JP4932162B2 - 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。なお、第1の実施の形態及び以降の実施の形態では、蛍光観察装置として倒立型の落射蛍光顕微鏡を用いて、本発明の実施の形態を説明する。
図1において、1は顕微鏡本体であり、この顕微鏡本体1は、一般的な倒立型の落射蛍光顕微鏡と同様に、照明部2、ダイクロイックミラー3、対物レンズ4、ハーフミラー5、光学フィルタ6および光ディテクタとしての撮像素子(CCDカメラなど)7を有しており、それらが、それぞれの光軸を一致させて配置されている。
なお、蛍光像によるピント検出は、コントラスト差に限らず、像の強度分布などからも求めることができる。
エバネッセントと組み合わせた高精度の焦点検出の効果が得られる。すなわち、蛍光112は上記の数十ナノメートル〜数百ナノメートルのエバネッセント光17の領域でしか発光しないため、数十ナノメートル〜数百ナノメートルという精度で焦点検出ができる。
図2は、本発明の第2の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図2において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
第2の実施の形態では、第1の実施の形態における装置に、新たに焦点検出装置系である集光レンズ30と検出器31を観察光学系の光軸に対して追加している。
図2において、第1の実施の形態では戻り光113を遮光していたが、本実施の形態では、戻り光113を遮光せずに、集光レンズ30にて検出器31の検出ポイント37の後方に集光している。
カバーガラス面13が対物レンズ4の焦点位置よりも上方向に動いた場合を考慮すると、照明光111の戻り光は検出ポイント37に対して検出ポイント38とは反対側の図示しない光路を通ることになる。
従って、まず、ピントがあった状態における集光レンズ30による集光位置である検出器31の検出ポイント37の位置を記憶しておく。そして、集光位置が、検出ポイント37からずれたときに、ピントがずれているということなので、対物レンズ4を動かして、集光位置をピントが合った状態である検出ポイント37の位置に戻す。
これにより、上記の効果に加え、カバーガラス13と標本12の密着面と異なる位置に対物レンズ4の焦点をオフセットして合わせたままで、焦点位置を検出する事ができる。
これにより、上記の効果に加え、エバネッセント光17の浸み出し深さを変化させても焦点位置を検出する事ができる。
これにより、エバネッセント光17の浸み出し深さの変化量を求める事ができる。
これにより、上記の効果に加え、高価な検出器31をより安価な検出器に置き換えることができる。
これにより、上記の効果に加え、焦点検出用の光源の波長を、生体である標本12にダメージを与えにくい赤外光などに変更することができる。
図4は、本発明の第3の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図4において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
図4に示すように、本実施の形態では、新たに焦点検出光源系である焦点検出用レンズ50と、焦点検出装置系である焦点検出用レンズ53と、2分割検出器54とを観察光学系の光軸に対して追加している。
焦点検出用レンズ50が照明光路内に挿入されると、遮光板52は焦点検出戻り光132の光路から抜かれて、焦点検出戻り光132は2分割検出器54に到達する。一方、焦点検出用レンズ50が照明光路内から抜かれると、遮光板52は戻り光113の光路に挿入されて、戻り光113は遮光される。
そこで、2分割検出器54の集光面55にて両検出素子にまたがった小さな集光光が観察できるように対物レンズを光軸方向に調整することで焦点調整を行うことができる。
図7は、本発明の第4の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図7において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
図7に示すように、本実施の形態では、新たに焦点検出光源系である焦点検出光源60と、コリメートレンズ61と、遮光板62と、半透過ミラー63と、焦点検出用ダイクロイックミラー69と、焦点検出装置系である焦点検出用レンズ64と、波長カット板70と、2分割検出器65とを観察光学系の光軸に対して追加している。
焦点検出光ダイクロイックミラー69は、蛍光の波長を透過すると共に、蛍光より波長の長い焦点検出光141を反射するように設定されている。
遮光板62は、焦点検出光の断面から見て半円形に遮光するように、円板状のガラス板の半円部分を遮光し、残りを透過させている。
2分割検出器65の分割面は、光軸と平行でかつ焦点検出光141と焦点検出戻り光142の分割ラインを含む面と同じ面で構成される。
図10は、本発明の第5の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図10において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
ダイクロイックミラー3で反射された焦点検出光源87のレーザ光は、焦点検出光151として対物レンズ4を介して標本12に照射される。
焦点検出装置89は、集光レンズ80、ピンホール81、フィルタ82、検出器83で構成され、各々が顕微鏡本体1の光軸と一致している。散乱光161は集光レンズ80で検出器83に集光される。集光レンズ80の瞳位置にはピンホール81が配置され、焦点を合わせたい視野中心の散乱光114以外の不要な光線を大幅にカットする。ピンホール81と検出器83の間には、赤外域の所定波長である散乱光161の波長のみを透過しそれ以外の照明光88などの波長を除去するフィルタ82が構成される。
散乱光161は、上記のように、数十ナノメートル〜数百ナノメートルのエバネッセント光17の領域でしか発光しないため、数十ナノメートル〜数百ナノメートルという精度の焦点検出が効果として得られる。
2…照明部
3…ダイクロイックミラー
4…対物レンズ
5…ハーフミラー
6…光学フィルタ
7…撮像素子
8…照射光源
9…集光レンズ
10…制御部
12…標本
13…カバーガラス
14…位置制御部
15…オイル
16…接眼レンズ
17…エバネッセント光
18…撮像レンズ
30…集光レンズ
31…検出器
32…カバーガラス面
36…エバネッセント光
39…ピンホール
40…光検出器
41…集光ポイント検出器
50…焦点検出用レンズ
52…遮光板
53…焦点検出用レンズ
54…2分割検出器
55…集光面
60…焦点検出光源
61…コリメートレンズ
62…遮光板
63…半透過ミラー
64…焦点検出用レンズ
65…分割検出器
66…集光面
67…ボケ光
69…焦点検出用ダイクロイックミラー
80…集光レンズ
81…ピンホール
82…フィルタ
83…検出器
84…照明光源
85…励起フィルタ
86…集光レンズ
87…焦点検出光源
89…焦点検出装置
Claims (11)
- 標本を観察する対物レンズと、
前記標本の屈折率とは異なる屈折率をもち、前記標本を載置する透明部材と、
前記対物レンズの外周部分を通して、前記標本と前記透明部材との境界面で全反射するように照明光を照射する照明光源と、
前記対物レンズと撮像素子との間に配置された焦点検出用のダイクロイックミラーと、
前記ダイクロイックミラーのうち前記境界面からの反射光を反射させる反射面側に配置された半透過ミラーと、
前記半透過ミラーのうち前記境界面からの反射光を反射させる反射面側に設けられ、焦点検出用の検出光を照射する焦点検出光源と、
前記検出光をその光束の断面方向で半分に遮光する遮光板と、
前記半透過ミラーのうち前記境界面からの反射光を透過させる透過面側に設けられる焦点検出用の検出器と、
前記ダイクロイックミラーと前記検出器の間に設けられ、前記焦点検出光の波長のみを透過させるフィルタと、を備え、
前記検出器が受光した前記反射光の検出結果に基づいて、前記境界面に対するオートフォーカスを行うことを特徴とする焦点検出装置。 - 標本を観察する対物レンズと、
前記標本の屈折率とは異なる屈折率をもち、前記標本を載置する透明部材と、
前記対物レンズの外周部分を通して、前記標本と前記透明部材との境界面で全反射するように照明光を照射する照明光源と、
前記対物レンズと撮像素子との間に配置された焦点検出用のダイクロイックミラーと、
前記ダイクロイックミラーのうち前記境界面からの反射光を反射させる反射面側に配置された半透過ミラーと、
前記半透過ミラーのうち前記境界面からの反射光を透過させる透過面側に設けられ、焦点検出用の検出光を照射する焦点検出光源と、
前記検出光をその光束の断面方向で半分に遮光する遮光板と、
前記半透過ミラーのうち前記境界面からの反射光を反射させる反射面側に設けられる焦点検出用の検出器と、
前記ダイクロイックミラーと前記検出器の間に設けられ、前記焦点検出光の波長のみを透過するフィルタと、を備え、
前記検出器が受光した前記反射光の検出結果に基づいて、前記境界面に対するオートフォーカスを行うことを特徴とする焦点検出装置。 - 標本を観察するための対物レンズと、
前記標本の屈折率とは異なる屈折率をもち、前記標本を載置する透明部材と、
前記対物レンズを介して前記標本と前記透明部材との境界面で全反射するように前記対物レンズの外周部分を通して照明光を投光する照明光学系と、
励起された前記標本が発する微弱な蛍光を観察する観察光学系と、
前記対物レンズを介して前記境界面にオートフォーカス用の焦点検出光を投光する焦点検出光学系と、を備え、
前記焦点検出光学系は、
前記観察光学系の光路上に設けられるダイクロイックミラーと、
前記ダイクロイックミラーを通して前記境界面に焦点検出光を出射する焦点検出光源と、
前記ダイクロイックミラーのうち前記境界面からの反射光を反射させる反射面側に配置され、前記境界面からの反射光を透過及び反射させることで2つの光路に分岐させる半透過ミラーと、
前記焦点検出光源と前記半透過ミラーとの間に配置され、前記焦点検出光をその断面方向で半円形に遮光する遮光板と、
前記焦点検出光のうち前記境界面からの反射光を集光する結像レンズと、
前記半透過ミラーによって分岐された光路上に設けられ、前記結像レンズによって結像される前記焦点検出光を観察可能に配置された検出器と、を有し、
前記検出器が受光した反射光の検出結果に基づいて、前記境界面に対するオートフォーカスを行うとともに、前記境界面で全反射した照明光により生じるエバネッセント光に基づいて前記標本の蛍光像を観察することを特徴とする蛍光観察装置。 - 前記焦点検出光学系は、前記ダイクロイックミラーと前記検出器との間に設けられ、前記焦点検出光源からの反射光のみを透過する波長制限部材をさらに有することを特徴とする請求項3に記載の蛍光観察装置。
- 前記観察光学系は、前記照明光源で励起されたエバネッセント光によって標本が発する微弱な蛍光像を前記対物レンズを通して撮像する撮像素子を有することを特徴とする請求項3または4に記載の蛍光観察装置。
- 前記ダイクロイックミラーは、前記焦点検出光を反射するとともに前記蛍光を透過することを特徴とする請求項3ないし5のいずれかひとつに記載の蛍光観察装置。
- 前記照明光学系は、前記照明光を出射する照明光源と、前記照明光を反射するとともに前記標本が発する蛍光を透過する照明ダイクロイックミラーと、を有することを特徴とする請求項3ないし6のいずれかひとつに記載の蛍光観察装置。
- 前記標本からの微弱な蛍光と、前記焦点検出光とで波長が異なり、前記観察光学系による観察と前記検出器によるオートフォーカスとを同時に行うことが可能であることを特徴とする請求項3ないし7のいずれかひとつに記載の蛍光観察装置。
- 前記焦点検出光源が発する前記焦点検出光の波長は、前記標本が発する微弱な蛍光の波長よりも長いことを特徴とする請求項3ないし8のいずれかひとつに記載の蛍光観察装置
- 照明光学系が投光する照明光の前記境界面に対する入射角を可変であることを特徴とする請求項3ないし9のいずれかひとつに記載の蛍光観察装置。
- 前記検出器が検出する前記標本に対する合焦位置をオフセット可能であることを特徴とする請求項3ないし10のいずれかひとつに記載の蛍光観察装置。
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