JP2003332073A - 発光装置およびその作製方法 - Google Patents
発光装置およびその作製方法Info
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- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
法として知られているインクジェット法は、一度に3種
類(R,G,B)を発光する有機化合物を塗り分けるこ
とができるが、成膜精度がわるく、制御することが困難
であるため、均一性が得られず、バラツキやすい。 【解決手段】本発明は、薄膜トランジスタと接続される
下部電極上に塗布法により全面に高分子系材料からなる
膜を形成した後、プラズマによるエッチングによって高
分子系材料からなる膜をエッチングし、高分子系材料層
の選択的な形成を可能にするものである。また、有機化
合物層として白色発光、或いは、単色発光する材料と
し、色変換層または着色層と組み合わせることでフルカ
ラー化を実現する。
Description
機化合物を含む膜(以下、「有機化合物層」と記す)を
設けた素子に電界を加えることで、蛍光又は燐光が得ら
れる発光素子を用いた発光装置及びその作製方法に関す
る。なお、本明細書中における発光装置とは、画像表示
デバイス、発光デバイス、もしくは光源(照明装置含
む)を指す。また、発光装置にコネクター、例えばFPC
(Flexible printed circuit)もしくはTAB(Tape Auto
mated Bonding)テープもしくはTCP(Tape Carrier Pac
kage)が取り付けられたモジュール、TABテープやTCPの
先にプリント配線板が設けられたモジュール、または発
光素子にCOG(Chip On Glass)方式によりIC(集積回
路)が直接実装されたモジュールも全て発光装置に含む
ものとする。
などの特徴を有する有機化合物を発光体として用いた発
光素子は、次世代のフラットパネルディスプレイへの応
用が期待されている。特に、発光素子をマトリクス状に
配置した表示装置は、従来の液晶表示装置と比較して、
視野角が広く視認性が優れる点に優位性があると考えら
れている。
機化合物層を挟んで電圧を印加することにより、陰極か
ら注入された電子および陽極から注入された正孔が有機
化合物層中の発光中心で再結合して分子励起子を形成
し、その分子励起子が基底状態に戻る際にエネルギーを
放出して発光するといわれている。励起状態には一重項
励起と三重項励起が知られ、発光はどちらの励起状態を
経ても可能であると考えられている。
して形成された発光装置には、パッシブマトリクス駆動
(単純マトリクス型)とアクティブマトリクス駆動(ア
クティブマトリクス型)といった駆動方法を用いること
が可能である。しかし、画素密度が増えた場合には、画
素(又は1ドット)毎にスイッチが設けられているアク
ティブマトリクス型の方が低電圧駆動できるので有利で
あると考えられている。
物層(厳密には発光層)となる有機化合物は、低分子系
材料と高分子系(ポリマー系)材料とがそれぞれ研究さ
れているが、低分子系材料よりも取り扱いが容易で耐熱
性の高い高分子系材料が注目されている。
は、蒸着法、スピンコーティング法、インクジェット法
といった方法が知られているが、高分子系材料を用いて
フルカラー化を実現させるための方法としては、スピン
コーティング法やインクジェット法が特に良く知られて
いる。
合には、成膜表面全体に有機化合物が形成されてしまう
ため、成膜したい箇所にのみに有機化合物を形成し、成
膜不要な箇所には成膜しないといった選択的な成膜が難
しい。
置においては、基板上に形成された駆動回路に外部電源
から電気的な信号を入力するための配線や、画素部に形
成された陰極、陽極、および有機化合物で形成された有
機化合物層からなる発光素子と外部電源とを電気的に接
続するための配線が形成されているため、これらの配線
の外部電源との接続部分に有機化合物が形成されている
と外部電源とオーミック接触が得られないという問題が
生じる。
膜する方法として知られているインクジェット法は、一
度に3種類(R,G,B)を発光する有機化合物を塗り
分けることができるが、成膜精度がわるく、制御するこ
とが困難であるため、均一性が得られず、バラツキやす
い。インクジェット法のバラツキ原因としては、ノズル
ピッチバラツキ、インク飛行曲がりバラツキ、ステージ
合わせ精度、インクと吐出とステージ移動のタイミング
バラツキなどが挙げられる。例えば、有機化合物を溶媒
に溶解させて作製したインクの内部粘性抵抗などにより
インクジェット用のノズルを目詰まりさせたり、ノズル
から噴射されたインクが所望の位置に着弾しなかった
り、といった実施上の条件における問題点や、高精度ス
テージや自動アライメント機構及びインクヘッド等を有
する専用の装置が必要となりコストがかかるという実用
化における問題点を有している。また、着弾後にインク
が広がるため、隣あう画素との間隔として、ある程度の
マージンも必要となり、高精細化を困難なものとしてい
る。
高分子系の有機化合物を用いたアクティブマトリクス型
の発光装置において、インクジェット法を用いる場合に
比べて簡単な高分子系材料層の選択的な成膜方法を提供
することを目的とする。また、高分子系材料層の選択的
な形成を可能にすることで、外部電源と接続される配線
の接続部分に有機化合物層が形成されないような構造を
簡単に形成することを目的とする。
画素では入射した外光(発光装置の外部の光)が陰極の
裏面(発光層に接する側の面)で反射され、陰極の裏面
が鏡のように作用して外部の景色が観測面(観測者側に
向かう面)に映るといった問題があった。また、この問
題を回避するために、発光装置の観測面に円偏光フィル
ムを貼り付け、観測面に外部の景色が映らないようにす
る工夫がなされているが、円偏光フィルムが非常に高価
であるため、製造コストの増加を招くという問題があっ
た。
スタと接続される下部電極上に塗布法により全面に高分
子系材料からなる膜を形成した後、プラズマによるエッ
チングによって高分子系材料からなる膜をエッチング
し、高分子系材料層の選択的な形成を可能にするもので
ある。
の構成1は、陽極と、該陽極に接する有機化合物層と、
該有機化合物層に接する陰極とを有する発光素子を有す
る発光装置の作製方法であって、前記第1の電極上に塗
布法で高分子材料からなる有機化合物膜を形成する第1
の工程と、真空中で加熱する第2の工程と、プラズマに
よるエッチングで前記有機化合物膜を選択的にエッチン
グする第3の工程と、該有機化合物膜上に第2の電極を
選択的に形成する第4の工程とを有することを特徴とす
る発光装置の作製方法である。
した後、第2の電極を選択的に形成してからプラズマに
よるエッチングを行ってもよい。
の構成2は、陽極と、該陽極に接する有機化合物層と、
該有機化合物層に接する陰極とを有する発光素子を有す
る発光装置の作製方法であって、前記第1の電極上に塗
布法で高分子材料からなる有機化合物膜を形成する第1
の工程と、真空中で加熱する第2の工程と、該有機化合
物膜上に第2の電極を選択的に形成する第3の工程と、
プラズマによるエッチングで前記有機化合物膜を選択的
にエッチングする第4の工程とを有することを特徴とす
る発光装置の作製方法である。
助電極となる第3の電極を形成してもよく、本明細書で
開示する作製方法に関する発明の構成3は、陽極と、該
陽極に接する有機化合物層と、該有機化合物層に接する
陰極とを有する発光素子を有する発光装置の作製方法で
あって、第1の基板上に薄膜トランジスタを形成する工
程と、前記薄膜トランジスタと接続する第1の電極を形
成する工程と、前記第1の電極の端部を覆う絶縁物を形
成する工程と、前記絶縁物上に金属材料からなる第3の
電極を形成する工程と、前記第1の電極上に塗布法で高
分子材料からなる有機化合物膜を形成する工程と、真空
中で加熱する工程と、プラズマによるエッチングで前記
有機化合物膜をメタルマスクにより選択的にエッチング
して、第3の電極を露呈させる工程と、該有機化合物膜
上に透光性を有する材料からなる第2の電極を選択的に
形成する工程と、保護膜を形成する工程と、前記第1の
基板と第2の基板を貼り合わせる工程とを有することを
特徴とする発光装置の作製方法である。
は、酸化珪素を主成分とする絶縁膜、窒化珪素を主成分
とする絶縁膜、炭素を主成分とする膜、またはこれらの
積層膜であることを特徴としている。また、上記構成3
において、前記第1の基板と前記第2の基板との間隔は
2μm〜30μmであることを特徴としている。
極はTFTに電気的に接続している前記発光素子の陽
極、或いは陰極であることを特徴としている。
は、Ar、H、F、またはOから選ばれた一種または複
数種のガスを励起して発生させることを特徴としてい
る。
物層は白色発光する材料であり、前記第2の基板に設け
られたカラーフィルタと組み合わせる、或いは、前記有
機化合物層は単色発光する材料であり、前記第2の基板
に設けられた色変換層または着色層と組み合わせること
を特徴としている。
なる有機化合物膜を形成する際、カバレッジ不良などを
無くすため、各画素間に設けられる絶縁物(バンク、隔
壁、障壁、土手などと呼ばれる)の形状に工夫を加え
る。
縁表面を有する第1の基板と透光性を有する第2の基板
との間に、第1の電極と、該第1の電極上に接する有機
化合物層と、該有機化合物層上に接する第2の電極とを
有する発光素子を複数有する画素部と、駆動回路と、端
子部とを有する発光装置であって、前記第1の電極の端
部は、絶縁物で覆われており、該絶縁物の側面は、第1
の曲率半径を有する曲面と、第2の曲率半径を有する曲
面とを有し、前記絶縁物及び前記第1の電極上に高分子
材料を有する有機化合物層が設けられていることを特徴
とする発光装置である。
を低抵抗化するために補助電極となる第3の電極を形成
した場合には、絶縁表面を有する第1の基板と透光性を
有する第2の基板との間に、第1の電極と、該第1の電
極上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接す
る第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部
と、駆動回路と、端子部とを有する発光装置であって、
前記第1の電極の端部は、絶縁物で覆われており、該絶
縁物の側面は、第1の曲率半径を有する曲面と、第2の
曲率半径を有する曲面と、前記絶縁物上に第3の電極と
を有し、前記絶縁物及び前記第1の電極上に高分子材料
を有する有機化合物層が設けられていることを特徴とす
る発光装置となる。
化合物層は高分子材料からなる層と低分子材料からなる
層の積層であってもよい。
化合物層は白色発光する材料であり、前記第2の基板に
設けられたカラーフィルタと組み合わせる、或いは、前
記有機化合物層は単色発光する材料であり、前記第2の
基板に設けられた色変換層または着色層と組み合わせる
ことを特徴としている。
物の上端部に第1の曲率半径を有する曲面を有し、前記
絶縁物の下端部に第2の曲率半径を有する曲面を有して
おり、前記第1の曲率半径および前記第2の曲率半径
は、0.2μm〜3μmであることを特徴としている。
