JP2003218424A - 磁気抵抗効果膜 - Google Patents

磁気抵抗効果膜

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JP2003218424A JP2002009560A JP2002009560A JP2003218424A JP 2003218424 A JP2003218424 A JP 2003218424A JP 2002009560 A JP2002009560 A JP 2002009560A JP 2002009560 A JP2002009560 A JP 2002009560A JP 2003218424 A JP2003218424 A JP 2003218424A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 できる限り電気抵抗の低減を実現することが
できる磁気抵抗効果膜の実現に大いに貢献する軟磁性膜
を提供する。 【解決手段】 NiFe層47aには面心立方格子結晶
および体心立方格子結晶が含まれる。面心立方格子結晶
の働きでNiFe層47a軟磁性は確立される。その一
方で、体心立方格子結晶は磁気抵抗効果膜41の電気抵
抗の減少に寄与する。同時に、体心立方格子結晶は磁気
抵抗効果膜41の磁気抵抗効果比の改善に寄与する。磁
気抵抗効果膜41の電気抵抗値が低減されると、磁気抵
抗効果膜41の微細化が進んでも、磁気抵抗効果膜41
では温度上昇は十分に回避されることができる。たとえ
比較的に大きな電流値でセンス電流が供給されても、磁
気抵抗効果膜41では特性の劣化や破壊は極力回避され
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ハードディスク駆
動装置(HDD)や磁気テープ駆動装置といった磁気記
録媒体駆動装置で例えば読み出しヘッドに利用される磁
気抵抗効果膜に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばHDDに組み込まれる読み出しヘ
ッドには磁気抵抗効果膜が広く利用される。磁気情報の
読み出しにあたって磁気抵抗効果膜にはいわゆるセンス
電流が供給される。記録媒体から漏れ出る磁界に磁気抵
抗効果膜が曝されると、センス電流には電圧変化が現れ
る。電圧変化に基づき2値の磁気情報は判別される。電
圧変化の振幅すなわち電圧変化量が大きければ、磁気情
報は常に正確に記録媒体から読み出されることができ
る。センス電流の電流値が大きな値に設定されれば、電
圧変化量は増大する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】例えばHDDの分野で
は、記録密度の増大に伴って磁気抵抗効果膜の微細化が
進むことが予想される。こうした微細化が進めば進むほ
ど、磁気抵抗効果膜では磁気抵抗効果膜自身の電気抵抗
に基づき過度の温度上昇が引き起こされてしまう。こう
した温度上昇は、磁気抵抗効果膜の抵抗値をさらに増大
させるだけでなく、磁気抵抗効果膜の特性を劣化させた
り磁気抵抗効果膜の破壊を引き起こしたりする。読み出
しヘッドに利用される磁気抵抗効果膜では、過度の温度
上昇を回避しつつ電圧変化量を拡大することが求められ
る。
【0004】本発明は、上記実状に鑑みてなされたもの
で、できる限り電気抵抗の低減を実現することができる
磁気抵抗効果膜の実現に大いに貢献する軟磁性膜を提供
することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1発明によれば、面心立方格子結晶および体心立
方格子結晶を含むニッケル鉄合金で構成される軟磁性層
を備えることを特徴とする磁気抵抗効果膜が提供され
る。
【0006】ニッケル鉄合金では、面心立方格子結晶の
働きで軟磁性は確立される。その一方で、体心立方格子
結晶は磁気抵抗効果膜の電気抵抗の減少に寄与する。同
時に、体心立方格子結晶は磁気抵抗効果膜の磁気抵抗効
果(MR)比の改善に寄与する。磁気抵抗効果膜の電気
抵抗値が低減されると、磁気抵抗効果膜の微細化が進ん
でも、磁気抵抗効果膜では温度上昇は十分に回避される
ことができる。たとえ比較的に大きな電流値でセンス電
流が供給されても、磁気抵抗効果膜では特性の劣化や破
壊は極力回避されることができる。センス電流の電流値
が高く設定されれば、磁気抵抗効果膜で検出される電圧
変化の振幅すなわち電圧変化量は増大する。磁気情報は
常に正確に磁気記録媒体から読み出されることができ
る。こういった磁気抵抗効果膜では、体心立方格子結晶
