SE528052C2 - Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorer - Google Patents
Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorerInfo
- Publication number
- SE528052C2 SE528052C2 SE0400231A SE0400231A SE528052C2 SE 528052 C2 SE528052 C2 SE 528052C2 SE 0400231 A SE0400231 A SE 0400231A SE 0400231 A SE0400231 A SE 0400231A SE 528052 C2 SE528052 C2 SE 528052C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- transistors
- transistor
- amplifier
- bulk
- cascade
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/08—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements
- H03F1/22—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements by use of cascode coupling, i.e. earthed cathode or emitter stage followed by earthed grid or base stage respectively
- H03F1/223—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements by use of cascode coupling, i.e. earthed cathode or emitter stage followed by earthed grid or base stage respectively with MOSFET's
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45179—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
- H03F3/45183—Long tailed pairs
- H03F3/45188—Non-folded cascode stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45464—Indexing scheme relating to differential amplifiers the CSC comprising one or more coils
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Description
...., 10 20 25 30 528 052 2 de är inte med lätthet tillgängliga i standard CMOS, och om så är fallet, erfordrar de ytterligare prooesskomplexitet, vilket ökar kostnaden.
En annan lösning är att använda kaskadkonfigurationen som normalt kommer att tillåta högre spänning vid utgången eftersom utgångens spännings- svängning kommer att delas mellan de två kaskadkopplade transistorema, såsom beskrivs i publikationerna US 6 496 074, US 6 515 547 och ”A 2,4-GHz 0,18 pm CMOS Self-Biased Cascode Power Amplifier”, av Tirdad Sowlati o.a., IEEE Joumal Solid State Circuits, vol. 38, nr 8, augusti 2003. En sådan lösning är den mest attraktiva när man använder konventionell CMOS och när tillförlitlighetsfrågor är av vikt.
Sammanfattning av den föreliggande uppfinningen Problem Den föreslagna kaskadkopplade radiofrekvenseffektförstärkaren, kon- struerad av Sowlati i CMOS-teknologi, har visat låg drift under en kortare tids- period. Funktionen hos den översta, kaskadkopplade transistorn är emellertid sådan att transistom ser en bakåtiörspänning med hänvisning till substratet, som är fallet när man använder CMOS-teknologi med gemensam substratpotential. Det har på annat håll visats att ett sådant tillstånd kan förorsaka transistorförsämring, såsom framgår av publikationen ”Enhanced Negatlve Substrate Bias Degradation in nMOSFETs With Ultra thin Plasma Nitrided Oxide”, av Tsu-Hsiu Perng, o.a., IEEE Electron Devioe Letters, vol. 24, nr 5, maj 2003, sid. 333, och således skapa tillförlitlighetsproblem. Lösningen begränsar också den maximala signalspänning- en på utgången av förstärkaren på grund av tillförlitlighetsbekymmer, dvs. använd- andet av sådana kaskadkopplade förstärkare för högre förstärkarklasser, eftersom de förorsakar en större spänningssvängning ovanför effektmatningen.
En annan nackdel är att på grund av substratets bakåtlörspänning minskas förstärkningen hos förstärkaren, eftersom emitter-elektroden hos den övre transistorn är höjd till approximativt halva spänningssvängningen hos effekt- förstärkarens utsignal.
Lösningar och fördelar Med syftet att lösa ett eller flera av de ovan identifierade problemen före- slår den föreliggande uppfinningen kaskadkopplade radiofrekvenseffektförstärkare 20 25 30 528 05.2 3 med isolerade transistorer för att eliminera tillförlitlighetsproblemen. Detta åstad- kommes genom att använda isolerade MOS-transistorer, exempelvis valet med tre brunnari CMOS-bulkteknologi, vanligen tillgängliga i nedskalade CMOS-proces- ser, eller genom att använda CMOS på Kisel-på-lsolator, där alla transistorer är isolerade från substratet.
Att ansluta emitter-elektroden hos varje transistor till dess brunnskontakt får substratregionen under kanalen att följa emitter-elektrodens potential. Detta minskar i sin tur spänningen över alla transistorterminaler till de acceptabla värdena. Det tillåter också att stapla fler än två transistorer, exempelvis tre eller fyra, för att motstå högre spänning på effektförstärkarens utgång.
En andra fördel med den föreslagna lösningen är att effektförstärkarens förstärkning ökas ijämförelse med teknikens ståndpunkt, eftersom bulkens bakåt- förspänningseffekt på de översta transistorema som ökar deras tröskelvärdes- spännig är frånvarande.
