JP2003209222A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2003209222A5
JP2003209222A5 JP2002317262A JP2002317262A JP2003209222A5 JP 2003209222 A5 JP2003209222 A5 JP 2003209222A5 JP 2002317262 A JP2002317262 A JP 2002317262A JP 2002317262 A JP2002317262 A JP 2002317262A JP 2003209222 A5 JP2003209222 A5 JP 2003209222A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
electrically connected
array
substrate
bus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002317262A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003209222A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US09/984,934 external-priority patent/US6504742B1/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2003209222A publication Critical patent/JP2003209222A/ja
Publication of JP2003209222A5 publication Critical patent/JP2003209222A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (10)

  1. メモリ面(200)であって、
    基板(110)と、
    該基板(110)上に形成されている複数のアレイ選択線(150)と、
    前記基板(110)上に形成され、前記メモリ面(200)の動作を許可/禁止するように構成されている面イネーブル回路(250)と、
    該面イネーブル回路(250)に電気的に接続されている面選択線(270)と、
    前記基板(110)上に形成されている1つあるいは複数のメモリアレイ(100)とを含み、少なくとも1つのメモリアレイ(100)が、
    前記基板(110)上に形成され、行方向に延在する1つあるいは複数の行導体(120)と、
    前記基板(110)上に形成され、列方向に延在する1つあるいは複数の列導体(130)であって、前記行導体(120)と前記列導体(130)との間の交差する各場所において交点が形成されている、1つあるいは複数の列導体と、
    前記交点のうちの1つあるいは複数に形成されているメモリセル(140)と、
    前記メモリアレイ(100)の動作を許可/禁止するように構成され、前記複数のアレイ選択線(150)のうちの少なくとも1つに電気的に接続されているアレイイネーブル回路(170)とを含むメモリ面。
  2. 前記1つあるいは複数のメモリアレイの前記1つあるいは複数の行導体(120)に電気的に接続されている行方向バス(210)と、
    前記1つあるいは複数のメモリアレイ(100)の前記1つあるいは複数の列導体(130)に電気的に接続されている列方向バス(220)とをさらに含む請求項1に記載のメモリ面。
  3. 前記基板(110)がシリコン系基板であり、前記1つあるいは複数のメモリアレイ(100)がそれぞれ、センス増幅器、出力バッファ、復号器およびマルチプレクサを含まない請求項1に記載のメモリ面。
  4. 前記基板(110)が非シリコン系基板であり、プラスチック、ガラス、セラミックおよび非金属のうちの少なくとも1つからなるベース材料から形成されている請求項1に記載のメモリ面。
  5. 前記メモリセル(140)が、ヒューズメモリセル、ヒューズ/ダイオードメモリセル、ヒューズ/アンチヒューズメモリセル、磁気メモリセル、ダイオードメモリセル、磁気/ダイオードメモリセル、相変化メモリセルおよび抵抗素子セルのうちの少なくとも1つを含む請求項1に記載のメモリ面。
  6. メモリ素子(300)であって、
    能動回路面(390)と、
    該能動回路面(390)に電気的に接続されているデータバス(310)と、
    前記能動回路面(390)に電気的に接続されている面選択バス(340)と、
    前記能動回路面(390)に電気的に接続されているアレイ選択バス(330)と、
    前記能動回路面(390)上に積重されている1つあるいは複数のメモリ面(200)とを含み、少なくとも1つのメモリ面(200)が、
    基板(110)と、
    該基板(110)上に形成され、前記アレイ選択バス(330)に電気的に接続されている複数のアレイ選択線(150)と、
    前記メモリ面(200)の動作を許可/禁止するように構成されている面イネーブル回路(250)と、
    該面イネーブル回路(250)と、前記面選択バス(340)とに電気的に接続されている面選択線(270)と、
    前記基板(110)上に形成されている1つあるいは複数のメモリアレイ(100)とを含み、少なくとも1つのメモリアレイ(100)が、
    前記基板(110)上に形成され、行方向に延在する1つあるいは複数の行導体(120)と、
    前記基板(110)上に形成され、列方向に延在する1つあるいは複数の列導体(130)であって、前記行導体(120)と前記列導体(130)との間の交差する各場所において交点が形成されている、1つあるいは複数の列導体と、
    前記交点のうちの1つあるいは複数に形成されているメモリセル(140)と、
    前記メモリアレイ(100)の動作を許可/禁止するように構成され、前記複数のアレイ選択線(150)のうちの少なくとも1つに電気的に接続されているアレイイネーブル回路(170)とを含むメモリ素子。
  7. 前記少なくとも1つのメモリ面(200)がさらに、
    前記1つあるいは複数のメモリアレイの前記1つあるいは複数の行導体(120)に電気的に接続されている行方向バス(210)と、
    前記1つあるいは複数のメモリアレイの前記1つあるいは複数の列導体(130)に電気的に接続されている列方向バス(220)とを含む請求項6に記載のメモリ素子。
  8. 前記少なくとも1つのメモリ面(200)がさらに、
    前記行方向バス(210)および前記列方向バス(220)に電気的に接続されている複数のデータ側面コンタクトパッド(310)と、
    前記アレイ選択線(150)に電気的に接続されている複数のアレイ選択側面コンタクトパッド(330)と、
    前記面選択線(270)に電気的に接続されている面選択側面コンタクトパッド(340)とのうちの少なくとも1つを含む請求項7に記載のメモリ素子。
  9. 前記複数のデータ側面コンタクトパッド(310)が、前記データバス(310)に位置合わせされ、かつ電気的に接続され、かつ/または、
    前記複数のアレイ選択側面コンタクトパッド(330)が、前記アレイ選択バス(330)に位置合わせされ、かつ電気的に接続され、かつ/または、
    前記面選択側面コンタクトパッド(340)が、前記面選択バス(340)のラインと電気的に接続されている請求項8に記載のメモリ素子。
  10. 前記メモリ面(200)の前記複数のアレイ選択線(150)が、前記アレイ選択バス(330)を形成するように電気的に接続されている請求項6に記載のメモリ素子。
JP2002317262A 2001-10-31 2002-10-31 大記憶容量のための3−dメモリ素子 Pending JP2003209222A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/984934 2001-10-31
US09/984,934 US6504742B1 (en) 2001-10-31 2001-10-31 3-D memory device for large storage capacity

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003209222A JP2003209222A (ja) 2003-07-25
JP2003209222A5 true JP2003209222A5 (ja) 2005-05-12

Family

ID=25531039

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002317262A Pending JP2003209222A (ja) 2001-10-31 2002-10-31 大記憶容量のための3−dメモリ素子

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6504742B1 (ja)
EP (1) EP1308958B1 (ja)
JP (1) JP2003209222A (ja)
KR (1) KR100895073B1 (ja)
CN (1) CN1417861A (ja)
DE (1) DE60208310T2 (ja)

Families Citing this family (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1406187A4 (en) * 2001-07-11 2007-05-02 Riken METHOD FOR STORING ENTITY DATA INCORPORATING FORM AND PHYSICAL QUANTITY AND STORAGE PROGRAM
JP4346021B2 (ja) 2001-08-16 2009-10-14 独立行政法人理化学研究所 V−cadデータを用いたラピッドプロトタイピング方法と装置
US7333104B2 (en) 2001-12-04 2008-02-19 Riken Method and program of converting three-dimensional shape data into cell internal data
WO2003073335A1 (fr) 2002-02-28 2003-09-04 Riken Procede et programme de conversion de donnees frontieres en forme a l'interieur d'une cellule
US6643159B2 (en) * 2002-04-02 2003-11-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Cubic memory array
US6856030B2 (en) * 2002-07-08 2005-02-15 Viciciv Technology Semiconductor latches and SRAM devices
US7064018B2 (en) * 2002-07-08 2006-06-20 Viciciv Technology Methods for fabricating three dimensional integrated circuits
US20040004239A1 (en) * 2002-07-08 2004-01-08 Madurawe Raminda U. Three dimensional integrated circuits
US7112994B2 (en) * 2002-07-08 2006-09-26 Viciciv Technology Three dimensional integrated circuits
US6998722B2 (en) * 2002-07-08 2006-02-14 Viciciv Technology Semiconductor latches and SRAM devices
US20040004251A1 (en) * 2002-07-08 2004-01-08 Madurawe Raminda U. Insulated-gate field-effect thin film transistors
US6828689B2 (en) * 2002-07-08 2004-12-07 Vi Ci Civ Semiconductor latches and SRAM devices
US20040018711A1 (en) * 2002-07-08 2004-01-29 Madurawe Raminda U. Methods for fabricating three dimensional integrated circuits
US7673273B2 (en) * 2002-07-08 2010-03-02 Tier Logic, Inc. MPGA products based on a prototype FPGA
US7129744B2 (en) * 2003-10-23 2006-10-31 Viciciv Technology Programmable interconnect structures
US7064579B2 (en) * 2002-07-08 2006-06-20 Viciciv Technology Alterable application specific integrated circuit (ASIC)
US6992503B2 (en) 2002-07-08 2006-01-31 Viciciv Technology Programmable devices with convertibility to customizable devices
US7312109B2 (en) * 2002-07-08 2007-12-25 Viciciv, Inc. Methods for fabricating fuse programmable three dimensional integrated circuits
US7812458B2 (en) * 2007-11-19 2010-10-12 Tier Logic, Inc. Pad invariant FPGA and ASIC devices
US8643162B2 (en) * 2007-11-19 2014-02-04 Raminda Udaya Madurawe Pads and pin-outs in three dimensional integrated circuits
JP4377817B2 (ja) * 2003-03-18 2009-12-02 株式会社東芝 プログラマブル抵抗メモリ装置
US7778062B2 (en) * 2003-03-18 2010-08-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Resistance change memory device
US7394680B2 (en) * 2003-03-18 2008-07-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Resistance change memory device having a variable resistance element with a recording layer electrode served as a cation source in a write or erase mode
US7400522B2 (en) * 2003-03-18 2008-07-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Resistance change memory device having a variable resistance element formed of a first and second composite compound for storing a cation
EP1609186B1 (en) * 2003-04-03 2010-09-08 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Cubic memory array and method of manufacturing
JP4381743B2 (ja) 2003-07-16 2009-12-09 独立行政法人理化学研究所 境界表現データからボリュームデータを生成する方法及びそのプログラム
US6961263B2 (en) * 2003-09-08 2005-11-01 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Memory device with a thermally assisted write
US7030651B2 (en) 2003-12-04 2006-04-18 Viciciv Technology Programmable structured arrays
US7176713B2 (en) * 2004-01-05 2007-02-13 Viciciv Technology Integrated circuits with RAM and ROM fabrication options
