JP2003132533A - ドロップアウト検出回路及び光ディスク装置 - Google Patents

ドロップアウト検出回路及び光ディスク装置

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JP2003132533A JP2001326419A JP2001326419A JP2003132533A JP 2003132533 A JP2003132533 A JP 2003132533A JP 2001326419 A JP2001326419 A JP 2001326419A JP 2001326419 A JP2001326419 A JP 2001326419A JP 2003132533 A JP2003132533 A JP 2003132533A
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    • G11B7/0948—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for detection and avoidance or compensation of imperfections on the carrier, e.g. dust, scratches, dropouts

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 再生中及び記録時に関わらず安定したドロッ
プアウトを検出することができるドロップアウト検出回
路を提供する。 【解決手段】 本発明のドロップアウト検出回路は、光
ディスクに収束照射された光ビームの反射信号のエンベ
ロープを第１の時定数で検出する高速エンベロープ検波
回路１４７と、反射信号のエンベロープを第１の時定数
以上の第２の時定数で検出する低速エンベロープ検波回
路１４６と、高速エンベロープ検波回路１４７及び低速
エンベロープ検波回路１４６によってそれぞれ検出され
たエンベロープの差を示す差信号を生成する差動回路１
５０と、差動回路１５０によって生成された差信号を所
定の二値化基準で二値化するコンパレータ１４９とを備
える。そして、高速エンベロープ検波回路１４７は、記
録中において第１の時定数を再生中よりも大きくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ドロップアウト検
出回路及びこれを備えた光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク装置は、所定の回転数で回転
している光ディスクに半導体レーザ等の光源から発生す
る光ビームを集束して照射し、光ディスク上に記録され
ている信号を再生する。かかる光ディスク装置において
は、光ディスクに傷などが生じて良好に信号を再生でき
ないような場合、すなわちドロップアウトが発生するよ
うな場合に対処するためにドロップアウト検出回路が備
えられている。なお、ドロップアウト検出については種
々の検出方法が考案されているが、基本的には再生され
るＲＦ信号のエンベロープ変化を検出するものである。
【０００３】＜ドロップアウト検出＞図１０は従来のド
ロップアウト検出回路の構成例を示すブロック図であ
る。また、図１１は従来のドロップアウト検出回路の動
作を説明するための図である。
【０００４】光ディスクから再生されたＲＦ信号Ｓ１０
０は、まずＡＧＣ回路１４５に入る。このＡＧＣ回路１
４５は、一般にディスク面の全体的な反射むら及び部分
的な反射むらに対して振幅レベルを一定にする目的で設
けられている。つまり、ＡＧＣ回路１４５がない場合は
光ディスクの反射むらまでエンベロープ変化として検出
することになる。そのため、ＲＦ信号Ｓ１００がＡＧＣ
回路１４５に入力されることによって、図１１（ａ）に
示す通り、ＡＧＣ回路１４５から出力される信号Ｓ１０
１の波形の振幅レベルは一定になる。
【０００５】次に、二種類の異なる時定数を持つエンベ
ロープ検波回路があり、一方は他方よりも小さな時定数
を持つ高速エンベロープ検波回路１４７、もう一方は高
速エンベロープ検波回路１４７よりも大きな時定数を持
つ低速エンベロープ検波回路１４６である。例えば、図
１１（ａ）に示すように、ドロップアウトによってＲＦ
信号Ｓ１００のエンベロープが急激に変化しているＲＦ
信号Ｓ１００が到来してきた場合、小さな時定数を持つ
エンベロープ検波回路１４７の出力Ｓ１０２は、図１１
（ｂ）に示すように、ＲＦ信号のエンベロープの急激な
変化に追従した波形が出力される。一方、大きな時定数
を持つエンベロープ検波回路１４６の出力は、ＲＦ信号
Ｓ１００の急激なエンベロープの変化に追従できないた
め、ある一定の時定数で変化する波形を出力する。
【０００６】そして、この大きな時定数を持つ低速エン
ベロープ検波回路１４６の出力を、図１１（ｂ）に示す
ように、レベルシフト回路１４８によって所望の電圧差
を与えた信号Ｓ１０３とした後コンパレータ１４９に入
力する。また、小さな時定数を持つ高速エンベロープ検
波回路１４７の出力Ｓ１０２もコンパレータ１４９に入
力される。ドロップアウト検出は、このように入力され
た信号Ｓ１０２及びＳ１０３をコンパレータ１４９にお
いて比較することによって、ＲＦ信号Ｓ１００のエンベ
ロープの急激な落ち込み、すなわちドロップアウトを検
出することができる。つまり、コンパレータ１４９は、
図１１（ｃ）に示すようなドロップアウト検出信号Ｓ１
０４を出力する。
【０００７】ドロップアウト検出信号Ｓ１０４となるコ
ンパレータ１４９の出力は、フォーカス制御用の位相補
償回路及びトラッキング制御用の位相補償回路にそれぞ
れ入力される。各位相補償回路では、前段のＡ／Ｄ変換
器からの信号を位相補償し制御誤差信号として次段に伝
達することを通常行うが、ドロップアウト検出信号がＨ
レベルの間、それぞれドロップアウト検出信号がＬレベ
ルからＨレベルに変化する時点よりの以前の制御誤差信
号の保持を継続する。これによって、それぞれドロップ
アウト時に発生する擬似の制御誤差信号を次段に伝達す
ることを防いで、擬似の制御誤差信号によるフォーカス
制御はずれ及びトラッキング制御はずれを防止する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述の通り、ドロップ
アウト検出は再生されるＲＦ信号のエンベロープ変化を
検出して行っている。したがって、再生されるメディア
は少なくとも予め情報が記録されていなければならな
い。例えば、メディアＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ及びＤＶＤ−
ＲＯＭといった再生専用メディアは予めピットの形で情
報が記録されているため、再生中にドロップアウトを検
出することは可能である。一方、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、及びＤＶＤ−ＲＡＭ等
の記録メディアは、初期状態では情報が記録されていな
いために記録中にドロップアウトを検出することはでき
ない。したがって、ＤＶ−ＲＡＭの場合では、トラック
から外れ出すと一旦記録動作を中止して、別の管理領域
に記憶するなどして対処していたが、ＤＶ−Ｒなどの連
続して記録を行う必要があるメディアではそうすること
も不可能である。
【０００９】また近年、記録再生装置が多種商品化さ
れ、ドロップアウト検出については再生時のみならず記
録時にも検出したいという要望が増えている。しかしな
がら、現状のドロップアウト検出では、再生から記録ま
たは記録から再生への状態が変化する場合に継続してド
ロップアウトを検出することができなかった。
【００１０】そこで、本発明の目的は、再生中及び記録
時に関わらず常に安定したドロップアウトを検出するこ
とができるドロップアウト検出回路を提供することを目
的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の光ディスク装置は、光ディスクに収
束照射された光ビームの反射信号のエンベロープを第１
の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段と、前
記反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上の第
２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段と、
前記第１のエンベロープ検波手段によって検出されたエ
ンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段によって
検出されたエンベロープとの差を示す差信号を生成する
差動手段と、前記差動手段によって生成された差信号を
所定の二値化基準で二値化するコンパレータ手段とを備
え、前記第１のエンベロープ検波手段は、記録中におい
て前記第１の時定数を再生中よりも大きくするものであ
る。
【００１２】請求項１の発明によると、記録中の第１の
時定数は再生中よりも大きいため、擬似のドロップアウ
トの検出を防いで、再生中及び記録中に関わらず安定し
たドロップアウト検出を可能とする。
【００１３】また、請求項２の発明は、請求項１記載の
ドロップアウト検出回路において、再生から記録または
前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベ
ロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各
々は、前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にす
るものとする。
【００１４】請求項２の発明によると、再生から記録ま
たは記録から再生への変化の際においても、擬似のドロ
ップアウトの検出を防いで、安定したドロップアウト検
出を可能とする。
【００１５】また、請求項３の発明は、請求項２記載の
ドロップアウト検出回路において、前記第１のエンベロ
ープ検波手段と第２のエンベロープ検波手段の各々は、
前記変化してから所定の時間に達するまで、前記第１の
時定数と前記第２の時定数を同一にするまた、請求項４
の発明は、請求項１記載のドロップアウト検出回路にお
いて、光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号
を所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手段
をさらに備え、前記第１及び第２のエンベロープ検波手
段の各々は、前記可変ゲイン手段によって可変された反
射信号のエンベロープを検出するものとする。
【００１６】また、請求項５の発明は、請求項４記載の
ドロップアウト検出回路において、再生から記録または
前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベ
ロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各
々は、前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一に
し、前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中と
において、前記所定のゲインの値を変えるものとする。
【００１７】また、請求項６の発明は、請求項４記載の
ドロップアウト検出回路において、再生から記録または
前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベ
ロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各
々は、前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一に
し、前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中
とにおいて、前記所定の二値化基準の値を変えるものと
する。
【００１８】また、請求項７の発明は、請求項４記載の
ドロップアウト検出回路において、再生から記録または
前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベ
ロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各
々は、前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一に
し、前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中と
において、前記所定のゲインの値を変え、前記コンパレ
ータ手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記
所定の二値化基準の値を変えるものとする。
【００１９】請求項５から請求項７の発明によると、時
定数によって記録中のエンベロープのレベルが記録デー
タの周波数分布の影響を受けて変化する場合でも、擬似
のドロップアウトの検出を防いで、安定したドロップア
ウト検出を可能とする。
【００２０】また、請求項８の発明は、光ディスクに収
束照射された光ビームの反射信号を、再生中と記録中と
では異なる所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲ
イン手段と、前記所定の振幅に可変された反射信号のエ
ンベロープを第１の時定数で検出する第１のエンベロー
プ検波手段と、前記所定の振幅に可変された反射信号の
エンベロープを前記第１の時定数以上の第２の時定数で
検出する第２のエンベロープ検波手段と、前記第１のエ
ンベロープ検波手段から出力されるエンベロープと前期
第２のエンベロープ検波手段から出力されるエンベロー
プとの差を示す差信号を生成する差動手段と、前記差動
手段によって生成された差信号を所定の二値化基準で二
値化するコンパレータ手段とを備え、再生から記録また
は前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１及び第
２のエンベロープ検波手段の各々は、前記各々が検出し
たエンベロープの値を初期化するものである。
【００２１】請求項８の発明によると、可変ゲイン手段
の設定のバラツキなどにより、記録中におけるエンベロ
ープと再生中におけるエンベロープとが完全に同一レベ
ルにならない場合でも、再生から記録または記録から再
生へ変化する際に初期化することによって、擬似のドロ
ップアウトの検出を防いで、安定したドロップアウト検
出を可能とする。
【００２２】また、請求項９の発明は、請求項８記載の
ドロップアウト検出回路において、前記第１及び第２の
エンベロープ検波手段にの各々によって行われる初期化
は、同時に開始されるものとする。
【００２３】請求項９の発明によると、初期化の開始に
時間差が生じることによる擬似のドロップアウトが検出
されることを防いで、安定したドロップアウト検出を可
能とする。
【００２４】また、請求項１０の発明は、請求項８記載
のドロップアウト検出回路において、前記第２のエンベ
ロープ検波手段によって行われる初期化に要する時間
は、前記第１のエンベロープ検波手段によって行われる
初期化に要する時間よりも短いものとする。
【００２５】請求項１０の発明によると、記録中と再生
中において、高速側のエンベロープと低速側のエンベロ
ープのレベルが逆転することによる擬似のドロップアウ
トの検出を防いで、安定したドロップアウト検出を可能
とする。
【００２６】また、請求項１１の発明は、光ディスクに
収束照射された光ビームの反射信号の周波数帯域を、再
生中と記録中とでは異なる所定の遮断周波数で切り替え
る低域通過フィルターと、前記低域通過フィルターによ
って前記周波数帯域が切り替わった反射信号を、前記再
生中と前記記録中とでは異なる所定のゲインで所定の振
幅に可変する可変ゲイン手段と、再生から記録または前
記記録から前記再生へ変化する際、第１の時間の間、第
１のパルス信号を発生する第１のパルス発生手段と、前
記変化の際、第２の時間の間、第２のパルス信号を発生
する第２のパルス発生手段と、前記所定の振幅に可変さ
れた反射信号のエンベロープを第１の時定数で検出する
第１のエンベロープ検波手段と、前記所定の振幅に可変
された反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上
の第２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段
と、前記第１のエンベロープ検波手段から出力されるエ
ンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段から出力
されるエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動
手段と、前記差動手段によって生成された差信号を所定
の二値化基準で二値化するコンパレータ手段と、前記コ
ンパレータ手段からの出力を遮断するゲート回路とを備
え、前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々
は、前記第１のパルス信号を受けて、前記第１の時間の
間、前記各々によって検出されたエンベロープの値を強
制放電し、前記ゲート回路は、前記第２のパルス信号を
受けて、前記第２の時間の間、前記コンパレータ手段か
らの出力を遮断するものである。
【００２７】請求項１１の発明によると、記録中におけ
る変調信号の影響を受けずに、記録から再生または再生
から記録へ変化する際において擬似のドロップアウトを
検出することを防いで、安定したドロップアウト検出を
可能とする。
【００２８】また、請求項１２の発明は、請求項１１記
載のドロップアウト検出回路において、前記第２の時間
は、前記第１の時間よりも長いものとする。
【００２９】また、請求項１３の発明は、請求項１から
請求項１２のいずれかに記載のドロップアウト検出回路
を備える光ディスク装置であるものである。
【００３０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施形態につい
て図面を参照しながら説明する。
【００３１】なお、以下で参照する図面相互間において
共通の構成要素には同一の符号を付しており、その説明
は繰り返さない。
【００３２】（第１の実施形態）図１は、第１の実施形
態における光ディスク装置の構成例を示す図である。
【００３３】光ディスク１００はモータ１０１の回転軸
１０２に取り付けられ、所定の回転数で回転している。
また、光ディスク１００は、記録ディスクの場合であれ
ばスパイラル状に凹凸で形成されたトラックを有してお
り、再生専用ディスクの場合であれば予めピットの形で
情報が記録されている。移送台１１５は、レーザ１０
９、カップリングレンズ１０８、偏光ビームスプリッタ
１１０、１／４波長板１０７、全反射鏡１０５、光検出
器１１３、及びアクチュエータ１０４を備えており、移
送モータ１１４によって光ディスク１００の半径方向に
移動するように構成されている。
【００３４】中央演算処理回路１４０（以下「ＣＰＵ」
と記す。）の指示によってレーザーパワー制御回路１３
９（以下「ＬＰＣ」と記す。）が動作し、レーザ１０９
が所定のパワーで発光する。移送台１１５に取り付けら
れたレーザ１０９によって発生した光ビーム１０６は、
カップリングレンズ１０８で平行光にされた後、偏光ビ
ームスプリッタ１１０、１／４波長板１０７を通過す
る。そして、全反射鏡１０５で反射され、集束レンズ１
０３によって光ディスク１００の情報面上に集束して照
射される。
【００３５】光ディスク１００の情報面において反射さ
れた反射光は、集束レンズ１０３を通過して全反射鏡１
０５で反射され、１／４波長板１０７、偏光ビームスプ
リッタ１１０、検出レンズ１１１、及び円筒レンズ１１
２を通過して４個の受光部からなる光検出器１１３に入
射する。集束レンズ１０３はアクチュエータ１０４の可
動部に取り付けられている。アクチュエータ１０４はフ
ォーカス用コイル、トラッキング用コイル、フォーカス
用の永久磁石及びトラッキング用の永久磁石から構成さ
れている。
【００３６】アクチュエータ１０４のフォーカス用コイ
ル（図示せず。）に電力増幅器１３０を用いて電圧を加
えるとコイルに電流が流れ、コイルはフォーカス用の永
久磁石（図示せず。）から磁気力を受けることによっ
て、集束レンズ１０３は光ディスク１００の面と垂直な
方向（図では上下方向）に移動する。集束レンズ１０３
は光ビームの焦点とディスクの情報面とのずれを示すフ
ォーカスエラー信号１０Ｓに基づいて光ビーム１０６の
焦点が常に光ディスク１００の情報面に位置するように
制御されている。また、トラッキング用コイル（図示せ
ず。）に電力増幅器１３４を用いて電圧を加えるとコイ
ルに電流が流れ、トラッキング用の永久磁石（図示せ
ず。）から磁気力を受けることによって、集束レンズ１
０３は光ディスク１００の半径方向、すなわち光ディス
ク１００のトラックを横切るように（図上では左右に）
移動する。
【００３７】光検出器１１３は４個の受光部より形成さ
れている。光検出器１１３に入射される光ディスク１０
０からの反射光は、それぞれ電流に変換され、Ｉ／Ｖ変
換器１１６、１１７、１１８、及び１１９へ送られる。
Ｉ／Ｖ変換器１１６、１１７、１１８、及び１１９は、
入力される電流をその電流レベルに応じた電圧に変換す
る。
【００３８】加算器１２０、１２１、１２３、１２４及
び１２６は、入力信号を加算して出力する。減算器１２
２及び１２５（「差動回路」とも称する。）は入力信号
を減算して出力する。
【００３９】＜フォーカス制御＞減算器１２２の出力が
光ディスク１００へ照射される光ビームの焦点と光ディ
スク１００の情報面とのずれを示すフォーカスエラー信
号１０Ｓである。フォーカスエラー信号１０Ｓは、アナ
ログ・ディジタル変換器（以下「Ａ／Ｄ変換器」と記
す。）１２７、位相補償回路１２８、ディジタル・アナ
ログ変換器（以下「Ｄ／Ａ変換器」と記す。）１２９及
び電力増幅器１３０へ送られる。電力増幅器１３０によ
ってアクチュエータ１０４のフォーカス用コイルに電流
が流れる。
【００４０】Ａ／Ｄ変換器１２７はアナログ信号をディ
ジタル信号に変換する。また、Ｄ／Ａ変換器はディジタ
ル信号をアナログ信号に変換する。
【００４１】位相補償回路１２８はディジタルフィルタ
であり、フォーカス制御系の位相補償を行って制御ルー
プの安定化を図る。また、外部からのドロップアウト検
出信号１１Ｓによってフォーカスエラー信号１０Ｓにお
ける制御誤差信号を保持することができる。このように
フォーカスエラー信号１０Ｓに応じて集束レンズ１０３
が駆動されるので光ビームの焦点が常に情報面上に位置
する。
【００４２】＜トラッキング制御＞次に、減算器１２５
の出力が光ディスク１００に照射される光ビームのスポ
ットと光ディスク１００のトラックとのずれを示すトラ
ッキングエラー信号１２Ｓとなる。トラッキングエラー
信号１２ＳはＡ／Ｄ変換器１３１、位相補償回路１３
２、Ｄ／Ａ変換器１３３、及び電力増幅器１３４へ送ら
れる。電力増幅器１３４によってアクチュエータ１０４
のトラッキング用コイルに電流が流れる。
【００４３】位相補償回路１３２はディジタルフィルタ
であり、トラッキング制御系の位相補償を行って制御ル
ープの安定化を図る。また、外部からのドロップアウト
検出信号１１Ｓによってトラッキングエラー信号１２Ｓ
における制御誤差信号を保持することができる。このよ
うに、トラッキングエラー信号１２Ｓに応じて集束レン
ズ１０３が駆動されるので光ビームのスポットが常にト
ラックを追従する。
【００４４】また、トラッキングエラー信号１２Ｓはロ
ーパスフィルタ１３５、Ｄ／Ａ変換器１３６、及び加算
器１３７を介して電力増幅器１３８に送られることによ
って、移送モータ１１４はトラッキングエラー信号１２
Ｓの低周波成分に応じて制御される。すなわち、トラッ
キング制御系においては、高い周波数成分の応答に対し
てはアクチュエータ１０４で追従し、低い周波数成分の
応答に対しては移送モータ１１４で追従する構成になっ
ている。また、加算器１３７にＣＰＵ１４０からの制御
信号１３Ｓが入力されており、ＣＰＵ１４０の指示によ
って移送台１１５を光ディスク１００の半径方向に移動
させる。
【００４５】なお、加算器１２６は加算器１２３と加算
器１２４との出力を加算する。すなわち、加算器１２６
の出力は光検出器１１３の全受光量となる。また、以下
では、加算器１２６の出力信号を「全反射信号１４Ｓ」
と記す。加算器１２６から出力される全反射信号１４Ｓ
は信号処理回路１４３に送られる。信号処理回路１４３
は、光ディスク１００に記録されている情報を安定に読
み取るための処理を行い、全反射信号１４Ｓを光ディス
クコントローラ１４４（以下「ＯＤＣ」と記す。）に送
る。ＯＤＣ１４４は読み取られた情報をもとにエラー訂
正等の処理を行い、光ディスク装置と接続されているコ
ンピュータ等にデータを送る。
【００４６】＜記録制御＞光ディスク１００は、記録用
のものであればスパイラル状に凹凸で形成されたトラッ
クを予め有し、そのトラックに情報を記録していくもの
であり、その記録においては記録する情報信号と記録さ
