JP2004531164A - サブミクロンサイズの自己バイアスカスコードrf電力増幅器 - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
本発明は電力増幅器、より詳細には、高周波用途に用いるのに適する電力増幅器に対する改善された構造に関する。
【背景技術】
【0002】
従来の技術によるMOS電力増幅器においては、ドレーン-ゲート電圧が電源電圧の3倍にも高くなることがしばしばある。このため、ゲート-ドレーン破壊(gate-drain breakdown)を回避しながらこれら増幅器内で使用することができる最大電源電圧に制約が課される。この問題を改善するための一つの方法においては増幅器に従来のカスコード構造が用いられ、2つのトランジスタが用いられる例においては、一方のトランジスタはソース接地構造(common-source configuration)とされ、他方のトランジスタはゲート接地構造(common-gate configuration)とされる。このようなカスコード構成においては、信号スイング(signal swing)がこれら2つのトランジスタの間で落ち、これによってゲート-ドレーン破壊の問題が緩和される。このようなカスコードトランジスタは、2つのゲートと、1つのソース及び1つのドレーンから成る4端子デバイスとして製造される。カスコード構造のこのような使用例については、本出願人によって最近(2000年)出願された2つの係属中の特許出願“CASCODE BOOTSTRAPPED ANALOG POWER AMPLIFIER CIRCUIT”、及び“BOOTSTRAPPED DUAL-GATE CLASS E AMPLIFIER CIRCUIT”において開示されているため、これらも参照されたい。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
この従来のカスコード構造では、こうして、各ゲートに対して1つずつ、2個のDC電圧が要求される。これらDC電圧は、チップの外側の電圧源から加えることを要求され、このために第二のゲートに対する追加のボンドパッドが要求される。或いは代替としてDC電圧をチップ上で生成することもできるが、このためには追加のバイアシング回路が要求される。
【0004】
電力増幅器用途に対するもう一つの条件として、第二のゲートに加えられるDC電圧を、電源電圧と等しくすることで、ドレーン上により大きな電圧スイングが得られるようにすることが極めて重要となる。このためには、第二のゲートはオフチップDC電圧源へのDC接続を有することを要求される。
【0005】
こうして、従来のカスコード構造にて、確かに、ゲート-ドレーン破壊問題を改善することはできるが、ただし、この構造では電力増幅器のコストが高く、複雑となる。一つのより良い解決手段は、第二のトランジスタのゲートに対する追加のDC電圧源を必要とされることなく、カスコード構造を利用できるようにすることである。複数の増幅段が利用される場合、及び/或いは差動増幅器構造が使用される場合は、カスコード構造の数も多くなり、DC電圧源の問題は一層深刻となる。
【0006】
上の説明から、当分野においては、カスコード構造によって得られる安定性を有し、それでいて、従来のカスコード構造において2つのトランジスタゲートをバイアスするために要求される追加のDC接続は要求されないような改善された電力増幅器構造に対する必要性が存在することがわかる。
【0007】
こうして、本発明の一つの目的は、カスコード構造によって得られる無条件な安定性の利益は享受するが、それでいて、オフチップから追加のDC電圧を供給することを要求されない、若しくは、オンチップにて追加のDCバイアシング電圧を提供するために追加のバイアス回路を要求されないような電力増幅器構成を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
従来の技術の上述の及びその他の問題が本発明によって克服される。本発明によると、このカスコード構造のゲート接地トランジスタ(common-gate transistor)のゲート電圧が自身のドレーンから導かれることを特徴とする自己バイアスカスコード構造を利用する電力増幅器が開示される。この自己バイアスカスコードトランジスタは、3つの端子を備える複合トランジスタ(compound transistor)として実現され、このため、DC電圧は、第一のゲート(つまり、ソース接地トランジスタのゲート)に対してのみ要求される。この自己バイアシングのために、このカスコードペアの第二のゲートの電圧は、そのドレーン電圧が増加すると動的に増加する。この増加の量は、各要素の値を適当に選択することで選択することができる。
【0009】
このような自己バイアスカスコード増幅器においては、これら組合わされたトランジスタは、より大きな電圧スイングに耐えることができ、このため、より高い電源電圧を使用し、より高い出力電圧を供給できる増幅器を設計することが可能となる。一つの好ましい実施例においては、この自己バイアスカスコード構造の第二のトランジスタのゲート電圧は、更に、ドレーン電圧の上昇をよりぴったりと追従できるように正のスイングの際に昇圧され、これによって、ゲート-ドレーン破壊の問題を起こすことなく、さらに大きな信号スイングが達成できるようにされる。
【0010】
追加された一群の好ましい実施例においては、それら自己バイアスカスコード増幅器構造は差動構造及び多段差動電力増幅器に拡張される。本発明の構造及び方法を使用するこれら増幅器は、任意の標準のクラス、つまり、A級、B級、C級、或いはスイッチングクラス(E級)の増幅器として設計することができる。
【0011】
本発明のこれら及びその他の特徴が以下の幾つかの実施例の説明から明らかとなるものである。
【0012】
本発明は以下の説明を添付の図面を参照しながら読むことで一層理解できるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
図1には2つのトランジスタの従来のカスコード構造が示される。これとの関連で、トランジスタM1 101はソース接地(common source)され、トランジスタM2 105はゲート接地(common gate)されることに注意する。トランジスタM1 101のドレーンとトランジスタM2 105のソースは点103の所で互いに結ばれる。説明を簡単にするために、以下では参照符号D、S及びGは、それぞれ、ある与えられたトランジスタのドレーン、ソース、及びゲートを表すものとする。こうして、例えば、G2はトランジスタM2のゲートを表し、D1はトランジスタM1のドレーンを表す。
【0014】
図2には従来のカスコード増幅器が示される。トランジスタM1 201はソース接地(common source、CS)として機能し、トランジスタ2 205はゲート接地(common gate、CG)として機能する。RF入力信号はトランジスタM1 201のゲート、つまり、G1 202に加えられ、トランジスタM2 205のゲート、つまり、G2 206は、L1 211及びC1 210を通じて接地することで、RF接地(RF ground)され、こうすることで、これに加わるDC値が、Vdd 230と等しいVgg2 220と等しくなるようにされる。G2 206の所でのRF接地は、オフチップコンデンサによって達成することも、或いはボンディングワイヤのインダクタンスと共振するオンチップコンデンサによって達成することもできる。G2 206の所にRF接地を提供するための従来のアプローチは、必ずしも、電力増幅器の大きな信号領域(large signal regime)におけるものではない。このため、G2 206の所の電圧はRFスイング(RF swing)を有することができ、D2 207がVddから零に完全にスイングする限りにおいて、この電力増幅器は、高い出力電力と高い電力増幅効率(power-added efficiency)を提供することができる。
【0015】
図3aは自己バイアスカスコード構造を示す。G23A06に対するバイアスは、Rb 3A10とCb 3A20の直列接続によって達成される。G23A06は、RbとCbとの間の3A06として示される点の所で結ばれる。G23A06に加えられるDC電圧は、こうして、D2 3A07に加えられるDC電圧と等しくなる(Cbが開回路となるようなDC電圧においては、Rbには電流は流れず、このため電圧降下はなく、D23A07の所の全ての電圧がCb間に現れる)。D23A07の所のRFスイングは、こうしてRb3A10とCb3A20との間の直列接続が低い通過特性を有するために減衰される。ただし、電力増幅器用途においては、G2の所にRFスイングを有することが要求される。こうすることで、G23A06とD23A07の所に破壊電圧を発生させることなく、D2の所により大きな信号スイングを得ることが可能となる。D23A07が増加すると、G23A06も(RbとCbによって設定されるより小さな値だけ)増加し、S23A08も増加する。こうして、M1とM2内の各ゲート-ドレーン上の電圧降下の量がバランスされる。RbとCbの値は、M1或いはM2のいずれかにゲート-ドレーン破壊を発生させることなく、最適な性能、つまり、最適な信号スイングが得られるように選択される。
【0016】
このような自己バイアスカスコード構造は、一つのゲートと、一つのドレーン及び一つのソースを備えるトランジスタの複合体とみなすこともできる。明らかなように、この構造ではG2に電源電圧を供給するための追加のボンドパッドは必要とされない。
【0017】
図3aの回路においては、G2は、D2のRF電圧をそのDC値の回りの正と負の両方のスイングにおいて追従することに注意する。この点に関して改善するために、図3bにおいては、G2の正のスイングの方が負のスイングより大きくなるようにするための手段が追加される。これら手段は、抵抗Rd3B30と、ダイオード接続されたトランジスタM3 3B50と、この間に接続された抵抗Rb3B10の直列接続から成り、これによってD23B07からG23B06への並列経路が提供される。
【0018】
