JPH11110508A

JPH11110508A - Ｉｃカード

Info

Publication number: JPH11110508A
Application number: JP9271338A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Fukuda; 宏福田; Shinichi Shudo; 新一首藤; Masaki Shirai; 正喜白井
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi ULSI Systems Co Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Solutions Technology Ltd
Priority date: 1997-10-03
Filing date: 1997-10-03
Publication date: 1999-04-23

Abstract

(57)【要約】【課題】内部制御用情報をノーウェイトで判別可能な
ＩＣカードを提供することにある。【解決手段】シリアルインタフェースにおける所定の
プロトコルを示すキャラクタ列を一つのレコードに記憶
するＥＥＰＲＯＭ１５と、上記キャラクタ列を含むレコ
ードの情報を保持するとともに、それをシリアル形式で
外部出力可能なデータラッチ１４とを設ける。上記キャ
ラクタ列が記憶されるレコードと同一レコードに、内部
制御用情報の記憶領域を設け、それが上記キャラクタ列
と同時に読み出されるようにする。それにより、ＩＣカ
ードの内部処理の際に内部制御用情報をノーウェイトで
利用可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路、
及びそれを規格化されたプラスチックカードの中に内蔵
して成るＩＣカードに関し、例えば公衆電話用ＩＣカー
ドに適用して有効な技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】テレホンカードと称される公衆電話用カ
ードは、磁気式であり、磁気を利用することによって残
り度数の管理が行われている。

【０００３】また、規格化されたプラスチックカードの
中にメモリやプロセッサなどを内蔵したＩＣカードが製
品化されている。ＩＣカードは、応用分野が広く、また
それを使用することによって、ホストコンピュータの負
荷をも緩和させることができる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】磁気式テレホンカード
の偽造に対処するため、公衆電話用カードをＩＣカード
化する要請があるが、ＩＣカードにマイクロコンピュー
タを内蔵し、手続きや記憶をソフトウェアで処理するよ
うにすると、高価になってしまうから、使い捨てが前提
となる公衆電話用カードには不向きであると考えられ
る。また、そうかといって、ヨーロッパの公衆電話用Ｉ
Ｃカードのように、非常に簡単な論理とＰＲＯＭとで構
成した場合には、セキュリティが不十分と考えられる。

【０００５】公衆電話用ＩＣカードについて本願発明者
がさらに検討したところ、マイクロコンピュータを用
いずカスタムロジックで半導体チップを形成することで
安価にする必要があること、ＩＣ内メモリの信頼度を
増すため、ＩＣメーカーでは十分な試験を実施できるよ
うにし、出荷以降はその機能を閉塞させる必要があるこ
と、個人が良く使う電話番号を記憶可能にした場合、
その書き込みに用いる空き領域に関する情報をノーウェ
イトで判断できるようにすること、シリアル通信に必
須とされるＡＴＲ（ＡｎｓｗｅｒＴｏＲｅｓｅｔ）
が実施されていない状態でＩＣカードが使用されないよ
う、ＡＴＲの実行有無をノーウェイトで判断できるよう
にする、などの必要性が見いだされた。

【０００６】本発明の目的は、ＩＣカードを安価に提供
することにある。

【０００７】本発明の別の目的は、ＩＣ内メモリの信頼
度を増すため、チップメーカーでは十分な試験を実施で
きるようにし、出荷以降はその機能を閉塞させるための
技術を提供することにある。

【０００８】本発明の別の目的は、個人が良く使う電話
番号を記憶可能にした場合、その書き込みに用いる空き
領域に関する情報をノーウェイトで判断できるようにす
るための技術を提供することにある。

【０００９】本発明の別の目的は、ＡＴＲの実施有無を
ノーウェイトで判別可能な技術を提供することもある。

【００１０】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。

【００１２】すなわち、複数のレコードが形成され、シ
リアルインタフェースにおける所定のプロトコルを示す
キャラクタ列を一つのレコードに記憶する記憶手段（１
５）と、上記記憶手段のレコードに対応し、上記キャラ
クタ列を含むレコードの情報を保持するとともに、それ
をシリアル形式で外部出力可能なデータラッチ（１４）
と、内部制御用情報を保持するためのコントロールラッ
チ（１３）を含み、上記キャラクタ列が記憶されるレコ
ードと同一レコードに、内部制御用情報の記憶領域が設
けられ、それが上記キャラクタ列と同時に読み出される
ように構成する。

【００１３】上記した手段によれば、シリアルインタフ
ェースにおける所定のプロトコルを示すキャラクタ列が
読み出される際に、上記内部制御用情報がコントロール
ラッチにロードされるので、ＩＣカードの内部制御に必
要な情報を当該ＩＣカードの内部処理の際にノーウェイ
トで利用可能とすることができる。

【００１４】このとき、ＩＣカードの信頼度を増すた
め、チップメーカーでは十分な試験を実施できるように
し、出荷以降はその機能を閉塞させるため、予め定めら
れた通常動作モードと、上記記憶手段の動作テストを可
能とするテストモードとを実現可能なシーケンサ（１
０）と、閉塞情報の設定により、上記シーケンサによる
上記動作テストモードの実現を禁止するための論理回路
（７１）とを設けることができる。

【００１５】また、個人が良く使う電話番号を記憶可能
にした場合、その書き込みに用いる空き領域に関する情
報をノーウェイトで判断できるようにするため、上記内
部制御用情報に、電話番号登録領域の使用状況を示すフ
ラグを含めることができる。

【００１６】さらに、シリアル通信に必須とされるＡＴ
Ｒの実施有無をノーウェイトで判別可能とするため、シ
リアルインタフェースにおける所定のプロトコルを示す
キャラクタ列が、外部から与えられたリセット信号に応
じて外部出力されたか否かを示すフラグを保持するため
のラッチ（１２）を設けることができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】図１（ａ）には本発明にかかるＩ
Ｃカードの一例である公衆電話用ＩＣカードが示され
る。

【００１８】公衆電話用ＩＣカード１００は、図１
（ａ）に示されるように、公知の半導体集積回路製造技
術により単結晶シリコン基板などの一つの半導体基板に
形成された半導体チップ１が、規格化されたプラスチッ
クカードの中に納めされて成る。公衆電話用ＩＣカード
１００は電話機又は度数読み取り装置のカードスロット
に挿入されて使用される。公衆電話用ＩＣカード１００
には、それが電話機又は度数読み取り装置のカードスロ
ットに挿入された際に、電話機又は度数読み取り装置の
電気回路に導通される外部端子群が形成されている。

【００１９】図１（ｂ）には半導体チップ１に設けられ
た端子群が示される。この端子群には、公衆電話用ＩＣ
カード１００に電源を供給するための電源端子Ｖｃｃ、
公衆電話用ＩＣカード１００にリセット信号を供給する
ためのリセット端子ＲＳＴ、公衆電話用ＩＣカード１０
０にクロック信号を供給するためのクロック端子ＣＬ
Ｋ、及びシリアル形式で各種信号の入出力を可能とする
入出力端子Ｉ／Ｏが含まれ、それらは、規格化されたプ
ラスチックカードに設けられた外部端子群にボンディン
グされている。

【００２０】半導体チップ１には、図１（ｃ）に示され
るように、シーケンサ１０、制御ロジック１１、コント
ロールラッチ１３、データラッチ１４、ＥＥＰＲＯＭ
（エレクトリカリ・イレーザブル・アンド・プログラマ
ブル・リード・オンリ・メモリ）１５、インタフェース
回路２１，及び内部電源回路２２を含む。コスト低下を
図るためマイクロコンピュータは内蔵されない。全体的
な制御は、シーケンサ１０によって行われる。シーケン
サ１０は、必要な状態数をフリップフロップで作り（例
えば状態数が３２個なら５ビットのフリップフロップで
実現することができる）、コントロールラッチ１３から
の信号を受けてステートを移動させていく。

【００２１】図２には上記ＥＥＰＲＯＭ１５に形成され
るレコードが示される。

【００２２】ＥＥＰＲＯＭ１５は、図２に示されるよう
にそれぞれ１２バイトの記憶容量を有する９個のレコー
ドを備える。この９個のレコードは、レコード番号Ｎ
ｏ．０〜８で識別される。

【００２３】レコードＮｏ．１は、管理用とされ、情報
の書き込みはＩＣカード発行会社によって行われる。

【００２４】レコードＮｏ．２は、この公衆電話用ＩＣ
カードで通話可能な度数の記憶用に割り当てられる。最
初の度数は、ＩＣカード発行会社によって書き込まれ
る。上記管理データの書き込みや最初の度数の書き込み
が、公衆電話用ＩＣカードの発行手続きとされる。この
発行手続きにより、公衆電話用ＩＣカードとして使用で
きるようになる。そして、公衆電話用ＩＣカードを使用
して通話する毎に、その通話時間や通話相手までの距離
に応じて電話会社で度数計算が行われてレコードＮｏ．
２の度数が書き換えられる。

【００２５】レコードＮｏ．３〜７は、電話番号の記憶
用に割り当てられる。ただし、電話番号の登録数は例え
ば５件までとされ、重ね書き（更新）は不可能とされ
る。

【００２６】レコードＮｏ．８は、管理用とされ、情報
の書き込みはウェーハテスト後にＩＣメーカーによって
行われる。

【００２７】レコード番号Ｎｏ．０には、シリアルイン
タフェースの一つであるＴ＝１のブロック転送プロトコ
ルにおけるＡＴＲ（ＡｎｓｗｅｒＴｏＲｅｓｅｔ）
という情報列（キャラクタ列）を保持するために９バイ
トが割り当てられる。

【００２８】ここで、Ｔ＝１のブロック転送プロトコル
とは、ＩＳＯ／ＩＥＣ７８１６−３に記載されている調
歩式半二重ブロック転送を意味し、そのプロトコルが上
記ＡＴＲで設定される。ＡＴＲのキャラクタには、Ｔ
Ｓ、ＴＯ、ＴＢ１、ＴＣ１、ＴＤ１、ＴＤ２、ＴＡ３、
ＴＢ３、ＴＣＫを設定した。このようなＡＴＲ送出が行
われた後、本ＩＣカードは電話機などからのコマンド待
ち状態になる。

【００２９】また、本ＩＣカードにおいては、図２に示
されるように、ＩＣカード内動作を制御するためのコン
トロールフラグＡ，Ｂ，ＣがレコードＮｏ．０に割り当
てられる。つまり、レコードＮｏ．０において、ＡＴＲ
が９バイトとされ、コントロールフラグＡ，Ｂ，Ｃが３
バイトとされる。コントロールフラグＡ，Ｂ，Ｃはそれ
ぞれ１バイトであり、コントロールフラグＡはユーザエ
リア使用状況用とされて例えば５ビット（レコードＮ
ｏ．３〜Ｎｏ．７に対応）割り当てられ、コントロール
フラグＣは８ビットの閉塞情報用に割り当てられる。
尚、コントロールフラグＢは例では未使用としたが、ユ
ーザーエリアレコードの拡大や閉塞情報の拡大に使用で
きることは言うまでもない。ＡＴＲとコントロールフラ
グＡ，Ｂ，Ｃとが同一レコードに割り当てられているた
め、ＩＣカードの初期設定において、ＡＴＲが読み出さ
れる場合にはコントロールフラグＡ，Ｂ，Ｃも同時に読
み出される。

