JP2003270170A - 液晶表示パネルの検査装置及び検査方法 - Google Patents

液晶表示パネルの検査装置及び検査方法

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JP2003270170A JP2003032284A JP2003032284A JP2003270170A JP 2003270170 A JP2003270170 A JP 2003270170A JP 2003032284 A JP2003032284 A JP 2003032284A JP 2003032284 A JP2003032284 A JP 2003032284A JP 2003270170 A JP2003270170 A JP 2003270170A
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    • H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers

Abstract

(57)【要約】 【課題】 大面積ガラス基板上に製作された液晶表示パ
ネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、該切
断面の状態検査及び単位液晶表示パネルの大きさ検査を
簡便に遂行し得る液晶表示パネルの検査装置及び検査方
法を提供しようとする。 【解決手段】 カメラにより基準パネルの先端に対する
基準画像を撮影して格納する第１メモリ部と、前記カメ
ラにより切断された単位液晶表示パネルの先端に対する
実際画像を撮影して格納する第２メモリ部と、前記第
１、第２メモリ部の基準画像と実際画像とを比較して差
値を演算する比較演算部と、前記比較演算部の差値を表
示するディスプレイ部と、を包含して液晶表示パネルの
検査装置を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
検査装置及び検査方法に係るもので、詳しくは、大面積
ガラス基板上に製作された各液晶表示パネルを個別的な
単位液晶表示パネルに切断した後、該切断面の状態を検
査する時、高い信頼性を提供し得る液晶表示パネルの検
査装置及び検査方法に関するものである。
【０００２】
【関連技術】一般に、液晶表示装置は、マトリックス状
に配列された各液晶セルに画像情報に係るデータ信号を
個別的に供給し、それら液晶セルの光透過率を調節する
ことで、所望の画像を表示し得る表示装置である。
【０００３】該液晶表示装置は、大面積の母基板に薄膜
トランジスタアレイ基板を形成し、別途の母基板にカラ
ーフィルタ基板を形成した後、それら二つの母基板を合
着することで、多数の液晶表示パネルを同時に形成して
収率向上を図っているため、単位液晶表示パネルに切断
する工程が要求される。
【０００４】通常、前記単位パネルの切断は、ガラスに
比べて硬度の高いホイールで母基板の表面に切断予定溝
を形成し、該切断予定溝に沿ってクラックを伝播させる
工程によって実施される。以下、このような単位パネル
の切断工程について、図面を用いて説明する。
【０００５】関連技術における液晶表示装置の薄膜トラ
ンジスタアレイ基板とカラーフィルタ基板とが対向して
合着された、図３に示すような単位液晶表示パネル１０
においては、各液晶セルがマトリックス状に配列される
画像表示部１３と、該画像表示部１３の各ゲート配線と
接続されるゲートパッド部１４と、各データ配線と接続
されるデータパッド部１５と、を包含して構成されてい
た。この場合、ゲートパッド部１４及びデータパッド部
１５は、カラーフィルタ基板２と重畳しない薄膜トラン
ジスタアレイ基板１の縁領域に形成され、前記ゲートパ
ッド部１４は、ゲートドライバ集積回路から供給される
走査信号を画像表示部１３の各ゲート配線に供給し、前
記データパッド部１５は、データドライバ集積回路から
供給される画像情報を画像表示部１３の各データ配線に
供給する。
【０００６】さらに、図面上に図示されてないが、前記
画像表示部１３の薄膜トランジスタアレイ基板１は、画
像情報が印加される各データ配線と走査信号が印加され
る各ゲート配線とが相互に直角に交差して配置され、該
交差部に各液晶セルをスイッチングするための薄膜トラ
ンジスタと、該薄膜トランジスタに接続されて液晶セル
を駆動する画素電極と、このような電極及び薄膜トラン
ジスタを保護するために全面に形成された保護膜と、を
包含して構成される。
【０００７】又、前記画像表示部１３のカラーフィルタ
基板２は、ブラックマトリックスによりセル領域別に分
離されて塗布された各カラーフィルタと、前記薄膜トラ
ンジスタアレイ基板１に形成された画素電極の相対電極
の共通透明電極と、を包含して構成される。
【０００８】このように構成された薄膜トランジスタア
レイ基板１とカラーフィルタ基板２とは、対向して所定
間隔だけ離隔するようにセル・ギャップが備えられ、前
記画像表示部１３の外郭に形成されたシーリング部（図
示せず）により合着され、前記薄膜トランジスタアレイ
基板１とカラーフィルタ基板２との離隔された空間に液
晶層（図示せず）が形成される。
【０００９】図４は、前記各薄膜トランジスタアレイ基
板１が形成された第１母基板と各カラーフィルタ基板２
が形成された第２母基板とが合着されて複数の液晶表示
パネルを成す断面構造を示した例示図である。
【００１０】図４に示したように、各単位液晶表示パネ
ルは、前記各薄膜トランジスタアレイ基板１の一方が各
カラーフィルタ基板２に比べて突出するように形成され
る。前記図３を用いて説明したように、各薄膜トランジ
スタアレイ基板１の各カラーフィルタ基板２と重畳され
ない縁にゲートパッド部１４及びデータパッド部１５が
形成されるからである。
【００１１】従って、前記第２母基板３０上に形成され
た各カラーフィルタ基板２は、前記第１母基板２０上に
形成された各薄膜トランジスタアレイ基板１が突出する
面積に該当するダミー領域３１だけ離隔して形成され
る。
【００１２】又、各単位液晶表示パネルは、それら第
１、第２母基板２０、３０を最大限に利用するように適
切に配置され、モデルによって異なるが、一般に、各単
位液晶表示パネルは、ダミー領域３２だけ離隔するよう
に形成される。
【００１３】又、前記各薄膜トランジスタアレイ基板１
が形成された第１母基板２０と各カラーフィルタ基板２
が形成された第２母基板３０とが合着された後には、液
晶表示パネルを個別的に切断するが、この時、該第２母
基板３０の各カラーフィルタ基板２が離隔した領域に形
成されたダミー領域３１と単位液晶表示パネルを離隔さ
せるダミー領域３２とが同時に除去される。
【００１４】且つ、関連技術における単位液晶表示パネ
ルの検査装置においては、図５に図示したように、単位
液晶表示パネル１００の長辺であるデータパッド部が形
成された辺及び該辺と対向する辺に対応して切断された
状態を検査する第１、第２検査バー１０１、１０２と、
前記単位液晶表示パネル１００の短辺であるゲートパッ
ド部が形成された辺及び該辺と対向する辺に対応して切
断された状態を検査する第３、第４検査バー１０３、１
０４と、を包含して構成される。
【００１５】又、前記各第１、第２検査バー１０１、１
０２は、タッチ方式により切断された単位液晶表示パネ
ル１００の長辺にぎざぎざ（burr）が残留しているか否
かを検査し、前記各第３、第４検査バー１０３、１０４
は、前記各第１、第２検査バー１０１、１０２と同様に
切断された単位液晶表示パネル１００の短辺にぎざぎざ
が残留しているか否かを検査する。
【００１６】又、前記単位液晶表示パネル１００は、モ
デルによって大きさが異なるため、前記各第１、第２検
査バー１０１、１０２及び前記各第３、第４検査バー１
０３、１０４を単位液晶表示パネル１００の大きさが最
も大きいモデルの長辺及び短辺と同様な長さに製作して
前記単位液晶表示パネル１００の全モデルに対して長辺
及び短辺にぎざぎざが残留しているか否かを検査するこ
とができる。
【００１７】又、前記単位液晶表示パネル１００は、薄
膜トランジスタアレイ基板１１０上にカラーフィルタ基
板１２０が合着され、前記薄膜トランジスタアレイ基板
１１０の一方がカラーフィルタ基板１２０に比べて突出
するように形成される。前記図３に示したように、前記
薄膜トランジスタアレイ基板１１０のカラーフィルタ基
板１２０と重畳しない縁にゲートパッド部及びデータパ
ッド部が形成されるからである。
【００１８】従って、前記単位液晶表示パネル１００の
長辺及び短辺の一方は、階段状の段差を有するようにな
り、前記単位液晶表示パネル１００の長辺を検査するた
めには、データパッド部が形成された前記単位液晶表示
パネル１００の長辺に対応する第１検査バー１０１を階
段状の段差を有する単位液晶表示パネル１００の長辺と
噛合するように形成し、ゲートパッド部が形成された前
記単位液晶表示パネル１００の短辺に対応する第３検査
バー１０３を階段状の段差を有する単位液晶表示パネル
１００の短辺と噛合するように形成する。
【００１９】上記のように、前記各第１〜第４検査バー
１０１〜１０４を利用してタッチ方式により前記単位液
晶表示パネル１００の長辺及び短辺にぎざぎざが残留し
ているか否かを検査して良/不判定を行った後、作業者
は、所定周期に良品判定を受けた単位液晶表示パネル１
００を生産ラインから取り出して別途に備えられた測定
装備を用いて前記単位液晶表示パネル１００の切断され
た大きさが適切であるかを検査する。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】然るに、このような関
連技術における液晶表示パネルの検査装置及び検査方法
においては、第１〜第４検査バーが単位液晶表示パネル
の長辺及び短辺をタッチする物理的な方式により単位液
晶表示パネルの長辺及び短辺にぎざぎざが残留している
か否かを検査するため、検査の信頼度が低下すると共
に、単位液晶表示パネルの長辺及び短辺の一部が取られ
て溝が形成された場合に対しては不良を検出し得ないと
いう不都合な点があった。
【００２１】又、従来の液晶表示パネルの検査装置及び
その方法においては、ぎざぎざの残留有無を検査した
後、所定周期に良品の単位液晶表示パネルを生産ライン
から取り出して別途の測定装置を用いて切断された単位
液晶表示パネルの大きさ検査を遂行するため、切断され
た単位液晶表示パネルの大きさ検査のために作業者が単
位液晶表示パネルを生産ラインから測定装置に移送しな
ければならず、測定装置で大きさ検査を遂行する作業が
煩雑であるという不都合な点があった。
【００２２】又、前記切断された単位液晶表示パネルの
大きさ検査に必要な時間が長引くことで、生産性が低下
するという不都合な点があった。
【００２３】又、高価な測定装置が別途に要求されるこ
とで、生産ラインの設備費用及び維持補修費用が増加し
て製品の原価が上昇するという不都合な点があった。
【００２４】又、所定周期に単位液晶表示パネルをサン
プリングして大きさ検査を遂行することで、検査の信頼
性が低下し、不良に判定される場合に作業を中断し、以
前にサンプリングされた単位液晶表示パネルから以後に
サンプリングされる単位液晶表示パネルまでの全単位液
晶表示パネルを検査し、良・不良判定しなければならな
いことで、後続工程が進行された各単位液晶表示パネル
が廃棄されることがあるため、材料浪費が嵩み製造時間
が長引くという不都合な点があった。
【００２５】本発明は、このような関連技術の課題に鑑
みてなされたもので、大面積ガラス基板上に製作された
液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断し
た後、該切断面の状態検査及び単位液晶表示パネルの大
きさ検査を簡便に遂行し得る液晶表示パネルの検査装置
及び検査方法を提供することを目的とする。
【００２６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るため、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の第１
実施形態においては、カメラにより基準パネルの先端に
対する基準画像を撮影して格納する第１メモリ部と、前
記カメラにより単位液晶表示パネルの先端に対する実際
画像を撮影して格納する第２メモリ部と、前記第１、第
２メモリ部の基準画像と実際画像とを比較して差値を演
算する比較演算部と、前記比較演算部の差値を表示する
ディスプレイ部と、を包含して構成されることを特徴と
する。
【００２７】又、本発明に係る液晶表示パネルの検査方
法の第１実施形態においては、基準パネルの先端に沿っ
て基準画像を撮影する段階と、単位液晶表示パネルの先
端に沿って実際画像を撮影する段階と、前記基準画像と
実際画像とを比較して差値を演算する段階と、前記差値
を表示する段階と、を行うことを特徴とする。
【００２８】又、本発明に係る液晶表示パネルの検査方
法の第２実施形態においては、第１基板と第２基板とを
合着する段階と、前記合着された第１、第２基板を複数
の各単位液晶表示パネルに切断する段階と、カメラによ
り前記単位液晶表示パネルの先端に対する実際画像を撮
影する段階と、前記実際画像と基準パネルの先端に対す
る基準画像とを比較して差値を演算する段階と、前記差
値を表示する段階と、を行うことを特徴とする。
【００２９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。本発明に係る液晶表示パネ
ルの検査装置においては、図１に示したように、カメラ
２０１により基準パネルの先端に対する基準画像を撮影
して格納する第１メモリ部２０２と、該カメラ２０１に
より実際に切断された単位液晶表示パネルの先端に対す
る実際画像を撮影して格納する第２メモリ部２０３と、
それら第１、第２メモリ部２０２、２０３の基準画像と
実際画像とを比較して差値を演算する比較演算部２０４
と、該比較演算部２０４の差値を作業者に表示するディ
スプレイ部２０５と、を包含して構成されている。この
時、前記カメラ２０１としては、例えば、CCDカメラを
適用することができる。
【００３０】又、前記単位液晶表示パネルは、薄膜トラ
ンジスタが形成された第１基板とカラーフィルタが形成
された第２基板とを合着した後、液晶注入方式により液
晶層を形成して製作されるか、又は前記第１基板又は第
２基板のうちの何れか一つの基板に液晶を滴下した後、
真空合着して製作することができる。
【００３１】又、前記液晶が滴下された基板に第１、第
２基板を合着するためのシール材を形成するか、又は液
晶が滴下されない基板にシール材を形成することができ
る。
【００３２】図２Ａ及び図２Ｂは、前記図１のカメラ２
０１により撮影した基準画像及び実際画像の一例を示し
た例示図である。
【００３３】先ず、図２Ａに示したように、前記カメラ
２０１により基準パネル２１０の先端を撮影した基準画
像（IMAGE １）が図示されている。この時、前記基準パ
ネル２１０は、切断された単位液晶表示パネルに要求さ
れる理想的な大きさを有するように事前に精密に製作さ
れ、前記基準パネル２１０の隅にカメラ２０１及び基準
パネル２１０を整列させるための整列マーク２１１が備
えられる。
【００３４】従って、前記カメラ２０１は、前記整列マ
ーク２１１により基準パネル２１０と整列された後、該
基準パネル２１０の縁に沿ってスキャンしながら、該基
準パネル２１０の先端を撮影して基準画像（IMAGE １）
を取り出し、該基準画像（IMAGE １）の情報を前記第１
メモリ部２０２に格納する。
【００３５】又、図２Ｂに示したように、前記カメラ２
０１により実際に切断された単位液晶表示パネル２２０
の先端を撮影した実際画像（IMAGE ２）が図示されてい
る。この時、前記単位液晶表示パネル２２０は、大面積
の母基板上に複数の液晶表示パネルが製作された以後に
個別的に切断されることで、該単位液晶表示パネル２２
０の切断面には、ぎざぎざ２２１が部分的に残留する
か、又は切断面の一部が取られて溝２２２が形成される
ことがある。
【００３６】又、前記単位液晶表示パネル２２０の切断
面に形成されたぎざぎざ２２１及び溝２２２は、液晶表
示パネルの駆動に不良を誘発するようになるため、これ
を事前に検査して該当単位液晶表示パネル２２０を取り
出すことが好ましい。
【００３７】又、前記単位液晶表示パネル２２０には、
カメラ２０１及び単位液晶表示パネル２２０を整列させ
るための整列マーク２２３が前記基準パネル２１０と同
様な位置に備えられる。
【００３８】従って、前記カメラ２０１は、前記整列マ
ーク２２３により前記単位液晶表示パネル２２０と整列
された後、該単位液晶表示パネル２２０の縁に沿ってス
キャンしながら、該単位液晶表示パネル２２０の先端を
撮影して実際画像（IMAGE ２）を取り出し、該実際画像
（IMAGE ２）の情報を前記第２メモリ部２０３に格納す
る。
【００３９】上記のように、前記各第１、第２メモリ部
２０２、２０３に格納された基準画像（IMAGE １）の情
報及び実際画像（IMAGE ２）の情報は、比較演算部２０
４で差値が演算され、前記差値は、前記ディスプレイ部
２０５を通して作業者に表示される。
【００４０】前記基準画像（IMAGE １）と実際画像（IM
AGE ２）との差値は、前記カメラ２０１のピクセル単位
に演算される。即ち、前記カメラ２０１の倍率が決定さ
れると、解像度によってピクセル一つの大きさが決定さ
れるが、ぎざぎざ２２１及び溝２２２が撮影された実際
画像（IMAGE ２）と基準パネル２１０の先端が撮影され
た基準画像（IMAGE １）とがいくつかのピクセルだけ差
が出るかに対する情報を取り出し、そのピクセル数と大
きさとを乗算して差値を演算するようになる。
【００４１】この時、前記実際画像（IMAGE ２）にぎざ
ぎざ２２１が撮影された場合には、該当差値を正数
（＋）に表示し、溝２２２が撮影された場合には、負数
（−）に表示して作業者が一層容易に判別し得るように
することが好ましい。
【００４２】従って、作業者は、前記ディスプレイ部２
０５に表示された差値によって切断された単位液晶表示
パネルの切断面にバー及び溝が形成されているか否かを
容易に判定することができるし、許容範囲内にあるかを
判断し得る。
【００４３】又、前記カメラ２０１が整列マーク２２３
により単位液晶表示パネル２２０と整列された後、前記
単位液晶表示パネル２２０の縁に沿ってスキャンしなが
ら、切断された該単位液晶表示パネル２２０の先端を撮
影して実際画像（IMAGE ２）を取り出す時、前記カメラ
２０１の移動距離により前記単位液晶表示パネル２２０
の長辺及び短辺の長さを測定して第２メモリ２０３に格
納し、これをディスプレイ部２０５を通して作業者に表
示することで、前記単位液晶表示パネル２２０の切断面
にぎざぎざ２２１が残留するか否か又は溝２２２が形成
されているか否かを検査すると同時に、前記単位液晶表
示パネル２２０の大きさ検査も遂行する。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る液晶
表示パネルの検査装置及び検査方法においては、カメラ
により基準パネルの先端を撮影した基準画像と実際に切
断された単位液晶表示パネルの先端を撮影した実際画像
とを比較し、前記差値を作業者に表示することで、単位
液晶表示パネルの切断面検査を遂行するため、関連技術
における検査バーを利用した物理的なタッチ方式に比べ
て、カメラを利用した光学方式を適用して検査の信頼度
を向上し得るので、単位液晶表示パネルの切断面にぎざ
ぎざが残留する場合の不良を検査し得るばかりでなく、
これまで検査し得なかった単位液晶表示パネルの切断面
に溝が形成された場合に対しても検査し得ることで、製
品の不良発生を最小化し得るという効果がある。
【００４５】又、本発明に係る液晶表示パネルの検査装
置及び検査方法の第１実施形態においては、カメラの移
動距離によって単位液晶表示パネルの長辺及び短辺の長
さを測定して単位液晶表示パネルの大きさ検査を遂行す
ることで、これまでのように単位液晶表示パネルの大き
さ検査のために生産ラインから単位液晶表示パネルを取
り出して別途に備えられた測定装置に移送しなければな
らない作業の煩雑及び不便を解消し、単位液晶表示パネ
ルの大きさ検査に必要な時間を低減して生産性を向上し
得るほか、別途の測定装置が不必要であるため、生産ラ
インの設備費用及び維持補修費用を低減し得るという効
果がある。
【００４６】又、全単位液晶表示パネルに対して大きさ
検査を簡便に実施し得るため、これまでのように所定周
期に単位液晶表示パネルを取り出して大きさ検査を遂行
するサンプリング方式に比べて検査の信頼性を向上し得
るという効果がある。
【００４７】又、関連技術では、不良と判定される場合
に作業を中断し、以前にサンプリングされた単位液晶表
示パネルから以後にサンプリングされる単位液晶表示パ
ネルまでの全単位液晶表示パネルを検査して良・不良判
定を行うため、後続工程が進行された各単位液晶表示パ
ネルが廃棄されることとなり、材料及び時間が浪費され
る問題点があったが、本発明においては、全単位液晶表
示パネルに対して大きさ検査を実施し得るため、これを
防止し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の第１
実施形態を示した例示図である。
【図２Ａ】図１のカメラにより撮影された基準画像の一
例を示した例示図である。
【図２Ｂ】図１のカメラにより撮影された実際画像の一
例を示した例示図である。
【図３】液晶表示装置の薄膜トランジスタアレイ基板と
カラーフィルタ基板とが対向して合着された単位液晶表
示パネルの概略的な平面構造を示した例示図である。
【図４】図３の各薄膜トランジスタアレイ基板が形成さ
れた第１母基板と各カラーフィルタ基板が形成された第
２母基板とが合着されて複数の液晶表示パネルを成す断
面構造を示した例示図である。
【図５】関連技術における単位液晶表示パネルの検査装
置を示した例示図である。
【符号の説明】
２０１：カメラ ２０２：第１メモリ部 ２０３：第２メモリ部 ２０４：比較演算部 ２０５：ディスプレイ部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 金 ▲ホ▼ 均 大韓民国 仁川廣域市 南區 崇義４洞 ５−103 信一住宅 101号 Ｆターム(参考） 2G051 AA51 AB05 AC15 CA04 EA08 EA12 EB01 ED08 ED21 2H088 FA05 FA26 FA30 5B057 AA03 BA02 CA12 CA16 DA03 DB02 DC32

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 カメラにより基準パネルの先端に対する
    基準画像を撮影して格納する第１メモリ部と、 前記カメラにより切断された単位液晶表示パネルの先端
    に対する実際画像を撮影して格納する第２メモリ部と、 前記第１、第２メモリ部の基準画像と実際画像とを比較
    して差値を演算する比較演算部と、 前記比較演算部の差値を表示するディスプレイ部と、を
    包含して構成されることを特徴とする液晶表示パネルの
    検査装置。
  2. 【請求項２】 前記カメラは、CCDカメラであることを
    特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
  3. 【請求項３】 前記基準パネル及び単位液晶表示パネル
    は、縁に整列マークが備えられたことを特徴とする請求
    項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
  4. 【請求項４】 前記第２メモリ部は、前記カメラの移動
    距離を追加して格納した後、前記ディスプレイ部を通し
    て表示することを特徴とする請求項１記載の液晶表示パ
    ネルの検査装置。
  5. 【請求項５】 前記差値は、前記実際画像にぎざぎざが
    撮影された場合に正数（＋）であることを特徴とする請
    求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
  6. 【請求項６】 前記差値は、前記実際画像に溝が撮影さ
    れた場合に負数（−）であることを特徴とする請求項１
    記載の液晶表示パネルの検査装置。
  7. 【請求項７】 基準パネルの先端に沿って基準画像を撮
    影する段階と、 切断された単位液晶表示パネルの先端に沿って実際画像
    を撮影する段階と、 前記基準画像と実際画像とを比較して差値を演算する段
    階と、 前記差値を表示する段階と、を行うことを特徴とする液
    晶表示パネルの検査方法。
  8. 【請求項８】 前記基準画像を撮影する段階は、 前記基準パネルの縁に備えられた整列マークにより前記
    基準パネルとカメラを整列させる段階と、 前記カメラにより前記基準パネルの縁に沿ってスキャン
    して前記基準パネルの先端を撮影することで、基準画像
    を取り出す段階と、を行うことを特徴とする請求項７記
    載の液晶表示パネルの検査方法。
  9. 【請求項９】 前記実際画像を撮影する段階は、 前記切断された単位液晶表示パネルの縁に備えられた整
    列マークにより前記切断された単位液晶表示パネルとカ
    メラを整列させる段階と、 前記カメラにより前記切断された単位液晶表示パネルの
    縁に沿ってスキャンして前記切断された単位液晶表示パ
    ネルの先端を撮影することで、実際画像を取り出す段階
    と、を行うことを特徴とする請求項７記載の液晶表示パ
    ネルの検査方法。
  10. 【請求項１０】 前記差値は、前記実際画像にぎざぎざ
    が撮影された場合には正数（＋）に表示され、溝が撮影
    された場合には負数（−）に表示されることを特徴とす
    る請求項７記載の液晶表示パネルの検査方法。
  11. 【請求項１１】 前記単位液晶表示パネルの先端に沿っ
    て実際画像を撮影する段階は、カメラの移動距離によっ
    て単位液晶表示パネルの長辺及び短辺の長さを測定して
    表示する段階を包含することを特徴とする請求項７記載
    の液晶表示パネルの検査方法。
  12. 【請求項１２】 第１基板と第２基板とを合着する段階
    と、 前記合着された第１、第２基板を単位液晶表示パネルに
    切断する段階と、 カメラにより前記単位液晶表示パネルの先端に対する実
    際画像を撮影する段階と、 前記実際画像と基準パネルの先端に対する基準画像とを
    比較して差値を演算する段階と、 前記差値を表示する段階と、を行うことを特徴とする液
    晶表示パネルの検査方法。
  13. 【請求項１３】 前記第１基板と第２基板とを合着した
    後、液晶層を形成する段階が追加して包含されることを
    特徴とする請求項１２記載の液晶表示パネルの検査方
    法。
  14. 【請求項１４】 前記第１基板と第２基板とを合着する
    前に前記第１基板と第２基板のうちの何れか一つの基板
    に液晶を滴下して液晶層を形成する段階が追加して包含
    されることを特徴とする請求項１２記載の液晶表示パネ
    ルの検査方法。
  15. 【請求項１５】 前記実際画像と基準画像との差値は、
    単位液晶表示パネルの切断面状態に対する情報を示すこ
    とを特徴とする請求項１２記載の液晶表示パネルの検査
    方法。
  16. 【請求項１６】 前記差値は、前記切断面にぎざぎざが
    残留する場合に正数（＋）であることを特徴とする請求
    項１２記載の液晶表示パネルの検査方法。
  17. 【請求項１７】 前記差値は、前記切断面に溝が形成さ
    れた場合に負数（−）であることを特徴とする請求項１
    ２記載の液晶表示パネルの検査方法。
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