FR2846060B1
(fr)
*
|
2002-10-21 |
2005-02-04 |
Hutchinson |
Biellette antivibratoire
|
ATE542167T1
(de)
|
2003-04-17 |
2012-02-15 |
Nikon Corp |
Lithographisches immersionsgerät
|
US7411653B2
(en)
*
|
2003-10-28 |
2008-08-12 |
Asml Netherlands B.V. |
Lithographic apparatus
|
JP2007225627A
(ja)
*
|
2004-03-25 |
2007-09-06 |
Research Organization Of Information & Systems |
標本合焦位置高精度計測法
|
US7081957B2
(en)
*
|
2004-04-08 |
2006-07-25 |
Therma-Wave, Inc. |
Aperture to reduce sensitivity to sample tilt in small spotsize reflectometers
|
JP4782391B2
(ja)
*
|
2004-06-16 |
2011-09-28 |
オリンパス株式会社 |
顕微鏡システム
|
JP4599941B2
(ja)
*
|
2004-08-20 |
2010-12-15 |
株式会社ニコン |
自動焦点検出装置およびこれを備える顕微鏡システム
|
JP5352040B2
(ja)
*
|
2004-08-23 |
2013-11-27 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
JP2006084794A
(ja)
*
|
2004-09-16 |
2006-03-30 |
Olympus Corp |
焦点位置制御機構付き観察装置
|
JP4932162B2
(ja)
*
|
2005-01-20 |
2012-05-16 |
オリンパス株式会社 |
焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置
|
US7463414B2
(en)
*
|
2005-01-26 |
2008-12-09 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Microscope
|
DE102005011781B4
(de)
*
|
2005-03-11 |
2007-06-06 |
Carl Zeiss Surgical Gmbh |
Ophthalmo-Operationsmikroskop mit Fokusversatz
|
JP2006276663A
(ja)
*
|
2005-03-30 |
2006-10-12 |
Olympus Corp |
顕微鏡
|
JP2006293222A
(ja)
*
|
2005-04-14 |
2006-10-26 |
Olympus Corp |
焦点検出装置
|
JP4690132B2
(ja)
*
|
2005-07-13 |
2011-06-01 |
オリンパス株式会社 |
焦点検出装置
|
JP5289768B2
(ja)
*
|
2005-09-29 |
2013-09-11 |
オリンパス株式会社 |
焦点位置決定方法、焦点位置決定装置、微弱光検出装置及び微弱光検出方法
|
JP4708143B2
(ja)
*
|
2005-09-30 |
2011-06-22 |
シスメックス株式会社 |
自動顕微鏡及びこれを備える分析装置
|
JP4720460B2
(ja)
*
|
2005-11-29 |
2011-07-13 |
株式会社ニコン |
顕微鏡
|
JP4923541B2
(ja)
*
|
2005-11-30 |
2012-04-25 |
株式会社ニコン |
顕微鏡
|
JP4790420B2
(ja)
*
|
2006-01-12 |
2011-10-12 |
オリンパス株式会社 |
自動焦点機構を備えた顕微鏡およびその調整方法
|
EP1840623B1
(en)
*
|
2006-03-31 |
2013-05-08 |
Yokogawa Electric Corporation |
Microscope comprising a focus error detecting optical system
|
JP2007271979A
(ja)
*
|
2006-03-31 |
2007-10-18 |
Yokogawa Electric Corp |
生物顕微鏡
|
US7700903B2
(en)
*
|
2006-06-09 |
2010-04-20 |
Wdi Wise Device Inc. |
Method and apparatus for the auto-focussing infinity corrected microscopes
|
US7728961B2
(en)
*
|
2006-10-31 |
2010-06-01 |
Mitutoyo Coporation |
Surface height and focus sensor
|
JP4962769B2
(ja)
*
|
2006-11-13 |
2012-06-27 |
横河電機株式会社 |
3次元顕微鏡システム
|
JP5064764B2
(ja)
*
|
2006-11-15 |
2012-10-31 |
オリンパス株式会社 |
自動焦点検出装置、その制御方法、及び顕微鏡システム
|
WO2008087992A1
(ja)
|
2007-01-19 |
2008-07-24 |
Nikon Corporation |
焦点検出装置、顕微鏡
|
US7768545B2
(en)
*
|
2007-03-06 |
2010-08-03 |
Otto Gregory Glatt |
Panoramic image management system and method
|
JP4358872B2
(ja)
*
|
2007-03-19 |
2009-11-04 |
アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 |
高さ検出装置
|
JP5070995B2
(ja)
*
|
2007-08-29 |
2012-11-14 |
横河電機株式会社 |
共焦点顕微鏡装置
|
US8629382B2
(en)
|
2007-09-03 |
2014-01-14 |
Nikon Corporation |
Auto focus apparatus for detecting a focal point with a setting section for shifting an irradiation position outside an observation field of an imaging section
|
US8804111B2
(en)
*
|
2007-10-04 |
2014-08-12 |
Kla-Tencor Corporation |
Multichip CCD camera inspection system
|
US7723657B2
(en)
*
|
2007-11-16 |
2010-05-25 |
Mitutoyo Corporation |
Focus detection apparatus having extended detection range
|
DE102008018952B4
(de)
*
|
2008-04-15 |
2021-01-14 |
Carl Zeiss Microscopy Gmbh |
Mikroskop mit Haltefokus-Regelung
|
US7550699B1
(en)
|
2008-06-20 |
2009-06-23 |
Marshall Daniel R |
Removal of unwanted reflections in autofocus systems
|
HU0800686D0
(en)
*
|
2008-11-17 |
2009-01-28 |
Femtonics Kft |
Laser scanning microscope
|
US9229207B2
(en)
*
|
2008-11-17 |
2016-01-05 |
Femtonics Kft |
Laser scanning microscope with focus-detecting unit
|
WO2010067256A1
(en)
*
|
2008-12-09 |
2010-06-17 |
Koninklijke Philips Electronics N.V. |
Autofocus for a microscope system.
|
CN102405431B
(zh)
|
2009-03-11 |
2015-09-16 |
美国樱花检验仪器株式会社 |
自动聚焦方法和自动聚焦设备
|
JP5601539B2
(ja)
|
2009-07-13 |
2014-10-08 |
株式会社ニコン |
3次元方向ドリフト制御装置および顕微鏡装置
|
KR101138648B1
(ko)
|
2009-10-08 |
2012-04-26 |
엘아이지에이디피 주식회사 |
고속기판검사장치 및 이를 이용한 고속기판검사방법
|
DE102010030430B4
(de)
|
2010-06-23 |
2015-01-29 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Triangulierende Autofokuseinrichtung für Mikroskope und Verwendungen hiervon
|
DE102010036709A1
(de)
*
|
2010-07-28 |
2012-02-02 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Einrichtung und Verfahren zur mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur
|
CN103597397B
(zh)
*
|
2011-01-12 |
2016-10-26 |
Idea机器显影设计及生产有限公司 |
紧凑型显微镜系统及方法
|
JP5626367B2
(ja)
*
|
2011-01-21 |
2014-11-19 |
株式会社ニコン |
焦点位置維持装置及び顕微鏡
|
DE102011003807A1
(de)
|
2011-02-08 |
2012-08-09 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Mikroskop mit Autofokuseinrichtung und Verfahren zur Autofokussierung bei Mikroskopen
|
JP5278489B2
(ja)
*
|
2011-05-09 |
2013-09-04 |
株式会社ニコン |
顕微鏡、顕微鏡の焦点調節制御方法
|
JP2013003333A
(ja)
|
2011-06-16 |
2013-01-07 |
Olympus Corp |
顕微鏡装置
|
JP5909902B2
(ja)
*
|
2011-07-13 |
2016-04-27 |
株式会社ニコン |
オートフォーカス装置、顕微鏡装置
|
DE102011084562B4
(de)
|
2011-10-14 |
2018-02-15 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Korrektur von sphärischen Abbildungsfehlern in einem mikroskopischen Abbildungsstrahlengang
|
US10001622B2
(en)
|
2011-10-25 |
2018-06-19 |
Sanford Burnham Medical Research Institute |
Multifunction autofocus system and method for automated microscopy
|
JP2012159854A
(ja)
*
|
2012-04-04 |
2012-08-23 |
Olympus Corp |
倒立顕微鏡システム
|
ES2953897T3
(es)
|
2012-05-02 |
2023-11-16 |
Leica Biosystems Imaging Inc |
Enfoque en tiempo real en imagenología de exploración lineal
|
CN104380170B
(zh)
*
|
2012-06-27 |
2019-07-26 |
索尼公司 |
显微镜和快门机构
|
TWI485504B
(zh)
*
|
2012-08-28 |
2015-05-21 |
Ind Tech Res Inst |
光通訊系統、發射裝置及接收裝置
|
US9857361B2
(en)
|
2013-03-15 |
2018-01-02 |
Iris International, Inc. |
Flowcell, sheath fluid, and autofocus systems and methods for particle analysis in urine samples
|
EP2972214B1
(en)
|
2013-03-15 |
2018-10-31 |
Iris International, Inc. |
Sheath fluid systems and methods for particle analysis in blood samples
|
DE102013103971A1
(de)
|
2013-04-19 |
2014-11-06 |
Sensovation Ag |
Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren Teilbildern zusammengesetzten Gesamtbilds eines Objekts
|
US10007102B2
(en)
|
2013-12-23 |
2018-06-26 |
Sakura Finetek U.S.A., Inc. |
Microscope with slide clamping assembly
|
JP6673198B2
(ja)
*
|
2014-05-30 |
2020-03-25 |
株式会社ニコン |
顕微鏡
|
DE102014110606B4
(de)
|
2014-07-28 |
2017-10-19 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung
|
US10393997B2
(en)
*
|
2015-02-18 |
2019-08-27 |
Abbott Laboratories |
Methods, systems and devices for automatically focusing a microscope on a substrate
|
WO2016158782A1
(ja)
*
|
2015-03-31 |
2016-10-06 |
オリンパス株式会社 |
観察装置
|
US9921399B2
(en)
|
2015-03-31 |
2018-03-20 |
General Electric Company |
System and method for continuous, asynchronous autofocus of optical instruments
|
US9599806B2
(en)
|
2015-06-09 |
2017-03-21 |
General Electric Company |
System and method for autofocusing of an imaging system
|
DE102015110795A1
(de)
*
|
2015-07-03 |
2017-01-05 |
Carl Zeiss Microscopy Gmbh |
Optikvorrichtung mit einem Optikmodul, das mindestens ein optisches Element aufweist
|
CN108139650B
(zh)
*
|
2015-09-24 |
2020-10-30 |
徕卡生物系统公司 |
线扫描成像中的实时聚焦
|
DE102015116452A1
(de)
|
2015-09-29 |
2017-03-30 |
Carl Zeiss Microscopy Gmbh |
Mikroskop
|
WO2017098657A1
(ja)
|
2015-12-11 |
2017-06-15 |
オリンパス株式会社 |
観察装置
|
WO2017104068A1
(ja)
|
2015-12-18 |
2017-06-22 |
オリンパス株式会社 |
観察装置
|
DE102016108226A1
(de)
|
2016-05-03 |
2017-11-09 |
Carl Zeiss Microscopy Gmbh |
Mikroskop
|
DE102016111949B4
(de)
*
|
2016-06-30 |
2018-03-01 |
Leica Microsystems Cms Gmbh |
Laser-Mikroskopsystem
|
WO2018061131A1
(ja)
*
|
2016-09-28 |
2018-04-05 |
オリンパス株式会社 |
細胞状態計測装置
|
JP6664006B2
(ja)
|
2016-09-30 |
2020-03-13 |
オリンパス株式会社 |
観察装置
|
CN109791276A
(zh)
|
2016-09-30 |
2019-05-21 |
奥林巴斯株式会社 |
观察装置
|
US11280803B2
(en)
|
2016-11-22 |
2022-03-22 |
Sakura Finetek U.S.A., Inc. |
Slide management system
|
EP3547895B1
(en)
|
2016-11-30 |
2021-02-17 |
Alcon Inc. |
Visualization systems and methods for optimized optical coherence tomography
|
JP6911112B2
(ja)
|
2017-05-29 |
2021-07-28 |
オリンパス株式会社 |
観察装置
|
WO2019084677A1
(en)
*
|
2017-10-30 |
2019-05-09 |
Wdi Wise Device Inc. |
Method and apparatus for autofocussing an optical microscope and dynamic focus tracking
|
US11592653B2
(en)
*
|
2019-04-05 |
2023-02-28 |
Kla Corporation |
Automated focusing system for tracking specimen surface with a configurable focus offset
|
DE102019113540A1
(de)
*
|
2019-05-21 |
2020-11-26 |
Carl Zeiss Microscopy Gmbh |
Lichtmikroskop mit automatischer Fokussierung
|
EP3990891A4
(en)
*
|
2019-12-31 |
2023-07-26 |
Illumina, Inc. |
AUTO FOCUS FEATURE IN OPTICAL SAMPLE ANALYSIS
|
EP3961287A3
(de)
*
|
2020-09-01 |
2022-06-29 |
BMG Labtech GmbH |
Autofokussystem für eine optische mess- oder mikroskopievorrichtung, verfahren zur fokuseinstellung bei einer optischen mess- oder mikroskopievorrichtung sowie optische mess- oder mikroskopievorrichtung
|
EP4141870A1
(en)
*
|
2021-08-31 |
2023-03-01 |
Microsoft Technology Licensing, LLC |
Read head and methods for reading multilayer optical data storage media
|
TWI786991B
(zh)
|
2021-12-13 |
2022-12-11 |
國立成功大學 |
自動對焦系統及自動對焦方法
|