【００３０】データラッチ１４は上記ＥＥＰＲＯＭ１５
の１レコード分に対応する１２バイトの記憶容量を有す
る。上記ＥＥＰＲＯＭ１５から１レコード分のデータが
データラッチ１４に転送され、また、そのデータが必要
に応じて上記ＥＥＰＲＯＭ１５に書き戻されるようにな
っている。データラッチ１４に保持されたデータは、所
定のクロックに同期してシリアル形式で外部出力するこ
とができる。

【００３１】コントロールラッチ１３には、上記コント
ロールフラグＡ，Ｂ，Ｃがデータラッチ１４を介して転
送されるようになっている。コントロールラッチ１３
は、ＩＣカードの通電及びリセットに応答してＡＴＲが
実施されるのと同時に、ＥＥＰＲＯＭ１５からの読み出
し情報によって初期設定される。コントロールラッチ１
３へ設定されるデータとしては、特に制限されないが、
通常モードとテストモードとの切り換えフラグ（閉塞情
報）、及びユーザ領域の使用状況判定フラグが含まれ
る。そして、この公衆電話用ＩＣカード１００によって
ＡＴＲが実施されたか否かを識別するためのフラグが設
定されるＡＴＲフラグラッチ１２が上記コントロールラ
ッチ１３とは別に設けられ、シーケンサ１０によって読
み書き可能とされる。

【００３２】また、外部との間で信号のやり取りを可能
とするするためのインタフェース回路２１が設けられて
おり、クロック端子ＣＬＫから入力されるクロック信号
や、入出力端子Ｉ／Ｏを介して入出力されるシリアル情
報、及びリセット端子ＲＳＴから入力されたリセット信
号がインタフェース回路２１を介して半導体チップの内
部回路に取り込まれるようになっている。特に、このイ
ンタフェース回路２１では、外部から取り込まれたシリ
アルデータをパラレル形式に変換したり、内部で取り扱
われるパラレルデータをシリアルに変換して外部出力可
能とするためのデータ形式変換回路が内蔵されている。

【００３３】次に、ＩＣカードの製造から発行までの流
れを説明する。

【００３４】ＩＣメーカーにおいてＩＣ（ウェーハ状
態）が作られ、その動作テストが行われる。この動作テ
ストが行われるモードをテストモードと称する。このテ
ストモードでの動作テストは、ＩＣメーカーだけが行う
ことができる。ＩＣメーカーにおいてテストが完了され
た後、出荷前にはこのテスト機能は、閉塞情報の書き込
みによって閉塞され、機密保護のため二度と動作テスト
を行うことができないようにされる。つまり、コントロ
ールフラグフラグＣへ所定の閉塞情報が書き込まれるこ
とによって、テストモードの実現が禁止される。

【００３５】通常モードとテストモードとの違いについ
て詳述する。

【００３６】この公衆電話用ＩＣカードに使用されるＩ
Ｃの本来の機能のみが動作する状態を状態Ｓ（通常モー
ド）と称し、ＥＥＰＲＯＭ１５に対して自由に読み書き
ができる状態（テストモード）を状態Ｔと称する。モー
ドは、コントロールフラグＣに閉塞情報が設定されたか
否かによって決定される。つまり、コントロールフラグ
Ｃに閉塞情報が設定されていない状態では、ＥＥＰＲＯ
Ｍ１５の動作テストのため、当該ＥＥＰＲＯＭ１５の読
み書きを自由に行うことができるが、コントロールフラ
グＣに閉塞情報が設定された後は、ＥＥＰＲＯＭ１５の
動作テストのためのコマンドが制限されるようになって
いる。ＥＥＰＲＯＭ１５の動作テストのためのコマンド
制限はシーケンサ１０によって行われる。図３に示され
るように、シーケンサ１０は上記コントロールフラグＣ
の閉塞情報を参照して制御信号Ｔの論理を決定する。つ
まり、コントロールフラグＣに閉塞情報が設定されてい
なければ、制御信号Ｔがハイレベルとされて本ＩＣカー
ドはテストモードに設定され、コントロールフラグＣに
閉塞情報が設定されていれば、制御信号Ｔがローレベル
とされて本ＩＣカードは通常モードに設定される。上記
のテストは図４に示されるようにウェーハ状態で行わ
れ、テスト完了後にウェーハ状態で出荷される。