Kort beskrivning av ritningama En radiofrekvenseffektförstärkare enligt den föreliggande uppfinningen kommer nu att beskrivas i detalj med hänvisning till de bifogade ritningama, där: Figur 1a visar en schematisk vy på en tidigare känd självförspänd, kaskad- kopplad förstärkare, Figur 1b visar spänningsvågfonnema gentemot tid hos den tidigare kända kaskadkopplade förstärkaren, Figur 2a visar en schematisk vy på en uppfinningsenlig, jordad, kaskad- kopplad förstärkare, Figur 2b visar en schematisk vy på en uppfinningsenlig, kaskadkopplad differentialförstärkare, och Figur 3 visar utsignalens spänningsvågforrner vid den översta transistom med och utan anslutning mellan bulk- och emíttemodema.
Beskrivning av utförinsforrner som för närvarande föredrages.
Det är, såsom tidigare angivits, känt att använda den kaskadkopplade konfigurationen enligt Figur 1 som normalt kommer att tillåta högre spänning VD2 vid utgången, såsom framgår av Figur 1b, eftersom utsignalens spänningssväng- ning kommer att delas mellan de två kaskadkopplacle transistorema M1, M2. ...., 20 25 30 528 052 4 En uppfinningsenlig radiofrekvenseffektförstärkare kommer nu att beskri- vas med hänvisning till Figur 2a där en uppfinningsenlig kaskadkopplad effektlör- stärkare PA är implementerad med åtminstone två, ifiguren tre, kaskadkopplade MOS-transistorer T1, T2, Tn bildade på ett ömsesidigt substrat som har bulknoden B1, B2, Bn isolerade från varandra och ansluten till respektive emitter-elektrod S1, S2, Sn hos vardera transistom T1, T2, Tn.
Den föreliggande uppfinningen anvisar att kollektor-elektroden Dn hos den översta transistom Tn är ansluten till effektmatningen vdd genom en induktiv be- lastning Ld och att styre-elektrodema G2, Gn hos varje övre transistor T2, Tn är utrustade med en självförspänningskrets SB2, SBn ansluten åtminstone mellan kollektor-elektroden D2, Dn och styre-elektroden G2, Gn hos respektive övre tran- sistor T2, Tn, där varje transistor ovanför den första transistom T1 betecknas övre transistor, och där den sista övre transistom Tn betecknas den översta transistom.
Det är också föreslaget att bulknoderna B2, Bn hos åtminstone de övre transistorema T2, Tn är isolerade från substratet. Bulknoden B1 hos den första transistom T1 kan också vara isolerad från substratet även om detta inte er- ßmms Det enklaste sättet att åstadkomma detta är att använda valet med tre brunnar i CMOS som isolerar NMOS-transistorernas p-brunn från p-bulken genom att omge den med en ytterligare n-brunn. Detta tillåter att kortsluta emitter-elektro- den hos varje kaskadkopplad transistor med dess brunn, med resultatet att brunn- en kommer att följa emitter-elektrodens potential.
Ett altemativt sätt att åstadkomma isoleringen mellan de kaskadkopplade transistorema är att använda CMOS på Kisel-på-lsolator. Kollektor-emitterspän- ningen och styre-bulkspänningen kommer med en sådan lösning att antaga värdena acceptabla för den använda CMOS-teknologin. Den tillåter också att stapla flera transistorer i kaskad för att motstå högre spänningssvängningar i exempelvis klass E effektförstärkare. I detta fall skulle tre steg vara ett acceptabelt val.
I syfte att erhålla den fullständiga fördelen med den uppfinningsenliga lös- ningen, föreslås ett förspänningsschema som kommer att maximera förstärkning- en och som kommer att tillåta att två eller flera transistorer staplas. Andra förspän- ningsschemor är emellertid möjliga för att optimera andra effektförstärkaregen- skaper, t.ex. linjäritet. 20 528 052 1 5 Figur 2a visar en schematisk vy på en uppfinningsenlig, jordad, kaskad- kopplad förstärkare och Figur 2b visar en schematisk vy på hur den föreliggande uppfinningen kan appliceras för att bilda en uppfinningsenlig kaskadkopplad differentialförstärkare med sex transistorer T11, T12, T1 n, T21, T22, T2n, och självförspänningskretsar SB12, SB1 n, SB21, SB2n som tillhör varje övre transistor T12, T1n, T22, T2n.
Figur 3 visar utgångens spänningsvågformer vid den översta transistorn med och utan anslutning mellan bulk- och emittemoder. Spänningsvågforrnen för bulken ansluten till emitter-elektroden återges också, motsvarande kurva för fallet med bulken jordad är självklart noll.
Figuren visar att den föreslagna lösningen ökar effektförstärkarens för- stärkning ijämförelse med teknikens ståndpunkt, eftersom bulkens bakåtförspån- ningseffekt på de översta transistorerna som ökar deras tröskelvärdesspänning är frånvarande.
Det skall förstås att uppfinningen inte är begränsad till de ovan beskrivna och illustrerade, exemplifierade utföringsforrnerna därav och att modifieringar kan utföras inom omfattningen av det uppfinningsenliga konceptet såsom det illustreras i de bifogade patentkraven.
Claims (6)
1. Kaskadkopplad- radiofrekvenseffektförstârkare, innefattande åtminstone i två kaskadkopplade MOS-transistorer bildade på ett ömsesidigt substrat, känne- tecknad av att bulknodema hos transistorerna är isolerade från varandra och an-' slutna tiil respektive emitter-elektrod hos varje transistor, att kollektor-elektroden hos den översta transistorn är ansluten till effektmatningen via en induktiv belast- ning, och av att styre-elektroden hos varje övre transistor är utrustad med en själv- h förspänningskrets ansluten åtminstone mellan kollektor- och styre-elektroderna - hos respektive övre transistor.
2. Förstärkare enligt patentkrav 1, kännetecknad av att bulknoderna hos åtminstone de övre transistorema är isolerade från substratet.
3. Förstärkare enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknad av att transistorer- na är CMOS-transistorer med tre brunnar, att brunnen hosrespektive transistor är isolerad från bulken, och av att brunnen- hos respektive transistor är kortsluten till emitter-elektroden.
4. Förstärkare* enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknar! av att transistorer- na är CMOS-transistorer på Kisel-på-lsolator, att brunnen hos respektive translstor är isolerad från bulken, och av att brunnen hos respektive transistor är kortsluten till emitter-elektroden.
5. Förstärkare enligt något av föregående patentkrav, kännetecknar! av att transistorerna och självförspânningskretsarna är anpassade för att åstadkomma ett förspänningsschema som kommer att maximera förstärkarens förstärkning.
6. Förstärkare enligt något av patentkraven 1-4, kännetecknad av att tran- sistorerna och självförspänningskretsarna är anpassade för att åstadkomma ett förspänningsschema som kommer att optimera förstärkarens linjäritet.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0400231A SE528052C2 (sv) | 2004-02-05 | 2004-02-05 | Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorer |
EP05704715A EP1714382A1 (en) | 2004-02-05 | 2005-01-17 | Cascode cmos rf power amplifier with isolated transistors |
PCT/SE2005/000041 WO2005076465A1 (en) | 2004-02-05 | 2005-01-17 | Cascode cmos rf power amplifier with isolated trnasistors |
CNB2005800041462A CN100521510C (zh) | 2004-02-05 | 2005-01-17 | 具有隔离晶体管的共射共基cmos射频功率放大器 |
US11/496,133 US20070075784A1 (en) | 2004-02-05 | 2006-07-31 | Radio frequency power amplifier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0400231A SE528052C2 (sv) | 2004-02-05 | 2004-02-05 | Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorer |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE0400231D0 SE0400231D0 (sv) | 2004-02-05 |
SE0400231L SE0400231L (sv) | 2005-08-06 |
SE528052C2 true SE528052C2 (sv) | 2006-08-22 |
Family
ID=31713298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE0400231A SE528052C2 (sv) | 2004-02-05 | 2004-02-05 | Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorer |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070075784A1 (sv) |
EP (1) | EP1714382A1 (sv) |
CN (1) | CN100521510C (sv) |
SE (1) | SE528052C2 (sv) |
WO (1) | WO2005076465A1 (sv) |
Families Citing this family (73)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8624678B2 (en) | 2010-12-05 | 2014-01-07 | Rf Micro Devices (Cayman Islands), Ltd. | Output stage of a power amplifier having a switched-bulk biasing and adaptive biasing |
