，被给予包络线信号EM。电阻262的另一端，与差动电路206的正相输入端子连接，进而与电容器264的一端连接。电容器264的另一端接地。就是说，积分电路260，将包络线信号EM积分后得到的信号，作为信号IS，给予差动电路206。由于开关266与电阻262的两端连接，所以积分电路260的时间常数可随着开关266的动作切换。更具体地说，开关266，在单稳态多谐振荡电路224的输出信号MM1是“H”时成为ON状态，是“L”时成为OFF状态。
差动电路206，求出高速包络线检波电路240给予的输入信号——包络线信号EM和积分电路260给予的输入信号IS之差，作为差分信号DF，向比较器208输出。
将对光盘的动作由记录切换成再生或由再生切换成记录时，记录门信号WTGT的电平变化。单稳态多谐振荡器224，在记录门WTGT的信号电平变化后、在时间t1的期间，使输出信号MM1成为“H”。于是，开关266成为ON状态，积分电路260的时间常数变小。
其结果，如图4所示，由于积分电路260的输出信号IS的变化加快，与包络线信号EM的差减小，所以差动电路206输出的差分信号DF不太大，能够大幅度缩短产生伪缺陷信号FS2的期间。如果将积分电路260的时间常数减少得非常小，也能防止伪缺陷信号FS2的产生。
这样，采用第2实施方式的缺陷检测装置后，即使对光盘的动作由记录刚切换成再生或由再生刚切换成记录时，也能通过减小积分电路260的时间常数，降低伪缺陷信号产生的可能性。
(第3实施方式)
图5是表示本发明的第3实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。图5的缺陷检测装置，是在图3的缺陷检测装置中，还具有作为第2脉冲生成部的第2单稳态多谐振荡电路326，取代积分电路260，具有积分电路360。
另外，图5的缺陷检测装置，包括：可变增益放大器302，差动电路306，比较器308，D/A变换器312，边缘检测电路322，第1单稳态多谐振荡电路324及高速包络线检波电路340。它们分别与图3的缺陷检测装置中的可变增益放大器202、差动电路206、比较器208、D/A变换器212、边缘检测电路222、单稳态多谐振荡电路224及高速包络线检波电路240对应，具有相同的结构，所以不再赘述。图6是表示图5的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
在图5中，第1单稳态多谐振荡电路324，将其输出信号MM1向第2单稳态多谐振荡电路326及积分电路360输出。第2单稳态多谐振荡电路326，将其输出信号MM2向积分电路360输出。第2单稳态多谐振荡电路326在第1单稳态多谐振荡电路324输出的脉冲结束后，即信号MM1的电平由“H”变为“L”后，在所定的长度的t2中，生成成为“H”的脉冲输出(参阅图6)。
积分电路360具有电阻362、电容器364和开关366、368、372。电阻362的一端，被给予包络线信号EM。电阻362的另一端，与差动电路206的正相输入端子连接，进而通过开关368与电容器364的一端连接。电容器364的另一端接地。就是说，积分电路360，将包络线信号EM积分后得到的信号，作为信号IS，给予差动电路306。
开关368，在信号MM1是“L”时选择电容器364，是“H”时选择基准电压VREF，与差动电路306的正相输入端子连接。开关372仅在信号MM1为“H”时成为ON状态，将基准电压VREF给予电容器364。由于开关366与电阻362的两端连接，所以积分电路360的时间常数可随着开关366的动作切换。更具体地说，开关366，在第2单稳态多谐振荡电路326的输出信号MM2是“H”时成为ON状态，是“L”时成为OFF状态。
差动电路306，求出高速包络线检波电路340给予的输入信号——包络线信号EM和积分电路360给予的输入信号IS之差，作为差分信号DF，向比较器308输出。
将对光盘的动作由记录切换成再生或由再生切换成记录时，记录门信号WTGT的电平变化。如图6所示，第1单稳态多谐振荡器324，在记录门WTGT的信号电平变化后、在时间t1的期间，使输出信号MM1成为“H”。于是，由于开关368选择基准电压VREF，所以积分电路360输出的信号IS成为基准电压VREF，开关372成为ON状态，将基准电压VREF给予电容器364，所以电容器364的电压被基准电压VREF初始化。
对没有缺陷时的包络线信号EM而言，基准电压VREF是有缺陷时的包络线信号EM一侧的电压。在这里，使基准电压VREF成为比包络线信号EM的电压低的电压。
第2单稳态多谐振荡电路326在第1单稳态多谐振荡电路324输出的脉冲结束后，在时间t2期间，使输出信号MM2为“H”，于是开关366成为ON状态，积分电路360的时间常数变小。
其结果，如图6所示，积分电路360的输出信号IS，在第1单稳态多谐振荡电路324输出脉冲的期间，被固定成低电压，然后，在第2单稳态多谐振荡电路326输出脉冲的期间，火速接近包络线信号EM。就是说，由于在时间t1+t2的期间，使差动电路306输出的差动信号DF朝着与缺陷检测时相反的方向(即成为负电压)变化，所述比较器308不产生伪缺陷信号。
这样，采用第3实施方式的缺陷检测装置后，即使对光盘的动作由记录刚切换成再生或由再生刚切换成记录时，也能够通过将积分电路360的输出信号IS固定成为低电平，然后通过减小积分电路360的时间常数，从而可以不产生伪缺陷信号。所以可以杜绝误检，进行可靠性很高的缺陷检测。
(第4实施方式)
图7是表示本发明的第4实施方式涉及的缺陷检测装置的结构示例的方框图。图7的缺陷检测装置，是在图5的缺陷检测装置中，取高速包络线检波电路340，具有高速包络线检波电路440。
另外，图7的缺陷检测装置，包括：可变增益放大器402，差动电路406，比较器408，D/A变换器412，边缘检测电路422，第1单稳态多谐振荡电路424，第2单稳态多谐振荡电路426及积分电路460。它们分别与图5的缺陷检测装置中的可变增益放大器302、差动电路306、比较器308、D/A变换器312、边缘检测电路322、第1单稳态多谐振荡电路224、第2单稳态多谐振荡电路226及积分电路360对应，具有相同的结构，所以不再赘述。图8是表示图7的缺陷检测装置中的信号的波形的曲线图。
积分电路460具有电阻462、电容器(第1电容器)464和开关466、468、472。它们分别与图5的积分电路360中的电阻362、电容器364和开关366、368、372对应，具有相同的结构。开关472构成第1开关。
高速包络线检波电路440。是在图1的高速包络线检波电路140中，还具有开关(第2开关)452。另外，高速包络线检波电路440还包括放大器442、电源444、448、电容器(第2电容器)446。它们分别与图1的高速包络线检波电路440中的放大器142、电源144、148、电容器146对应，具有相同的结构。
开关452被连接成仅在第1单稳态多谐振荡电路424的信号MM1为“H”时成为ON状态，将基准电压VREF给予高速包络线检波电路440的输出，即将基准电压VREF给予电容器446。
将对光盘的动作由记录切换成再生或由再生切换成记录时，记录门信号WTGT的电平变化。如图8所示，第1单稳态多谐振荡器424，在记录门WTGT的信号电平变化后、在时间t1的期间，使输出信号MM1成为“H”。于是，开关452成为ON状态，电容器446的电压、即高速包络线检波电路440输出的包络线信号EM被基准电压VREF初始化。其后，开关452成为OFF状态，包络线信号EM迅速接近原来的值。
其结果，如图8所示，在第1及第2单稳态多谐振荡电路424、426输出脉冲的期间(时间t1+t2)，包络线信号EM和积分电路360的输出信号IS的电平，基本相等。由于差动电路406输出几乎为零，所述比较器408不产生伪缺陷信号。
另外，在这期间，由于差动电路406不输出与缺陷检测时极性相反的信号(负值信号)，所以可以不加大输出的动态范围。这样就能够不改变向比较器408输出阈值SD的D/A变换器412的分辩能力(输入的数字值的比特数)，缩小其量化台阶。由于能更适当地设定阈值SD，所以可以提高缺陷检测的灵敏度。
由于开关452、472在成为ON状态时也具有电阻(ON电阻)，所以在被信号MM1的脉冲初始化之际，电容器446、464的电压缓慢小降。由于电容器446、464的电压被给予差动电路406，所以至少直到信号MM1的脉冲结束为止，可望使电容器446、464的电压相等。
因此，可以将高速包络线检波电路440和积分电路460采用如下结构。即：使电容器446的容量和开关452的ON电阻之积和电容器464的容量和开关472的ON电阻之积基本相等。
这样，采用第4实施方式的缺陷检测装置后，即使对光盘的动作由记录刚切换成再生或由再生刚切换成记录时，也能够通过将高速包络线检波电路440输出的包络线信号EM及积分电路460的输出信号IS固定成为低电平，然后通过减小积分电路460的时间常数，从而可以不产生伪缺陷信号。所以可以杜绝误检，进行可靠性很高的缺陷检测，并且能够提高缺陷检测的灵敏度。
综上所述，本发明涉及的缺陷检测装置，可以更加正确地检测光盘上的缺陷，作为在光盘装置等中使用的缺陷检测装置等，大有用处。
Claims (6)
1、一种缺陷检测装置，其特征在于：包括：
将与由被光束照射的光盘反射的光的强度对应的反射信号，用与表示要对所述光盘进行记录或再生中的某一个的控制信号对应的增益进行放大后输出的放大部；
求出所述放大部的输出的包络线后输出的包络线检测部；
在所述控制信号变化时，输出所定长度的脉冲的第1脉冲生成部；
将所述包络线检测部的输出积分后输出的积分部；
将所述包络线检测部的输出作为第1输入信号、所述积分部的输出作为第2输入信号接收，生成与第1输入信号和第2输入信号之差对应的差分信号后输出的差分信号生成部；以及
比较所述差分信号生成部的输出和所定的值，将其结果作为表示有无缺陷的缺陷检测信号输出的比较部，
在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，使所述差分信号生成部的第2输入信号变化，以便降低表示所述缺陷检测信号有缺陷的可能性。
2、如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于：还具有：在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间选择所述包络线检测部输出的信号，在其它期间选择所述积分部输出的信号，来作为所述差分信号生成部的第2输入信号输出的开关。
3、如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于：所述积分部，在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，减少其时间常数。
4、如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于：还具有：在所述第1脉冲生成部输出的脉冲结束后，输出所定长度的脉冲的第2脉冲生成部，
所述积分部，具有一端接地，另一端是该积分部的输出的第1电容器，而且，在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，将相对在没有缺陷时所述包络线检测部输出的信号而言，在有缺陷时处于所述包络线检测部输出的信号一侧的所定的电压，给予所述第1电容器，在所述第2脉冲生成部输出脉冲的期间，减小该积分部的时间常数。
5、如权利要求4所述的缺陷检测装置，其特征在于：所述包络线检测部，具有一端接地，另一端是该包络线检测部的输出的第2电容器，而且，在所述第1脉冲生成部输出脉冲的期间，将所述所定的电压，给予所述第2电容器。
6、如权利要求5所述的缺陷检测装置，其特征在于：所述积分部，具有将所述所定的电压给予所述第1电容器的第1开关，
所述包络线检测部，具有将所述所定的电压给予所述第2电容器的第2开关，
所述第1电容器的容量与所述第1开关的ON电阻之积，和所述第2电容器的容量与所述第2开关的ON电阻之积，基本相等。
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