【００３７】上記動作テストには、図５に示されるよう
なビットパターンが用いられる。

【００３８】すなわち、８ビット全てが論理値“１”で
あるパターン（「ＡＬＬ１」と記す）、８ビット全てが
論理値“０”であるパターン（「ＡＬＬ０」と記す）、
論理値“１”と論理値“０”とが交互に繰り返されるパ
ターン（「ｃｈｅｃｋｅｒ」と記す）、そしてこの「ｃ
ｈｅｃｋｅｒ」を反転したパターン（「／ｃｈｅｃｋｅ
ｒ」と記す）である。そのようなテストパターンを用い
たメモリテストは、特に制限されないが、図６に示され
る手順で行われる。すなわち、ブランクｃｈｅｃｋの後
に、ｃｈｅｃｋｅｒ書き込みが行われ、所定時間だけ高
温放置された後に、そのｃｈｅｃｋｅｒが読み出され
て、期待値との論理判定が行われれる。その後、ｃｈｅ
ｃｋｅｒが消去（ｅｒａｓｅ）され、／ｃｈｅｃｋｅｒ
の書き込みが行われ、同様に高温放置された後に、／ｃ
ｈｅｃｋｅｒの読み出しが行われて、期待値との論理判
定が行われた後に、／ｃｈｅｃｋｅｒが消去される。そ
してＡＴＲ内容書き込みが行われ、それが正しく読み出
されるのが確認された後に、上記のようなメモリテスト
を不可能とするための閉塞情報がコントロール領域（８
ビット）に書き込まれる。ここで、閉塞情報の論理は、
上記ビットパターンによるメモリテストを可能ならしめ
るため、上記ビットパターンと異なるものとされる。例
えば、図７に示されるように、“１，０，１，１，０，
１，０，０”とされる。かかる論理のデータが書き込ま
れた後は、それが読み出される毎に制御信号Ｔが論理ゲ
ート７１によりローレベルにされ、シーケンサ１０によ
り状態Ｓ（通常動作モード）に移行される。このため、
テストモードが起動されることはない。

【００３９】ユーザ領域の使用状況について説明する。

【００４０】図８に示されるように、ユーザ領域が書き
込まれる前であってＡＴＲ実施前には、ＥＥＰＲＯＭ１
５内のコントロールフラグＡ（５ビット）の論理値は全
て論理値“０”である。これはレコードＮｏ．３〜Ｎ
ｏ．７のいずれにも電話番号が書き込まれていないこと
を示す。本ＩＣカードがセットされた電話機などから電
話番号の書き込みコマンドが本ＩＣカードに入力される
と、ＡＴＲ実施と同時にコントロールラッチ１３にこの
フラグ情報がロードされる。コントロールラッチ１３は
情報の垂れ流し状態であり、シーケンサ１０に常に情報
が配信されているので、ＩＣカードに対してユーザ領域
書き込み信号がきたとき、直ちに空きレコードが判別さ
れてそのレコードに電話番号が書き込まれる。つまり、
空きレコードの判別にコントロールフラグＡが参照さ
れ、このコントロールフラグＡにおいて論理値“０”に
なっているビットに対応するレコードに電話番号が書き
込まれる。電話番号が書き込まれると、図９に示される
ように、書込み完了と同時に使われた使用フラグの該当
する位置のデータがシーケンサ１０により論理値“１”
に書き換えられる。この論理値“１”はそこが使用済み
（電話番号書き込み済み）であることを示している。そ
して、データラッチ１４の内容が再びＥＥＰＲＯＭのレ
コードＮｏ．１に書き戻される。

【００４１】次の電話番号書き込みコマンドがきた場合
は、コントロールフラグの論理判断により、レコードＮ
ｏ．１が使用済みであることが分かるので、次のエリア
であるレコードＮｏ．２の箇所に電話番号が書き込まれ
る。

