JP2005024549A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 X線異物検出装置1は、包装材Wpを用いた被検査物Wのシール部Wsの不良の有無を検査するものであり、画像抽出手段17により被検査物Wの全体画像から内容物Waの画像を抽出し、外形領域抽出手段18により被検査物Wの全体画像から外形領域S1を抽出し、さらにシール部領域算出手段19により外形領域抽出手段18が抽出した外形領域S1からシール部領域S2を算出する。判別手段20は、シール部算出手段19が算出したシール部領域S2の画像のレベルと被検査物Wの内容物Waの画像のレベルとの比較やシール部領域S2内の特異点の有無に基づいてシール部Wsの不良の有無を判別する。
【選択図】 図3
Description
この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては下記特許文献1に開示されるシール部不良検出装置が知られている。
前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から外形を抽出し、この抽出した外形を基準として、予め設定されたシール部情報に基づいて前記被検査物のシール部領域S2を算出し、この算出したシール部領域の画像の濃淡レベルを用いてシール不良の有無を判別する信号処理手段14を備えたことを特徴とする。
前記信号処理手段14は、前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から外形を示す外形領域S1を抽出する外形領域抽出手段18と、
前記外形領域抽出手段が抽出した外形領域を基準として、予め設定されたシール部情報に基づいてシール部領域S2を算出するシール部領域算出手段19と、
前記シール部領域の画像の濃淡レベルの特異点を抽出してシール不良の有無を判別する判別手段20とを備えたことを特徴とする。
前記被検査物WにX線を曝射したときの該被検査領域全体の透過画像を抽出し、この抽出した透過画像から前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けして前記被検査物の外形領域S1を抽出することを特徴とする。
前記被検査領域全体の透過画像のヒストグラムを算出し、該ヒストグラムの最初の谷を閾値として前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けることを特徴とする。
前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から内容物Waの画像を抽出する画像抽出手段17を備え、
前記判別手段20は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物Wの内容物領域内における内容物の異物の有無を判別する異物判別手段20aを具備することを特徴とする。
前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から内容物Waの画像を抽出する画像抽出手段17を備え、
前記判別手段20は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物Wの内容物領域内における内容物の欠品の有無を判別する欠品判別手段20bを具備することを特徴とする。
前記信号処理手段14は、前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から内容物Waの画像を抽出する画像抽出手段17と、
前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から外形を示す外形領域S1を抽出する外形領域抽出手段18と、
前記外形領域抽出手段が抽出した外形領域を基準として、予め設定されたシール部情報に基づいてシール部領域S2を算出するシール部領域算出手段19と、
前記シール部領域の画像の濃淡レベルと前記被検査物の内容物の画像の濃淡レベルとの比較によりシール不良の有無を判別する判別手段20とを備えたことを特徴とする。
前記被検査物WにX線を曝射したときの該被検査領域全体の透過画像を抽出し、この抽出した透過画像から前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けして前記被検査物の外形領域S1を抽出することを特徴とする。
前記被検査領域全体の透過画像のヒストグラムを算出し、該ヒストグラムの最初の谷を閾値として前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けることを特徴とする。
前記判別手段20は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物Wの内容物領域内における内容物の異物の有無を判別する異物判別手段20aを具備することを特徴とする。
前記判別手段20は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物Wの内容物領域内における内容物の欠品の有無を判別する欠品判別手段20bを具備することを特徴とする。
図1は本発明によるX線検査装置の外観を示す斜視図、図2は同X線検査装置の検出対象となる被検査物の概略平面図、図3は同X線検査装置の電気的構成を示すブロック図、図4は同X線検査装置において被検査物の外形領域を抽出する際に用いられる被検査物の全体画像のヒストグラムを示す概略図、図5は同X線検査装置の他の構成例を示す部分拡大図、図6は図5の構成を採用して被検査物の外形領域を抽出する際に用いられる被検査物のXY平面画像の濃淡レベルを示す概略図、図7は図3の判別手段の他の構成例を示すブロック図である。
13 位置検出手段
14 信号処理手段
15 設定入力手段
16 記憶手段
17 画像抽出手段
18 外形領域抽出手段
19 シール部領域算出手段
20 判別手段
W 被検査物
Ws シール部
Wa 内容物
S1 外形領域
S2 シール部領域
Claims (11)
- 包装材(Wp)を用いた被検査物(W)のシール不良の有無を検査するX線検査装置(1)であって、
前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から外形を抽出し、この抽出した外形を基準として、予め設定されたシール部情報に基づいて前記被検査物のシール部領域(S2)を算出し、この算出したシール部領域の画像の濃淡レベルを用いてシール不良の有無を判別する信号処理手段(14)を備えたことを特徴とするX線検査装置。 - 前記信号処理手段(14)は、前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から外形を示す外形領域(S1)を抽出する外形領域抽出手段(18)と、
前記外形領域抽出手段が抽出した外形領域を基準として、予め設定されたシール部情報に基づいてシール部領域(S2)を算出するシール部領域算出手段(19)と、
前記シール部領域の画像の濃淡レベルの特異点を抽出してシール不良の有無を判別する判別手段(20)とを備えたことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 - 前記被検査物(W)にX線を曝射したときの該被検査領域全体の透過画像を抽出し、この抽出した透過画像から前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けして前記被検査物の外形領域(S1)を抽出することを特徴とする請求項2記載のX線検査装置。
- 前記被検査領域全体の透過画像のヒストグラムを算出し、該ヒストグラムの最初の谷を閾値として前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けることを特徴とする請求項3記載のX線検査装置。
- 前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から内容物(Wa)の画像を抽出する画像抽出手段(17)を備え、
前記判別手段(20)は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物(W)の内容物領域内における内容物の異物の有無を判別する異物判別手段(20a)を具備することを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載のX線検査装置。 - 前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から内容物(Wa)の画像を抽出する画像抽出手段(17)を備え、
前記判別手段(20)は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物(W)の内容物領域内における内容物の欠品の有無を判別する欠品判別手段(20b)を具備することを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載のX線検査装置。 - 前記信号処理手段(14)は、前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から内容物(Wa)の画像を抽出する画像抽出手段(17)と、
前記被検査物にX線を曝射したときの透過画像から外形を示す外形領域(S1)を抽出する外形領域抽出手段(18)と、
前記外形領域抽出手段が抽出した外形領域を基準として、予め設定されたシール部情報に基づいてシール部領域(S2)を算出するシール部領域算出手段(19)と、
前記シール部領域の画像の濃淡レベルと前記被検査物の内容物の画像の濃淡レベルとの比較によりシール不良の有無を判別する判別手段(20)とを備えたことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 - 前記被検査物(W)にX線を曝射したときの該被検査領域全体の透過画像を抽出し、この抽出した透過画像から前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けして前記被検査物の外形領域(S1)を抽出することを特徴とする請求項7記載のX線検査装置。
- 前記被検査領域全体の透過画像のヒストグラムを算出し、該ヒストグラムの最初の谷を閾値として前記被検査物の画像領域とそれ以外の画像領域とに区分けることを特徴とする請求項8記載のX線検査装置。
- 前記判別手段(20)は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物(W)の内容物領域内における内容物の異物の有無を判別する異物判別手段(20a)を具備することを特徴とする請求項7〜9のいずれかに記載のX線検査装置。
- 前記判別手段(20)は、前記画像抽出手段によって抽出された前記被検査物(W)の内容物領域内における内容物の欠品の有無を判別する欠品判別手段(20b)を具備することを特徴とする請求項7〜9のいずれかに記載のX線検査装置。
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