US7719343B2 (en) | 2003-09-08 | 2010-05-18 | Peregrine Semiconductor Corporation | Low noise charge pump method and apparatus |
WO2006002347A1 (en) * | 2004-06-23 | 2006-01-05 | Peregrine Semiconductor Corporation | Integrated rf front end |
ATE502441T1 (de) * | 2006-01-03 | 2011-04-15 | Nxp Bv | System und verfahren zur seriellen datenkommunikation |
JP2009094571A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-30 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
US7560994B1 (en) | 2008-01-03 | 2009-07-14 | Samsung Electro-Mechanics Company | Systems and methods for cascode switching power amplifiers |
JP2010068261A (ja) * | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | カスコード回路 |
US8847351B2 (en) * | 2009-06-29 | 2014-09-30 | Qualcomm Incorporated | Integrated power amplifier with load inductor located under IC die |
EP2278714B1 (en) | 2009-07-02 | 2015-09-16 | Nxp B.V. | Power stage |
CN101666833B (zh) * | 2009-09-28 | 2012-08-15 | 王树甫 | Cmos差分射频信号幅度检测电路 |
US8629725B2 (en) | 2010-12-05 | 2014-01-14 | Rf Micro Devices (Cayman Islands), Ltd. | Power amplifier having a nonlinear output capacitance equalization |
US8766724B2 (en) | 2010-12-05 | 2014-07-01 | Rf Micro Devices (Cayman Islands), Ltd. | Apparatus and method for sensing and converting radio frequency to direct current |
US8604873B2 (en) | 2010-12-05 | 2013-12-10 | Rf Micro Devices (Cayman Islands), Ltd. | Ground partitioned power amplifier for stable operation |
WO2012138795A1 (en) | 2011-04-04 | 2012-10-11 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Circuits for providing class-e power amplifiers |
EP2618481A1 (en) * | 2012-01-19 | 2013-07-24 | Nxp B.V. | Power amplifier circuit and control method |
US8680928B2 (en) | 2012-03-29 | 2014-03-25 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Power amplifier including variable capacitor circuit |
US8867592B2 (en) | 2012-05-09 | 2014-10-21 | Nxp B.V. | Capacitive isolated voltage domains |
CN102684616B (zh) * | 2012-05-09 | 2015-08-26 | 惠州市正源微电子有限公司 | 采用cmos工艺实现的射频功率放大器 |
US9007141B2 (en) | 2012-05-23 | 2015-04-14 | Nxp B.V. | Interface for communication between voltage domains |
US8843083B2 (en) | 2012-07-09 | 2014-09-23 | Rf Micro Devices (Cayman Islands), Ltd. | CMOS switching circuitry of a transmitter module |
US8731490B2 (en) | 2012-07-27 | 2014-05-20 | Rf Micro Devices (Cayman Islands), Ltd. | Methods and circuits for detuning a filter and matching network at the output of a power amplifier |
US8680690B1 (en) | 2012-12-07 | 2014-03-25 | Nxp B.V. | Bond wire arrangement for efficient signal transmission |
US20140266448A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Qualcomm Incorporated | Adapative power amplifier |
US9467060B2 (en) | 2013-04-03 | 2016-10-11 | Nxp B.V. | Capacitive level shifter devices, methods and systems |
JP2014220770A (ja) * | 2013-05-10 | 2014-11-20 | 住友電気工業株式会社 | 進行波型増幅器 |
CN103338009A (zh) * | 2013-05-28 | 2013-10-02 | 苏州英诺迅科技有限公司 | 一种提高功率放大器功率附加效率的电路 |
US8896377B1 (en) | 2013-05-29 | 2014-11-25 | Nxp B.V. | Apparatus for common mode suppression |
JP5979160B2 (ja) * | 2014-01-06 | 2016-08-24 | 株式会社村田製作所 | 増幅器 |
US10431428B2 (en) | 2014-01-10 | 2019-10-01 | Reno Technologies, Inc. | System for providing variable capacitance |
US9865432B1 (en) | 2014-01-10 | 2018-01-09 | Reno Technologies, Inc. | RF impedance matching network |
US9196459B2 (en) | 2014-01-10 | 2015-11-24 | Reno Technologies, Inc. | RF impedance matching network |
US10455729B2 (en) | 2014-01-10 | 2019-10-22 | Reno Technologies, Inc. | Enclosure cooling system |
US9697991B2 (en) | 2014-01-10 | 2017-07-04 | Reno Technologies, Inc. | RF impedance matching network |
US9755641B1 (en) | 2014-01-10 | 2017-09-05 | Reno Technologies, Inc. | High speed high voltage switching circuit |
US9496122B1 (en) | 2014-01-10 | 2016-11-15 | Reno Technologies, Inc. | Electronically variable capacitor and RF matching network incorporating same |
US9844127B2 (en) | 2014-01-10 | 2017-12-12 | Reno Technologies, Inc. | High voltage switching circuit |
US10063197B2 (en) | 2014-03-05 | 2018-08-28 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Circuits for power-combined power amplifier arrays |