また、前記絶縁物のテーパー角度は、35°〜55°と
すればよい。
の基板は凹部を有し、該凹部に乾燥剤が設けられてお
り、該凹部は前記第1の基板上に設けられた駆動回路と
一部または全体と重なることを特徴としている。
の基板と前記第2の基板との間隔は2μm〜30μmで
あることを特徴としている。
生するルミネッセンス(Electro Luminescence)が得ら
れる有機化合物を含む層(以下、EL層と記す)と、陽
極と、陰極とを有する。有機化合物におけるルミネッセ
ンスには、一重項励起状態から基底状態に戻る際の発光
(蛍光)と三重項励起状態から基底状態に戻る際の発光
(リン光)とがあるが、本発明の製造装置および成膜方
法により作製される発光装置は、どちらの発光を用いた
場合にも適用可能である。
対の電極間にEL層が挟まれた構造となっているが、E
L層は通常、積層構造となっている。代表的には、「正
孔輸送層/発光層/電子輸送層」という積層構造が挙げ
られる。この構造は非常に発光効率が高く、現在、研究
開発が進められている発光装置は殆どこの構造を採用し
ている。
送層/発光層/電子輸送層、または正孔注入層/正孔輸
送層/発光層/電子輸送層/電子注入層の順に積層する
構造も良い。発光層に対して蛍光性色素等をドーピング
しても良い。また、これらの層は、全て低分子系の材料
を用いて形成しても良いし、全て高分子系の材料を用い
て形成しても良い。また、EL層に無機材料(シリコン
など)を含ませてもよい。なお、本明細書において、陰
極と陽極との間に設けられる全ての層を総称してEL層
という。したがって、上記正孔注入層、正孔輸送層、発
光層、電子輸送層及び電子注入層は、全てEL層に含ま
れる。
は、光の放射方向で2通りの構造が考えられる。一つ
は、EL素子から発した光が対向基板を透過して放射さ
れて観測者の目に入る構造である。この場合、観測者は
対向基板側から画像を認識することができる。もう一つ
は、EL素子から発した光が素子基板を透過して放射さ
れて観測者の目に入る構造である。この場合、観測者は
素子基板側から画像を認識することができる。本発明
は、これら2通りの構造の両方に適用することができ
る。
示の駆動方法は特に限定されず、例えば、点順次駆動方
法や線順次駆動方法や面順次駆動方法などを用いればよ
い。代表的には、線順次駆動方法とし、時分割階調駆動
方法や面積階調駆動方法を適宜用いればよい。また、発
光装置のソース線に入力する映像信号は、アナログ信号
であってもよいし、デジタル信号であってもよく、適
宜、映像信号に合わせて駆動回路などを設計すればよ
い。
に説明する。
発光装置の断面図を図1(A)に示す。ここでは、白色
発光する高分子材料からなる積層構造の発光素子13を
一例として説明する。
に、複数のTFT1〜3を設けている。なお、TFT1
とTFT2は駆動回路部の一部を構成する素子である。
また、画素部に設けられたTFT3は、白色を発光する
EL層11a、11bに流れる電流を制御する素子であ
り、4はソース電極またはドレイン電極である。ここで
は、TFT3は、複数のチャネルを有するTFTとなっ
ている。また、TFT3のチャネル長Lは、100μm
以上となるようにすることが好ましい。チャネル長Lを
長くした場合、酸化膜容量COXが大きくなるため、その
容量の一部を有機発光素子の保持容量として利用するこ
とができる。従来、1画素毎に保持容量を形成するため
に保持容量を形成するスペースが必要となり、容量線や
容量電極などを設けていたが、本発明の画素構成とする
ことで容量線や容量電極を省略することができる。ま
た、酸化膜容量COXで保持容量を形成する場合、保持容
量は、ゲート絶縁膜を誘電体としてゲート電極と、ゲー
ト絶縁膜を介してゲート電極と重なる半導体(チャネル
形成領域)とで形成される。従って、TFTのチャネル
長を長くしても、図8に示すように画素電極508に接
続される駆動用TFT507の半導体層をゲート電極の
上層に配置される電流供給線504やソース信号線50
1の下方に配置すれば、開口率を下げることなく画素設
計することができる。即ち、図8に示す画素構成とする
ことで、容量電極や容量配線を形成するスペースを省略
しても十分な保持容量を備えることができ、さらに開口
率を上げることができる。さらに、チャネル長Lを長く
した場合、レーザー光の照射条件などのTFT製造プロ
セスのバラツキが生じても、各TFT間の電気特性のバ
ラツキを低減することができる。また、5は有機絶縁材
料からなる層間絶縁膜、6は無機絶縁膜材料からなる層
間絶縁膜である。
素子の陽極(或いは陰極)であり、12は、第2の電
極、即ち、有機発光素子の陰極(或いは陽極)である。
ここでは、20として膜厚20nm以下、好ましくは1
0nm以下の薄い金属層(代表的にはAg、Al、また
はMgAg、MgIn、AlLiなどの合金)と透明導
電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化イ
ンジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛
(ZnO)等)との積層膜からなる陰極とし、各発光素
子からの光を通過させている。なお、陰極として機能す
るのは薄い金属膜であり、透明導電膜は陰極の電気抵抗
を下げるための配線として機能する。
の間は有機絶縁物8(障壁またはバンクとも呼ばれる)
で覆われている。さらに、有機絶縁物8は無機絶縁膜で
覆ってもよい。
形状が重要となる。図1(B)に有機絶縁物8周辺の拡
大図を示す。有機絶縁物8上に塗布法により有機化合物
膜を形成する場合や、蒸着法で陰極となる金属膜を形成
する場合において、有機絶縁物の下端部または上端部に
おいて曲面を有していない場合、図17に示すように有
機絶縁物の上端部において凸部が形成されてしまう成膜
不良が発生する。そこで、本発明は、図16に示すよう
に有機絶縁物8の上端部に第1の曲率半径を有する曲面
を有し、さらに有機絶縁物8の下端部に第2の曲率半径
を有する曲面を有する形状とすることを特徴としてい
る。なお、第1の曲率半径および第2の曲率半径は、と
もに0.2μm〜3μmとすることが好ましい。本発明
により、有機化合物膜や金属膜のカバレッジを良好とす
ることができる。また、有機絶縁物8の側面におけるテ
ーパー角度は、45°±10°とすればよい。
3の電極9(補助電極)を設ける。図1に示す構造、即
ち、基板上のTFTと電気的に接続されたTFT側の電
極を陰極として形成し、陰極上に有機化合物層を形成
し、有機化合物層上に透明電極である陽極を形成すると
いう構造(以下、上面出射構造とよぶ)の発光素子を有
するアクティブマトリクス型の発光装置において、透明
電極の電気抵抗が高くなるという問題が生じる。特に、
透明電極の膜厚を薄くした場合、さらに電気抵抗が高く
なってしまう。陽極または陰極となる透明電極の電気抵
抗が高くなると電圧降下により面内電位分布が不均一に
なり、発光素子の輝度にバラツキを生じるといった不具
合が生じる。そこで、本発明は、発光素子における透明
電極の電気抵抗を低下させるため、第3の電極9(補助
電極)を設けている。また、第3の電極9においても、
有機化合物膜や金属膜のカバレッジを良好とするために
第3の電極側面のテーパー角度を、45°±10°とす
ることが好ましい。
極12を構成する材料よりも電気抵抗が小さい材料から
なっており、導電型を付与する不純物元素がドープされ
たpoly−Si、W、WSiX、Al、Ti、Mo、
Cu、Ta、Cr、またはMoから選ばれた元素、また
は前記元素を主成分とする合金材料もしくは化合物材料
を主成分とする膜またはそれらの積層膜からなることを
特徴としている。例えば、前記第3の電極は、窒化物層
またはフッ化物層を最上層とする積層(具体的にはTi
NとAlとTiNとの積層)からなる電極とすることが
好ましい。
出し配線を形成し、下層に存在する他の配線10と接続
を行ってもよい。こうして、下層の電極とコンタクトさ
せた補助電極9上に接して透明導電膜12を形成すれば
陰極の引き出しが容易に可能となる。
a、11bはともにプラズマを用いたエッチングでパタ
ーニングされるため、互いの端面が一致する。
頼性を高めるために保護膜14を形成している。この保
護膜14はスパッタ法(DC方式やRF方式)により得
られる窒化珪素または窒化酸化珪素を主成分とする絶縁
膜、または炭素を主成分とする薄膜である。シリコンタ
ーゲットを用い、窒素とアルゴンを含む雰囲気で形成す
れば、窒化珪素膜が得られる。また、窒化シリコンター
ゲットを用いてもよい。また、保護膜14は、リモート
プラズマを用いた成膜装置を用いて形成してもよい。ま
た、図1(A)においては、保護膜に発光を通過させる
ため、保護膜の膜厚は、可能な限り薄くすることが好ま
しい。
薄膜は膜厚3〜50nmのDLC膜(Diamond like Car
bon)であることを特徴としている。DLC膜は短距離
秩序的には炭素間の結合として、SP3結合をもってい
るが、マクロ的にはアモルファス状の構造となってい
る。DLC膜の組成は炭素が70〜95原子%、水素が
5〜30原子%であり、非常に硬く絶縁性に優れてい
る。このようなDLC膜は、また、水蒸気や酸素などの
ガス透過率が低いという特徴がある。また、微少硬度計
による測定で、15〜25GPaの硬度を有することが
知られている。
は、RFプラズマCVD法、マイクロ波CVD法、電子
サイクロトロン共鳴(ECR)CVD法など)、スパッ
タ法などで形成することができる。いずれの成膜方法を
用いても、密着性良くDLC膜を形成することができ
る。DLC膜は基板をカソードに設置して成膜する。ま
たは、負のバイアスを印加して、イオン衝撃をある程度
利用して緻密で硬質な膜を形成できる。
化水素系のガス(例えばCH4、C2H2、C6H6など)
とを用い、グロー放電によりイオン化し、負の自己バイ
アスがかかったカソードにイオンを加速衝突させて成膜
する。こうすることにより、緻密で平滑なDLC膜を得
ることができる。なお、このDLC膜は、可視光に対し
て透明もしくは半透明な絶縁膜である。本明細書におい
て、可視光に対して透明とは可視光の透過率が80〜1
00%であることを指し、可視光に対して半透明とは可
視光の透過率が50〜80%であることを指す。
る膜に接して窒化珪素膜を形成する場合、透明導電膜に
含まれる不純物(In、Sn、Zn等)が窒化珪素膜に
混入する恐れがあるが、バッファ層となる酸化珪素膜を
間に形成することによって窒化珪素膜への不純物混入を
防止することもできる。上記構成によりバッファ層を形
成することで、透明導電膜からの不純物(In、Snな
ど)の混入を防止し、不純物のない優れた保護膜を形成
することができる。
を封止するための基板18と、スペーサ19bを含むシ
ール材19aとによって密閉している。また、発光素子
13は白色発光であるので、基板18には各画素に対応
するカラーフィルタが設けられている。15は、赤色の
着色層、緑色の着色層、または青色の着色層のいずれか
であり、16はカラーフィルタの黒色部分、即ち発光領
域以外の領域を遮光して、外光から素子を保護する遮光
部(BM)である。また、遮光部は、発光素子からの極
端な斜め方向の発光を遮光する。なお、遮光部16は、
金属膜(クロム等)または黒色顔料を含有した有機膜で
構成されている。さらに、これら着色層15や遮光部1
6を覆うオーバーコート膜17が設けられている。ここ
では予めカラーフィルタを設けた基板18をシール材1
9aで貼り付け、カラーフィルタを基板18と発光素子
との間に配置した例を示したが、基板18をシール材1
9aで貼り付けた後、外側にカラーフィルタを貼り付け
てもよい。
を設けることによって円偏光板を不必要としコストを低
減するとともに、塗りわけが必要でなくなるため、スル
ープットの向上および高精細化も実現可能としている。
続するためにFPCを貼り付ける端子部が設けられてい
る。また、端子部において、端子の電極を陰極10と同
じ材料で形成している。
として説明したが、TFT構造に関係なく本発明を適用
することが可能であり、例えばボトムゲート型(逆スタ
ガ型)TFTや順スタガ型TFTに適用することが可能
である。
示す発光素子の形成手順を簡略に図2を用いて以下に説
明する。なお、簡略化のため、図2において、図1と同
一である箇所は同一のものを用いる。
い)、第1の電極7、接続配線10、絶縁物8、第3の
電極9を形成した後、スピンコートを用いた塗布法によ
り有機化合物層11aを成膜した後、真空加熱で焼成
し、続いて有機化合物層11bを真空加熱で焼成し、積
層する。(図2(A))
れた一種または複数種のガスを励起して発生させたプラ
ズマを用いて選択的にエッチングを行う。このエッチン
グはメタルマスクを用いて所望の領域を除去する。(図
2(B))図2(B)において、メタルマスクと有機化
合物層との間隔が開いている例を示したが、接した状態
で行ってもよい。本発明により高分子系材料層の選択的
な形成を可能にすることで、外部電源と接続される配線
の接続部分に有機化合物層が形成されないような構造を
簡単に形成する。また、第3の電極9の所望の部分を露
呈させて、後に形成される透明導電膜と電気的に接続す
るようにする。
(代表的にはAg、Al、またはMgAg、MgIn、
AlLiなどの合金)と透明導電膜(ITO(酸化イン
ジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金
(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積
層膜からなる陰極(第2の電極12)を形成する。(図
2(C))なお、実際に陰極として機能するのは薄い金
属層であるが、本明細書では、便宜上、薄い金属層上に
積層する透明導電膜をも陰極と呼ぶ。
成した後、プラズマエッチングを行う例を示したが、有
機化合物層上に薄い金属層と透明導電膜との積層膜から
なる陰極を形成した後にプラズマエッチングを行い所望
の領域を除去した後、再度、透明導電膜を形成してもよ
い。
る陰極を形成した後にプラズマエッチングを行い所望の
領域を除去した後、透明導電膜を積層形成してもよい。
み合わせることができる。
ルの全体および乾燥剤の配置に関して図3で説明する。
図3(A)は、ELモジュールの上面図である。なお、
図3(A)は図1と対応しており、図3(A)中、点線
A−A’で切断した断面図が図1(A)に相当し、同じ
箇所には同じ符号を用いる。
板とも呼ぶ)には、表示が行われる画素部40と、画素
部の各画素を駆動させる駆動回路41a、41bと、E
L層上に設けられる電極と引き出し配線とを接続する接
続部と、外部回路と接続するためにFPCを貼り付ける
端子部42と、乾燥剤44とが設けられている。また、
図3(A)および図3(B)では一部と重なるように配
置されているが、図3(C)に示すように乾燥剤44c
によって駆動回路41cの全部が隠れるように配置して
もよい。また、EL素子を封止するための基板と、シー
ル材19とによって密閉する。また、図3(B)は、図
3(A)中における鎖線B−B’で切断した場合の断面
図である。
されており、ここでは図示しないが、X方向にR、G、
Bの順で配置されている。
0μmの間隔が保たれるようにシール材19によって封
止基板18が貼りつけられており、全ての発光素子は密
閉されている。封止基板18にはサンドブラスト法など
によって凹部が形成されており、その凹部に乾燥剤が配
置されている。なお、シール材19は、駆動回路の一部
と重なるようにして狭額縁化させることが好ましい。シ
ール材33によって封止基板18を貼りつける直前には
真空でアニールを行って脱気を行うことが好ましい。ま
た、封止基板18を貼りつける際には、不活性気体(希
ガスまたは窒素)を含む雰囲気下で行うことが好まし
い。
は実施の形態2と自由に組み合わせることができる。
カラーフィルターを組み合わせた方法(以下、カラーフ
ィルター法とよぶ)について図5(A)により説明す
る。
機化合物膜を有する発光素子を形成し、得られた白色発
光をカラーフィルターに通すことで赤、緑、青の発光を
得るという方式である。
るが、ここでは塗布により形成可能な高分子材料からな
る発光層を用いる場合について説明する。この場合、発
光層となる高分子材料への色素ドーピングは溶液調整で
行うことができ、複数の色素をドーピングする共蒸着を
行う蒸着法に比べて極めて容易に得ることができる。
t、Cr、W、Ni、Zn、Sn、In)からなる陽極
上に、正孔注入層として作用するポリ(エチレンジオキ
シチオフェン)/ポリ(スチレンスルホン酸)水溶液
(PEDOT/PSS)を全面に塗布、焼成した後、発光層とし
て作用する発光中心色素(1,1,4,4−テトラフェ
ニル−1,3−ブタジエン(TPB)、4−ジシアノメ
チレン−2−メチル−6−(p−ジメチルアミノ−スチ
リル)−4H−ピラン(DCM1)、ナイルレッド、ク
マリン6など)ドープしたポリビニルカルバゾール(P
VK)溶液を全面に塗布、焼成した後、仕事関数の小さ
い金属(Li、Mg、Cs)を含む薄膜と、その上に積
層した透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合
金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―Zn
O)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層からなる陰極を
形成する。なお、PEDOT/PSSは溶媒に水を用いており、
有機溶剤には溶けない。従って、PVKをその上から塗
布する場合にも、再溶解する心配はない。また、PEDOT
/PSSとPVKは溶媒の種類が異なるため、成膜室は同
一のものを使用しないことが好ましい。
有機化合物層を積層とした例を示したが図4(A)に示
すように有機化合物層を単層とすることもできる。例え
ば、ホール輸送性のポリビニルカルバゾール(PVK)
に電子輸送性の1,3,4−オキサジアゾール誘導体
(PBD)を分散させてもよい。また、30wt%のP
BDを電子輸送剤として分散し、4種類の色素(TP
B、クマリン6、DCM1、ナイルレッド)を適当量分
散することで白色発光が得られる。
形成されており、陽極から注入された正孔と陰極から注
入された電子が有機化合物膜において再結合することに
より、有機化合物膜において、白色発光が得られる。
光する有機化合物膜や青色発光する有機化合物膜を適宜
選択し、重ねて混色させることによって全体として白色
発光を得ることも可能である。
体として白色発光を得ることができる。
色発光以外を吸収する着色層(R)、緑色発光以外を吸
収する着色層(G)、青色発光以外を吸収する着色層
(B)をそれぞれ設けたカラーフィルタを形成すること
により、発光素子からの白色発光をそれぞれ分離して、
赤色発光、緑色発光、青色発光として得ることができ
る。また、アクティブマトリクス型の場合には、基板と
カラーフィルターの間にTFTが形成される構造とな
る。
純なストライプパターンをはじめとして、斜めモザイク
配列、三角モザイク配列、RGBG四画素配列、もしく
はRGBW四画素配列などを用いることができる。
過率と波長との関係の一例を図14に示した。カラーフ
ィルターを構成する着色層は、顔料を分散した有機感光
材料からなるカラーレジストを用いて形成される。ま
た、白色発光とカラーフィルタを組み合わせた場合の色
再現範囲を色度座標として図15に示す。なお、白色発
光の色度座標は(x,y)=(0.34、0.35)であ
る。図14よりフルカラーとしての色再現性は十分確保
されていることが分かる。
なっていても、すべて白色発光を示す有機化合物膜で形
成されていることから、発光色ごとに有機化合物膜を塗
り分けて形成する必要がない。また、鏡面反射を防ぐ円
偏光板も特に必要ないものとすることができる。
色発光素子と蛍光性の色変換層を組み合わせることによ
り実現されるCCM法(color changing mediums)につ
いて図5(B)により説明する。
青色発光で蛍光性の色変換層を励起し、それぞれの色変
換層で色変換を行う。具体的には色変換層で青色から赤
色への変換(B→R)、色変換層で青色から緑色への変
換(B→G)、色変換層で青色から青色への変換(B→
B)(なお、青色から青色への変換は行わなくても良
い。)を行い、赤色、緑色及び青色の発光を得るという
ものである。CCM法の場合にも、アクティブマトリク
ス型の場合には、基板と色変換層の間にTFTが形成さ
れる構造となる。
けて形成する必要がない。また、鏡面反射を防ぐ円偏光
板も特に必要ないものとすることができる。
層が蛍光性であるため外光により励起され、コントラス
トを低下させる問題があるので、図5(C)に示したよ
うにカラーフィルターを装着するなどしてコントラスト
を上げるようにすると良い。
3のいずれとも組み合わせることが可能である。
形態4とは異なる例、具体的には、図4(C)に示すよ
うに、有機化合物層として高分子材料からなる層と、低
分子材料からなる層とを積層する場合について説明す
る。なお、有機化合物層として無機材料(シリコンな
ど)を含んでいてもよい。
る高分子材料を塗布法で形成した後、蒸着法で共蒸着を
行い、発光性領域における発光と発光色が異なる色素を
正孔輸送層中にドーピングして、発光性領域からの発光
色と混色させればよい。適宜、発光層や正孔輸送層の材
料を調節することによって全体として白色発光を得るこ
とができる。この場合、高分子材料からなる有機化合物
を含む層と低分子材料からなる有機化合物を含む層との
端面が一致する。
化合物を含む層として高分子材料を少なくとも一層用い
る有色発光素子にも適用できる。本発明は、高分子材料
を少なくとも一層を含む層をプラズマによって選択的に
エッチングする。例えば、正孔注入層となる高分子材料
を塗布法で形成した後、低分子材料からなるの発光層
(赤色、緑色、または青色)を蒸着マスクを用いた蒸着
法で選択的に形成し、高分子材料からなる有機化合物を
含む層と低分子材料からなる有機化合物を含む層とを同
時にプラズマによってマスクを用い選択的にエッチング
する。この場合、高分子材料からなる有機化合物を含む
層と低分子材料からなる有機化合物を含む層とが積層さ
れていない部分(端子部など)があり、画素部において
のみ、高分子材料からなる有機化合物を含む層と低分子
材料からなる有機化合物を含む層との端面が一致する。
1上に、高分子系材料からなる第1の有機化合物層70
2aと低分子系材料からなる第2の有機化合物層702
bとの積層である有機化合物層702と、陰極バッファ
ー層703と、陰極704とが形成されたものである。
陰極と陽極で挟まれるこれらの層の材料および膜厚を適
宜設定することで、赤色、緑色、青色の発光素子を得る
ことができる。
示したようにITOからなる陽極上に高分子系材料であ
るPEDOT/PSSをスピンコートで塗布し、真空ベークで焼
成して膜厚30nmとする。次いで、4,4'−ビス
[N−(1−ナフチル)−N−フェニル−アミノ]−ビ
フェニル(以下、α−NPDと示す)を蒸着法で膜厚6
0nm形成する。次いで、ドーパントとしてDCMを含
むトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以下、A
lq3と示す)を蒸着法で膜厚40nm形成する。次い
で、Alq3を膜厚40nm形成する。次いで、CaF2
を蒸着法で膜厚1nm形成した後、最後にAlをスパッ
タ法または蒸着法により膜厚200nm形成することに
よって赤色の発光素子を完成させる。
(C)に示したようにITOからなる陽極上に高分子系
材料であるPEDOT/PSSをスピンコートで塗布し、真空ベ
ークで焼成して膜厚30nmとする。次いで、4,4'
−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル−アミ
ノ]−ビフェニル(以下、α−NPDと示す)を蒸着法
で膜厚60nm形成する。次いで、ドーパントとしてD
MQDを含むトリス(8−キノリノラト)アルミニウム
(以下、Alq3と示す)を蒸着法で膜厚40nm形成
する。次いで、Alq3を膜厚40nm形成する。次い
で、CaF2を蒸着法で膜厚1nm形成した後、最後に
Alをスパッタ法または蒸着法により膜厚200nm形
成することによって緑色の発光素子を完成させる。
(D)に示したようにITOからなる陽極上に高分子系
材料であるPEDOT/PSSをスピンコートで塗布し、真空ベ
ークで焼成して膜厚30nmとする。次いで、4,4'
−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル−アミ
ノ]−ビフェニル(以下、α−NPDと示す)を蒸着法
で膜厚60nm形成する。次いで、ドーパントとしてバ
ソキュプロイン(以下、BCPと示す)を蒸着法で膜厚
10nm形成する。次いで、Alq3を膜厚40nm形
成する。次いで、CaF2を蒸着法で膜厚1nm形成し
た後、最後にAlをスパッタ法または蒸着法により膜厚
200nm形成することによって青色の発光素子を完成
させる。
たは蒸着法により膜厚200nm形成する例を示した
が、陰極として金属薄膜(10nm以下のAg、Al)
と透明導電膜の積層を用いれば、陰極を通過させて発光
を取出すこともできる。
4のいずれとも組み合わせることが可能である。
示す実施例でもってさらに詳細な説明を行うこととす
る。
化したマルチチャンバー方式の製造装置の例を図7に示
す。
ト、101は仕込室、119は取出室、102、104
a、108、114、118は搬送室、105、10
7、111は受渡室、106R、106B、106G、
106H、106E、109、110、112、113
は成膜室、103は前処理室、117は封止基板ロード
室、115はディスペンサ室、116は封止室、120
a、120bはカセット室、121はトレイ装着ステー
ジ、122はプラズマによるエッチング室である。
部を覆う絶縁物が設けられた基板上に、正孔注入層とし
て作用するポリ(エチレンジオキシチオフェン)/ポリ
(スチレンスルホン酸)水溶液(PEDOT/PSS)を全面に
形成し、真空中での加熱処理を行って水分を気化させ
る。
う絶縁物、及び正孔注入層(PEDOT)が設けられた
基板を図7に示す製造装置に搬入し、図4(B)に示す
積層構造を形成する手順を示す。
室120bに上記基板をセットする。基板が大型基板
(例えば300mm×360mm)である場合には、カセット室
120bにセットし、通常基板(例えば、127mm×127
mm)である場合には、トレイ装着ステージ121に搬
送し、トレイ(例えば300mm×360mm)に数枚の基板を
搭載する。
118から仕込室101に搬送する。
れており、真空排気した後、不活性ガスを導入して大気
圧にしておくことが好ましい。次いで仕込室101に連
結された搬送室102に搬送する。予め、搬送室内には
極力水分や酸素が存在しないよう、真空排気して真空を
維持しておく。
にする真空排気処理室と連結されている。真空排気処理
室としては、磁気浮上型のターボ分子ポンプ、クライオ
ポンプ、またはドライポンプが備えられている。これに
より搬送室の到達真空度を10-5〜10-6Paにするこ
とが可能であり、さらにポンプ側および排気系からの不
純物の逆拡散を制御することができる。装置内部に不純
物が導入されるのを防ぐため、導入するガスとしては、
窒素や希ガス等の不活性ガスを用いる。装置内部に導入
されるこれらのガスは、装置内に導入される前にガス精
製機により高純度化されたものを用いる。従って、ガス
が高純度化された後に成膜装置に導入されるようにガス
精製機を備えておく必要がある。これにより、ガス中に
含まれる酸素や水、その他の不純物を予め除去すること
ができるため、装置内部にこれらの不純物が導入される
のを防ぐことができる。
EDOT)上に、発光層となる高分子からなる有機化合
物層を全面に形成する。成膜室112は、高分子からな
る有機化合物層を形成するための成膜室である。本実施
例では、発光層として作用する色素(1,1,4,4−
テトラフェニル−1,3−ブタジエン(TPB)、4−
ジシアノメチレン−2−メチル−6−(p−ジメチルア
ミノ−スチリル)−4H−ピラン(DCM1)、ナイル
レッド、クマリン6など)ドープしたポリビニルカルバ
ゾール(PVK)溶液を全面に形成する例を示す。成膜
室112においてスピンコート法で有機化合物層を形成
する場合には、大気圧下で基板の被成膜面を上向きにし
てセットする。本実施例では、受渡室105には、基板
反転機構が備わっており、基板を適宜反転させる。水や
有機溶剤を溶媒として用いた成膜を行った後は、前処理
室103に搬送し、そこで真空中での加熱処理を行って
水分を気化させることが好ましい。
合物層を積層した例を示したが、図4(C)や図6に示
す低分子材料からなる層との積層構造とする場合には、
適宜、蒸着法により成膜室106R、106G、106
Bで成膜を行って、発光素子全体として、白色、或いは
赤色、緑色、青色の発光を示す有機化合物層を適宜形成
すればよい。また、必要があれば、適宜、成膜室106
Eで電子輸送層または電子注入層、106Hで正孔注入
層または正孔輸送層を形成すればよい。蒸着法を用いる
場合、例えば、真空度が5×10-3Torr(0.66
5Pa)以下、好ましくは10-4〜10-6Paまで真空
排気された成膜室で蒸着を行う。蒸着の際、予め、抵抗
加熱により有機化合物は気化されており、蒸着時にシャ
ッター(図示しない)が開くことにより基板の方向へ飛
散する。気化された有機化合物は、上方に飛散し、メタ
ルマスク(図示しない)に設けられた開口部(図示しな
い)を通って基板に蒸着される。なお、蒸着の際、基板
を加熱する手段により基板の温度(T1)は、50〜2
00℃、好ましくは65〜150℃とする。また、蒸着
法を用いる場合、成膜室には蒸着材料が予め材料メーカ
ーで収納されているルツボをセットすることが好まし
い。セットする際には大気に触れることなく行うことが
好ましく、材料メーカーから搬送する際、ルツボは第2
の容器に密閉した状態のまま成膜室に導入することが好
ましい。望ましくは、成膜室106Rに連結して真空排
気手段を有するチャンバーを備え、そこで真空、若しく
は不活性ガス雰囲気で第2の容器からルツボを取り出し
て、成膜室にルツボを設置する。こうすることによっ
て、ルツボおよび該ルツボに収納されたEL材料を汚染
から防ぐことができる。
室102から受渡室105へ、受渡室105から搬送室
104aへ、さらに搬送室104aから受渡室107に
基板を搬送した後、さらに、大気にふれさせることな
く、受渡室107から搬送室108に基板を搬送する。
搬送機構によって、プラズマ処理室122に搬送し、メ
タルマスクを用いて高分子材料からなる有機化合物膜の
積層を選択的に除去する。プラズマ処理室122はプラ
ズマ発生手段を有しており、Ar、H、F、またはOか
ら選ばれた一種または複数種のガスを励起してプラズマ
を発生させることによって、ドライエッチングを行う。
酸素プラズマ処理でエッチングするのであれば、前処理
室103でも行うことが可能である。
搬送機構によって、成膜室110に搬送し、非常に薄い
金属膜(MgAg、MgIn、AlLi、CaNなどの
合金、または周期表の1族もしくは2族に属する元素と
アルミニウムとを共蒸着法により形成した膜)からなる
陰極(下層)を抵抗加熱を用いた蒸着法で形成する。薄
い金属層からなる陰極(下層)を形成した後、成膜室1
09に搬送してスパッタ法により透明導電膜(ITO
(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化
亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)
等)からなる陰極(上層)を形成し、薄い金属層と透明
導電膜との積層からなる陰極を適宜形成する。
発光素子が形成される。
08から成膜室113に搬送して窒化珪素膜、または窒
化酸化珪素膜からなる保護膜を形成する。ここでは、成
膜室113内に、珪素からなるターゲット、または酸化
珪素からなるターゲット、または窒化珪素からなるター
ゲットを備えたスパッタ装置とする。例えば、珪素から
なるターゲットを用い、成膜室雰囲気を窒素雰囲気また
は窒素とアルゴンを含む雰囲気とすることによって窒化
珪素膜を形成することができる。
に触れることなく、搬送室108から受渡室111に搬
送し、さらに受渡室111から搬送室114に搬送す
る。
室114から封止室116に搬送する。なお、封止室1
16には、シール材が設けられた封止基板を用意してお
くことが好ましい。
外部からセットされる。なお、水分などの不純物を除去
するために予め真空中でアニール、例えば、封止基板ロ
ード室117内でアニールを行うことが好ましい。そし
て、封止基板にシール材を形成する場合には、搬送室1
08を大気圧とした後、封止基板を封止基板ロード室か
らディスペンサ室115に搬送して、発光素子が設けら
れた基板と貼り合わせるためのシール材を形成し、シー
ル材を形成した封止基板を封止室116に搬送する。
するため、真空または不活性雰囲気中でアニールを行っ
た後、シール材が設けられた封止基板と、発光素子が形
成された基板とを貼り合わせる。ここでは、密閉された
空間には水素または不活性気体を充填させ、発光領域と
重ならない箇所に乾燥剤を配置する。また、一対の基板
とシール材に囲まれた間隙を透明な接着材で充填しても
よい。なお、ここでは、封止基板にシール材を形成した
例を示したが、特に限定されず、発光素子が形成された
基板にシール材を形成してもよい。
116に設けられた紫外線照射機構によってUV光を照
射してシール材を硬化させる。なお、ここではシール材
として紫外線硬化樹脂を用いたが、接着材であれば、特
に限定されない。
116から搬送室114、そして搬送室114から取出
室119に搬送して取り出す。
いることで完全に発光素子を密閉空間に封入するまで外
気に晒さずに済むため、信頼性の高い発光装置を作製す
ることが可能となる。なお、搬送室114においては、
真空と、大気圧での窒素雰囲気とを繰り返すが、搬送室
102、104a、108は常時、真空が保たれること
が望ましい。
とも可能である。
として透明導電膜を用い、上記積層構造による発光方向
とは逆方向である発光素子(図6)を形成する手順を以
下に示す。
室120bにTFT及び陽極が設けられた基板をセット
する。
118から仕込室101に搬送する。次いで仕込室10
1に連結された搬送室102に搬送する。
を除去するために、脱気のためのアニールを真空中で行
うことが好ましく、搬送室102に連結された前処理室
103に搬送し、そこでアニールを行えばよい。さら
に、陽極の表面をクリーニングする必要があれば、搬送
室102に連結された前処理室103に搬送し、そこで
プラズマ処理やUV照射処理によってクリーニングを行
えばよい。
物層を全面に形成する。成膜室112は、高分子からな
る有機化合物層を形成するための成膜室である。例え
ば、正孔注入層として作用するポリ(エチレンジオキシ
チオフェン)/ポリ(スチレンスルホン酸)水溶液(PE
DOT/PSS)を全面に形成する。成膜室112においてス
ピンコート法で有機化合物層を形成する場合には、大気
圧下で基板の被成膜面を上向きにしてセットする。受渡
室105には、基板反転機構が備わっており、基板を適
宜反転させる。また、水溶液を用いた成膜を行った後
は、前処理室103に搬送し、そこで真空中での加熱処
理を行って水分を気化させることが好ましい。
室102から受渡室105に基板104cを搬送した
後、搬送室104に基板104cを搬送し、搬送機構1
04bによって、成膜室106Rに搬送し、陽極上に設
けられた高分子材料からなる正孔注入層上に赤色発光す
るEL層を適宜形成する。ここでは抵抗加熱を用いた蒸
着によって形成する。
室106Rで成膜した後、順次、各成膜室106G、1
06Bで成膜を行って、赤色、緑色、青色の発光を示す
有機化合物層を適宜形成する。代表的には図6に示す積
層構造となるように順次形成すればよい。
望のEL層を得たら、次いで、大気にふれさせることな
く、搬送室104aから受渡室107に基板を搬送した
後、さらに、大気にふれさせることなく、受渡室107
から搬送室108に基板を搬送する。
搬送機構によって、成膜室110に搬送し、抵抗加熱に
よる蒸着法で金属層からなる陰極(膜厚100nm以
上)を適宜形成する。ここでは、成膜室110は、Li
とAlを蒸着源に備えて抵抗加熱により蒸着する蒸着装
置とする。
子が形成される。
示す積層構造を有する発光装置の作製手順と同一である
のでここでは説明を省略する。
ば、図4(B)、図6に示す積層構造とを作り分けるこ
とができる。
いずれとも自由に組み合わせることができる。
発した光が素子基板を透過して放射されて観測者の目に
入る構造を作製する例を以下に示す。なお、この場合、
観測者は素子基板側から画像を認識することができる。
た画素構造を説明する。なお、画素の詳細な上面図の一
例を図9に示す。
る場合の消去用トランジスタ606を有し、ゲート電極
と消去用の信号を入力する第2のゲート信号線603が
接続され、ソース電極と電流供給線604が接続され、
ドレイン電極とスイッチング用TFT605のドレイン
電極・駆動用TFT607のゲート電極が接続されてい
る。
TFT605と消去用TFT606の2つのTFTを、
第1のゲート信号線602と第2のゲート信号線603
の間に、横に並べ直線状に配置する。スイッチング用T
FT605のドレイン領域と消去用TFT606のドレ
イン領域を重ねても良い。この時、スイッチング用TF
T605のソース領域のある一点とドレイン領域のある
一点と消去用TFT606のソース領域のある一点とド
レイン領域のある一点が1つの直線上に並ぶように配置
する。
げ、開口部もシンプルな形状にすることが出来る。
のが図9(B)である。駆動用TFT607のように半導
体層を縦方向に蛇行させても良い。半導体層をこのよう
な形状とすることで、開口率を落とさず、駆動用TFT
607のチャネル長をより長くすることが出来る。
光装置の外観図について説明する。なお、図11(A)
は、発光装置を示す上面図、図11(B)は図11
(A)をA−A’で切断した断面図である。点線で示さ
れた901はソース信号線駆動回路、902は画素部、
903はゲート信号線駆動回路である。また、904は
封止基板、905はシール剤であり、シール剤905で
囲まれた内側は、空間907になっている。
1及びゲート信号線駆動回路903に入力される信号を
伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC
(フレキシブルプリントサーキット)909からビデオ
信号やクロック信号を受け取る。なお、ここではFPC
しか図示されていないが、このFPCにはプリント配線
基盤(PWB)が取り付けられていても良い。本明細書
における発光装置には、発光装置本体だけでなく、それ
にFPCもしくはPWBが取り付けられた状態をも含む
ものとする。
いて説明する。基板910上には駆動回路及び画素部が
形成されているが、ここでは、駆動回路としてソース信
号線駆動回路901と画素部902が示されている。
ャネル型TFT906とpチャネル型TFT915とを
組み合わせたCMOS回路が形成される。また、駆動回
路を形成するTFTは、公知のCMOS回路、PMOS
回路もしくはNMOS回路で形成しても良い。また、本
実施の形態では、基板上に駆動回路を形成したドライバ
ー一体型を示すが、必ずしもその必要はなく、基板上で
はなく外部に形成することもできる。
11とそのドレインに電気的に接続された第1の電極
(陽極)912を含む複数の画素により形成される。
は絶縁層913が形成され、第1の電極(陽極)912
上には有機化合物層914が形成される。さらに、有機
化合物層914上には第2の電極(陰極)916が形成
される。これにより、第1の電極(陽極)912、有機
化合物層914、及び第2の電極(陰極)916からな
る発光素子918が形成される。さらに、第2の電極上
916上に補助配線917が設けられている。また、9
19はスイッチング用TFTである。ここでは発光素子
918は白色発光とする例であるので、着色層920a
とBM920bからなるカラーフィルター(簡略化のた
め、ここではオーバーコート層は図示しない)を基板9
10に貼り付けている。
の配線としても機能し、接続配線908を経由してFP
C909に電気的に接続されている。
918を封止するためにシール剤905により封止基板
904を貼り合わせる。なお、封止基板904と発光素
子918との間隔を確保するために樹脂膜からなるスペ
ーサを設けても良い。そして、シール剤905の内側の
空間907には窒素等の不活性気体が充填されている。
なお、シール剤905としてはエポキシ系樹脂を用いる
のが好ましい。また、シール剤905はできるだけ水分
や酸素を透過しない材料であることが望ましい。さら
に、空間907の内部に酸素や水を吸収する効果をもつ
物質を含有させても良い。
する材料としてガラス基板や石英基板の他、FRP(Fi
berglass-Reinforced Plastics)、PVF(ポリビニル
フロライド)、マイラー、ポリエステルまたはアクリル
等からなるプラスチック基板を用いることができる。ま
た、シール剤905を用いて封止基板904を接着した
後、さらに側面(露呈面)を覆うようにシール剤で封止
することも可能である。
封入することにより、発光素子を外部から完全に遮断す
ることができ、外部から水分や酸素といった有機化合物
層の劣化を促す物質が侵入することを防ぐことができ
る。従って、信頼性の高い発光装置を得ることができ
る。
に示す。
膜(PEDOTを含む積層)の形成後、蒸着マスクによ
って第2の電極(Li−Alからなる陰極)を選択的に
形成した段階での断面図である。なお、簡略化のため、
透明導電膜からなる陽極やTFTの作製方法はここでは
省略する。
スクとして自己整合的に有機化合物膜(PEDOTを含
む積層)をプラズマでエッチングした段階での断面図で
ある。
させるための第3の電極を選択的に形成した段階での断
面図である。なお、第2の電極と第3の電極は同じ材料
でもよいし、第3の電極の方を電気抵抗率が低い材料を
用いてもよい。
実施例1のいずれとも自由に組み合わせることができ
る。
て有機発光素子を有するモジュール(アクティブマトリ
クス型ELモジュール)を組み込んだ全ての電子機器が
完成される。
ラ、デジタルカメラ、ヘッドマウントディスプレイ(ゴ
ーグル型ディスプレイ)、カーナビゲーション、プロジ
ェクタ、カーステレオ、パーソナルコンピュータ、携帯
情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話または電子
書籍等)などが挙げられる。それらの一例を図12、図
13に示す。
あり、本体2001、画像入力部2002、表示部20
03、キーボード2004等を含む。
2101、表示部2102、音声入力部2103、操作
スイッチ2104、バッテリー2105、受像部210
6等を含む。
ービルコンピュータ)であり、本体2201、カメラ部
2202、受像部2203、操作スイッチ2204、表
示部2205等を含む。
あり、本体2301、表示部2302、アーム部230
3等を含む。
媒体(以下、記録媒体と呼ぶ)を用いるプレーヤーであ
り、本体2401、表示部2402、スピーカ部240
3、記録媒体2404、操作スイッチ2405等を含
む。なお、このプレーヤーは記録媒体としてDVD(D
igital Versatile Disc)、CD
等を用い、音楽鑑賞や映画鑑賞やゲームやインターネッ
トを行うことができる。
体2501、表示部2502、接眼部2503、操作ス
イッチ2504、受像部(図示しない)等を含む。
01、音声出力部2902、音声入力部2903、表示
部2904、操作スイッチ2905、アンテナ290
6、画像入力部(CCD、イメージセンサ等)2907
等を含む。
り、本体3001、表示部3002、3003、記憶媒
体3004、操作スイッチ3005、アンテナ3006
等を含む。
3101、支持台3102、表示部3103等を含む。
は中小型または大型のもの、例えば5〜20インチの画
面サイズのものである。また、このようなサイズの表示
部を形成するためには、基板の一辺が1mのものを用
い、多面取りを行って量産することが好ましい。
く、あらゆる分野の電子機器の作製方法に適用すること
が可能である。また、本実施例の電子機器は実施の形態
1乃至5、実施例1、または実施例2のどのような組み
合わせからなる構成を用いても実現することができる。
な形成を可能にすることで、外部電源と接続される配線
の接続部分(接続端子)に有機化合物層が形成されない
ような構造を簡単に形成することができる。
けることによって円偏光板を不必要としコストを低減す
るとともに、塗りわけが必要でなくなるため、スループ
ットの向上および高精細化も実現可能としている。
2)
3)
4)
模式図である。(実施の形態4)
ー化する場合の模式図である。(実施の形態5)
1)
図。(実施例2)
4)
Claims (19)
- 【請求項1】絶縁表面を有する第1の基板と透光性を有
する第2の基板との間に、第1の電極と、該第1の電極
上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接する
第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部と、
駆動回路と、端子部とを有する発光装置であって、前記
第1の電極の端部は、絶縁物で覆われており、該絶縁物
の側面は、第1の曲率半径を有する曲面と、第2の曲率
半径を有する曲面とを有し、前記絶縁物及び前記第1の
電極上に高分子材料を有する有機化合物層が設けられて
いることを特徴とする発光装置。 - 【請求項2】絶縁表面を有する第1の基板と透光性を有
する第2の基板との間に、第1の電極と、該第1の電極
上に接する有機化合物層と、該有機化合物層上に接する
第2の電極とを有する発光素子を複数有する画素部と、
駆動回路と、端子部とを有する発光装置であって、前記
第1の電極の端部は、絶縁物で覆われており、該絶縁物
の側面は、第1の曲率半径を有する曲面と、第2の曲率
半径を有する曲面と、前記絶縁物上に第3の電極とを有
し、前記絶縁物及び前記第1の電極上に高分子材料を有
する有機化合物層が設けられていることを特徴とする発
光装置。 - 【請求項3】請求項1または請求項2において、前記有
機化合物層は高分子材料からなる層と低分子材料からな
る層の積層であることを特徴とする発光装置。 - 【請求項4】請求項1乃至3のいずれか一において、前
記有機化合物層は白色発光する材料であり、前記第2の
基板に設けられたカラーフィルタと組み合わせることを
特徴とする発光装置。 - 【請求項5】請求項1乃至3のいずれか一において、前
記有機化合物層は単色発光する材料であり、前記第2の
基板に設けられた色変換層または着色層と組み合わせた
ことを特徴とする発光装置。 - 【請求項6】請求項1乃至5のいずれか一において、前
記絶縁物の上端部に第1の曲率半径を有する曲面を有
し、前記絶縁物の下端部に第2の曲率半径を有する曲面
を有しており、前記第1の曲率半径および前記第2の曲
率半径は、0.2μm〜3μmであることを特徴とする
発光装置。 - 【請求項7】請求項1乃至6のいずれか一において、前
記第2の基板は凹部を有し、該凹部に乾燥剤が設けられ
たことを特徴とする発光装置。 - 【請求項8】請求項1乃至7のいずれか一において、前
記第2の基板は乾燥剤が設けられた凹部を有し、該凹部
は前記第1の基板上に設けられた駆動回路と重なること
を特徴とする発光装置。 - 【請求項9】請求項1乃至8のいずれか一において、前
記第1の基板と前記第2の基板との間隔は2μm〜30
μmであることを特徴とする発光装置。 - 【請求項10】請求項1乃至9のいずれか一において、
前記発光装置は、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴー
グル型ディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナル
コンピュータまたは携帯情報端末であることを特徴とす
る発光装置。 - 【請求項11】陽極と、該陽極に接する有機化合物層
と、該有機化合物層に接する陰極とを有する発光素子を
有する発光装置の作製方法であって、前記第1の電極上
に塗布法で高分子材料からなる有機化合物膜を形成する
第1の工程と、 真空中で加熱する第2の工程と、プラズマによるエッチ
ングで前記有機化合物膜を選択的にエッチングする第3
の工程と、該有機化合物膜上に第2の電極を選択的に形
成する第4の工程とを有することを特徴とする発光装置
の作製方法。 - 【請求項12】陽極と、該陽極に接する有機化合物層
と、該有機化合物層に接する陰極とを有する発光素子を
有する発光装置の作製方法であって、前記第1の電極上
に塗布法で高分子材料からなる有機化合物膜を形成する
第1の工程と、 真空中で加熱する第2の工程と、該有機化合物膜上に第
2の電極を選択的に形成する第3の工程と、プラズマに
よるエッチングで前記有機化合物膜を選択的にエッチン
グする第4の工程とを有することを特徴とする発光装置
の作製方法。 - 【請求項13】陽極と、該陽極に接する有機化合物層
と、該有機化合物層に接する陰極とを有する発光素子を
有する発光装置の作製方法であって、 第1の基板上に薄膜トランジスタを形成する工程と、 前記薄膜トランジスタと接続する第1の電極を形成する
工程と、 前記第1の電極の端部を覆う絶縁物を形成する工程と、 前記絶縁物上に金属材料からなる第3の電極を形成する
工程と、 前記第1の電極上に塗布法で高分子材料からなる有機化
合物膜を形成する工程と、 真空中で加熱する工程と、 プラズマによるエッチングで前記有機化合物膜をメタル
マスクにより選択的にエッチングして、第3の電極を露
呈させる工程と、 該有機化合物膜上に透光性を有する材料からなる第2の
電極を選択的に形成する工程と、 保護膜を形成する工程と、 前記第1の基板と第2の基板を貼り合わせる工程とを有
することを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項14】請求項13において、前記保護膜は、酸
化珪素を主成分とする絶縁膜、窒化珪素を主成分とする
絶縁膜、炭素を主成分とする膜、またはこれらの積層膜
であることを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項15】請求項11乃至13のいずれか一におい
て、前記第1の電極はTFTに電気的に接続している前
記発光素子の陽極、或いは陰極であることを特徴とする
発光装置の作製方法。 - 【請求項16】請求項11乃至15のいずれか一におい
て、前記プラズマは、Ar、H、F、またはOから選ば
れた一種または複数種のガスを励起して発生させること
を特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項17】請求項11乃至16のいずれか一におい
て、前記有機化合物層は白色発光する材料であり、前記
第2の基板に設けられたカラーフィルタと組み合わせる
ことを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項18】請求項11乃至16のいずれか一におい
て、前記有機化合物層は単色発光する材料であり、前記
第2の基板に設けられた色変換層または着色層と組み合
わせることを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項19】請求項13乃至16のいずれか一におい
て、前記第1の基板と前記第2の基板との間隔は2μm
〜30μmであることを特徴とする発光装置の作製方
法。
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---|---|
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---|---|
JP (1) | JP4651916B2 (ja) |
Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004110105A1 (ja) * | 2003-06-06 | 2004-12-16 | Pioneer Corporation | 有機半導体素子及びその製造方法 |
JP2005166476A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Seiko Epson Corp | 有機el装置の製造方法及び製造装置、有機el装置 |
JP2005183048A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Nec Corp | 発光素子基板およびそれを用いた発光素子 |
JP2005332803A (ja) * | 2004-04-22 | 2005-12-02 | Canon Inc | 有機電子素子の製造方法および製造装置 |
JP2006040741A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Dainippon Printing Co Ltd | エレクトロルミネッセント素子、及びその製造方法 |
JP2006043972A (ja) * | 2004-08-03 | 2006-02-16 | Seiko Epson Corp | ラインヘッド及びこれを備えた画像形成装置 |
JP2006114499A (ja) * | 2004-10-11 | 2006-04-27 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
WO2007004476A1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Multi-color display apparatus |
JP2007073353A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Toyota Industries Corp | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP2007073355A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Toyota Industries Corp | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP2008015293A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Hitachi Displays Ltd | 有機el表示装置 |
WO2008047716A1 (fr) * | 2006-10-18 | 2008-04-24 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Dispositif d'affichage |
JP2009139678A (ja) * | 2007-12-07 | 2009-06-25 | Seiko Epson Corp | 発光装置及び電子機器並びに成膜方法 |
JP2010027210A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Canon Inc | 有機発光素子の製造方法及び有機発光素子 |
JP2011049187A (ja) * | 2003-12-18 | 2011-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置、電子機器、及び照明機器 |
JP2012134173A (ja) * | 2012-03-09 | 2012-07-12 | Sony Corp | 表示装置およびその製造方法 |
JP2012142315A (ja) * | 2007-02-08 | 2012-07-26 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
KR101362691B1 (ko) | 2004-09-29 | 2014-02-13 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 액티브 매트릭스형 표시장치 |
JP2014063749A (ja) * | 2004-03-16 | 2014-04-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP2017199682A (ja) * | 2017-05-22 | 2017-11-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2019125580A (ja) * | 2004-09-17 | 2019-07-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2020502746A (ja) * | 2016-12-15 | 2020-01-23 | 武漢華星光電技術有限公司Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd | Oledディスプレイのパッケージ方法、及びoledディスプレイ |
WO2022163310A1 (ja) * | 2021-02-01 | 2022-08-04 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
CN115121191A (zh) * | 2022-07-13 | 2022-09-30 | 重庆大学 | 一种气液两相反应制备pedot:pss的装置及方法 |
Citations (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61128524A (ja) * | 1984-11-27 | 1986-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 微細パタ−ン形成方法 |
JPH0249425A (ja) * | 1987-08-28 | 1990-02-19 | Toshiba Corp | 有機化合物膜の除去方法及び除去装置 |
JPH06223971A (ja) * | 1993-01-28 | 1994-08-12 | Komatsu Ltd | 薄膜el素子の製造方法 |
JPH06232098A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | Sony Corp | 酸化防止方法およびドライエッチング方法 |
JPH08222369A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-08-30 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 多色発光装置 |
JPH10172766A (ja) * | 1996-12-04 | 1998-06-26 | Hitachi Ltd | 有機発光素子及びその作成方法 |
JPH10208883A (ja) * | 1996-11-20 | 1998-08-07 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | 発光装置とその製造方法 |
JPH10335068A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 発光型表示装置 |
JPH11144865A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Casio Comput Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP2000100798A (ja) * | 1998-07-22 | 2000-04-07 | Canon Inc | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2000310863A (ja) * | 1999-02-25 | 2000-11-07 | Toshiba Corp | パターン形成方法 |
JP2001102176A (ja) * | 1999-07-23 | 2001-04-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | El表示装置及びその作製方法 |
JP2001110566A (ja) * | 1999-10-04 | 2001-04-20 | Sanyo Electric Co Ltd | El表示装置の製造方法 |
WO2001045140A2 (en) * | 1999-12-17 | 2001-06-21 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Encapsulation for organic led device |
JP2001237075A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜el素子及びその製造方法 |
WO2001078463A1 (fr) * | 2000-04-06 | 2001-10-18 | Seiko Epson Corporation | Afficheur organique a electroluminescence |
JP2001351787A (ja) * | 2000-06-07 | 2001-12-21 | Sharp Corp | 有機led素子とその製造方法および有機ledディスプレイ |
JP2002015861A (ja) * | 2000-04-25 | 2002-01-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
-
2003
- 2003-03-06 JP JP2003059468A patent/JP4651916B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61128524A (ja) * | 1984-11-27 | 1986-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 微細パタ−ン形成方法 |
JPH0249425A (ja) * | 1987-08-28 | 1990-02-19 | Toshiba Corp | 有機化合物膜の除去方法及び除去装置 |
JPH06223971A (ja) * | 1993-01-28 | 1994-08-12 | Komatsu Ltd | 薄膜el素子の製造方法 |
JPH06232098A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | Sony Corp | 酸化防止方法およびドライエッチング方法 |
JPH08222369A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-08-30 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 多色発光装置 |
JPH10208883A (ja) * | 1996-11-20 | 1998-08-07 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | 発光装置とその製造方法 |
JPH10172766A (ja) * | 1996-12-04 | 1998-06-26 | Hitachi Ltd | 有機発光素子及びその作成方法 |
JPH10335068A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 発光型表示装置 |
JPH11144865A (ja) * | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Casio Comput Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP2000100798A (ja) * | 1998-07-22 | 2000-04-07 | Canon Inc | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
JP2000310863A (ja) * | 1999-02-25 | 2000-11-07 | Toshiba Corp | パターン形成方法 |
JP2001102176A (ja) * | 1999-07-23 | 2001-04-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | El表示装置及びその作製方法 |
JP2001110566A (ja) * | 1999-10-04 | 2001-04-20 | Sanyo Electric Co Ltd | El表示装置の製造方法 |
WO2001045140A2 (en) * | 1999-12-17 | 2001-06-21 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Encapsulation for organic led device |
JP2003517182A (ja) * | 1999-12-17 | 2003-05-20 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 有機ledデバイスのカプセル封じ |
JP2001237075A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜el素子及びその製造方法 |
WO2001078463A1 (fr) * | 2000-04-06 | 2001-10-18 | Seiko Epson Corporation | Afficheur organique a electroluminescence |
JP2002015861A (ja) * | 2000-04-25 | 2002-01-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP2001351787A (ja) * | 2000-06-07 | 2001-12-21 | Sharp Corp | 有機led素子とその製造方法および有機ledディスプレイ |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
C.C.WU ET AL.: "Integrated three-color organic light-emitting devices", APPL. PHYS. LETT., vol. 69, JPN6009001482, 18 November 1996 (1996-11-18), US, pages 3117 - 3119, XP000643594, ISSN: 0001226956, DOI: 10.1063/1.116800 * |
Cited By (45)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004110105A1 (ja) * | 2003-06-06 | 2004-12-16 | Pioneer Corporation | 有機半導体素子及びその製造方法 |
JPWO2004110105A1 (ja) * | 2003-06-06 | 2006-07-20 | パイオニア株式会社 | 有機半導体素子及びその製造方法 |
JP4566910B2 (ja) * | 2003-06-06 | 2010-10-20 | パイオニア株式会社 | 有機半導体素子及びその製造方法 |
US7776645B2 (en) | 2003-06-06 | 2010-08-17 | Pioneer Corporation | Organic semiconductor device and its manufacturing method |
JP2005166476A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | Seiko Epson Corp | 有機el装置の製造方法及び製造装置、有機el装置 |
JP2005183048A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Nec Corp | 発光素子基板およびそれを用いた発光素子 |
JP2011049187A (ja) * | 2003-12-18 | 2011-03-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置、電子機器、及び照明機器 |
JP2014063749A (ja) * | 2004-03-16 | 2014-04-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP2005332803A (ja) * | 2004-04-22 | 2005-12-02 | Canon Inc | 有機電子素子の製造方法および製造装置 |
JP2006040741A (ja) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Dainippon Printing Co Ltd | エレクトロルミネッセント素子、及びその製造方法 |
JP4485277B2 (ja) * | 2004-07-28 | 2010-06-16 | 大日本印刷株式会社 | エレクトロルミネッセント素子の製造方法 |
US7528854B2 (en) | 2004-08-03 | 2009-05-05 | Seiko Epson Corporation | Device including light-emitting elements above a glass substrate |
JP2006043972A (ja) * | 2004-08-03 | 2006-02-16 | Seiko Epson Corp | ラインヘッド及びこれを備えた画像形成装置 |
JP2019125580A (ja) * | 2004-09-17 | 2019-07-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
US10038040B2 (en) | 2004-09-29 | 2018-07-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US9893130B2 (en) | 2004-09-29 | 2018-02-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US10403697B2 (en) | 2004-09-29 | 2019-09-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US11778870B2 (en) | 2004-09-29 | 2023-10-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US9530829B2 (en) | 2004-09-29 | 2016-12-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US8786178B2 (en) | 2004-09-29 | 2014-07-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US11233105B2 (en) | 2004-09-29 | 2022-01-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US10937847B2 (en) | 2004-09-29 | 2021-03-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US9147713B2 (en) | 2004-09-29 | 2015-09-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
KR101362691B1 (ko) | 2004-09-29 | 2014-02-13 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 액티브 매트릭스형 표시장치 |
US11552145B2 (en) | 2004-09-29 | 2023-01-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, electronic apparatus, and method of fabricating the display device |
US7915821B2 (en) | 2004-10-11 | 2011-03-29 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | OLED comprising an organic insulating layer with grooves and an inorganic layer filling the grooves |
JP2006114499A (ja) * | 2004-10-11 | 2006-04-27 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及びその製造方法 |
US8063558B2 (en) | 2005-06-30 | 2011-11-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Multi-color display apparatus |
WO2007004476A1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Multi-color display apparatus |
JP2007043097A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-02-15 | Canon Inc | 多色表示装置 |
JP2007073355A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Toyota Industries Corp | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP2007073353A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Toyota Industries Corp | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP4696796B2 (ja) * | 2005-09-07 | 2011-06-08 | 株式会社豊田自動織機 | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
JP2008015293A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Hitachi Displays Ltd | 有機el表示装置 |
WO2008047716A1 (fr) * | 2006-10-18 | 2008-04-24 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Dispositif d'affichage |
JP2012142315A (ja) * | 2007-02-08 | 2012-07-26 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
TWI484863B (zh) * | 2007-02-08 | 2015-05-11 | Seiko Epson Corp | 發光裝置及電子機器 |
JP2009139678A (ja) * | 2007-12-07 | 2009-06-25 | Seiko Epson Corp | 発光装置及び電子機器並びに成膜方法 |
JP2010027210A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Canon Inc | 有機発光素子の製造方法及び有機発光素子 |
JP2012134173A (ja) * | 2012-03-09 | 2012-07-12 | Sony Corp | 表示装置およびその製造方法 |
JP2020502746A (ja) * | 2016-12-15 | 2020-01-23 | 武漢華星光電技術有限公司Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd | Oledディスプレイのパッケージ方法、及びoledディスプレイ |
JP2017199682A (ja) * | 2017-05-22 | 2017-11-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
WO2022163310A1 (ja) * | 2021-02-01 | 2022-08-04 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
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