JP4399777B2 (ja) * 2004-01-21 2010-01-20 セイコーエプソン株式会社 半導体記憶装置、半導体装置、及び電子機器
KR100564611B1 (ko) * 2004-02-14 2006-03-29 삼성전자주식회사 하드 디스크 드라이브의 완충 구조체
US7112815B2 (en) 2004-02-25 2006-09-26 Micron Technology, Inc. Multi-layer memory arrays
US7489164B2 (en) * 2004-05-17 2009-02-10 Raminda Udaya Madurawe Multi-port memory devices
JP4662740B2 (ja) 2004-06-28 2011-03-30 日本電気株式会社 積層型半導体メモリ装置
US7554873B2 (en) * 2005-03-21 2009-06-30 Macronix International Co., Ltd. Three-dimensional memory devices and methods of manufacturing and operating the same
US7359279B2 (en) * 2005-03-31 2008-04-15 Sandisk 3D Llc Integrated circuit memory array configuration including decoding compatibility with partial implementation of multiple memory layers
JP4783100B2 (ja) 2005-09-12 2011-09-28 独立行政法人理化学研究所 境界データのセル内形状データへの変換方法とその変換プログラム
KR100855861B1 (ko) * 2005-12-30 2008-09-01 주식회사 하이닉스반도체 비휘발성 반도체 메모리 장치
US20070183189A1 (en) * 2006-02-08 2007-08-09 Thomas Nirschl Memory having nanotube transistor access device
US7486111B2 (en) * 2006-03-08 2009-02-03 Tier Logic, Inc. Programmable logic devices comprising time multiplexed programmable interconnect
US7345899B2 (en) * 2006-04-07 2008-03-18 Infineon Technologies Ag Memory having storage locations within a common volume of phase change material
JP2007322141A (ja) * 2006-05-30 2007-12-13 Yokogawa Electric Corp 半導体集積回路試験装置及び方法
JP2008140220A (ja) * 2006-12-04 2008-06-19 Nec Corp 半導体装置
US7692951B2 (en) * 2007-06-12 2010-04-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Resistance change memory device with a variable resistance element formed of a first and a second composite compound
US8679977B2 (en) * 2007-07-25 2014-03-25 Micron Technology, Inc. Method and apparatus providing multi-planed array memory device
US7898893B2 (en) 2007-09-12 2011-03-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Multi-layered memory devices
KR101330710B1 (ko) 2007-11-01 2013-11-19 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치
US7635988B2 (en) * 2007-11-19 2009-12-22 Tier Logic, Inc. Multi-port thin-film memory devices
US20090128189A1 (en) * 2007-11-19 2009-05-21 Raminda Udaya Madurawe Three dimensional programmable devices
US7795913B2 (en) * 2007-12-26 2010-09-14 Tier Logic Programmable latch based multiplier
US7573294B2 (en) * 2007-12-26 2009-08-11 Tier Logic, Inc. Programmable logic based latches and shift registers
US7602213B2 (en) * 2007-12-26 2009-10-13 Tier Logic, Inc. Using programmable latch to implement logic
US7573293B2 (en) * 2007-12-26 2009-08-11 Tier Logic, Inc. Programmable logic based latches and shift registers
US8230375B2 (en) 2008-09-14 2012-07-24 Raminda Udaya Madurawe Automated metal pattern generation for integrated circuits
KR20100038986A (ko) * 2008-10-07 2010-04-15 삼성전자주식회사 산화물 박막 트랜지스터를 포함하는 적층 메모리 장치
KR20100040580A (ko) 2008-10-10 2010-04-20 성균관대학교산학협력단 적층 메모리 소자
US8023307B1 (en) 2010-04-30 2011-09-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Peripheral signal handling in extensible three dimensional circuits
US8159266B1 (en) 2010-11-16 2012-04-17 Raminda Udaya Madurawe Metal configurable integrated circuits
US8159268B1 (en) 2010-11-16 2012-04-17 Raminda Udaya Madurawe Interconnect structures for metal configurable integrated circuits
US8159265B1 (en) 2010-11-16 2012-04-17 Raminda Udaya Madurawe Memory for metal configurable integrated circuits
TWI614747B (zh) * 2011-01-26 2018-02-11 半導體能源研究所股份有限公司 記憶體裝置及半導體裝置
US9076505B2 (en) 2011-12-09 2015-07-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device
US9117503B2 (en) 2012-08-29 2015-08-25 Micron Technology, Inc. Memory array plane select and methods
US20150287706A1 (en) * 2012-10-24 2015-10-08 Mitsunari Sukekawa Semiconductor device and method for manufacturing the same
CN103022071B (zh) * 2012-12-13 2015-06-17 南京大学 一种柔性存储器及制造方法
CN106920797B (zh) * 2017-03-08 2018-10-12 长江存储科技有限责任公司 存储器结构及其制备方法、存储器的测试方法
US10833059B2 (en) * 2018-12-07 2020-11-10 Micron Technology, Inc. Integrated assemblies comprising vertically-stacked decks of memory arrays
KR20210109593A (ko) * 2020-02-20 2021-09-06 양쯔 메모리 테크놀로지스 씨오., 엘티디. 다중 평면 메모리 소자를 프로그래밍하는 방법

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6220043A (ja) * 1985-07-19 1987-01-28 Yukihiro Taguchi マルチプロセツサ用非同期同時アクセスの可能なランダムアクセスメモリ−
JPH06167958A (ja) * 1991-03-28 1994-06-14 Texas Instr Inc <Ti> 記憶装置
US5397726A (en) * 1992-02-04 1995-03-14 National Semiconductor Corporation Segment-erasable flash EPROM
US5786629A (en) * 1992-05-14 1998-07-28 Reveo, Inc. 3-D packaging using massive fillo-leaf technology
JPH0793997A (ja) * 1993-09-24 1995-04-07 Nec Corp スタティック型半導体記憶装置
EP0721662A1 (en) * 1993-09-30 1996-07-17 Kopin Corporation Three-dimensional processor using transferred thin film circuits
US6157356A (en) * 1996-04-12 2000-12-05 International Business Machines Company Digitally driven gray scale operation of active matrix OLED displays
NO308149B1 (no) * 1998-06-02 2000-07-31 Thin Film Electronics Asa Skalerbar, integrert databehandlingsinnretning
JP4085459B2 (ja) * 1998-03-02 2008-05-14 セイコーエプソン株式会社 3次元デバイスの製造方法
US6034882A (en) * 1998-11-16 2000-03-07 Matrix Semiconductor, Inc. Vertically stacked field programmable nonvolatile memory and method of fabrication
KR100301932B1 (ko) * 1999-04-27 2001-10-29 윤종용 불 휘발성 반도체 메모리 장치
TW587252B (en) * 2000-01-18 2004-05-11 Hitachi Ltd Semiconductor memory device and data processing device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003209222A5 (ja)
KR100850579B1 (ko) 적층형 1티-엔 메모리 셀 구조
US8451642B2 (en) Hybrid MRAM array structure and operation
TW530410B (en) Memory arrangement with a central connection area
US7440339B2 (en) Stacked columnar 1T-nMTj MRAM structure and its method of formation and operation
US7978491B2 (en) Stacked memory cell structure and method of forming such a structure
JP2003059282A5 (ja)
JP4231502B2 (ja) クロスポイント構造の半導体記憶装置
JP2009218597A5 (ja)
JP2005142493A5 (ja)
JP2003142653A5 (ja)
WO2003094170A3 (en) Layout for thermally selected cross-point mram cell
EP1308958A3 (en) Three dimensional large storage random access memory device
EP1265287A3 (en) Non-volatile memory
EP1376599A3 (en) Magnetic memory device having XP Cell and STR Cell in one Chip
JP2002208682A5 (ja)
JP2004005965A (ja) 小面積の磁気メモリデバイス
JP2001053243A5 (ja)
JP2004046962A5 (ja)
JP2003142662A5 (ja)
TW200418021A (en) Magnetic tunnel junction memory cell architecture
JP2003110093A5 (ja)
JP2003196992A5 (ja)
JP2003249629A5 (ja)
JP2000243933A (ja) デコーダ接続装置