US9614541B2 (en) | 2014-10-01 | 2017-04-04 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Wireless-transmitter circuits including power digital-to-amplitude converters |
US9712125B2 (en) | 2015-02-15 | 2017-07-18 | Skyworks Solutions, Inc. | Power amplification system with shared common base biasing |
US9306533B1 (en) | 2015-02-20 | 2016-04-05 | Reno Technologies, Inc. | RF impedance matching network |
US12119206B2 (en) | 2015-02-18 | 2024-10-15 | Asm America, Inc. | Switching circuit |
US11017983B2 (en) | 2015-02-18 | 2021-05-25 | Reno Technologies, Inc. | RF power amplifier |
US9525412B2 (en) | 2015-02-18 | 2016-12-20 | Reno Technologies, Inc. | Switching circuit |
US10340879B2 (en) | 2015-02-18 | 2019-07-02 | Reno Technologies, Inc. | Switching circuit |
US9729122B2 (en) | 2015-02-18 | 2017-08-08 | Reno Technologies, Inc. | Switching circuit |
US11081316B2 (en) | 2015-06-29 | 2021-08-03 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US11342160B2 (en) | 2015-06-29 | 2022-05-24 | Reno Technologies, Inc. | Filter for impedance matching |
US11342161B2 (en) | 2015-06-29 | 2022-05-24 | Reno Technologies, Inc. | Switching circuit with voltage bias |
US11335540B2 (en) | 2015-06-29 | 2022-05-17 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US11150283B2 (en) | 2015-06-29 | 2021-10-19 | Reno Technologies, Inc. | Amplitude and phase detection circuit |
US10692699B2 (en) | 2015-06-29 | 2020-06-23 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching with restricted capacitor switching |
US10984986B2 (en) | 2015-06-29 | 2021-04-20 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US9882531B1 (en) * | 2016-09-16 | 2018-01-30 | Peregrine Semiconductor Corporation | Body tie optimization for stacked transistor amplifier |
US10250199B2 (en) | 2016-09-16 | 2019-04-02 | Psemi Corporation | Cascode amplifier bias circuits |
US9843293B1 (en) | 2016-09-16 | 2017-12-12 | Peregrine Semiconductor Corporation | Gate drivers for stacked transistor amplifiers |
US9837965B1 (en) | 2016-09-16 | 2017-12-05 | Peregrine Semiconductor Corporation | Standby voltage condition for fast RF amplifier bias recovery |
US11393659B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-07-19 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US10483090B2 (en) | 2017-07-10 | 2019-11-19 | Reno Technologies, Inc. | Restricted capacitor switching |
US11101110B2 (en) | 2017-07-10 | 2021-08-24 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US11398370B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-07-26 | Reno Technologies, Inc. | Semiconductor manufacturing using artificial intelligence |
US10727029B2 (en) | 2017-07-10 | 2020-07-28 | Reno Technologies, Inc | Impedance matching using independent capacitance and frequency control |
US12334307B2 (en) | 2017-07-10 | 2025-06-17 | Asm Ip Holding B.V. | Power control for rf impedance matching network |
US11289307B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-03-29 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US11521833B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-12-06 | Reno Technologies, Inc. | Combined RF generator and RF solid-state matching network |
US11114280B2 (en) | 2017-07-10 | 2021-09-07 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching with multi-level power setpoint |
US12272522B2 (en) | 2017-07-10 | 2025-04-08 | Asm America, Inc. | Resonant filter for solid state RF impedance matching network |
US11476091B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-10-18 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network for diagnosing plasma chamber |
US10714314B1 (en) | 2017-07-10 | 2020-07-14 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method |
US11315758B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-04-26 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching using electronically variable capacitance and frequency considerations |
US11558019B2 (en) * | 2018-11-15 | 2023-01-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Method and circuit to isolate body capacitance in semiconductor devices |
CN111193478A (zh) | 2018-11-15 | 2020-05-22 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 放大电路 |
US11538662B2 (en) | 2019-05-21 | 2022-12-27 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching network and method with reduced memory requirements |