れる光ディスク１００の回転速度が同期していなければ
ならない。この記録する情報信号と記録される光ディス
ク１００の回転速度とを同期させるためには、スパイラ
ル状に凹凸で形成されたトラックを若干変調する方式が
とられている。これがウォブルと言われ、トラッキング
エラー信号１２Ｓと同様に、ウォブル信号１５Ｓは減算
器１２５から出力される。
【００４７】ウォブル信号１５Ｓは振幅的にはトラッキ
ングエラー信号１２Ｓに対して約１／１０から１／２０
であるので、ウォブル信号１５ＳをＳ／Ｎ良く抜き取る
ためにウォブル用ＢＰＦ（帯域通過フィルター）１４１
が設けられている。ウォブル用ＢＰＦ１４１はウォブル
信号周波数（例えば、ＤＶＤ−Ｒディスクの場合は１４
１ＫＨｚ）を帯域通過させ、Ｓ／Ｎ良く抜き取られたウ
ォブル信号１５Ｓはウォブル用ＰＬＬ回路１４２におい
て記録するための同期信号と位相比較制御され、ウォブ
ル信号１５Ｓと位相同期した同期信号１６ＳをＯＤＣ１
４４に入力する。
【００４８】また、ウォブル用ＰＬＬ回路１４２は外部
から入力されるドロップアウト検出信号１１Ｓによって
位相比較制御ループを前置保持する機能を持っている。
【００４９】装置としての記録は、まずＣＰＵ１４０か
らの記録命令１７ＳによってＯＤＣ１４４に対して記録
シーケンスを起動させ、指示された目標アドレスから記
録を開始する。そして記録動作は、ＯＤＣ１４４から記
録ゲート信号ＷＴＧＴ及びＯＤＣ１４４に入力された同
期信号１６Ｓを基に記録データＷＴＤＴを出力する。記
録ゲート信号ＷＴＧＴはＣＰＵ１４０を介してＬＰＣ
（Linear Predictive Coding）回路１３９を記録モード
に切り替え、ＬＰＣ回路１３９によって、記録データＷ
ＴＤＴに応じて記録パワーを制御して光ディスク１００
に情報を記録する。
【００５０】＜本実施形態におけるドロップアウト検出
＞図２は、図１に示したドロップアウト検出回路１０Ａ
の内部構成例を示すブロック図である。また、図３は、
図２に示したドロップアウト検出回路１０Ａの動作を説
明するための図である。
【００５１】図２に示すドロップアウト検出回路１０Ａ
は、後記する高速エンベロープ検波回路１４７の時定数
（第１の時定数）よりも大きな時定数（第２の時定数）
を持つ低速エンベロープ検波回路１４６、上記低速エン
ベロープ検波回路１４６の時定数（第２の時定数）より
も小さな時定数（第１の時定数）を持つ高速エンベロー
プ検波回路１４７、差動回路（差動手段）１５０、コン
パレータ（コンパレータ手段）１４９の二値化レベルを
決定するＤ／Ａ変換器１５１、記録ゲート信号ＷＴＧＴ
の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを検出するエ
ッジ検出回路１５２、及び立ち上がりエッジと立ち下が
りエッジに同期して所定の時間パルス信号を発生するモ
ノマルチ１５３を備えている。
【００５２】まず、全反射信号１４Ｓは低速エンベロー
プ検波回路（第２のエンベロープ検波手段）１４６と高
速エンベロープ検波回路（第１のエンベロープ検波手
段）１４７に入力される。低速エンベロープ検波回路１
４６及び高速エンベロープ検波回路１４７は、図２に示
すように一般的な検波回路であり、入力信号に応じて充
電する電流源と放電する電流源とを有する構成である。
また、この充電及び放電電流源は記録ゲート信号ＷＴＧ
Ｔに応じて電流値を切り替えることができる。例えば、
図３（ａ）のように、記録ゲート信号ＷＴＧＴのＨｉは
記録状態を示しＬｏｗでは再生状態を示すものとする
と、記録ゲート信号ＷＴＧＴがＨｉの場合は電流源の電
流値をＬｏｗの時より少なくする。
【００５３】これは、図３（ｂ）に示すように、記録時
では記録データＷＴＤＴによって記録の最大パワー（例
えば１５ｍｗ）から最小パワー（例えば０．５ｍｗ）ま
で変調された全反射信号１４Ｓとなって加算器１２６よ
り出力される。この場合にドロップアウト検出を行う
と、記録時において擬似のドロップアウト検出信号が検
出されることになる。そこで、電流源の電流値を少なく
することによって結果的に検波時定数を大きく、図３
（ｄ）に示すように全反射信号を平均化するのである。
なお、検波時定数を大きくするには、電流値を少なくす
る方法や電流値は一定としたまま充放電用コンデンサー
Ｃ１０及びＣ１１の容量値を切り替える方法も考えられ
る。
【００５４】このように、記録時において高速エンベロ
ープ検波回路１４７の時定数を再生時よりも大きくする
と、高速エンベロープ検波出力２１Ｓｂは図３（ｄ）に
示す出力となる。したがって、この場合にドロップアウ
ト検出を行うと記録時における擬似のドロップアウト検
出信号１１Ｓの検出を防ぐことができる。
【００５５】しかしながら、図３（ｂ）に示すように、
記録から再生、再生から記録の切り替わり点において
は、再生時の全反射信号レベルと記録時の全反射信号平
均レベルとに大きなレベル差が発生する。この場合にド
ロップアウト検出を行うと、このレベル差が発生する記
録から再生、再生から記録の切り替わり点において、擬
似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することにな
る。そこで、この擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓ
の発生を防ぐ目的で、記録ゲート信号ＷＴＧＴの切り替
わり点に同期して低速エンベロープ検波回路１４６と高
速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数を同一にす
るために各電流源を制御する。
【００５６】また、記録ゲート信号ＷＴＧＴの切り替わ
り点の検出は、記録ゲート信号ＷＴＧＴの両エッジを検
出するエッジ検出回路１５２によって行い、さらに検出
されたエッジに同期してモノマルチ１５３から図３
（ｆ）に示すように所定の時間パルス信号２３Ｓを出力
することによって、各電流源を制御する。
【００５７】その結果、記録から再生、再生から記録の
切り替わり点において、図３（ｇ）に示すように高速エ
ンベロープ検波出力２１Ｓｃ及び低速エンベロープ検波
出力２２Ｓｂの検波時定数が同一となるため、低速エン
ベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路
１４７の差信号を出力する差動回路１５０の出力２４Ｓ
は、図３（ｈ）に示すようにレベル変化はほとんどな
い。そのため、記録から再生、再生から記録の切り替わ
り点においてはコンパレータ１４９の出力には擬似のド
ロップアウト検出信号１１Ｓは発生しない。
【００５８】通常、ドロップアウト検出はドロップアウ
トによって全反射信号１４Ｓが暗い側にレベルが低下す
る。そして、高速エンベロープ検波回路１４７の出力２
１Ｓａは、図３（ｃ）に示すようにそのドロップアウト
によるレベル低下とほぼ同じエンベロープを追従し出力
する。一方、低速エンベロープ検波回路１４６の出力２
２Ｓａは高速エンベロープ検波回路１４７の時定数に比
べて大きいため、図３（ｅ）に示すようにドロップアウ
トによってレベル低下するエンベロープを追従すること
ができず、ドロップアウト期間中はほとんどレベルが変
化しない状態になる。したがって、従来例のドロップア
ウト検出と同様にして、この低速エンベロープ検波回路
１４６の出力２２Ｓａと高速エンベロープ検波回路１４
７の出力２１Ｓａとを差動回路１５０において差をとる
ことによって、図３（ｉ）に示すように再生時における
差動回路１５０の出力２４Ｓがドロップアウト箇所で大
きくレベル変化し、次段のコンパレータ１４９でドロッ
プアウト期間にＨｉとなるドロップアウト検出信号１１
Ｓを出力する。なお、ドロップアウト検出信号１１Ｓの
検出レベルとなるコンパレータ１４９の二値化レベル
は、Ｄ／Ａ変換器１５１において任意の値に設定するこ
とによって全反射光量に対するその二値化レベルを自由
に決めることができる。
【００５９】このように、本実施形態におけるドロップ
アウト検出回路１０Ａによると、高速エンベロープ検波
回路１４７の検波時定数の値を記録状態において再生状
態よりも大きくする。このため、記録時の変調信号の影
響を受けることなくドロップアウトを検出することがで
きる。さらに、記録から再生、再生から記録の切り替わ
り点で低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベ
ロープ検波回路１４７の検波時定数の値を同一にする。
このため、記録から再生、再生から記録の切り替わり点
においても擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出
することなく信頼性の高い安定したドロップアウト検出
が可能になる。
【００６０】（第２の実施形態）第２の実施形態におけ
る光ディスク装置は、図２に示したドロップアウト検出
回路１０Ａに代えて図４に示すドロップアウト検出回路
１０Ａを備える。その他の構成は、図１に示した光ディ
スク装置と同様である。
【００６１】また、図５は図４に示すドロップアウト検
出回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００６２】図４に示すドロップアウト検出回路１０Ａ
は、上記図２で示した構成例に加え、可変ゲインアンプ
（可変ゲイン手段）１５４を備えている。
【００６３】加算器１２６からの全反射信号１４Ｓは可
変ゲインアンプ１５４に入力される。そして、可変ゲイ
ンアンプ１５４は記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じてゲイ
ンを切り替える。これは、第１の実施形態でも説明した
通り、図５（ｂ）に示すように、記録時においては記録
データＷＴＤＴによって記録の最大パワー（例えば１５
ｍｗ）から最小パワー（例えば０．５ｍｗ）まで変調さ
れた全反射信号１４Ｓとなり、再生時の全反射信号レベ
ルと記録時の全反射信号平均レベルとに大きなレベル差
が生じる。そのため、擬似のドロップアウト検出信号１
１Ｓが発生しないように、可変ゲインアンプ１５４はそ
れぞれのレベルをほぼ同レベルにするために設けられて
いる。
【００６４】図５（ｃ）に示すように、全反射信号１４
Ｓを入力した可変ゲインアンプ出力４１Ｓは、記録時と
再生時のレベルがほぼ同一になる。そして、可変ゲイン
アンプ出力４１Ｓは低速エンベロープ検波回路１４６及
び高速エンベロープ検波回路１４７にそれぞれ入力さ
れ、第１の実施形態と同様に検波時定数を記録ゲート信
号ＷＴＧＴによって切り替える。また、記録から再生、
再生から記録の切り替わり点においても、第１の実施形
態と同様に検波時定数を同一にする。図５（ｄ）に示す
高速エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓｃは、記
録時においては時定数を切り替えて大きくし、かつ、再
生から記録または記録から再生への状態が切り替わる点
に同期して低速エンベロープ検波回路１４６の時定数と
同一にした場合の出力結果である。また、図５（ｅ）に
示す低速エンベロープ検波回路１４６の出力２２Ｓｂ
は、再生から記録または記録から再生への状態が切り替
わる点に同期して高速エンベロープ検波回路１４７の時
定数と同一にした場合の出力結果である。この場合にド
ロップアウト検出を行うと、第１の実施形態と同様に、
擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓは検出されない。
【００６５】しかしながら、高速エンベロープ検波回路
１４７の検波時定数によっては、差動回路１５０の出力
２４Ｓは、図５（ｆ）に示すように、記録時のエンベロ
ープが記録データＷＴＤＴの周波数分布によって影響さ
れレベル変化が発生する。そしてこのレベル変化は、ド
ロップアウト検出信号１１Ｓとして検出される再生時の
コンパレータ１４９の二値化レベルを超える場合があ
る。つまりその場合は、記録時に擬似のドロップアウト
検出信号１１Ｓが発生することになる。そこで、この擬
似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を防ぐため
に、図４に示すように、コンパレータ１４９の二値化レ
ベルを決定するＤ／Ａ変換器１５１に記録用ＤＡＣ１５
１ａ及び再生用ＤＡＣ１５１ｂを設ける。これは、例え
ば図５（ｆ）に示すように、記録時と再生時とにおいて
コンパレータ１４９の二値化レベルを切り替える構成に
したものである。そのため、図５（ｇ）に示すように、
記録時の擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を
防いで真のドロップアウト検出信号１１Ｓを安定に検出
することができる。
【００６６】このように、本実施形態におけるドロップ
アウト検出回路１０Ａによると、可変ゲインアンプ１５
４によって記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全
反射信号レベルとをほぼ同一レベルとし、さらに低速エ
ンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回
路１４７の検波時定数を記録時と再生時とで切り替え
る。このため、記録時の変調信号の影響を受けることな
くドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することができ
る。また、コンパレータ１４９において、記録時と再生
時のそれぞれにおいて独立したドロップアウト検出設定
を可能にするために、記録時と再生時とにおいて二値化
レベルを切り替える。このため、記録や再生の状態に応
じた検出レベルを設定でき擬似のドロップアウト検出信
号１１Ｓの検出を防ぐことが可能となる。そしてさら
に、記録から再生、再生から記録の切り替わり点におい
て、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロ
ープ検波回路１４７の検波時定数を同一にする。このた
め、記録から再生、再生から記録への切り替わり点にお
いても擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出する
ことなく信頼性の高い安定したドロップアウト検出が可
能になる。
【００６７】（第３の実施形態）第３の実施形態におけ
る光ディスク装置は、図２に示したドロップアウト検出
回路１０Ａに代えて図６に示すドロップアウト検出回路
１０Ａを備える。その他の構成は、図１に示した光ディ
スク装置と同様である。
【００６８】また、図７は図６示すドロップアウト検出
回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００６９】図６において、全反射信号１４Ｓは可変ゲ
インアンプ１５４に入力され、可変ゲインアンプ１５４
において記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じてゲインを切り
替えることによって、記録時の全反射信号平均レベルと
再生時の全反射信号レベルをほぼ同一にする。このた
め、可変ゲインアンプ１５４の出力４１Ｓは、記録時と
再生時のレベルがほぼ同一になった全反射信号１４Ｓと
なり、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベ
ロープ検波回路１４７にそれぞれ入力される。
【００７０】しかしながら、可変ゲインアンプ１５４の
設定バラツキ等によって、記録時と再生時の可変ゲイン
アンプ出力４１Ｓは完全に同一レベルにはならず、記録
時と再生時において、低速エンベロープ検波回路１４６
の出力レベルと高速エンベロープ検波回路１４７の出力
レベルとが逆転する可能性がある。そのため、少しでも
レベル差が生じると、例えば図７（ｄ）に示すように、
低速エンベロープ検波回路１４７の出力２２Ｓｄと高速
エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓｄとの出力レ
ベルが逆転する。したがって、その場合の差動回路１５
０の出力２４Ｓは図７（ｅ）に示すような波形になり、
その結果、コンパレータ１４９の出力は図７（ｆ）に示
すようになって擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが
発生してしまう場合が生じる。
【００７１】この擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓ
の発生を防ぐために、低速エンベロープ検波回路１４６
及び高速エンベロープ検波回路１４７のそれぞれに対し
て、図６に示すように強制放電用のスイッチＳＷ１０及
びスイッチＳＷ１１１を設ける。強制放電用のスイッチ
ＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１を設けることによって、
記録から再生、再生から記録の切り替わり点において、
充放電用のコンデンサーＣ１０及びコンデンサーＣ１１
に蓄えられている電荷を図７（ｇ）に示す所定の時間強
制放電させる。また、この強制放電用のスイッチＳＷ１
０及びスイッチＳＷ１１の動作を決める時間は、記録ゲ
ート信号ＷＴＧＴの両エッジに同期して作られるモノマ
ルチ１５３から発生されるパルス信号によって決定され
る所定時間となる。
【００７２】このようにすると、スイッチＳＷ１０及び
スイッチＳＷ１１で強制放電をしない場合は、図７
（ｆ）で示した通り、全反射信号１４Ｓが高いレベルか
ら低いレベルに変化した時点で擬似のドロップアウト検
出信号１１Ｓが発生する。しかしながら、スイッチＳＷ
１０及びスイッチＳＷ１１で強制放電を行った場合は、
低速エンベロープ検波回路１４６の出力２２Ｓｅと高速
エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓｅとは図７
（ｇ）に示す波形となるため、差動回路１５０の出力２
４Ｓは同（ｈ）に示す波形となる。したがって、図７
（ｉ）のコンパレータ１４９の出力１１Ｓが示すよう
に、全反射信号１４Ｓが記録から再生、再生から記録の
切り替わる点においても、擬似のドロップアウト検出信
号１１Ｓの発生を防ぐことができる。
【００７３】ただしこの場合、スイッチＳＷ１０及びス
イッチＳＷ１１を単純に動作をさせるだけでは問題とな
る。例えば、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速
エンベロープ検波回路１４７に設けてある強制放電用の
スイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１の動作に時間差
が発生すると、擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの
発生原因になる。そのため、強制放電用のスイッチＳＷ
１０及びスイッチＳＷ１１の動作を同時に開始する。ま
た、ドロップアウトの検出動作は低速側と高速側のエン
ベロープの差を用いて検出することを考慮すると、強制
放電を行う際、高速エンベロープ検出回路１４７側より
低速エンベロープ検出回路１４６側を早く強制放電させ
る必要がある。
【００７４】なお、本実施形態は、アナログ回路で実現
したもであるがディジタル処理回路によっても実現する
ことが可能である。例えば、強制放電の動作はＡ／Ｄ変
換器によって得られたディジタル値を所定のクロックで
減算することによって放電時定数を決定してその動作を
行うことができ、またスイッチによる強制放電に対して
は初期値にリセットすることで目的が達成する。
【００７５】また、本実施形態は、低速エンベロープ検
波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の内
部に、それぞれスイッチＳＷ１０及びＳＷ１１を設けた
構成で説明しているが、低速エンベロープ検波回路１４
６及び高速エンベロープ検波回路１４７の外部にスイッ
チＳＷ１０及びＳＷ１１を設ける構成にした場合であっ
ても本実施形態は同様に実施可能である。
【００７６】このように、本実施形態におけるドロップ
アウト検出回路１０Ａによると、可変ゲインアンプ１５
４によって記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全
反射信号レベルをほぼ同一レベルにする。このため、記
録時の変調信号の影響を受けることなくドロップアウト
を検出することができる。また、記録から再生、再生か
ら記録の切り替わり点において低速エンベロープ検波回
路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の充放電
用コンデンサーに蓄えられている電荷を強制放電する。
このため、記録から再生、再生から記録の切り替わり点
において擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出す
ることなく信頼性の高い安定したドロップアウト検出が
可能になる。
【００７７】（第４の実施形態）第４の実施形態におけ
る光ディスク装置は、図２に示したドロップアウト検出
回路１０Ａに代えて図８に示すドロップアウト検出回路
１０Ａを備える。その他の構成は、図１に示した光ディ
スク装置と同様である。
【００７８】また、図９は図８に示すドロップアウト検
出回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００７９】図８では、図６で示した可変ゲインアンプ
１５４の前段に、記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じて記録
時においては全反射信号１４ＳがＬＰＦ（低域通過フィ
ルター）１５５を通過し、また再生時においては全反射
信号１４Ｓが直接可変ゲインアンプ１５４に入力される
ように切り替わる回路が備わっている。記録時にＬＰＦ
１５５を通過させるのは、記録時では全反射信号１４Ｓ
のレベルが記録データＷＴＤＴによって図９（ｂ）に示
すように記録変調されるため、記録時にはＬＰＦ１５５
を通過させることによって、可変ゲインアンプ１５４へ
の入力８１Ｓのレベルを同（ｃ）に示すように平均化す
るためのものである。なお、ＬＰＦ１５５の帯域は記録
データＷＴＤＴによって記録変調された全反射信号１４
Ｓを十分平均化でき、かつ、ドロップアウト検出の応答
性として問題のない周波数を設定した。本実施例では約
１００ＫＨｚの周波数を想定している。また、記録時に
おいて全反射信号１４Ｓを十分平均化する他の実現の方
法としては、ＬＰＦ１５５の通過帯域を記録時と再生時
とで切り替える方法が考えられる。
【００８０】次に、記録時にはＬＰＦ１５５を通過する
信号８１Ｓは可変ゲインアンプ１５４に入力される。可
変ゲインアンプ１５４では記録ゲート信号ＷＴＧＴによ
ってゲインを切り替えることによって、可変ゲインアン
プ１５４の出力４１Ｓは図９（ｄ）に示すように記録時
の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルが
ほぼ同一になる。可変ゲインアンプ１５４の出力４１は
低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ
検波回路１４７にそれぞれ入力される。
【００８１】そして、上記第３の実施形態と同様に、記
録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベ
ルは可変ゲインアンプ１５４の設定バラツキ等によって
完全に同一レベルにはならない。そのため、少しでもレ
ベル差が生じると擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓ
の発生原因になる。そこで、この擬似のドロップアウト
検出信号１１Ｓの検出を防ぐために記録から再生、再生
から記録の切り替わり点において所定の時間強制放電を
行う。本実施形態では、図８に示すように、トランジス
ターＴＲ１０及びＴＲ１１を設け、充放電用コンデンサ
ーＣ１０及びＣ１１に蓄えられている電荷を強制放電さ
せる。
【００８２】ここで、低速エンベロープ検波回路１４６
及び高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数を決
めているのは充放電用コンデンサーの容量値と放電電流
の値である。一般的に時定数差を設けるには、高速エン
ベロープ検波回路１４７と低速エンベロープ検波回路１
４６共に放電電流の値は同一にし、充放電用コンデンサ
ーの値で決めることが多い。したがって、充放電用コン
デンサーの容量値は低速側を大きい値とし、高速側を小
さい値とする。
【００８３】そして、トランジスターＴＲ１０及びＴＲ
１１において強制放電を行うが、上述したように高速側
と低速側のコンデンサーの容量値が異なるため、図９
（ｇ）に示すように強制放電特性に差が生じる。その結
果、図９（ｈ）に示すように、差動回路１５０の出力２
４Ｓはドロップアウト検出方向にレベル変化が生じる。
また強制放電は、図９（ｅ）に示すように、記録ゲート
信号ＷＴＧＴの立ち上がり及び立ち下りの両エッジに同
期してモノマルチ１５３（第１のパルス発生手段）によ
って決められる所定の時間ｔ１（第１の時間）の間に発
生するパルス（第１のパルス信号）を受けて行われる。
この所定の時間ｔ１は、高速エンベロープ検波回路１４
７側と低速エンベロープ検波回路１４６側の充放電コン
デンサーに蓄えられている電荷が等しくなるまでに必要
な時間である。したがって、所定の時間ｔ１は、充放電
用コンデンサーの容量値として高速側よりも大きい値を
有する低速側の強制放電時定数によって決定されるのが
支配的である。
【００８４】次に、モノマルチ１５３で決められる所定
の時間ｔ１の間強制放電を行うが、上述のようにドロッ
プアウト検出方向にレベル変化が生じるため、図９
（ｉ）に示すように擬似のドロップアウト検出信号１１
Ｓが発生する場合がある。そこで、モノマルチ１５３で
作られる時間ｔ１よりも長い時間の間パルスを発生させ
るために、図８に示すように、第２のモノマルチ１５７
（第２のパルス発生手段）を設ける。第２のモノマルチ
１５７は、図９（ｆ）に示すように時間ｔ２（第２の時
間）の間パルス（第２のパルス信号）を発生する。第２
のモノマルチ１５７から出力されるパルスによって、ゲ
ート回路１５６はコンパレータ１４９からの出力１１Ｓ
をゲート処理する。つまり、ゲート回路１５６は、第２
のモノマルチ１５７の出力８２ＳがＨｉの間は、コンパ
レータ１４９の出力１１Ｓに関わらずＬｏｗを出力す
る。このように、高速エンベロープ検波回路１４７側と
低速エンベロープ検波回路１４６側の異なるコンデンサ
ー容量を強制放電し、さらに上記ゲート処理を行うこと
によって、ゲート回路１５６の出力８３Ｓは、図９
（ｊ）に示すようにコンパレータ１４９から出力される
擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を遮断す
る。
【００８５】なお、ゲート回路１５６でゲート処理する
ための時間ｔ２の作成方法は、モノマルチ１５３と第２
のモノマルチ１５７で分割して作成する方法も考えられ
る。
【００８６】また、本実施形態においても、強制放電の
動作をディジタル処理回路によっても実現することが可
能である。例えば、強制放電の動作はＡ／Ｄ変換器によ
って得られたディジタル値を所定のクロックで減算する
ことによって放電時定数を決定してその動作を行うこと
ができる。
【００８７】また、本実施形態は、低速エンベロープ検
波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の内
部に、それぞれトランジスターＴＲ１０及びＴＲ１１を
設けた構成で説明しているが、低速エンベロープ検波回
路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の外部に
トランジスターＴＲ１０及びＴＲ１１を設ける構成にし
た場合であっても本実施形態は同様に実施可能である。
【００８８】このように、本実施形態におけるドロップ
アウト検出回路１０Ａによると、全反射信号１４Ｓは記
録時においてＬＰＦ１５５を通過し、さらに可変ゲイン
アンプ１５４によって記録時の全反射信号平均レベルと
再生時の全反射信号レベルをほぼ同一レベルにする。ま
た、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロ
ープ検波回路１４７の充放電用コンデンサーに蓄えられ
ている電荷を記録から再生、再生から記録の切り替わり
点で強制放電させ、かつ、ゲート回路１５６によって擬
似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を遮断する。
このため、記録時の変調信号の影響を受けずに、記録か
ら再生、再生から記録の切り替わり点において擬似のド
ロップアウト検出信号１１Ｓが検出されることを防止す
る。その結果、記録時及び再生時を問わずに信頼性の高
い安定したドロップアウト検出が可能になる。
【００８９】
【発明の効果】上述したように、本発明に係るドロップ
アウト検出回路によると、高速側のエンベロープ検波回
路は、記録時では再生時よりも大きい時定数でエンベロ
ープを検出する。そのため、擬似のドロップアウトの検
出を防いで、記録時または再生時に関わらず信頼性の高
い安定したドロップアウトを検出できるドロップアウト
検出回路を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態における光ディスク装
置の構成例を示すブロック図である。
【図２】図１に示したドロップアウト検出回路の内部構
成例を示すブロック図である。
【図３】図２に示したドロップアウト検出回路の動作を
説明するための図である。
【図４】本発明の第２の実施形態における光ディスク装
置のドロップアウト検出回路の内部構成例を示す図であ
る。
【図５】図４に示したドロップアウト検出回路の動作を
説明するための図である。
【図６】本発明の第３の実施形態における光ディスク装
置のドロップアウト検出回路の内部構成例を示すブロッ
ク図である。
【図７】図６に示したドロップアウト検出回路の動作を
説明するための図である。
【図８】本発明の第４の実施形態における光ディスク装
置のドロップアウト検出回路の内部構成例を示すブロッ
ク図である。
【図９】図８に示したドロップアウト検出回路の動作を
説明するための図である。
【図１０】従来例におけるドロップアウト検出回路のブ
ロック図である。
【図１１】図１０に示したドロップアウト検出回路の動
作を説明するための図である。
【符号の説明】
１２０、１２１、１２３、１２４、１２６ 加算器 １２２、１２５ 減算器 １２７、１３１ Ａ／Ｄ変換器 １２９、１３３ Ｄ／Ａ変換器 １３９ ＬＰＣ １４０ ＣＰＵ １４１ ウォブル用ＢＰＦ １４２ ウォブル用ＰＬＬ １４３ 信号処理回路 １４４ ＯＤＣ １４６ 低速エンベロープ回路（第２のエンベロープ検
波手段） １４７ 高速エンベロープ回路（第１のエンベロープ検
波手段） １４９ コンパレータ（コンパレータ手段） １５０ 差動回路（差動手段） １５３ モノマルチ（第１のパルス発生手段） １５４ 可変ゲインアンプ（可変ゲイン手段） １５５ ＬＰＦ（低域通過フィルター） １５７ 第２のモノマルチ（第２のパルス発生手段） １５６ ゲート回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森田 勝巳 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 BC04 CC04 DE61 GL02 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 CC05 CC14 CC16 EE01 FF36 FF38 FF42 HH01 LL08

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光ディスクに収束照射された光ビームの
    反射信号のエンベロープを第１の時定数で検出する第１
    のエンベロープ検波手段と、 前記反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上の
    第２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段
    と、 前記第１のエンベロープ検波手段によって検出されたエ
    ンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段によって
    検出されたエンベロープとの差を示す差信号を生成する
    差動手段と、 前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化
    基準で二値化するコンパレータ手段とを備え、 前記第１のエンベロープ検波手段は、記録中において前
    記第１の時定数を再生中よりも大きくすることを特徴と
    するドロップアウト検出回路。
  2. 【請求項２】 請求項１記載のドロップアウト検出回路
    において、 再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する
    際、 前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロ
    ープ検波手段の各々は、前記第１の時定数と前記第２の
    時定数を同一にすることを特徴とするドロップアウト検
    出回路。
  3. 【請求項３】 請求項２記載のドロップアウト検出回路
    において、 前記第１のエンベロープ検波手段と第２のエンベロープ
    検波手段の各々は、前記変化してから所定の時間に達す
    るまで、前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一に
    することを特徴とするドロップアウト検出回路。
  4. 【請求項４】 請求項１記載のドロップアウト検出回路
    において、 光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号を所定
    のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手段をさら
    に備え、 前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々は、前
    記可変ゲイン手段によって可変された反射信号のエンベ
    ロープを検出することを特徴とするドロップアウト検出
    回路。
  5. 【請求項５】 請求項４記載のドロップアウト検出回路
    において、 再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する
    際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエン
    ベロープ検波手段の各々は、前記第１の時定数と前記第
    ２の時定数を同一にし、 前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中とにお
    いて前記所定のゲインの値を変えることを特徴とするド
    ロップアウト検出回路。
  6. 【請求項６】 請求項４記載のドロップアウト検出回路
    において、 再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する
    際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエン
    ベロープ検波手段の各々は、前記第１の時定数と前記第
    ２の時定数を同一にし、 前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中とに
    おいて、前記所定の二値化基準の値を変えることを特徴
    とするドロップアウト検出回路。
  7. 【請求項７】 請求項４記載のドロップアウト検出回路
    において、 再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する
    際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエン
    ベロープ検波手段の各々は、前記第１の時定数と前記第
    ２の時定数を同一にし、 前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中とにお
    いて、前記所定のゲインの値を変え、 前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中とに
    おいて、前記所定の二値化基準の値を変えることを特徴
    とするドロップアウト検出回路。
  8. 【請求項８】 光ディスクに収束照射された光ビームの
    反射信号を、再生中と記録中とでは異なる所定のゲイン
    で所定の振幅に可変する可変ゲイン手段と、 前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを
    第１の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段
    と、 前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを
    前記第１の時定数以上の第２の時定数で検出する第２の
    エンベロープ検波手段と、 前記第１のエンベロープ検波手段から出力されるエンベ
    ロープと前期第２のエンベロープ検波手段から出力され
    るエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動手段
    と、 前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化
    基準で二値化するコンパレータ手段とを備え、 再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する
    際、前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々
    は、前記各々が検出したエンベロープの値を初期化する
    ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
  9. 【請求項９】 請求項８記載のドロップアウト検出回路
    において、 前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々によっ
    て行われる初期化は、同時に開始されることを特徴とす
    るドロップアウト検出回路。
  10. 【請求項１０】 請求項８記載のドロップアウト検出回
    路において、 前記第２のエンベロープ検波手段によって行われる初期
    化に要する時間は、前記第１のエンベロープ検波手段に
    よって行われる初期化に要する時間よりも短いことを特
    徴とするドロップアウト検出回路。
  11. 【請求項１１】 光ディスクに収束照射された光ビーム
    の反射信号の周波数帯域を、再生中と記録中とでは異な
    る所定の遮断周波数で切り替える低域通過フィルター
    と、 前記低域通過フィルターによって前記周波数帯域が切り
    替わった反射信号を、前記再生中と前記記録中とでは異
    なる所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手
    段と、 再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する
    際、第１の時間の間、第１のパルス信号を発生する第１
    のパルス発生手段と、 前記変化の際、第２の時間の間、第２のパルス信号を発
    生する第２のパルス発生手段と、 前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを
    第１の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段
    と、 前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを
    前記第１の時定数以上の第２の時定数で検出する第２の
    エンベロープ検波手段と、 前記第１のエンベロープ検波手段から出力されるエンベ
    ロープと前期第２のエンベロープ検波手段から出力され
    るエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動手段
    と、 前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化
    基準で二値化するコンパレータ手段と、 前記コンパレータ手段からの出力を遮断するゲート回路
    とを備え、 前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々は、前
    記第１のパルス信号をを受けて、前記第１の時間の間、
    前記各々が検出したエンベロープの値を強制放電し、 前記ゲート回路は、前記第２のパルス信号を受けて、前
    記第２の時間、前記コンパレータ手段からの出力を遮断
    することを特徴とするドロップアウト検出回路。
  12. 【請求項１２】 請求項１１記載のドロップアウト検出
    回路において、 前記第２の時間は、前記第１の時間よりも長いことを特
    徴とするドロップアウト検出回路。
  13. 【請求項１３】 請求項１から請求項１２のいずれかに
    記載のドロップアウト検出回路を備えることを特徴とす
    る光ディスク装置。
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