は面心立方格子結晶よりも少ない割合で軟磁性層に含ま
れればよい。ニッケル鉄合金にはニッケルおよび鉄以外
の金属原子が含まれてもよい。
【0007】第2発明によれば、ニッケルの重量に対し
て0.39〜1.26倍の重量で鉄を含むニッケル鉄合
金で構成される軟磁性層を備えることを特徴とする磁気
抵抗効果膜が提供される。
【0008】こういった軟磁性膜では、所定の含有量で
含まれる鉄の働きでニッケル鉄合金中に体心立方格子結
晶が生成される。体心立方格子結晶は磁気抵抗効果膜の
電気抵抗の減少に寄与する。同時に、体心立方格子結晶
は磁気抵抗効果膜の磁気抵抗効果(MR)比の改善に寄
与する。こうして、前述と同様に、磁気抵抗効果膜の微
細化が進んでも、磁気抵抗効果膜では温度上昇は十分に
回避されることができる。たとえ比較的に大きな電流値
でセンス電流が供給されても、磁気抵抗効果膜では特性
の劣化や破壊は極力回避されることができる。特に、ニ
ッケル鉄合金には、ニッケルの重量に対して0.99〜
1.26倍の重量で鉄が含まれることが望まれる。ニッ
ケル鉄合金にはニッケルおよび鉄以外の金属原子が含ま
れてもよい。
【0009】以上のような磁気抵抗効果膜では、軟磁性
層上に強磁性層が積層されてもよい。こういった磁気抵
抗効果膜では、軟磁性層および強磁性層は自由側強磁性
層として機能することができる。その他、軟磁性層上に
は磁化方向拘束層が積層されてもよい。この場合には、
磁気抵抗効果膜は、磁化方向拘束層に重ね合わせられる
固定側強磁性層と、固定側強磁性層に重ね合わせられる
非磁性中間層と、非磁性中間層に重ね合わせられる自由
側強磁性層とをさらに備えてもよい。このとき、自由側
強磁性層は、前述と同様に、面心立方格子結晶および体
心立方格子結晶を含むニッケル鉄合金で構成されてもよ
い。磁化方向拘束層は反強磁性層であればよい。
【0010】前述のような磁気抵抗効果膜は、例えばハ
ードディスク駆動装置(HDD)といった磁気記録媒体
駆動装置に組み込まれるヘッドスライダに搭載されても
よい。その他、前述の軟磁性膜や軟磁性膜および強磁性
層の組み合わせは磁気抵抗効果膜以外に利用されてもよ
い。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しつつ本発
明の一実施形態を説明する。
【0012】図1は磁気記録媒体駆動装置の一具体例す
なわちハードディスク駆動装置(HDD)11の内部構
造を概略的に示す。このHDD11は、例えば平たい直
方体の内部空間を区画する箱形の筐体本体12を備え
る。収容空間には、記録媒体としての1枚以上の磁気デ
ィスク13が収容される。磁気ディスク13はスピンド
ルモータ14の回転軸に装着される。スピンドルモータ
14は、例えば7200rpmや10000rpmとい
った高速度で磁気ディスク13を回転させることができ
る。筐体本体12には、筐体本体12との間で収容空間
を密閉する蓋体すなわちカバー(図示せず)が結合され
る。
【0013】収容空間には、垂直方向に延びる支軸15
回りで揺動するキャリッジ16がさらに収容される。こ
のキャリッジ16は、支軸15から水平方向に延びる剛
体の揺動アーム17と、この揺動アーム17の先端に取
り付けられて揺動アーム17から前方に延びる弾性サス
ペンション18とを備える。周知の通り、弾性サスペン
ション18の先端では、いわゆるジンバルばね(図示せ
ず)の働きで浮上ヘッドスライダ19は片持ち支持され
る。浮上ヘッドスライダ19には、磁気ディスク13の
表面に向かって弾性サスペンション18から押し付け力
が作用する。磁気ディスク13の回転に基づき磁気ディ
スク13の表面で生成される気流の働きで浮上ヘッドス
ライダ19には浮力が作用する。弾性サスペンション1
8の押し付け力と浮力とのバランスで磁気ディスク13
の回転中に比較的に高い剛性で浮上ヘッドスライダ19
は浮上し続けることができる。
【0014】こうした浮上ヘッドスライダ19の浮上中
に、キャリッジ16が支軸15回りで揺動すると、浮上
ヘッドスライダ19は半径方向に磁気ディスク13の表
面を横切ることができる。こうした移動に基づき浮上ヘ
ッドスライダ19は磁気ディスク13上の所望の記録ト
ラックに位置決めされる。このとき、キャリッジ16の
揺動は例えばボイスコイルモータ(VCM)といったア
クチュエータ21の働きを通じて実現されればよい。周
知の通り、複数枚の磁気ディスク13が筐体本体12内
に組み込まれる場合には、隣接する磁気ディスク13同
士の間で1本の揺動アーム17に対して2つの弾性サス
ペンション18が搭載される。
【0015】図2は浮上ヘッドスライダ19の一具体例
を示す。この浮上ヘッドスライダ19は、平たい直方体
に形成されるAl2 3 −TiC(アルチック)製のス
ライダ本体22と、このスライダ本体22の空気流出端
に接合されて、読み出し書き込みヘッド23を内蔵する
Al2 3 (アルミナ)製のヘッド素子内蔵膜24とを
備える。スライダ本体22およびヘッド素子内蔵膜24
には、磁気ディスク13に対向する媒体対向面すなわち
浮上面25が規定される。磁気ディスク13の回転に基
づき生成される気流26は浮上面25に受け止められ
る。
【0016】浮上面25には、空気流入端から空気流出
端に向かって延びる2筋のレール27が形成される。各
レール27の頂上面にはいわゆるABS(空気軸受け
面)28が規定される。ABS28では気流26の働き
に応じて前述の浮力が生成される。ヘッド素子内蔵膜2
4に埋め込まれた読み出し書き込みヘッド23は、後述
されるように、ABS28で前端を露出させる。ただ
し、ABS28の表面には、読み出し書き込みヘッド2
3の前端に覆い被さるDLC(ダイヤモンドライクカー
ボン)保護膜が形成されてもよい。なお、浮上ヘッドス
ライダ19の形態はこういった形態に限られるものでは
ない。
【0017】図3は浮上面25の様子を詳細に示す。読
み出し書き込みヘッド23はいわゆる複合薄膜磁気ヘッ
ドとして構成される。すなわち、読み出し書き込みヘッ
ド23は、磁気抵抗効果(MR)読み取り素子31と誘
導書き込みヘッド素子すなわち薄膜磁気ヘッド32とを
併せ持つ。MR読み取り素子31は、周知の通り、磁気
ディスク13から作用する磁界に応じて変化する抵抗に
基づき2値情報を検出することができる。誘導書き込み
ヘッド素子32は、例えば導電コイルパターン(図示せ
ず)で生起される磁界を利用して磁気ディスク13に2
値情報を書き込むことができる。
【0018】MR読み取り素子31は上下1対の非磁性
ギャップ層33、34に挟み込まれる。非磁性ギャップ
層33、34は例えばAl2 3 (アルミナ)で構成さ
れればよい。こうして非磁性ギャップ層33、34に挟
み込まれたMR読み取り素子31は上部および下部シー
ルド層35、36に挟み込まれる。上部および下部シー
ルド層35、36は例えばFeNやNiFeから構成さ
れればよい。下部シールド層36は、前述のヘッド素子
内蔵膜24の下側半層すなわちアンダーコート膜を構成
するAl2 3 (アルミナ)膜37の表面に沿って広が
る。
【0019】誘導書き込みヘッド素子32は、上部シー
ルド層35の表面に沿って広がる非磁性ギャップ層38
を備える。非磁性ギャップ層38は例えばAl2
3 (アルミナ)で構成されればよい。上部シールド層3
5には、この非磁性ギャップ層38を挟んで上部磁極層
39が向き合う。上部磁極層39は例えばNiFeから
構成されればよい。上部磁極層39は、非磁性ギャップ
層38の表面に沿って広がるAl2 3 (アルミナ)膜
40に覆われる。Al2 3 膜40は前述のAl23
膜との間にMR読み取り素子31および誘導書き込みヘ
ッド素子32を挟み込む。すなわち、このAl2 3
40はヘッド素子内蔵膜24の上側半層すなわちオーバ
ーコート膜を構成する。
【0020】上部磁極層39および上部シールド層35
は協働して誘導書き込みヘッド素子32の磁性コアを構
成する。すなわち、MR読み取り素子31の上部シール
ド層35は誘導書き込みヘッド素子32の下部磁極層と
して機能する。導電コイルパターンで磁界が生起される
と、非磁性ギャップ層38の働きで、上部磁極層39と
上部シールド層35とを行き交う磁束流は浮上面25か
ら漏れ出る。こうして漏れ出る磁束流に基づき書き込み
磁界(ギャップ磁界)は形成される。なお、MR読み取
り素子31の上部シールド層35と誘導書き込みヘッド
素子32の下部磁極層とは個別に形成されてもよい。
【0021】図4を併せて参照すると明らかなように、
MR読み取り素子31は、1平面すなわち非磁性ギャッ
プ層34の表面上でABS28に沿って延びる磁気抵抗
効果(MR)膜すなわちスピンバルブ膜41を備える。
このスピンバルブ膜41には、非磁性ギャップ層34の
表面に交差する区画面で仕切られた1対の端面が規定さ
れる。これら端面は非磁性ギャップ層34の表面に対し
てテーパ角θで傾斜する。
【0022】同様に、前述の1平面すなわち非磁性ギャ
ップ層34の表面にはABS28に沿って延びる1対の
磁区制御ハード膜42が形成される。これらの磁区制御
ハード膜42は非磁性ギャップ層34の表面でABS2
8に沿ってスピンバルブ膜41を挟み込む。各磁区制御
ハード膜42の先端はスピンバルブ膜41の端面に接続
される。磁区制御ハード膜42は例えばCoPtやCo
CrPtといった硬磁性金属材料から形成されればよ
い。
【0023】各磁区制御ハード膜42の表面には引き出
し導電層すなわちリード層43が広がる。引き出し導電
層43は磁区制御ハード膜42と上部シールド層35と
の間に挟み込まれる。各引き出し導電層43の前端は、
磁区制御ハード膜42の介在を通じてスピンバルブ膜4
1の各端面に接続される。スピンバルブ膜41には引き
出し導電層43からセンス電流が供給される。引き出し
導電層43は例えばCuといった導電率の高い材料から
形成されればよい。
【0024】図4から明らかなように、各引き出し導電
層43は、ABS28で露出する前端から非磁性ギャッ
プ層34の表面に沿って後方に広がる。各引き出し導電
層43の後端には個別に端子パッド44が連結される。
こういった端子パッド44は引き出し導電層43の表面
に沿って広がればよい。これらの端子パッド44は、浮
上ヘッドスライダ19が弾性サスペンション18に固定
される際に、例えばAuボール(図示せず)などを通じ
て弾性サスペンション18側の端子パッド(図示せず)
に接続される。
【0025】図5は本発明の第1実施形態に係るスピン
バルブ膜41を示す。このスピンバルブ膜41はいわゆ
る順積層構造に構成される。すなわち、スピンバルブ膜
41は、非磁性ギャップ層34の表面に積層される下地
層45を備える。この下地層45は例えばTa層で構成
されればよい。
【0026】この下地層45の表面には自由側強磁性層
(free layer)47が重ね合わせられる。こ
の自由側強磁性層47は、下地層45の表面に積層され
るニッケル鉄合金層(NiFe層)47aと、NiFe
層47aの表面に積層されるCoFeB強磁性層47b
とを備える。NiFe層47aでは、面心立方格子(f
cc)結晶だけでなく体心立方格子(bcc)結晶が形
成される。体心立方格子結晶は面心立方格子結晶よりも
少ない割合でNiFe層47aに含まれる。体心立方格
子結晶の重量比が面心立方結晶のそれを上回らない限
り、NiFe層47aには確実に軟磁性が確立される。
NiFe層47aは少なくとも160nm程度の膜厚を
備えればよい。CoFeB強磁性層47bでは軟磁性が
確立される。
【0027】自由側強磁性層47の表面には非磁性中間
層48が積層される。非磁性中間層48は例えばCuと
いった導電金属材料から形成されればよい。非磁性中間
層48の表面には固定側強磁性層(pinned la
yer)49が重ね合わせられる。この固定側強磁性層
49は例えば2層構造のCoFeB層49a、49bを
備えればよい。このとき、CoFeB層49a、49b
同士の間には例えばRu層といった結合層49cが挟み
込まれる。こういった固定側強磁性層49では軟磁性は
確立される。ただし、固定側強磁性層49にはその他の
材料が用いられてもよい。
【0028】固定側強磁性層49の表面には磁化方向拘
束層(pinning layer)51が重ね合わせ
られる。この磁化方向拘束層46は、例えばPdPtM
nやFeMnといった反強磁性合金材料から形成されて
もよく、任意の硬磁性材料から形成されてもよい。この
磁化方向拘束層51の働きに応じて固定側強磁性層49
の磁化方向は固定される。磁化方向拘束層51の表面は
保護層52で覆われてもよい。保護層52は、Cu層5
2aと、このCu層52a上に形成されるキャップ層す
なわちTa層52bとを備えればよい。
【0029】磁気情報の読み出しにあたってMR読み取
り素子31が磁気ディスク13の表面に向き合わせられ
ると、スピンバルブ膜41では、周知の通り、磁気ディ
スク13から作用する磁界の向きに応じて自由側強磁性
層47の磁化方向は回転する。こうして自由側強磁性層
47の磁化方向が回転すると、スピンバルブ膜41の電
気抵抗は大きく変化する。したがって、引き出し導電層
43からスピンバルブ膜41にセンス電流が供給される
と、電気抵抗の変化に応じて、端子パッド44から取り
出される電気信号のレベルは変化する。このレベルの変
化に応じて2値情報は読み取られることができる。
【0030】このとき、以上のようなスピンバルブ膜4
1では、前述のNiFe層47aの働きで電気抵抗値は
低減される。したがって、スピンバルブ膜41の微細化
が進んでも、スピンバルブ膜41では温度上昇は十分に
回避されることができる。たとえ比較的に大きな電流値
でセンス電流が供給されても、スピンバルブ膜41では
特性の劣化や破壊は極力回避されることができる。セン
ス電流の電流値が高く設定されれば、端子パッド44か
ら取り出される電圧変化の振幅すなわち電圧変化量は増
大する。磁気情報は常に正確に磁気ディスク13から読
み出されることができる。
【0031】本発明者は前述のスピンバルブ膜41の特
性を検証した。この検証にあたって発明者は、真空空間
内で任意のウェハー上に所定の膜厚で順番にTa層、N
iFe層47a、CoFeB層47b、Cu層、CoF
eB層、Ru層、CoFeB層、PdPtMn層、Cu
層およびTa層を堆積させた。堆積にあたってスパッタ
リングが用いられた。NiFe層47aの積層にあたっ
てスパッタリングのターゲットにはNi50Fe50(重量
%)の合金塊が用いられた。すなわち、NiFe層47
aでニッケルおよび鉄の重量比は約1対1.08に設定
された。Ni48Fe52層は形成された。堆積後、PdP
tMn層は熱処理に基づき規則化された。こうしてスピ
ンバルブ膜41の一具体例は作成された。作成されたス
ピンバルブ膜41の電気抵抗値(いわゆるシート抵抗)
ρ/t[Ω]、磁気抵抗効果(MR)比[%]、磁気結
合磁界(いわゆるピン止め磁界)Hua[kA/m]お
よび磁気結合磁界Hin[A/m]は測定された。
【0032】本発明者は比較例に係るスピンバルブ膜を
用意した。この比較例では、前述と同様にスピンバルブ
膜は積層形成された。ただし、NiFe層の積層にあた
ってスパッタリングのターゲットにはNi77Fe23(重
量%)の合金塊が用いられた。この比較例ではNiFe
層でニッケルおよび鉄の重量比は3対1に設定された。
すなわち、比較例に係るスピンバルブ膜ではNi75Fe
25層が形成された。比較例に係るスピンバルブ膜で、同
様に、電気抵抗値ρ/t[Ω]、MR比[%]、磁気結
合磁界Hua[kA/m]および磁気結合磁界Hin
[A/m]が測定された。
【0033】
【表1】
【0034】[表1]から明らかなように、本発明の具
体例に係るスピンバルブ膜41では、比較例に係るスピ
ンバルブ膜に比べて電気抵抗値ρ/tは低減された。し
かも、具体例に係るスピンバルブ膜41では、比較例に
係るスピンバルブ膜に比べてMR比は相当程度に改善し
た。同様に、具体例に係るスピンバルブ膜41では、比
較例に係るスピンバルブ膜に比べて良好な磁気結合磁界
Huaが確立された。反強磁性層との間で十分な磁気結
合が確立されることが確認された。磁気結合磁界Hin
は大幅に低減された。
【0035】なお、以上のようなスピンバルブ膜41で
は、50原子%未満の割合で、例えばIr、Ruおよび
Crといった金属原子がFeNi層47aにさらに添加
されてもよい。こういった金属原子の添加にも拘わら
ず、スピンバルブ膜41では、電気抵抗値ρ/tの低減
やMR比の改善は確認された。
【0036】図6は本発明の第2実施形態に係るスピン
バルブ膜41aを示す。このスピンバルブ膜41aはい
わゆる逆積層構造に構成される。すなわち、スピンバル
ブ膜41aは、非磁性ギャップ層34の表面に積層され
る下地層55を備える。この下地層55は、Ta層55
aと、このTa層55aの表面に積層されるニッケル鉄
合金層(NiFe層)55bとで構成されればよい。こ
のNiFe層55bでは、前述と同様に、面心立方格子
(fcc)結晶だけでなく体心立方格子(bcc)結晶
が形成される。体心立方格子結晶は面心立方格子結晶よ
りも少ない割合でNiFe層55bに含まれる。体心立
方格子結晶の重量比が面心立方結晶のそれを上回らない
限り、NiFe層55bには確実に軟磁性が確立され
る。NiFe層55bは少なくとも160nm程度の膜
厚を備えればよい。
【0037】下地層55の表面には磁化方向拘束層56
が積層される。この磁化方向拘束層56は、例えばPd
PtMnやFeMnといった反強磁性合金材料から形成
されてもよく、任意の硬磁性材料から形成されてもよ
い。磁化方向拘束層56の表面には固定側強磁性層57
が積層される。固定側強磁性層57は例えばCoFeB
といった強磁性材料から形成されればよい。磁化方向拘
束層56の働きに応じて固定側強磁性層57の磁化方向
は固定される。
【0038】固定側強磁性層57の表面には非磁性中間
層58が積層される。非磁性中間層58は例えばCuと
いった導電金属材料から形成されればよい。非磁性中間
層58の表面には自由側強磁性層59が積層される。自
由側強磁性層59は、非磁性中間層58の表面に広がる
CoFeB層59aと、このCoFeB層59aの表面
に広がるNiFe層59bとで構成されればよい。Ni
Fe層59bでは、前述と同様に、面心立方格子結晶よ
りも少ない割合で体心立方格子結晶が形成されてもよ
い。自由側強磁性層59の表面は保護層61で覆われて
もよい。保護層61は、Cu層61aと、このCu層6
1a上に形成されるキャップ層すなわちTa層61bと
を備えればよい。
【0039】本発明者はスピンバルブ膜41aの特性を
検証した。この検証にあたって発明者は、真空空間内で
任意のウェハー上に所定の膜厚で順番にTa層、NiF
e層55b、PdPtMn層、CoFeB層、Cu層、
CoFeB層、NiFe層、Cu層およびTa層を堆積
させた。堆積にあたってスパッタリングが用いられた。
堆積後、PdPtMn層は熱処理に基づき規則化され
た。こうして作成されたスピンバルブ膜41aの電気抵
抗値(いわゆるシート抵抗)ρ/t[Ω]および磁気抵
抗効果(MR)比[%]は測定された。この検証では、
複数の具体例が個別に用意された。個々の具体例ごとに
ニッケルに対する鉄の重量比は個別に設定された。
【0040】図7から明らかなように、鉄の重量比がニ
ッケルの重量に対して概ね0.3〜1.15倍であれ
ば、スピンバルブ膜41aの電気抵抗値は減少すること
が確認された。このとき、スピンバルブ膜41aのMR
比は改善されることが確認された。同時に、本発明者
は、ニッケル鉄合金の相図に照らして図7の結果を再検
討した。その結果、電気抵抗値の低減およびMR比の改
善は、ニッケル鉄合金中に生成される体心立方格子結晶
の割合に依存することが確認された。図8から明らかな
ように、ニッケル鉄合金では、例えば鉄の原子比が29
原子%(重量比0.39重量%)を越えると体心立方格
子結晶(bcc)が存在し始める。鉄の重量比の増大に
伴ってニッケル鉄合金中で体心立方格子結晶の割合は増
大していく。(γFe,Ni)のキュリー温度Tcから
明らかなように、鉄の原子比が57原子%(重量比1.
26重量%)を越えると、体心立方格子結晶がFeNi
3 の面心立方格子結晶(fcc)よりも支配的になる。
その結果、鉄の重量比が増大してもキュリー温度Tcは
一定値を示す。図7および図8を比較すると明らかなよ
うに、鉄の原子比が29〜57原子%(重量比0.39
〜1.26重量%)の範囲で電気抵抗値の低減およびM
R比の改善は実現されることが容易に想像される。特
に、鉄の原子比が51〜57原子%(重量比0.99〜
1.26重量%)の範囲で電気抵抗値の低減およびMR
比の改善は実現されることが容易に想像される。
【0041】(付記1) 面心立方格子結晶および体心
立方格子結晶を含むニッケル鉄合金で構成される軟磁性
層を備えることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0042】(付記2) 付記1に記載の磁気抵抗効果
膜において、前記体心立方格子結晶は、前記面心立方格
子結晶よりも少ない割合で軟磁性層に含まれることを特
徴とする磁気抵抗効果膜。
【0043】(付記3) 付記1または2に記載の磁気
抵抗効果膜において、前記軟磁性層上には強磁性層が積
層されることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0044】(付記4) 付記3に記載の磁気抵抗効果
膜において、前記軟磁性層および強磁性層は自由側強磁
性層であることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0045】(付記5) 付記1または2に記載の磁気
抵抗効果膜において、前記軟磁性層には磁化方向拘束層
が積層されることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0046】(付記6) 付記5に記載の磁気抵抗効果
膜において、前記磁化方向拘束層は反強磁性層であるこ
とを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0047】(付記7) 付記5または6に記載の磁気
抵抗効果膜において、前記磁化方向拘束層に重ね合わせ
られる固定側強磁性層と、固定側強磁性層に重ね合わせ
られる非磁性中間層と、非磁性中間層に重ね合わせられ
る自由側強磁性層とをさらに備え、自由側強磁性層は、
面心立方格子結晶および体心立方格子結晶を含むニッケ
ル鉄合金で構成されることを特徴とする磁気抵抗効果
膜。
【0048】(付記8) 付記1〜7のいずれかに記載
の磁気抵抗効果膜において、前記ニッケル鉄合金には、
前記ニッケルおよび鉄以外の金属原子が含まれることを
特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0049】(付記9) ニッケルの重量に対して0.
39〜1.26倍の重量で鉄を含むニッケル鉄合金で構
成される軟磁性層を備えることを特徴とする磁気抵抗効
果膜。
【0050】(付記10) 付記9に記載の磁気抵抗効
果膜において、前記ニッケル鉄合金は、ニッケルの重量
に対して0.99〜1.26倍の重量で鉄を含むことを
特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0051】(付記11) 付記9または10に記載の
磁気抵抗効果膜において、前記軟磁性層上には強磁性層
が積層されることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0052】(付記12) 付記11に記載の磁気抵抗
効果膜において、前記軟磁性層および強磁性層は自由側
強磁性層であることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0053】(付記13) 付記9または10に記載の
磁気抵抗効果膜において、前記軟磁性層には磁化方向拘
束層が積層されることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0054】(付記14) 付記13に記載の磁気抵抗
効果膜において、前記磁化方向拘束層は反強磁性層であ
ることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0055】(付記15) 付記13または14に記載
の磁気抵抗効果膜において、前記磁化方向拘束層に重ね
合わせられる固定側強磁性層と、固定側強磁性層に重ね
合わせられる非磁性中間層と、非磁性中間層に重ね合わ
せられる自由側強磁性層とをさらに備え、自由側強磁性
層は、面心立方格子結晶および体心立方格子結晶を含む
ニッケル鉄合金で構成されることを特徴とする磁気抵抗
効果膜。
【0056】(付記16) 付記9〜15のいずれかに
記載の磁気抵抗効果膜において、前記ニッケル鉄合金に
は、前記ニッケルおよび鉄以外の金属原子が含まれるこ
とを特徴とする磁気抵抗効果膜。
【0057】(付記17) スライダ本体と、スライダ
本体上に形成される読み出しヘッドに組み込まれる磁気
抵抗効果膜とを備え、磁気抵抗効果膜には、面心立方格
子結晶および体心立方格子結晶を含むニッケル鉄合金で
構成される軟磁性層が含まれることを特徴とするヘッド
スライダ。
【0058】(付記18) 付記17に記載のヘッドス
ライダにおいて、前記体心立方格子結晶は、前記面心立
方格子結晶よりも少ない割合で軟磁性層に含まれること
を特徴とするヘッドスライダ。
【0059】(付記19) 面心立方格子結晶および体
心立方格子結晶を含むニッケル鉄合金を備えることを特
徴とする軟磁性膜。
【0060】(付記20) 付記19に記載の軟磁性膜
において、前記体心立方格子結晶は、前記面心立方格子
結晶よりも少ない割合で含まれることを特徴とする軟磁
性膜。
【0061】(付記21) 付記20に記載の軟磁性膜
において、前記ニッケル鉄合金は、ニッケルの重量に対
して0.39〜1.26倍の重量で鉄を含むことを特徴
とする軟磁性膜。
【0062】(付記22) 付記21に記載の軟磁性膜
において、前記ニッケル鉄合金は、ニッケルの重量に対
して0.99〜1.26倍の重量で鉄を含むことを特徴
とする軟磁性膜。
【0063】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、磁気抵抗
効果膜では電気抵抗の低減は実現されることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 ハードディスク駆動装置(HDD)の内部構
造を概略的に示す平面図である。
【図2】 浮上ヘッドスライダの一具体例を示す拡大斜
視図である。
【図3】 浮上面で観察される読み出し書き込みヘッド
の様子を概略的に示す正面図である。
【図4】 磁気抵抗効果(MR)読み取り素子の拡大平
面図である。
【図5】 本発明の第1実施形態に係るスピンバルブ膜
の構造を概略的に示す拡大正面図である。
【図6】 本発明の第2実施形態に係るスピンバルブ膜
の構造を概略的に示す拡大正面図である。
【図7】 ニッケルの重量に対する鉄の重量比と、抵抗
値やMR比との関係を示すグラフである。
【図8】 ニッケル鉄合金の相図である。
【符号の説明】
19 ヘッドスライダ、22 スライダ本体、31 読
み出しヘッドとしての磁気抵抗効果(MR)読み取り素
子、41、41a 磁気抵抗効果膜としてのスピンバル
ブ膜、47 自由側強磁性層、47a、軟磁性層、47
b 強磁性層、55b 軟磁性層、56 磁化方向拘束
層としての反強磁性層、57 固定側強磁性層、58
非磁性中間層、59 自由側強磁性層。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 面心立方格子結晶および体心立方格子結
    晶を含むニッケル鉄合金で構成される軟磁性層を備える
    ことを特徴とする磁気抵抗効果膜。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の磁気抵抗効果膜におい
    て、前記体心立方格子結晶は、前記面心立方格子結晶よ
    りも少ない割合で軟磁性層に含まれることを特徴とする
    磁気抵抗効果膜。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の磁気抵抗効果
    膜において、前記軟磁性層上には強磁性層が積層される
    ことを特徴とする磁気抵抗効果膜。
  4. 【請求項4】 請求項1または2に記載の磁気抵抗効果
    膜において、前記軟磁性層には磁化方向拘束層が積層さ
    れることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
  5. 【請求項5】 ニッケルの重量に対して0.39〜1.
    26倍の重量で鉄を含むニッケル鉄合金で構成される軟
    磁性層を備えることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014140077A (ja) * 2009-11-27 2014-07-31 Nec Corp 磁気抵抗効果素子及び磁気ランダムアクセスメモリの製造方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3699716B2 (ja) * 2003-09-30 2005-09-28 Tdk株式会社 磁気ヘッド及びその製造方法、並びに、ヘッドサスペンションアセンブリ及び磁気ディスク装置
US7190560B2 (en) * 2004-02-18 2007-03-13 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Self-pinned CPP sensor using Fe/Cr/Fe structure
US7221545B2 (en) 2004-02-18 2007-05-22 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. High HC reference layer structure for self-pinned GMR heads
CN1315641C (zh) * 2004-11-30 2007-05-16 北京科技大学 一种镍铁薄膜及其制备方法
JP4673274B2 (ja) * 2006-09-11 2011-04-20 ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ 外部ストレス耐性の高い磁気抵抗効果型ヘッド
JP5003109B2 (ja) * 2006-11-14 2012-08-15 富士通株式会社 強磁性トンネル接合素子、その製造方法、及びそれを用いた磁気ヘッド、磁気メモリ
CN102290193B (zh) * 2011-05-13 2012-11-07 北京科技大学 一种高磁电阻值NiFe薄膜材料及其制备方法
US8829901B2 (en) * 2011-11-04 2014-09-09 Honeywell International Inc. Method of using a magnetoresistive sensor in second harmonic detection mode for sensing weak magnetic fields

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5051856A (en) * 1988-10-14 1991-09-24 Hitachi, Ltd. Thin film magnetic head with mixed crystal structures
US5764567A (en) * 1996-11-27 1998-06-09 International Business Machines Corporation Magnetic tunnel junction device with nonferromagnetic interface layer for improved magnetic field response
JP3327375B2 (ja) * 1996-04-26 2002-09-24 富士通株式会社 磁気抵抗効果型トランスデューサ、その製造方法及び磁気記録装置
US6120818A (en) * 1997-06-04 2000-09-19 Hydrodyne Incorporated Treatment of meat by capacitor discharge
JP2821456B1 (ja) * 1997-07-03 1998-11-05 学校法人早稲田大学 コバルト・鉄・ニッケル磁性薄膜とその製造方法,及びそれを用いた複合型薄膜磁気ヘッドと磁気記憶装置
JP3833362B2 (ja) * 1997-10-01 2006-10-11 富士通株式会社 磁気抵抗効果型ヘッド
JP3263016B2 (ja) * 1997-10-20 2002-03-04 アルプス電気株式会社 スピンバルブ型薄膜素子
JPH11243238A (ja) 1998-02-26 1999-09-07 Hitachi Metals Ltd 磁気抵抗素子
US6127053A (en) * 1998-05-27 2000-10-03 International Business Machines Corporation Spin valves with high uniaxial anisotropy reference and keeper layers
US6295187B1 (en) * 1999-06-29 2001-09-25 International Business Machines Corporation Spin valve sensor with stable antiparallel pinned layer structure exchange coupled to a nickel oxide pinning layer
US6469875B1 (en) * 2000-03-15 2002-10-22 Headway Technologies, Inc. Stitched write head design having a sunken shared pole
US6650512B1 (en) * 2000-03-21 2003-11-18 International Business Machines Corporation GMR coefficient enhancement of a spin valve structure
US20030168873A1 (en) * 2000-07-12 2003-09-11 Mario Lanfranchi Head for transferring containers, in particular bottles, within a palletiser
JP3249502B1 (ja) * 2000-12-27 2002-01-21 ティーディーケイ株式会社 コバルト・ニッケル・鉄合金薄膜およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
US7050275B2 (en) * 2001-02-20 2006-05-23 Alps Electric Co., Ltd. Exchange coupled film having improved current-carrying reliability and improved rate of change in resistance and magnetic sensing element using same
JP4024499B2 (ja) * 2001-08-15 2007-12-19 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気再生装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014140077A (ja) * 2009-11-27 2014-07-31 Nec Corp 磁気抵抗効果素子及び磁気ランダムアクセスメモリの製造方法

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