図3bの回路は、こうして、抵抗ダイオードブースティング(resistive-diode boosting)を備える自己バイアスカスコード構造から成る。Rdの値と、ダイオード接続されたトランジスタ(diode connected)M3のサイズを適当に選択することで、その電圧においてRdとトランジスタM3を経由する経路が導通し、G2の正のスイングをブースティングことを開始する閾値電圧を指定することができる。この追加の経路は、G2がD2の上昇を、これがD2の下降を追従するときよりもより小さな減衰にて追従することを可能にする。これは、とりわけ、D2の所の信号スイングが幾つかの電力増幅器設計において大きくなる場合に有益である。ここでも、Rb3B10 、Cb3B20、 Rd3B30 、及びトランジスタM3 3B50に対する値を適当に選択することで、ゲート-ドレーン破壊電圧を伴うことなく、最良の性能、すなわち、最も大きな信号スイングを達成することができる。
【0019】
図3cの回路は、図3bの回路と、図3bの抵抗Rd3B30とダイオード接続されたトランジスタ3B50の直列接続の代りに、図3cの回路においては、通常のMOSFETトランジスタM3 3C50が用いられ、このゲートが、図3bの抵抗Rb3B10の代りとしての2つの抵抗Rb13C61とRb23C60の間に接続される点を除いて類似する。こうして、図3cの回路は、トランジスタブースティングを備える自己バイアスカスコード構造から成る。この回路においては、Rb13C61とRb23C60との比によって、いつランジスタM3 3C50が導通し、G23C06の所の正の信号スイングを開始するかを指定するD23C07の所の電圧スイングに対する閾値が設定される。図3cの回路においても、図3bに示される回路と同様に、ゲート-ドレーン破壊電圧を伴うことなく、最良の性能、すなわち大きな信号スイングを達成するために、Rb13C61、Rb23C60、 Cb3C20及びトランジスタM3 3C50のサイズがある与えられた回路或いは用途に対して適当に選択される。図3cの回路は、図3bの回路と比較して、抵抗がRb13C61とRb23C60に分割されるため、トランジスタM3 3C50がトランジスタM2 3C05より前にゲート-ドレーン破壊を起こすことがなくなるために、より大きなブースティング能力を有する。こうして、このトランジスタブースティングを用いる構成では、図3bの抵抗ダイオードブースティングを用いる回路と比較して信号スイングは更に制限される。
【0020】
図4a及び図4bは、それぞれ、図3a及び図3cに対応する、一例としての負荷とバイアシングを備える自己バイアスカスコード増幅器を示す。(抵抗ダイオードブースティングを備える場合の図3bの回路に対応する類似の増幅器も実現することができるが、ここでは簡素化のために割愛される)。これら全ての構成において、ユーザは、トランジスタM2及びM1の両方の最大ドレーン-ゲート電圧を制御することができる。
【0021】
図5aは、本発明の概念を、より複雑な構成、つまり、差動自己バイアスカスコード増幅器の形態にて示す。トランジスタM2 5A10、5B10及びトランジスタM4 5A20、5B20は、図5bに示すように互いに接続することもできることに注意する。この場合は、D25B30及びD45B40の所の信号スイングの差動的性質のために、これらゲートは更に小さなRFスイングを有することとなる。電力増幅器の場合は、これは、ゲート-ドレーン破壊のために、D2(D4)5B30(5B40)の所の最大信号を制限することとなる。このため、図5aの回路の方が通常は図5bの回路よりも好ましい。
【0022】
図6は2段差動増幅器の実現を示す。第一の段は、単方向ブースティングは備えない自己バイアスカスコード増幅器を用い、従って、図3a、4a及び5aの回路に対応する。第二の段においては、信号スイングは第一の段より大きくなる。このため、第二の段においては、トランジスタブースティングを備える自己バイアスカスコードが用いられる。図示されるブースティング手段は一つの好ましい代替としてのトランジスタサブ回路から成り、図3c及び4bのブースティング手段と対応する。この構成では、これらカスコード内の全てのゲート-ドレーンスイングがバランスされ、最大の電源電圧を用いることが可能となる。
【0023】
この自己バイアスカスコード電力増幅器は、こうして、G2の所に直列LC-共振器を通じて短絡回路を提供するため、或いはG2に電源電圧を供給するための追加のボンドパッドは必要とされない。この自己バイアスカスコード構造では、M1及びM2の所のゲート-ドレーン電圧を設定することが可能となる。最適な状態は両方のトランジスタが同一の最大ドレーン-ゲート電圧を有するときに達成される。このことは、より大きな電源電圧を使用することができ、このためより高い出力電力を得ることができることを意味する。一例として、幾つかの2.5V、2.4GHzなる自己バイアスカスコード電力増幅器(A/B級並びにC級;単一及び差動の両方)が0.25μm CMOSプロセスにてシミュレートされたが、非常に良好な結果が得られた。更に、電源電圧を3Vまで増加してもどのトランジスタも5Vより大きなゲート-ドレーン電圧を被ることはないことも確認された。
【0024】
本発明のアーキテクチャ/設計技術はCMOS技術に制限されるものではなく、本発明はの技術は、既に知られている或いは将来開発されるであろう多くの他の技術にも適用できるものである。
【0025】
上では本発明の幾つかの好ましい実施例について説明したが、当業者においては、様々な他の修正或いは追加が、例えば、本発明の技術を他の製造技術、例えば、BiCMOS、GaAsMESFET及びGaAsPHEMTプロセスへの適用も明らかであろう。更に、異なるタイプのトランジスタ或いは他の要素を採用したり、特定の設計要件に合うようにこれら回路構成に変更を加えたりすることも考えられる。
【図面の簡単な説明】
【0026】
【図1】2つのMOSトランジスタの従来のカスコード構造の図である。
【図2】従来のカスコード構造の増幅器の図である。
【図3a】図1に示される2つのトランジスタから成る自己バイアスカスコード構造の図である。
【図3b】抵抗性ダイオードブースティングを備える自己バイアスカスコード構造の図である。
【図3c】トランジスタブースティングを備える自己バイアスカスコード構造の図である。
【図4a】図3aのトランジスタ構造に対応する自己バイアスカスコード増幅器の図である。
【図4b】図3cのトランジスタ構成に対応する自己バイアスカスコード増幅器の図である。
【図5a】本発明による差動自己バイアスカスコード増幅器の図である。
【図5b】図5aの回路と類似するがトランジスタM2とM4のゲートが互いに結ばれる点が異なる回路の図である。
【図6】本発明による二段差動増幅器の図である。
【符号の説明】
【0027】
101 トランジスタM1
105 トランジスタM2
211 L1
210 C1
220 Vgg2
230 Vdd
Claims (19)
- 電力増幅器回路における最大使用電源電圧を増加させるための方法であって、
カスコード構造を利用するステップと、
前記カスコード構造を自己バイアスするステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記カスコード構造は:
ソース接地トランジスタのゲートを入力信号に接続するステップと、
他のトランジスタのゲートを自身のドレーンに接続するステップと、
によって自己バイアスされることを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記他のトランジスタの前記ゲートが、さらにコンデンサを通じて接地されることを特徴とする請求項2記載の方法。
- 単方向導通サブ回路が前記他のトランジスタの前記ドレーンと前記他のトランジスタの前記ゲートとの間に接続されることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 前記単方向導通サブ回路は、抵抗と、ダイオードおよびダイオード接続されたトランジスタのいずれか一つとの直列接続から成ることを特徴とする請求項4記載の方法。
- 前記他のトランジスタの前記ゲートは、直列に接続された2つの抵抗および第三のトランジスタを介して自身のドレーンに接続され、前記第三のトランジスタは、そのソースが前記他のトランジスタの前記ゲートに接続され、そのドレーンが前記他のトランジスタの前記ドレーンに接続され、そのゲートが前記直列に接続された2つの抵抗の間に接続されることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 電力増幅器におけるゲート-ドレーン破壊を回避するための方法であって、
2つのトランジスタをカスコード構造に接続するステップと、
信号入力を前記2つのトランジスタ内の一方のトランジスタのゲートに接続するステップと、
前記2つのトランジスタ内の他方のトランジスタを、そのゲートが自身のドレーン上の電圧に追従するように自己バイアスするステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記他方のトランジスタの前記ゲートは、負のスイングの際よりも正のスイングにおいて前記他方のトランジスタのドレーン上の電圧に、よりぴったりと追従することを特徴とする請求項7記載の方法。
- カスコード構造の増幅器回路における信号スイングを最大化させるための方法であって、
信号入力を2つのトランジスタの内の一方のトランジスタのゲートに接続するステップと、
前記2つのトランジスタの他方のトランジスタを、そのゲートが自身のドレーンの電圧を正のスイングにおいて負のスイングの際によりも、よりぴったりと追従するように自己バイアシングするステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記他方のトランジスタのドレーンとゲートの間に直列に接続されている抵抗とダイオード或いはダイオード接続されたトランジスタにより、前記他方のトランジスタのゲートが前記他方のトランジスタのドレーンの電圧を正のスイングにおいて負のスイングの際よりも、よりぴったりと追従することを特徴とする請求項9記載の方法。
- ドレーンが前記他方のトランジスタのドレーンに接続され、ソースが前記他方のトランジスタのゲートに接続され、ゲートが第一の抵抗と第二の抵抗の直列接続の間に接続される第三のトランジスタにより、前記他方のトランジスタのゲートが自身のドレーンの電圧を正のスイングにおいて負のスイングの際よりも、よりぴったりと追従することを特徴とする請求項9記載の方法。
- DC電圧源端子と共通端子との間に直列に接続された第一のMOSFETトランジスタと第二のMOSFETトランジスタとを備え、RF入力信号端子が前記第一のMOSFETトランジスタのゲート電極に接続され、前記第二のMOSFETトランジスタのゲートが、前記第二のMOSFETトランジスタのドレーンと前記第一のMOSFETトランジスタのソースとの間に直列に接続された抵抗とコンデンサとの間に接続されることを特徴とする増幅器回路。
- DC電圧源端子と共通端子との間に直列に接続された第一のMOSFETトランジスタと第二のMOSFETトランジスタとを備え、RF入力信号端子が前記第一のMOSFETトランジスタのゲート電極に接続され、前記第二のMOSFETトランジスタのゲートが、前記第二のMOSFETトランジスタのドレーンと前記第一のMOSFETトランジスタのソースとの間に直列に接続された第一の抵抗とコンデンサとの間に接続され、第二の抵抗とダイオード或いはダイオード接続されたトランジスタのどちらか一つとの直列接続が前記第二のMOSFETトランジスタのドレーンから前記第二のMOSFETトランジスタのゲートに向けて接続されることを特徴とする増幅器回路。
- DC電圧源端子と共通端子との間に直列に接続された第一のMOSFETトランジスタと第二のMOSFETトランジスタとを備え、RF入力信号端子が前記第一のMOSFETトランジスタのゲート電極に接続され、前記第二のMOSFETトランジスタのゲートが、直列に接続された第一の抵抗および第二の抵抗とコンデンサとの間に接続され、ドレーンが前記第二のMOSFETトランジスタのドレーンに接続され、ソースが前記第二のMOSFETトランジスタのゲートに接続され、ゲートが前記第一の抵抗と第二の抵抗の直列接続の間に接続される第三のMOSFETトランジスタを更に備えたことを特徴とする増幅器回路。
- 前記第一のMOSFETトランジスタのソース電極がインダクタを通じて前記共通端子に接続され、前記第二のMOSFETトランジスタのドレーン電極が前記インダクタを介して前記DC電圧源に接続されることを特徴とする請求項12乃至14のいずれかに記載の増幅器回路。
- 前記第一のMOSFETトランジスタのゲート電極がコンデンサを介して前記RF入力信号端子に接続されることを特徴とする請求項12乃至14のいずれかに記載の増幅器回路。
- 前記増幅器回路の出力がマッチング回路を介して負荷に接続されることを特徴とする請求項12乃至14のいずれかに記載の増幅器回路。
- 前記回路がある差動増幅器回路の両側として二度利用されることを特徴とする請求項12乃至14のいずれかに記載の増幅器回路。
- 多段増幅器の一段として用いられることを特徴とする請求項18記載の差動増幅器。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009207030A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電力増幅回路および無線通信回路 |
JP2021523621A (ja) * | 2018-05-07 | 2021-09-02 | メイコム テクノロジー ソリューションズ ホールディングス インコーポレイテッド | 直流結合段を含む小型高ゲイン増幅器 |
JP2021141409A (ja) * | 2020-03-04 | 2021-09-16 | 富士通株式会社 | 増幅器 |
WO2022130548A1 (ja) * | 2020-12-16 | 2022-06-23 | 三菱電機株式会社 | 電力増幅回路 |
Families Citing this family (45)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005523632A (ja) * | 2002-04-19 | 2005-08-04 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 電子増幅回路 |
US7062247B2 (en) * | 2002-05-15 | 2006-06-13 | Nec Corporation | Active double-balanced mixer |
US6781459B1 (en) * | 2003-04-24 | 2004-08-24 | Omega Reception Technologies, Inc. | Circuit for improved differential amplifier and other applications |
US7135932B2 (en) * | 2003-07-08 | 2006-11-14 | Sires Labs Sdn. Bhd. | Transimpedance amplifier |
JP4262545B2 (ja) * | 2003-07-09 | 2009-05-13 | 三菱電機株式会社 | カスコード接続回路及びその集積回路 |
US7421254B2 (en) * | 2003-10-23 | 2008-09-02 | Broadcom Corporation | High linearity, high efficiency power amplifier with DSP assisted linearity optimization |
SE528052C2 (sv) * | 2004-02-05 | 2006-08-22 | Infineon Technologies Ag | Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorer |
WO2006002347A1 (en) | 2004-06-23 | 2006-01-05 | Peregrine Semiconductor Corporation | Integrated rf front end |
US7349681B2 (en) * | 2004-07-13 | 2008-03-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Self-biased high-speed receiver |
US7151412B2 (en) * | 2004-08-30 | 2006-12-19 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Sliding cascode circuit |
US7276976B2 (en) * | 2004-12-02 | 2007-10-02 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Triple cascode power amplifier of inner parallel configuration with dynamic gate bias technique |
US7135925B2 (en) * | 2004-12-03 | 2006-11-14 | Rambus Inc. | Adaptive bias scheme for high-voltage compliance in serial links |
US7259626B2 (en) * | 2004-12-28 | 2007-08-21 | Broadcom Corporation | Apparatus and method for biasing cascode devices in a differential pair using the input, output, or other nodes in the circuit |
KR100703595B1 (ko) * | 2005-10-17 | 2007-04-06 | 성균관대학교산학협력단 | 개선된 선형특성을 갖는 캐스코드형 증폭기 |
US7453315B2 (en) * | 2006-04-26 | 2008-11-18 | Infineon Technologies Ag | Active inductive load that enhances circuit bandwidth |
US7420417B2 (en) * | 2006-06-05 | 2008-09-02 | Win Semiconductors Corp. | Two-port dual-gate HEMT for discrete device application |
US7477105B2 (en) * | 2006-09-08 | 2009-01-13 | Infineon Technologies Ag | Amplifier arrangement and method for amplifying a signal |
US20080297262A1 (en) * | 2007-05-31 | 2008-12-04 | Duster Jon S | Increased gain high-frequency amplifier |
US7642853B2 (en) * | 2007-08-23 | 2010-01-05 | Qualcomm, Incorporated | High-swing operational amplifier output stage using adaptive biasing |
US7839219B2 (en) * | 2007-10-24 | 2010-11-23 | Industrial Technology Research Institute | Low-noise amplifier circuit including band-stop filter |
JP2010068261A (ja) * | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | カスコード回路 |
US8022772B2 (en) * | 2009-03-19 | 2011-09-20 | Qualcomm Incorporated | Cascode amplifier with protection circuitry |
US8487706B2 (en) * | 2010-01-25 | 2013-07-16 | Peregrine Semiconductor Corporation | Stacked linear power amplifier with capacitor feedback and resistor isolation |
US8786368B2 (en) | 2011-03-09 | 2014-07-22 | Hittite Microwave Corporation | Distributed amplifier with improved stabilization |
CN102723917B (zh) * | 2011-03-30 | 2016-06-01 | 比亚迪股份有限公司 | 一种功率放大器 |
CN104769840A (zh) * | 2012-11-09 | 2015-07-08 | 三菱电机株式会社 | 共源共栅放大器 |
US9106072B2 (en) * | 2012-12-19 | 2015-08-11 | Qualcomm Incorporated | Electrostatic discharge protection of amplifier cascode devices |
US9082631B1 (en) * | 2014-05-07 | 2015-07-14 | Realtek Semiconductor Corp. | Linear equalizer circuit and method thereof |
US9673853B2 (en) * | 2014-08-21 | 2017-06-06 | Skyworks Solutions, Inc. | Cascode power amplifier with voltage limiter |
CN104639069B (zh) * | 2015-02-13 | 2017-08-11 | 康希通信科技(上海)有限公司 | 一种射频放大电路及其功率限制模块 |
US9654155B2 (en) * | 2015-02-15 | 2017-05-16 | Skyworks Solutions, Inc. | Cascode amplifier segmentation for enhanced thermal ruggedness |
US9874893B2 (en) | 2015-05-27 | 2018-01-23 | Analog Devices, Inc. | Self-biased multiple cascode current mirror circuit |
CN105024652B (zh) * | 2015-07-08 | 2017-10-10 | 华东师范大学 | 一种基于65nm CMOS工艺的81‑86GHz全集成差分功率放大器 |
US9584072B1 (en) | 2015-08-13 | 2017-02-28 | Raytheon Company | DC bias regulator for cascode amplifier |
US9520836B1 (en) | 2015-08-13 | 2016-12-13 | Raytheon Company | Multi-stage amplifier with cascode stage and DC bias regulator |
WO2017054864A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Amplifier, filter, communication apparatus and network node |
CN106230392A (zh) * | 2016-07-18 | 2016-12-14 | 东南大学 | 一种偏置节点自适应的高线性包络跟踪功率放大器 |
US9837965B1 (en) | 2016-09-16 | 2017-12-05 | Peregrine Semiconductor Corporation | Standby voltage condition for fast RF amplifier bias recovery |
US10038413B2 (en) * | 2016-12-13 | 2018-07-31 | Globalfoundries Inc. | Fully depleted silicon on insulator power amplifier |
US9960737B1 (en) | 2017-03-06 | 2018-05-01 | Psemi Corporation | Stacked PA power control |
US9979358B1 (en) * | 2017-04-28 | 2018-05-22 | Inphi Corporation | Differential amplifier with extended bandwidth and THD reduction |
US10608588B2 (en) | 2017-12-26 | 2020-03-31 | Nxp Usa, Inc. | Amplifiers and related integrated circuits |
JP2020096294A (ja) * | 2018-12-13 | 2020-06-18 | 株式会社村田製作所 | 電力増幅回路 |
CN112187191B (zh) * | 2020-09-24 | 2024-07-16 | 电子科技大学 | 一种采用双增益提升电感的共源共栅放大器 |
US11601098B2 (en) * | 2021-03-26 | 2023-03-07 | Psemi Corporation | Differential cascode amplifier arrangement with reduced common mode gate RF voltage |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3026040C2 (de) * | 1980-07-09 | 1982-05-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schalter mit in Serie geschalteten MOS-FET |
US5032799A (en) * | 1989-10-04 | 1991-07-16 | Westinghouse Electric Corp. | Multistage cascode radio frequency amplifier |
US5559472A (en) * | 1995-05-02 | 1996-09-24 | Trw Inc. | Loss compensated gain cell for distributed amplifiers |
US6137367A (en) * | 1998-03-24 | 2000-10-24 | Amcom Communications, Inc. | High power high impedance microwave devices for power applications |
JP3515725B2 (ja) * | 2000-01-26 | 2004-04-05 | Nec化合物デバイス株式会社 | 低電流増幅回路 |
-
2001
- 2001-06-26 US US09/891,669 patent/US6515547B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-06-18 WO PCT/IB2002/002331 patent/WO2003001661A1/en active Application Filing
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- 2002-06-18 JP JP2003507944A patent/JP2004531164A/ja active Pending
- 2002-06-18 KR KR10-2003-7002733A patent/KR20030029857A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-06-18 AT AT02735881T patent/ATE478469T1/de not_active IP Right Cessation
- 2002-06-18 CN CNB028127455A patent/CN100486108C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-05-29 JP JP2008141252A patent/JP2008259239A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009207030A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電力増幅回路および無線通信回路 |
JP2021523621A (ja) * | 2018-05-07 | 2021-09-02 | メイコム テクノロジー ソリューションズ ホールディングス インコーポレイテッド | 直流結合段を含む小型高ゲイン増幅器 |
JP7555269B2 (ja) | 2018-05-07 | 2024-09-24 | メイコム テクノロジー ソリューションズ ホールディングス インコーポレイテッド | 直流結合段を含む小型高ゲイン増幅器 |
JP2021141409A (ja) * | 2020-03-04 | 2021-09-16 | 富士通株式会社 | 増幅器 |
WO2022130548A1 (ja) * | 2020-12-16 | 2022-06-23 | 三菱電機株式会社 | 電力増幅回路 |
JPWO2022130548A1 (ja) * | 2020-12-16 | 2022-06-23 | ||
JP7341358B2 (ja) | 2020-12-16 | 2023-09-08 | 三菱電機株式会社 | 電力増幅回路 |
Also Published As
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---|---|
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