US12149207B2 (en) | 2021-05-18 | 2024-11-19 | Intel Corporation | High voltage digital power amplifier |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2040626B (en) * | 1979-01-23 | 1983-01-26 | Marconi Co Ltd | High frequency transistor amplifier |
US4668919A (en) * | 1986-02-19 | 1987-05-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | High speed operational amplifier |
GB2207315B (en) * | 1987-06-08 | 1991-08-07 | Philips Electronic Associated | High voltage semiconductor with integrated low voltage circuitry |
US4893091A (en) * | 1988-10-11 | 1990-01-09 | Burr-Brown Corporation | Complementary current mirror for correcting input offset voltage of diamond follower, especially as input stage for wide-band amplifier |
US5032799A (en) * | 1989-10-04 | 1991-07-16 | Westinghouse Electric Corp. | Multistage cascode radio frequency amplifier |
US5945879A (en) * | 1998-02-05 | 1999-08-31 | The Regents Of The University Of California | Series-connected microwave power amplifiers with voltage feedback and method of operation for the same |
US6137367A (en) * | 1998-03-24 | 2000-10-24 | Amcom Communications, Inc. | High power high impedance microwave devices for power applications |
US6342816B1 (en) * | 2000-04-06 | 2002-01-29 | Cadence Design Systems, Inc. | Voltage limiting bias circuit for reduction of hot electron degradation effects in MOS cascode circuits |
US6496074B1 (en) * | 2000-09-28 | 2002-12-17 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Cascode bootstrapped analog power amplifier circuit |
US6515547B2 (en) * | 2001-06-26 | 2003-02-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Self-biased cascode RF power amplifier in sub-micron technical field |
US6542037B2 (en) * | 2001-08-09 | 2003-04-01 | Tyco Electronics Corp. | Low distortion broadband amplifier using GaAs pHEMT devices |
-
2004
- 2004-02-05 SE SE0400231A patent/SE528052C2/sv not_active IP Right Cessation
-
2005
- 2005-01-17 WO PCT/SE2005/000041 patent/WO2005076465A1/en active Application Filing
- 2005-01-17 EP EP05704715A patent/EP1714382A1/en not_active Withdrawn
- 2005-01-17 CN CNB2005800041462A patent/CN100521510C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-07-31 US US11/496,133 patent/US20070075784A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE0400231D0 (sv) | 2004-02-05 |
WO2005076465A1 (en) | 2005-08-18 |
SE0400231L (sv) | 2005-08-06 |
EP1714382A1 (en) | 2006-10-25 |
US20070075784A1 (en) | 2007-04-05 |
CN1918786A (zh) | 2007-02-21 |
CN100521510C (zh) | 2009-07-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE528052C2 (sv) | Radiofrekvenseffektförstärkare med kaskadkopplade MOS-transistorer | |
EP0168198B1 (en) | Cmos operational amplifier | |
US5963094A (en) | Monolithic class AB shunt-shunt feedback CMOS low noise amplifier having self bias | |
EP0694229B1 (en) | Multistage amplifier with hybrid nested miller compensation | |
US10637418B2 (en) | Stacked power amplifiers using core devices | |
KR20070057022A (ko) | 저전압 저전력 a/b급 출력단 | |
KR102337948B1 (ko) | 완전 차동 증폭기의 공통 모드 피드백의 폴 스플릿 및 피드포워드 커패시터 | |
JP2611725B2 (ja) | カスコード回路 | |
US11658625B2 (en) | Amplifier circuit, corresponding comparator device and method | |
US7646246B2 (en) | Semiconductor device | |
US6762646B1 (en) | Modified folded cascode amplifier | |
US20030067042A1 (en) | Stacked NMOS device biasing on MOS integrated circuits and methods therefor | |
US8179196B2 (en) | High voltage amplification using low breakdown voltage devices | |
US7786800B2 (en) | Class AB amplifier | |
EP1168602B1 (en) | Completely differential operational amplifier of the folded cascode type | |
JP3549521B1 (ja) | 差動入力回路 | |
JP2001086641A (ja) | 入力保護回路および半導体集積回路 | |
TW201740678A (zh) | 放大器 | |
US20070290740A1 (en) | Current Mirror Arrangement | |
JPH10270956A (ja) | オペアンプ位相補償回路およびそれを用いたオペアンプ | |
US6989709B2 (en) | CMOS low voltage high-speed differential amplifier | |
JP2005286511A (ja) | 増幅回路 | |
US6838957B2 (en) | Differential metal oxide semiconductor capacitor | |
CN108923762A (zh) | 一种低工作电压的全差分运算放大器 | |
JP3052902B2 (ja) | カスコード回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |