TWI456254B - 螢光顯微影像系統 - Google Patents

螢光顯微影像系統 Download PDF

Info

Publication number
TWI456254B
TWI456254B TW099116015A TW99116015A TWI456254B TW I456254 B TWI456254 B TW I456254B TW 099116015 A TW099116015 A TW 099116015A TW 99116015 A TW99116015 A TW 99116015A TW I456254 B TWI456254 B TW I456254B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
fluorescent
actuator
servo
imaging system
objective lens
Prior art date
Application number
TW099116015A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201142352A (en
Inventor
Ping Jung Wu
Kuen Chiuan Cheng
Hsing Cheng Yu
Jau Jiu Ju
Chun Chieh Huang
Yuan Chin Lee
Original Assignee
Ind Tech Res Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ind Tech Res Inst filed Critical Ind Tech Res Inst
Priority to TW099116015A priority Critical patent/TWI456254B/zh
Priority to US12/872,910 priority patent/US8410414B2/en
Publication of TW201142352A publication Critical patent/TW201142352A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI456254B publication Critical patent/TWI456254B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing
    • G02B21/245Devices for focusing using auxiliary sources, detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Claims (27)

  1. 一種螢光顯微影像系統,用於檢測一樣品的螢光訊號,包括:一螢光偵測模組,具有一螢光激發光源產生器,一螢光讀取光路,和一螢光偵測器,該螢光激發光源產生器可以產生具有第一波長的一激發光束,該螢光讀取光路引導該激發光束通過一物鏡後對焦於該樣品以激發該樣品發出螢光,再將該樣品中被激發的該螢光引導至該螢光偵測器,利用該螢光偵測器讀取該樣品的該螢光訊號;以及一對焦控制模組,具有一伺服光源產生器,一種二色性光學元件,一伺服光路,一致動器,一伺服光束反射膜,和一對焦偵測裝置;該伺服光源產生器可以產生具有第二波長的一伺服光束,該伺服光束反射膜配置在一觀察面,該二色性光學元件被配置在該伺服光路和該螢光讀取光路的交點,用以耦合該伺服光路和該螢光讀取光路,使得該伺服光路能夠引導該伺服光束通過該物鏡到達該伺服光束反射膜,然後將該伺服光束反射膜反射回來的回光訊號引導至該對焦偵測裝置,該對焦偵測裝置依據該回光訊號控制該致動器沿著該螢光讀取光路的光軸移動,利用該致動器移動該物鏡進行對焦,其中該伺服光束的波長為780nm或是更長波段的光束。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,該螢光激發光束為一光纖光源所發出波長為473nm的光束或是一雷射二極體光源所發出波長為405nm的光束。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中還具有一光纖,用以接收該激發光束經由該物鏡對焦到該樣品之後所激發的該螢光,然後再導入該螢光偵測器。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中該螢光偵測器可 為光電倍增管。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中該物鏡為高數值孔徑的物鏡,而且該激發光束的直徑大於該高數值孔徑物鏡的有效徑。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中該觀察面是該伺服光路和該樣品相交位置處的橫切面,該伺服光束反射膜則被配置在位於該觀察面的一透光元件。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的螢光顯微影像系統,其中該伺服光束反射膜被配置在用以承載該樣品的一蓋玻片的上表面、一蓋玻片的下表面,和一載玻片的上表面其中的任一種。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中該致動器可以是單軸的壓電式致動器或單軸的音圈馬達致動器。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的螢光顯微影像系統,其中該致動器用以移動該物鏡進行對焦。
  10. 如申請專利範圍第9項所述的螢光顯微影像系統,其中還具有一掃描移動平台,可沿著X-Y軸移動用以帶動樣品及其載體。
  11. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中該致動器可以為一種三軸致動器,包括一X軸致動器,一Y軸致動器和一Z軸致動器,該X軸致動器、該Y軸致動器及該Z軸致動器中之一是壓電式致動器或音圈馬達致動器。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的螢光顯微影像系統,其中該三軸致動器的Z軸致動器用以移動該物鏡進行對焦,該X軸致動器和該Y軸致動器用以移動該物鏡對該樣品進行平面掃描。
  13. 如申請專利範圍第1項所述的螢光顯微影像系統,其中該對焦偵測裝置包含一光偵測晶片和一對焦伺服控制電路,該光偵測晶片用以偵測該回光訊號,該對焦伺服控制電路運用一對焦偵測法分析該回光訊號,用以控制該致動器移動該物鏡進行對焦。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的螢光顯微影像系統,其中該對焦偵測法可以是刀緣法(Knife-Edge)、像散法(Astigmatic)和光點法(spot sharp)其中的任一種。
  15. 一種螢光顯微影像系統,用於檢測一樣品的螢光訊號,包括: 一螢光偵測模組,具有一螢光激發光源產生器,一螢光讀取光路,和一螢光偵測器,該螢光激發光源產生器可以產生具有第一波長的一激發光束,該螢光讀取光路引導該激發光束通過一物鏡後對焦於該樣品以激發該樣品發出螢光,再將該樣品中被激發的該螢光引導至該螢光偵測器,利用該螢光偵測器讀取該樣品的該螢光訊號;以及一對焦控制模組,具有一伺服光源產生器,一種二色性光學元件,一伺服光路,一致動器,一伺服光束反射膜,和一對焦偵測裝置;該伺服光源產生器可以產生具有第二波長的一伺服光束,該伺服光束反射膜配置在一觀察面,該二色性光學元件被配置在該伺服光路和該螢光讀取光路的交點,用以耦合該伺服光路和該螢光讀取光路,使得該伺服光路能夠引導該伺服光束通過該物鏡到達該伺服光束反射膜,然後將該伺服光束反射膜反射回來的回光訊號引導至該對焦偵測裝置,該對焦偵測裝置依據該回光訊號控制該致動器沿著該螢光讀取光路的光軸移動,利用該致動器移動該物鏡進行對焦;其中該觀察面是該伺服光路和該樣品相交位置處的橫切面,該伺服光束反射膜則被配置在位於該觀察面的一透光元件。
  16. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,該螢光激發光束為一光纖光源所發出波長為473nm的光束或是一雷射二極體光源所發出波長為405nm的光束。
  17. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中還具有一光纖,用以接收該激發光束經由該物鏡對焦到該樣品之後所激發的該螢光,然後再導入該螢光偵測器。
  18. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該螢光偵測器可為光電倍增管。
  19. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該物鏡為高數值孔徑的物鏡,而且該激發光束的直徑大於該高數值孔徑物鏡的有效徑。
  20. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該伺服光束反射膜被配置在用以承載該樣品的一蓋玻片的上表面、一蓋玻片的下表面,和一載玻片的上表面其中的任一種。
  21. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該致動器可以是單軸的壓電式致動器或單軸的音圈馬達致動器。
  22. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該致動器用以移動該物鏡進行對焦。
  23. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中還具有一掃描移動平台,可沿著X-Y軸移動用以帶動樣品及其載體。
  24. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該致動器可以為一種三軸致動器,包括一X軸致動器,一Y軸致動器和一Z軸致動器,該X軸致動器、該Y軸致動器及該Z軸致動器中之一是壓電式致動器或音圈馬達致動器。
  25. 如申請專利範圍第24項所述的螢光顯微影像系統,其中該三軸致動器的Z軸致動器用以移動該物鏡進行對焦,該X軸致動器和該Y軸致動器用以移動該物鏡對該樣品進行平面掃描。
  26. 如申請專利範圍第15項所述的螢光顯微影像系統,其中該對焦偵測裝置包含一光偵測晶片和一對焦伺服控制電路,該光偵測晶片用以偵測該回光訊號,該對焦伺服控制電路運用一對焦偵測法分析該回光訊號,用以控制該致動器移動該物鏡進行對焦。
  27. 如申請專利範圍第26項所述的螢光顯微影像系統,其中該對焦偵測法可以是刀緣法(Knife-Edge)、像散法(Astigmatic)和光點法(spot sharp)其中的任一種。
TW099116015A 2010-05-19 2010-05-19 螢光顯微影像系統 TWI456254B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW099116015A TWI456254B (zh) 2010-05-19 2010-05-19 螢光顯微影像系統
US12/872,910 US8410414B2 (en) 2010-05-19 2010-08-31 Fluorescence microscopy imaging system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW099116015A TWI456254B (zh) 2010-05-19 2010-05-19 螢光顯微影像系統

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201142352A TW201142352A (en) 2011-12-01
TWI456254B true TWI456254B (zh) 2014-10-11

Family

ID=44971703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW099116015A TWI456254B (zh) 2010-05-19 2010-05-19 螢光顯微影像系統

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8410414B2 (zh)
TW (1) TWI456254B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI604716B (zh) * 2016-10-20 2017-11-01 雲象科技有限公司 數位化顯微影像導覽系統及其實施方法

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009029831A1 (de) 2009-06-17 2011-01-13 W.O.M. World Of Medicine Ag Vorrichtung und Verfahren für die Mehr-Photonen-Fluoreszenzmikroskopie zur Gewinnung von Informationen aus biologischem Gewebe
CN104111241B (zh) * 2013-04-22 2017-10-03 清华大学 基于直线扫描的荧光共聚焦检测装置
JP6576921B2 (ja) * 2013-07-18 2019-09-18 ベンタナ メディカル システムズ, インコーポレイテッド マルチスペクトル撮像のための自動焦点方法およびシステム
DE102014005880A1 (de) 2014-04-17 2015-11-05 Carl Zeiss Ag Lichtrastermikroskop mit vereinfachter Optik, insbesondere mit veränderlicher Pupillenlage
US9733465B2 (en) 2015-02-12 2017-08-15 The Penn State Research Foundation Waveguides for enhanced total internal reflection fluorescence microscopy
TWI563288B (en) * 2015-03-03 2016-12-21 Southport Corp Optical image scanning component and microscope device
CN107807236A (zh) * 2017-10-31 2018-03-16 南京先进激光技术研究院 单色荧光检测装置
TWI630345B (zh) 2017-12-26 2018-07-21 財團法人工業技術研究院 照明裝置
NL2020618B1 (en) * 2018-01-12 2019-07-18 Illumina Inc Real time controller switching
CN108121015B (zh) * 2018-01-25 2024-03-29 中国科学技术大学 一种原子布居数探测系统
CN109211858B (zh) * 2018-09-27 2023-09-22 北京海维尔科技发展有限公司 一种多通道激光扫描成像仪的光学模块
CN109991725B (zh) * 2019-04-11 2024-08-09 中国科学院脑科学与智能技术卓越创新中心 便携式微型荧光显微镜
CN112014362B (zh) * 2019-05-30 2024-04-09 中国科学院大连化学物理研究所 显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统
CA3158318A1 (en) * 2019-10-19 2021-04-20 SequLITE Genomics US, Inc. Virtual fiducials
US11487097B1 (en) * 2020-01-26 2022-11-01 Ramona Optics Inc. System and method for synchronized fluorescence capture
CN113758901B (zh) * 2020-06-04 2024-04-12 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 衍射层析显微成像系统及方法
CN114609099B (zh) * 2020-12-08 2024-08-20 中国科学院大连化学物理研究所 一种水下原位荧光成像探测仪
US11953670B2 (en) * 2020-12-09 2024-04-09 Ramona Optics Inc. System and method for rapid focusing and analysis using a micro-camera array microscope
TWI820406B (zh) * 2021-03-24 2023-11-01 立克銘白生醫股份有限公司 用於檢測生物粒子的檢測設備及檢測設備的檢測方法
CN114414545B (zh) * 2022-01-21 2024-03-05 江苏禹视科技有限公司 一种荧光扫描检测系统和方法
CN116026806B (zh) * 2023-03-30 2023-06-09 山东德渡生物技术有限公司 一种荧光显微系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200535403A (en) * 2004-04-16 2005-11-01 Ind Tech Res Inst Fluorescence examination analyzer
TW200540416A (en) * 2004-06-07 2005-12-16 Ind Tech Res Inst Real-time clinical diagnosis expert system for fluorescent spectrum analysis of tissue cells and method thereof
US7297910B2 (en) * 2005-12-30 2007-11-20 General Electric Company System and method for utilizing an autofocus feature in an automated microscope

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH697814B1 (de) 2001-01-26 2009-02-27 Tecan Trading Ag Optisches System und Verfahren zum Anregen und Messen von Fluoreszenz an oder in mit Fluoreszenzfarbstoffen behandelten Proben.
US6356088B1 (en) 1997-08-01 2002-03-12 Carl Zeiss Jena Gmbh Highly compact laser scanning microscope with integrated short-pulse laser
JP3678192B2 (ja) 2001-11-21 2005-08-03 横河電機株式会社 計測装置
US7232980B2 (en) * 2004-05-24 2007-06-19 Hamamatsu Photonics K.K. Microscope system
JP4789454B2 (ja) 2004-12-03 2011-10-12 株式会社キーエンス 蛍光顕微鏡
JP4932162B2 (ja) * 2005-01-20 2012-05-16 オリンパス株式会社 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200535403A (en) * 2004-04-16 2005-11-01 Ind Tech Res Inst Fluorescence examination analyzer
TW200540416A (en) * 2004-06-07 2005-12-16 Ind Tech Res Inst Real-time clinical diagnosis expert system for fluorescent spectrum analysis of tissue cells and method thereof
US7297910B2 (en) * 2005-12-30 2007-11-20 General Electric Company System and method for utilizing an autofocus feature in an automated microscope

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI604716B (zh) * 2016-10-20 2017-11-01 雲象科技有限公司 數位化顯微影像導覽系統及其實施方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20110284720A1 (en) 2011-11-24
TW201142352A (en) 2011-12-01
US8410414B2 (en) 2013-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI456254B (zh) 螢光顯微影像系統
US7355710B2 (en) Optical system and method for exciting and measuring fluorescence on or in samples treated with fluorescent pigments
JP4584917B2 (ja) 顕微鏡及び試料観察方法
JP5779597B2 (ja) 顕微鏡の構造ユニット、顕微鏡装置及び顕微鏡の構造ユニットの使用
JP5469133B2 (ja) 顕微鏡システム
US8424111B2 (en) Near-field optical microscope, near-field optical probe, and sample observation method
RU2510060C2 (ru) Устройство и способ оптического освещения
JP2009505126A (ja) 全反射顕微鏡検査用の顕微鏡および方法
JP2009229266A (ja) ワークのエッジ検出装置及びレーザー加工方法及び装置
JP2009540346A (ja) 干渉共焦点顕微鏡
JP5929818B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
WO2015181951A1 (ja) 焦点調節装置、顕微鏡装置、焦点調節方法、及び制御プログラム
JP2004144839A (ja) 光走査装置
JP2005140956A (ja) 焦点検出装置および蛍光顕微鏡
JP5400499B2 (ja) 焦点検出装置
US20110068260A1 (en) Optical illumination apparatus and method
CN102818796A (zh) 生物荧光显微检测仪器
JP4448534B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JP6543849B2 (ja) 観察装置
US8108942B2 (en) Probe microscope
JP2010038868A (ja) 光学的粘度測定システム
JP2019207444A (ja) 焦点調節装置、顕微鏡装置、焦点調節方法、及び制御プログラム
JP2010152409A5 (zh)
TWI243893B (en) Fluorescence testing analyzer
JPWO2006093209A1 (ja) ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム