JP2004526259A - 永久的な二進コードを集積回路に記憶するための回路 - Google Patents
永久的な二進コードを集積回路に記憶するための回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004526259A JP2004526259A JP2002580329A JP2002580329A JP2004526259A JP 2004526259 A JP2004526259 A JP 2004526259A JP 2002580329 A JP2002580329 A JP 2002580329A JP 2002580329 A JP2002580329 A JP 2002580329A JP 2004526259 A JP2004526259 A JP 2004526259A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- delay
- path
- code
- integrated circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/20—Address safety or protection circuits, i.e. arrangements for preventing unauthorized or accidental access
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/15—Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/15—Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors
- H03K5/15013—Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors with more than two outputs
- H03K5/1506—Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors with more than two outputs with parallel driven output stages; with synchronously driven series connected output stages
- H03K5/15066—Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors with more than two outputs with parallel driven output stages; with synchronously driven series connected output stages using bistable devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】この発明は、二進コード(B1、B2、…、Bi−1、Bi、…、Bn−1 、Bn)の読み取りにトリガをかける信号(E)を加える入力端子(2)と、前記二進コードを送り出すための出力端子(31、32、…、3i−1、3i、…、3n−1、3n)と、前記入力端子を各出力端子に個々に接続し、集積回路の製造時にそれぞれ固定の遅延を入れる第1の電子経路(P1、P2、…、Pi、…、Pn)と、前記電子経路の出力に現われる二進状態を同時に統合するための手段(4、51、52、…、5i、…、5n)と、を備えている。
【選択図】図1
Description
【0001】
この発明は、集積回路内に永久的な二進コードを記憶することに関する。この発明は、もっと具体的に言えば前記集積回路、又はもっと具体的に言えば回路系を識別するため前記集積回路の使用時に読み取ろうとする永久的なコードを前記回路の製造中に書込むことに適用される。
【背景技術】
【0002】
この発明の応用分野の例は、(例えば接触又は非接触のスマートカードのような)集積回路のようなものを含む電子要素又はアセンブリを、他の要素(例えば読み取り端末)とのトランザクション又は情報の交換時に認証することである。この種の応用分野において、前記集積回路は真正であり、工業所有権を侵害する回路又は模倣する回路でないことが確かでなければならない。特に、スマートカードの分野においては、現在真正のカードと同一で工業所有権を侵害するカード(クローン)を製造することからなる、即ち類似の技術的な過程により作られる同一の回路を集積することからなる大規模な工業所有権の侵害に対し戦うことが難しい。
【0003】
これらの応用分野の中で、この発明はもっと具体的に言えば幾つかの回路に共通な永久的なコードを書き込むことが求められている応用分野に関している。例えば、製造業者の識別子であり、プリペイドカード(テレホンカード)等の元の値の識別子である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
前記集積回路に埋め込まれているメモリ又はレジスタは、現在これらのコードを記憶するために使用されている。前記コードは記憶素子内に製造前又は製造後に変更できない方法で書き込まれている。
【0005】
この種の技術の欠点は、前記コードを前記回路が動作していない時に検出できるビジブルなプログラミングを必要とすることである。実際には、製造時に書き込まれる前記コードであろうと、又はその後に決定されるプログラミングにより書き込まれる前記コードであろうと、この書き込みのため使用されているフューズ型素子はその後目で識別できる。これにより、集積回路の光学分析に関して行われた進歩により前記コードの侵害が可能になった。
【0006】
この種の技術の他の欠点は、その後の回路認証が使用時に時間のかかる記憶素子の読み込み処理を必要とすることである。
【0007】
この発明は、二進コードを集積回路内に記憶するための新規な解決を提供することを目的としている。この発明は、もっと具体的に言えば高性能の光学的な検出手段でもってしても、目で検出できないコードの記憶を行うことを目的としている。
【0008】
この発明は、更に記憶読み取り型の手順を必要とすることなく、しかも殆ど瞬間的な方法で記憶されるコードを与える解決を提供することを目的としている。
【0009】
この発明は、更に製造後に回路のプログラミングを必要としない解決を提供することも目的としている。
【0010】
この発明は、更に実施に特に簡単な解決を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0011】
これらの目的を達成するため、この発明は次のものを含む集積回路内に二進コードを記憶するための回路を提供している:
前記コードの読み取りにトリガをかけるための信号を加える入力端子と;
前記二進コードを与えることに適応した出力端子と;
前記入力端子を出力端子のそれぞれに個々に接続し、前記集積回路の製造時に設定される遅延を個々に取り入れる第1の電子経路と;
前記電子経路の前記出力に現われる二進状態を同時に判断するための手段。
【0012】
この発明の実施例によれば、第1の電子経路のそれぞれが遅延素子と、対応する遅延素子の前記出力に接続された入力端子及び前記回路の前記出力端子の1つを規定する出力端子を有するフリップフロップから構成されている。
【0013】
この発明の実施例によれば、前記判断するための手段が前記第1の経路により取り入れられた前記遅延の範囲内に含まれる遅延を挿入する第2の電子経路を含み、前記第2の経路は前記入力端子と前記二進状態の判断にトリガをかける端子との間に置かれている。
【0014】
この発明の実施例によれば、前記種々のフリップフロップのクロック入力のそれぞれが、前記トリガをかける端子に全て接続されている。
【0015】
この発明の実施例によれば、前記第1の電子経路が、可能な技術的なばらつきにも拘わらず前記第2の経路の前記遅延より短いか又は長い遅延を保持する遅延を挿入するように選択される。
【0016】
この発明の以下の目的、特徴及び利点は添付した図に関連する特別な実施例に関する以下の非制限的な記載の中で詳細に述べている。
【0017】
理解し易いように、この発明の理解に必要な素子のみ図示しており、以下に記述する。特に、記憶された二進コードの用途と利用は、詳細には説明してはおらず、この発明の目的ではない。
【0018】
この発明の特徴は、実際の集積回路の物理パラメータにより二進コードを記憶することである。より具体的に言えば、この発明は同一の入力信号(少なくとも1つのエッジを含む論理信号)を異なった電子経路から生じる幾つかの異なる遅延に従うようにさせることを与えることである。
【0019】
この発明の他の特徴は、介在する遅延に対して前記異なる経路により取り入れられた遅延を直接比較することを与え、技術的及び/又は製造上の過程のばらつきに影響されないコードの遅延を作ることである。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
図1はこの発明に基づく集積記憶回路の実施例の電子的な図を示している。
【0021】
この例において、回路1はコードの読み取りにトリガをかけるためのディジタル信号Eを受けることを目的とする信号入力端子2を含む。この発明によれば、信号Eのみが前記コードに対し与えられるようにすることで十分である。この発明を実現するため、信号Eは図2Aと図2Bに関して以下のことから判るようにトリガによる読み取り当たり少なくとも1つのエッジを必ず含む。
【0022】
図1により、所定の数のビットにわたり、二進コードB1、B2、…、Bi−1、Bi、…、Bn−1、Bnが与えられる。それぞれのビットBiは回路1に特有の端子31、32、…、3i−1、3i、…、3n−1、3nに与えられる。これにより回路1は前記二進コードを並列の形で提供する。
【0023】
この発明によれば、前記コードのそれぞれのビットBiに対し、共通の入力端子2を同じランクの端子3iに接続する電子経路P1、P2、…、Pi、…、Pnが関連付けられる。
【0024】
従って、電子経路により取り入れられた前記種々の遅延により、入力信号Eにトリガをかける前記エッジは異なる時刻に異なる出力で再生される。
【0025】
この発明によれば、回路1の出力に同期した方法で存在する前記情報を読み取ることが与えられる。好ましくは、前記種々の電子経路により取り入れられる最短の遅延と最長の遅延の間に介在する時間にほぼ対応している時間が選択される。
【0026】
より具体的に言えば、図1に示すこの発明の好適な実施例により、電子経路4(C0)は入力信号Eにトリガをかける前記エッジが発生してからの読み取り時間を設定するように与えられる。この電子トリガの経路は前記コードを与える前記経路に基づく遅延の範囲内に含まれる遅延を取り入れるように選択される。前記遅延は、例えば遅延の平均値とすることができる。
【0027】
例えば、経路4は回路1の入力2を電子経路P1、P2、…、Pi、…、Pnにそれぞれ属するフリップフロップ51、52、…、5i、…、5nの端子Ckに接続しており、前記フリップフロップのQ出力は前記回路1の出力端子31、32、…、3i、…、3nをそれぞれ形成している。この実施例によれば、それぞれの電子経路Piは前記回路の入力2を前記経路内で対応するフリップフロップのD入力に接続する遅延素子61(C1)、62(C2)、…、6i(Ci)、…、6n(Cn)を含む。遅延素子6iはこの発明によれば、互いに異なる遅延を表す素子である。実施には、フリップフロップ5iは、同じ構造を好適に有している。しかし、これらのフリップフロップには素子4により挿入される遅延C0に対し、入力信号1のそれぞれの出力信号に到達するまで前記入力信号に運ばれる前記遅延が入れられる。