【００４２】図１０に示されるように、レコードＮｏ．
５まで使われている状態で電話番号の書き込みコマンド
が来た場合、シーケンサ１０はこれ以上電話番号の登録
ができないことが使用状況フラグによって分かるので、
本ＩＣカードは電話機などに対して結局ノーウェイトで
異常処理の返信を行うことができる。

【００４３】次に、ＡＴＲフラグについて詳述する。

【００４４】図１１にはＩＣカードの初期設定時の動作
タイミングが示される。

【００４５】ＩＣカードが電話機などにセットされて、
ＩＣカードに高電位側電源Ｖｃｃが供給された後、ＩＣ
カードのＩ／Ｏ端子は５６μｓ（２００クロック）以内
に受信モードにされる。リセット端子ＲＳＴは、１１．
２ｍｓ〜１２．６ｍｓ（４００００〜４５０００クロッ
ク）以内にハイレベルにされる。ＩＣカードはリセット
端子ＲＳＴがハイレベルにされた後から１１２μｓ〜１
１．２ｍｓ（４００〜４００００クロック）以内に初期
応答としてＡＴＲを出力する。ＡＴＲ実施前、ＡＴＲフ
ラグラッチ１２のＡＴＲフラグの論理値は‘０’であ
る。しかし、上記のようにＩＣカードがリセットされる
と、自動的にレコードＮｏ．０が読み出されて、１レコ
ード上の全てのデータがデータラッチ１４にラッチさ
れ、ＡＴＲとして必要な部分が外部端子を介して電話機
などに伝達される。ＡＴＲが確実に行われると、図１２
に示されるように、ＡＴＲフラグラッチ１２のＡＴＲフ
ラグの論理値が‘１’に書き換えられる。このようにＡ
ＴＲフラグラッチ１２のＡＴＲフラグの論理値が‘１’
にされることにより、その後のデータ通信が可能とされ
る。つまり、通常は電話機又は度数読み取り装置からコ
マンドが出力されて、本ＩＣカードはそれの応答を返
す。このコマンドとそれの応答はブロック単位で送受信
される。しかし、上記ＡＴＲフラグラッチ１２のＡＴＲ
フラグの論理値が‘１’に書き換えられない場合には、
ＡＴＲが終了していないと判断されて、コマンドとそれ
の応答のブロック単位での送受信は行われない。

【００４６】図１３には本ＩＣカードの状態遷移が示さ
れる。

【００４７】本ＩＣカードは電話機等にセットされて通
電された後にリセット待ち状態とされる（＃０）。リセ
ット端子ＲＳＴがハイレベルにされてから所定時間内に
ＡＴＲ送出が行われ（＃１）、それが確実に行われる
と、ＡＴＲフラグラッチ１２のＡＴＲフラグラッチが論
理値“１”に設定され、本ＩＣカードはコマンド待ち状
態とされる（ＲＴＮ）。本ＩＣカードにコマンドが入力
されると、先ずそのコマンドの構造エラーチェックが行
われる（＃２）。構造エラーチェックにおいてエラーが
なければ、コマンド処理が行われる。コマンドにはＥＥ
ＰＲＯＭ１５の読み出し系と書き込み系とがある。

【００４８】ＥＥＰＲＯＭ１５の読み出し系コマンドに
は、特定レコードを読み出すための「ＲＥＡＤ」、動作テ
ストのために特定レコードを読み出すための「ＴＲＤ」、
その他のコマンドがある。

【００４９】また、ＥＥＰＲＯＭ１５の書き込み系コマ
ンドには、特定レコードに書き込むための「ＷＲＩＴ
Ｅ」、動作テストのために特定レコードに書き込むため
の「ＴＷＴ」、その他のコマンドがある。

【００５０】ここで、上記「ＴＲＤ」，「ＴＷＴ」について
は、ＥＥＰＲＯＭ１５の動作テストのためのコマンドと
され、コントロールフラグＣに閉塞情報が設定されてい
ない場合にはそれを実行できるが、コントロールフラグ
Ｃに閉塞情報が設定された後は、図７に示される論理ゲ
ート７１の出力信号である制御信号Ｔがローレベルにさ
れることで、上記「ＴＲＤ」，「ＴＷＴ」のコマンド実行が
不可能になる。各コマンドの実行後には、正常終了なら
ば♯３に、異常があれば♯４の処理を経由したのち、コ
マンド待ち「ＲＴＮ」に遷移される。上記「ＴＲＤ」，「Ｔ
ＷＴ」はコマンドにより任意のアクセスアドレスが特定
可能とされる。しかし、「ＲＥＡＤ」，「ＷＲＩＴＥ」等で
使用されるアクセスアドレスは、シーケンサ１０の状態
に応答する制御ロジック１１によって決定される。

【００５１】コマンドにエラーがある場合には、所定の
レスポンス（＃４）の後にコマンド待ち「ＲＴＮ」に遷
移される。

【００５２】上記の例によれば以下の作用効果が得られ
る。

【００５３】（１）ＩＣカード内にマイクロコンピュー
タを用いないで、カスタムロジックで構成することによ
り、ＩＣカード自体を比較的安価に提供することができ
る。

【００５４】（２）閉塞情報やユーザ領域の使用状況判
定情報などの各種内部制御信号をＡＴＲサブセットと同
じレコードに配置することにより、ＩＣカードが電話機
にセットされた際の初期処理時に、上記情報をコントロ
ールラッチ１３に確実にロードすることができる。従っ
て、上記閉塞情報によりＥＥＰＲＯＭ１５のテストモー
ド禁止による機密保護や、新たに電話番号登録が可能で
あるか否かの判別を確実に行うことができる。

【００５５】（３）ＥＥＰＲＯＭ１５を設け、データラ
ッチ１４を介して最新データをＥＥＰＲＯＭ１５に書き
戻すことにより、電源切断後にでもＥＥＰＲＯＭ１５の
記憶状態を保持しておくことができる。

【００５６】（４）テストモードにより、ＥＥＰＲＯＭ
１５の十分な動作テストを行うことができるので、ＥＥ
ＰＲＯＭ１５，さらにはそれを含むＩＣカード１００の
信頼性の向上を図ることができる。そして、上記動作テ
スト後に閉塞情報の書込みにより、上記テストモードに
入れないようにすることができるので、ＥＥＰＲＯＭ１
５内の機密保護を図ることができる。

【００５７】（５）ユーザ領域に電話番号が登録される
毎に、ユーザ領域の使用状況判定フラグが設定されるか
ら、このフラグをチェックすることで電話番号登録が可
能であるか否かの判定をノーウェイトで行うことができ
る。

【００５８】（６）ＡＴＲが終了するとＡＴＲフラグが
書き換えられるから、このＡＴＲフラグをチェックする
ことで、ＡＴＲが終了したか否かの判定をノーウェイト
で行うことができる。

【００５９】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。

【００６０】例えばＥＥＰＲＯＭに代えてフラッシュメ
モリを適用することができる。

【００６１】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である公衆電
話用ＩＣカードに適用した場合について説明したが、本
発明はそれに限定されることなく、例えばパチンコカー
ド、競馬結果出力カード、高速道路料金カード、バスカ
ードなど各種プリペイドカードに広く適用することがで
きる。

【００６２】本発明は、少なくともカード化されて情報
を取り扱うことを条件に適用することができる。

【００６３】

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。

【００６４】すなわち、シリアルインタフェースにおけ
る所定のプロトコルを示すキャラクタ列が読み出される
際に、内部制御用情報がコントロールラッチにロードさ
れるので、ＩＣカードの内部制御に必要な情報を当該Ｉ
Ｃカードの内部処理の際にノーウェイトで利用すること
ができる。

【００６５】予め定められた通常動作モードと、上記記
憶手段の動作テストを可能とするテストモードとを実現
可能なシーケンサと、閉塞情報の設定により、上記シー
ケンサによる上記動作テストモードの実現を禁止するた
めの論理回路とを設けることにより、ＩＣメーカーでは
十分な試験を実施できるようになり、ＩＣカード内の記
憶手段の信頼度の向上を図ることができる。

【００６６】また、個人が良く使う電話番号を記憶可能
にした場合、上記内部制御用情報に、電話番号登録領域
の使用状況を示すフラグを含めることにより、その書き
込みに用いる空き領域に関する情報をノーウェイトで判
断することができる。

【００６７】さらに、シリアルインタフェースにおける
所定のプロトコルを示すキャラクタ列が、外部から与え
られたリセット信号に応じて外部出力されたか否かを示
すフラグを保持するためのラッチを設けることにより、
シリアル通信に必須とされるＡＴＲの実施有無をノーウ
ェイトで判別することができる。

【００６８】そして、上記のＩＣカードをマイクロコン
ピュータを用いないで構成することにより製造コストの
低下を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかる公衆電話用ＩＣカード、及びそ
れ含まれる半導体チップの構成例ブロック図である。

【図２】上記半導体チップに含まれるＥＥＰＲＯＭに形
成されるレコードの説明図である。

【図３】上記半導体チップに含まれるシーケンサによる
状態制御説明図である。

【図４】上記半導体集積回路のテスト行程の説明図であ
る。

【図５】上記テスト行程で使用されるテストパターンの
説明図である。

【図６】上記テストの内容説明図である。

【図７】閉鎖情報の論理説明図である。

【図８】使用フラグの書き換え説明図である。

【図９】使用フラグの書き換え説明図である。

【図１０】使用フラグの書き換え説明図である。

【図１１】上記ＩＣカードの動作タイミング図である。

【図１２】上記ＡＴＲフラグ説明図である。

【図１３】上記ＩＣカードの状態遷移図である。

【符号の説明】

１半導体チップ１０シーケンサ１１制御ロジック１２ＡＴＲフラグラッチ１３コントロールラッチ１４データラッチ１５ＥＥＰＲＯＭ７１論理ゲート

フロントページの続き (72)発明者首藤新一東京都小平市上水本町５丁目20番１号日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社内 (72)発明者白井正喜東京都小平市上水本町五丁目20番１号株式会社日立製作所半導体事業部内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】カード状に形成され、外部との間で所定
の情報をやり取り可能なＩＣカードにおいて、複数のレコードが形成され、シリアルインタフェースに
おける所定のプロトコルを示すキャラクタ列を一つのレ
コードに記憶する記憶手段と、上記記憶手段のレコードに対応し、上記キャラクタ列を
含むレコードの情報を保持するとともに、それをシリア
ル形式で外部出力可能なデータラッチと、内部制御情報を保持するためのコントロールラッチと、を含み、上記キャラクタ列が記憶されるレコードと同一
レコードに、内部制御用情報の記憶領域が設けられ、そ
れが上記キャラクタ列と同時に読み出されて上記コント
ロールラッチに保持されることを特徴とするＩＣカー
ド。
【請求項２】予め定められた通常動作モードと、上記
記憶手段の動作テストを可能とするテストモードとを実
現可能なシーケンサと、閉塞情報の設定により、上記シーケンサによる上記動作
テストモードの実現を禁止するための論理回路とを含む
請求項１記載のＩＣカード。
【請求項３】上記内部制御用情報には、電話番号登録
領域の使用状況を示すフラグが含まれる請求項１又は２
記載のＩＣカード。
【請求項４】シリアルインタフェースにおける所定の
プロトコルを示すキャラクタ列が、外部から与えられた
リセット信号に応じて外部出力されたか否かを示すフラ
グを保持するためのラッチを含む請求項１乃至３のいず
れか１項記載のＩＣカード。