【0028】
エッジが入力信号Eに適用されると、このエッジは種々の時間で前記フリップフロップのそれぞれのD入力に到達する。前記種々のフリップフロップの前記入力状態の読み取りは、今度は要素4により遅延した信号Eの前記エッジにより同期が取られる。この理由により、特に種々の素子6iの遅延の平均値にほぼ相当する遅延C0が選択される。
【0029】
図1の例において、回路1の種々の出力3iは得られた二進コード、即ちそれぞれ前記回路出力の1つに対応しているビットBiを記憶するためレジスタ7の入力に個々に接続されている。レジスタ7の前記接続の詳細は図示しておらず、この発明の目的でない。一度前記二進コードがこのレジスタ内に含まれると、その利用は前記印加に依存しておりその履行は当業者の能力の範囲内にある。
【0030】
図2Aと図2Bは、タイミングを図の形で表しており、かつあらゆる縮尺を考慮することなく、この発明による記憶回路の動作を示している。図2Aと図2Bは信号Eと、種々の遅延素子の出力信号の形の例示である。図2Aと図2Bの例においては、4ビットにわたる二進コードの場合を対象としている。前記タイミング図は参照記号C0、C1、C2、C3、C4と前記遅延素子が異なることを示すそれぞれC’0、C’1、C’2、C’3、C’4で表している。
【0031】
図2Aと図2Bの違いは、種々の遅延を挿入する経路C0からC4を有する2つの集積回路1の相違を示している。
【0032】
図2Aにおいては、時間t5で立ち上がりエッジが信号Eにトリガをかけると仮定している。このエッジは種々の時間t1、t2、t3、t4において(遅延素子C1、C2、C3、C4の出力に対応した)Dフリップフロップの異なる入力を表している。更に、素子4(C0)により時間t0で入力されるフリップフロップで読み込まれるデータを開始する遅延が挿入される。遅延C0より大きな遅延を作る全ての経路は、信号Eの前記エッジがまだ経路に到着していないので状態0のビットを与える。遅延0より小さな遅延を作る全ての経路は、信号Eのエッジが遅延C0の終了する前に対応するフリップフロップの入力に到着するので状態1のビットを発生する。図2Aの例では、時間t0でコード1010が与えられる。
【0033】
図2Bは、経路C0’からC4’までが異なる場合の同様な回路を示している。この回路の中で得られるコードは異なっている。例えば、コードが01010である。図2Bにおいて、図1の場合と等しい時間t5を任意に示している。しかし、信号Eのエッジがそれぞれ経路C’0、C’1、C’2、C’3、C’4を通して前記信号の方向の端にある時間t’0、t’1、t’2、t’3、t’4は、図2Aの場合と異なっている。
【0034】
好ましくは、種々の経路により挿入された前記遅延は技術的及び製造的な工程のばらつきに影響されないように互いに十分異なるように選択される。従って、同じ前記系内の全ての同じ回路により同じコードが与えられるようになることが保証される。好ましくは、2以上の経路の場合、前記経路は例え同じ結果(0又は1)を与える場合であっても互いに異なる。これにより例え利用が少ない場合でも前記経路間に可視的な区別がなされる。
【0035】
回路毎に異なるコードを与えるため、前記回路経路は異なる遅延を挿入するように変更することができ、又は種々の経路の種々のフリップフロップに割り当てること、即ちコードのビットの順番を変更することができる。更に、遅延の平均C0も前記フリップフロップのトリガ時間をシフトするため変更することができる。この場合互いに技術的なばらつきと無関係な遅延を挿入するあらゆる経路を有するように確認される。
【0036】
この発明の実施例によれば、記憶される前記コードは回路の製造前に決定される。この場合、遅延素子C1からCnまで及び/又は素子C0は前記回路によりこのコードが与えられるように大きさが決められる。
【0037】
他の実施例によれば、前記コードは前記回路を設計する時には未知である。このため、製造後、前記系内で前記回路の1つのコードの読み取りにトリガをかけることにより識別される。このコードは(同じマスクにより製造される)前記系内で全ての回路に共通している。このように、例えば回路の種類を識別するコードとして利用できる。
【0038】
又、同じウエハーがマスク又は同様な物を別々にすることによっている場合であれ、或いは技術的なばらつきに影響されやすい遅延を与える場合であれ、前記同じウエハー上で各チップのコードを別々にすることも考えられる。
【0039】
この発明の利点は、記憶されたコードが可視的に検出できないことである。実際には、前記コードを見えるようにするため、この発明の前記回路の前記入力に電子信号を加えることが必要である。
【0040】
この発明の他の利点は、従来のメモリのように前記コードを抜き出すための読み取り過程を構成する必要のないことである。この発明によれば、遅延の平均値に左右される遅延でもって前記出力端子に現われる前記コードを見るため信号Eにエッジを加えることで十分である。前記集積回路を利用する前記システムのサイクル時間はこのようにして節約される。
【0041】
この発明の他の利点は、前記識別が特に正確であり信頼があることである。とりわけ、測定(メモリの読み取り)の使用を取り除くことにより、正確性の問題が避けられる。
【0042】
この発明の他の利点は、コードを供給することが非常に早いことである。実際には、製造過程又は技術的なばらつきにより多くても数百ピコ秒のオーダーの差がしばしば生ずる。従って、数百ピコ秒の範囲で遅延を挿入する経路はコードを供給するのに十分である。これにより、前記コードの供給時間はナノ秒のオーダーにできる。
【0043】
この発明の他の利点は、前記素子により挿入された前記遅延の1つの時間内にドリフトがある場合でも前記回路の結果が変わらないことである。実際には、全ての遅延素子は類似の構造であるので、前記ばらつきは全ての素子(経路)に対して同じ方向になるであろう。
【0044】
この発明の電子経路の遅延素子を作るため、任意の集積素子を使用することができる。これらには、例えば一連の抵抗及び/又はコンデンサ、又は単なるトラックである。抵抗の場合、前記集積回路の厚さの両側の抵抗を使用できるが、形状に関連した値を有し、温度に依存することが少ない特徴を有するポリシリコンの抵抗を使用することが好ましい。
【0045】
この発明によれば、読み取り段階は入力信号Eのエッジによりトリガがかけられる。その段階の数は前記認識回路の応用分野と用途に左右される。カードの場合、このカードと外部のデバイスの間で行われるそれぞれの交換の際の認識を、例えば同じトランザクションの間であっても与えることができる。
【0046】
この発明は、当業者に容易に考えられる種々の変更、修正、改善を有することが勿論見込まれる。特に、この発明の前記遅延素子の実際の実行には種々の形を有することができる。
【0047】
更に、前記種々の要素により挿入された前記遅延のばらつきの範囲を選択することは応用分野と所要の感度に依存している。この選択は今までに与えた機能的な指摘に基づき当業者の能力内にある。
【0048】
更に、この発明に基づく前記回路により与えられる前記ビット数も、前記応用と侵害されない所要の度合いにも依存している。ビット数が多くなれば成る程、種々のコードを記憶する2つの回路間の区別が難しくなる。
【0049】
更に、回路への二進コードの利用の種々の要素を与えることが出来る。レジスター内に記憶する代わりに、前記コードは例えば集積されている前記回路の機能、例えばこの回路の電源供給を有効又は無効にすることにより直接利用できる。
【0050】
最後に、好適な実施例では単一の読み取りのトリガ信号Eを使用しているが、特に幾つかのコードをまとめる回路の場合は幾つかのトリガ信号を与えることができる。このようなケースでは、前記種々のコードは同じ遅延C0を共有する場合もあるし無い場合もある。
【0051】
この発明の前記応用分野の中で、これらのコードにより予め前記チップを識別するロボットにより前記チップを自動的に配置するための回路の種類の識別子として使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【0052】
【図1】この発明に基づく集積回路の実施例を示している。
【図2A】2つの異なるコードに対する図1の識別回路の動作を示すタイミング図である。
【図2B】2つの異なるコードに対する図1の識別回路の動作を示す他のタイミング図である。
【符号の説明】
【0053】
1 二進コードを集積回路チップ内に記憶するための回路
2 入力端子
31、32、…、3i、…、3n 出力端子
4、51、52、…、5i、…、5n 二進状態を同時に判断するための手段
61、62、…、6i、…、6n 遅延素子
Claims (5)
- 二進コードを集積回路チップ内に記憶するための回路(1)において、
前記コードの読み取りにトリガをかけるための信号(E)を加える入力端子(2)と;
前記二進コードを与えることに適応した出力端子(31、32、…、3i−1、
3i、…、3n−1、3n)と;
前記入力端子を出力端子のそれぞれに個々に接続し、前記集積回路の製造時に設定される遅延を個々に挿入する第1の電子経路(P1、P2、…、Pi、…、Pn)と;
前記電子経路の前記出力に現われる二進状態を同時に判断するための手段(4、51、52、…、5i、…、5n)と;
を含むことを特徴とする、二進コードを集積回路チップ内に記憶するための回路。 - 第1の電子経路のそれぞれが遅延素子(61、62、…、6i、…、6n)を備え、対応する遅延素子の前記出力に接続された入力端子(D)と、前記回路の前記出力端子の1つを規定する出力端子(Q)とを有するフリップフロップ(51、52、…、5i、…、5n)から成ることを特徴とする請求項1に記載の回路。
- 前記判断するための手段が前記第1の経路により挿入された前記遅延の範囲内に含まれる遅延(C0)を挿入する第2の電子経路(4)を含み、前記第2の経路は前記入力端子(2)と前記二進状態の判断にトリガをかけるための端子との間に置かれていることを特徴とする請求項1又は2に記載の回路。
- 前記種々のフリップフロップのクロック入力(Ck)のそれぞれが、前記トリガをかける端子に接続されていることを特徴とする請求項2又は3に記載の回路。
- 前記第1の電子経路が、可能な技術的なばらつきにも拘わらず前記第2の経路の遅延(C0)より短いか又は長い遅延を保持する遅延を挿入するように選択されていることを特徴とする請求項3又は4に記載の回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0104583A FR2823340A1 (fr) | 2001-04-04 | 2001-04-04 | Stockage d'un code binaire immuable dans un circuit integre |
PCT/FR2002/001193 WO2002082449A1 (fr) | 2001-04-04 | 2002-04-04 | Stockage d'un code binaire immuable dans un circuit integre |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004526259A true JP2004526259A (ja) | 2004-08-26 |
JP4133342B2 JP4133342B2 (ja) | 2008-08-13 |
Family
ID=8861934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002580329A Expired - Fee Related JP4133342B2 (ja) | 2001-04-04 | 2002-04-04 | 永久的な二進コードを集積回路に記憶するための回路 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7199631B2 (ja) |
EP (1) | EP1374242B1 (ja) |
JP (1) | JP4133342B2 (ja) |
DE (1) | DE60201023T2 (ja) |
FR (1) | FR2823340A1 (ja) |
WO (1) | WO2002082449A1 (ja) |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3911368A (en) * | 1974-06-20 | 1975-10-07 | Tarczy Hornoch Zoltan | Phase interpolating apparatus and method |
US4023110A (en) * | 1975-12-04 | 1977-05-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Pulse comparison system |
US4595992A (en) * | 1982-06-07 | 1986-06-17 | Eaton Corporation | Encoding and decoding device for narrow bandwidth coherent signals |
US4675612A (en) * | 1985-06-21 | 1987-06-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Apparatus for synchronization of a first signal with a second signal |
US5204559A (en) * | 1991-01-23 | 1993-04-20 | Vitesse Semiconductor Corporation | Method and apparatus for controlling clock skew |
US5534808A (en) * | 1992-01-31 | 1996-07-09 | Konica Corporation | Signal delay method, signal delay device and circuit for use in the apparatus |
US5329280A (en) * | 1992-06-29 | 1994-07-12 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Adjacent code system |
US5608645A (en) | 1994-03-17 | 1997-03-04 | Vlsi Technology, Inc. | Method of finding a critical path in a circuit by considering the clock skew |
DE19510038C1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-08-14 | Siemens Nixdorf Inf Syst | Anordnung zum Autokalibrieren der Taktverteilung bei synchronen digitalen Schaltungen |
US6222894B1 (en) * | 1996-12-18 | 2001-04-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Digital delay locked loop for reducing power consumption of synchronous semiconductor memory device |
DE10016724A1 (de) | 2000-04-04 | 2001-10-11 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Empfang von wenigstens zwei digitalen Signalen |
FR2823341B1 (fr) | 2001-04-04 | 2003-07-25 | St Microelectronics Sa | Identification d'un circuit integre a partir de ses parametres physiques de fabrication |
-
2001
- 2001-04-04 FR FR0104583A patent/FR2823340A1/fr active Pending
-
2002
- 2002-04-04 EP EP02730355A patent/EP1374242B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-04 JP JP2002580329A patent/JP4133342B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-04-04 US US10/473,057 patent/US7199631B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-04 WO PCT/FR2002/001193 patent/WO2002082449A1/fr active IP Right Grant
- 2002-04-04 DE DE60201023T patent/DE60201023T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE60201023D1 (de) | 2004-09-23 |
FR2823340A1 (fr) | 2002-10-11 |
JP4133342B2 (ja) | 2008-08-13 |
EP1374242A1 (fr) | 2004-01-02 |
US7199631B2 (en) | 2007-04-03 |
EP1374242B1 (fr) | 2004-08-18 |
US20040130363A1 (en) | 2004-07-08 |
WO2002082449A1 (fr) | 2002-10-17 |
DE60201023T2 (de) | 2005-08-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6843423B2 (en) | Smart card that can be configured for debugging and software development using secondary communication port | |
CN1797606B (zh) | 高频同步半导体器件中的等待时间控制装置和方法 | |
US20060020860A1 (en) | Digital signature generation for hardware functional test | |
US20020188857A1 (en) | Protected storage of a datum in an integrated circuit | |
JPH05217034A (ja) | データを記憶し処理するためのデータ担体 | |
JP2007502462A (ja) | デバッグ回路のセキュリティを確保する方法及び装置 | |
US20070201259A1 (en) | Method and Apparatus for Programming and Reading Codes on an Array of Fuses | |
RU2156498C2 (ru) | Способ тестирования подлинности носителя информации | |
JP3991865B2 (ja) | 物理的製造パラメータによる集積回路の識別 | |
JP2000250816A (ja) | 集積回路の認証方法 | |
JP4133342B2 (ja) | 永久的な二進コードを集積回路に記憶するための回路 | |
US5218693A (en) | Timer unit and data processing apparatus including the same | |
JP2000200222A (ja) | 模倣品防止装置 | |
US5058050A (en) | Timer unit and data processing apparatus including the same | |
CN110633777B (zh) | 一种物理不可复制功能标签产生方法及电路 | |
JPS61161470A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
KR200287948Y1 (ko) | 메모리모듈의테스트보드 | |
KR100511893B1 (ko) | 칩 테스트 회로 | |
KR100486938B1 (ko) | 콤비형 집적회로 카드 | |
KR100578225B1 (ko) | 칩 종류 표시 회로 및 칩 종류 기록/식별 방법 | |
JPS6015794B2 (ja) | カード照合装置 | |
JP2517471Y2 (ja) | Ic試験装置 | |
JPH11110508A (ja) | Icカード | |
JPH0239249A (ja) | 論理回路のタイミング検証方法 | |
JPH09130216A (ja) | 遅延時間判定回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050322 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070615 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070731 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071031 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071204 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080229 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080507 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080602 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110606 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |