JP2003007967A - 半導体装置およびその製造方法並びに実装構造体 - Google Patents
半導体装置およびその製造方法並びに実装構造体Info
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Abstract
SFETが作り込まれたペレット16と、ペレット16
がボンディングされた放熱板11と、放熱板11のペレ
ット16の外側に固着された枠体13と、枠体13に固
着されてペレット16にワイヤ21によって電気的に接
続された複数本のリード15と、ペレット16、ワイヤ
21、各リード15のインナ部15aを封止した樹脂封
止体22を備えており、各リード15のアウタ部15b
が放熱板11と反対方向に屈曲されている。パワーMO
SFET23は実装基板30に放熱板11側を実装基板
30と反対側に向けて実装される。 【効果】 放熱板が実装基板と反対側に位置した状態に
なるため、放熱板から熱を効率よく放出できる。
Description
その製造方法並びに実装構造体、特に、放熱構造の改良
に関し、例えば、パワーMOSFETに利用して有効な
技術に関する。
するテスタのドライバの電源には高周波電力増幅用のパ
ワーMOSFET(以下、FETという。)が使用され
ている。従来のこの種のFETとして、FET素子を含
む増幅回路が作り込まれた半導体ペレット(以下、ペレ
ットという。)と、ペレットが固着されたヘッダと、ヘ
ッダに絶縁されて固定された複数本のリードと、ペレッ
トと各リードとを電気的にそれぞれ接続したワイヤと、
複数本のリードのそれぞれのインナ部、ペレットおよび
ワイヤを樹脂封止した樹脂封止体とを備えているものが
ある。
た従来のFETにおいては、放熱性を高めるためにはヘ
ッダに放熱フィンを外付けしなければならないという問
題点がある。
導体装置を提供することにある。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
り込まれた半導体ペレットと、この半導体ペレットがボ
ンディングされた放熱板と、この放熱板の前記半導体ペ
レットの外側に固着された枠体と、この枠体に固着され
て前記半導体ペレットに電気的に接続された複数本のリ
ードと、前記半導体ペレットおよび前記複数本のリード
のインナ部を封止した封止体とを備えており、前記複数
本のリードのアウタ部が前記放熱板と反対方向に屈曲さ
れていることを特徴とする。
放熱板にボンディングされているため、半導体ペレット
の発熱は放熱板によって効率よく放熱させることができ
る。また、複数本のリードのアウタ部が放熱板と反対方
向に屈曲されていることにより、半導体装置が実装基板
に実装された実装構造体においては、面付け実装形態で
あっても放熱板が実装基板と反対側に位置した状態にな
るため、放熱板から熱を効率よく放出することができ
る。
るFETを示しており、(a)は樹脂封止体を省略した
平面図、(b)は正面断面図である。図2以降は本発明
の一実施の形態であるFETの製造方法を示す各説明図
である。
体装置は、FETとして構成されている。このFET2
3はシリコン基板が使用されて半導体素子を含む電気回
路が作り込まれたペレット16と、ペレット16が半田
付け部20によって機械的に接続された放熱板11と、
放熱板11の外側に固着された枠体13と、枠体13に
保持された複数本のリード15と、複数本のリード15
のインナ部15aとペレット16の電極パッド17、1
8、19との間にそれぞれ橋絡されたワイヤ21と、ペ
レット16、リード15のインナ部15aおよびワイヤ
21を樹脂封止した樹脂封止体22とを備えており、複
数本のリード15のアウタ部15bは放熱板11と反対
方向に突出したガルウイング形状に屈曲成形されてい
る。
の製造方法を図2〜図4について説明する。そして、こ
の説明により、前記FETの構成についての詳細が同時
に明らかにされる。
いては、図2に示された組立体10が予め準備される。
図2に示されているように、組立体10は放熱板11と
枠体13と複数本のリード15とを備えている。放熱板
11は窒化アルミニウム(AlN)等の導電性の良好な
絶縁材料が使用されて長方形の板形状に形成されてい
る。放熱板11の一対の主面にはペレット16をボンデ
ィングするためのボンディング層12、12がペレット
16の大きさよりも充分に大きな四角形形状にそれぞれ
形成されており、ボンディング層12、12は熱伝導性
に優れた材料からである銅が使用されて形成されてい
る。このようにボンディング層12、12を放熱板11
の両主面に対称形に被着することにより、熱変動による
放熱板11の反り等の変形を防止することができる。図
示しないが、ボンディング層12、12の表面にはソル
ダビリティーを高めるためのニッケルめっき被膜が被着
されている。
る樹脂が使用されたトランスファ成形法が使用されて四
角形の枠形状に一体成形されており、枠体13には放熱
板11および複数本(本実施の形態においては6本)の
リード15が植設されている。すなわち、枠体13の一
方の主面(以下、第一主面という。)には放熱板11が
枠内に建て込まれるようにインサート成形されており、
放熱板11の両方のボンディング層12、12は第一主
面と他方の主面(以下、第二主面という。)との両面に
おいてそれぞれ露出されている。枠体13の内周面にお
ける両短辺側には一対の張出し部14、14が突設され
ており、張出し部14、14の第一主面側には放熱板1
1が配設され、張出し部14、14の第二主面側には複
数本のリード15が配設されている。複数本のリード1
5は長辺と平行に延設されており、枠体13の枠内のイ
ンナ部15aの幅は枠外のアウタ部15bの幅よりも大
きくなっている。図示しないが、リード15の表面には
ソルダビリティーを高めるための金めっき被膜が被着さ
れている。
3に示されているように、ペレット16がペレットボン
ディングされ、続いて、ペレット16と各リード15の
インナ部15aとの間にワイヤボンディングされる。
リコン(Si)が使用されて図3に示されているように
正方形の平板形状に形成されており、FET素子を含む
電気回路が作り込まれている。ペレット16の一主面
(以下、アクティブエリア側主面という。)にはゲート
用電極パッド17、ドレイン用電極パッド18およびソ
ース用電極パッド19が形成されている。ペレット16
はアクティブエリア側主面と反対側の主面を放熱板11
の第二主面側のボンディング層12に半田付け部20に
よってボンディングされる。この際、ボンディング層1
2の表面にはニッケルめっき被膜が被着されているた
め、半田付け部20はボンディング層12に確実に接着
するとともに、半田付け部20の錫とボンディング層1
2の銅との合金化が防止される。
ィングされたペレット16と3本のリード15との間に
は、ワイヤ21がそれぞれ橋絡される。すなわち、組立
体10がボンディングステージ(図示せず)に保持され
た状態で、ワイヤ21の一端部がペレット16のゲート
用電極パッド17に第一ボンディングされ、続いて、ワ
イヤ21の他端部が一方の短辺における片端のリード1
5のインナ部15aに第二ボンディングされる。次い
で、ドレイン用電極パッド18に第一ボンディングさ
れ、続いて、中央のリード15のインナ部15aに第二
ボンディングされる。次いで、ソース用電極パッド19
に第一ボンディングされ、続いて、他方の片端のリード
15のインナ部15aに第二ボンディングされる。な
お、本実施の形態においては、他方の短辺に配置された
3本のリード15にはワイヤボンディングされない。
た組立体10には樹脂封止体22が、図4に示されてい
るように成形される。すなわち、エポキシ樹脂等の封止
樹脂が組立体10の枠体13の第二主面側の枠内にポッ
ティングされて樹脂封止体22が成形される。この樹脂
封止体22によってペレット16、ワイヤ21および複
数本のリード15のインナ部15aが樹脂封止される。
示されているように、複数本のリード15のアウタ部1
5bが放熱板11と反対方向に突出するガルウイング形
状に屈曲成形され、前記したFET23が製造されたこ
とになる。
に構成されたFET23の放熱作用および効果を説明す
る。
スタのドライバの実装基板に実装される場合において
は、図5に示されているように、FET23は実装基板
30に放熱板11が実装基板30の反対側になるように
配されて面付け実装される。すなわち、実装基板30は
プリント配線基板からなる本体31を備えており、本体
31の一主面には複数個のランド32がFET23の複
数本のリード15のアウタ部15bに対応するように配
されて形成されている。FET23の複数本のリード1
5のアウタ部15bは半田ペースト(図示せず)が塗布
された複数個のランド32に当接され、この状態で、リ
フロー半田付け処理されると、FET23は実装基板3
0に半田付け部33によって機械的かつ電気的に接続さ
れた状態になる。
FET23の稼働に伴うペレット16の発熱は、半田付
け部20およびボンディング層12を介して放熱板11
に伝播される。この際、半田付け部20およびボンディ
ング層12は熱伝導性が良好な材料によってそれぞれ形
成されているため、ペレット16の発熱はきわめて放熱
板11に効率よく伝播され、また、放熱板11は熱伝導
性の良好な材料によって形成されているため、外部へ効
果的に放熱されることになる。しかも、放熱板11の第
一主面は完全に露出しているため、放熱板11に伝播し
たペレット16の発熱は放熱板11によってきわめて効
果的に放出される。
トされているとともに、ペレット16、リード15のイ
ンナ部15aおよびワイヤ21は樹脂封止体22によっ
て樹脂封止されているため、FET23を実装した実装
構造体34を実装基板30ごとフロリナート等の冷却媒
体に浸漬することができる。このような液冷構造によれ
ば、実装構造体34をより一層効率よく放熱することが
できる。
板11は熱膨張係数がシリコンと近似する窒化アルミニ
ウムによって形成されているため、ペレット16と放熱
板11との間には熱膨張係数差によって発生する応力は
小さく抑えられ、しかも、ペレット16は放熱板11に
柔軟性を有する半田付け部20によって機械的に接続さ
れていることにより、ペレット16と放熱板11との間
の熱膨張係数差によって発生した応力を吸収することが
できるため、ペレット16が当該応力によって損傷され
る危険性は未然に回避することができる。
イング形状に形成されたリード15のアウタ部15bに
よって面付け実装されているため、実装構造体34の高
さを薄く設定することができる。その結果、実装基板3
0の表側と裏側との双方に二個のFET23を腹合わせ
に面付け実装することができるため、実装構造体34の
実装密度を飛躍的に高めることができる。
11にボンディングされていることにより、ペレット1
6がリード15のアウタ部15bにボンディングされた
場合に比べて熱ストレスによる伸縮膨張を吸収すること
ができるため、ペレット16のクラックの発生を防止す
ることができる。
ETを示しており、(a)は樹脂封止体を省略した平面
図、(b)は一部切断正面図である。
は、二個のFET23、23が一枚の放熱板11に横並
びにボンディングされている点である。
の実装面積をディスクリートに対して半減することがで
きる。
の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施
の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しな
い範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
て形成するに限らず、アルミナセラミック等のセラミッ
クやアルミニウム等の熱伝導性の良好な材料によって形
成してもよい。
の封止は樹脂封止体を採用するに限らず、気密封止体を
採用してもよい。
ルミナセラミックやその他のセラミックによって形成し
てもよい。
成するに限らず、Jリード形状やLリード形状に形成し
てもよい。その場合には、FETの実装面積を低減する
ことができる。
設するに限らず、三個以上のペレットを配設してもよ
い。
なされた発明をその背景となった利用分野であるFET
の製造技術に適用した場合について説明したが、それに
限定されるものではなく、半導体ペレットの発熱を放熱
板によって放熱する半導体装置全般に適用することがで
きる。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
し、複数本のリードのアウタ部を放熱板と反対方向に屈
曲することにより、半導体装置が実装基板に実装された
実装構造体においては、面付け実装形態であっても放熱
板が実装基板と反対側に位置した状態になるため、放熱
板から熱を効率よく放出することができる。
り、(a)は樹脂封止体を省略した平面図、(b)は正
面断面図である。
に使用される組立体を示しており、(a)は平面図、
(b)は正面断面図である。
ィングおよびワイヤボンディング工程後を示しており、
(a)は平面図、(b)は正面断面図である。
(a)は平面図、(b)は正面断面図である。
ており、(a)は一部省略平面図、(b)は一部省略一
部切断正面図である。
ており、(a)は樹脂封止体を省略した平面図、(b)
は一部切断正面図である。
13…枠体、14…張出し部、15…リード、15a…
インナ部、15b…アウタ部、16…ペレット(半導体
ペレット)、17…ゲート用電極パッド、18…ドレイ
ン用電極パッド、19…ソース用電極パッド、20…半
田付け部、21…ワイヤ、22…樹脂封止体、23…F
ET(半導体装置)、30…実装基板、31…本体、3
2…ランド、33…半田付け部、34…実装構造体。
Claims (5)
- 【請求項1】 半導体素子を含む電気回路が作り込まれ
た半導体ペレットと、この半導体ペレットがボンディン
グされた放熱板と、この放熱板の前記半導体ペレットの
外側に固着された枠体と、この枠体に固着されて前記半
導体ペレットに電気的に接続された複数本のリードと、
前記半導体ペレットおよび前記複数本のリードのインナ
部を封止した封止体とを備えており、前記複数のリード
のアウタ部が前記放熱板と反対方向に屈曲されているこ
とを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記半導体ペレットが前記放熱板に半田
付け部によってボンディングされていることを特徴とす
る請求項1に記載の半導体装置。 - 【請求項3】 前記放熱板に複数個の前記半導体ペレッ
トが固着されていることを特徴とする請求項1または2
に記載の半導体装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載の半導体装置の製造方法
であって、前記放熱板が前記枠体に固着され、前記枠体
に前記複数本のリードが固着された組立体を準備する工
程と、この組立体の前記放熱板に前記半導体ペレットが
ボンディングされ、この半導体ペレットに前記複数本の
リードが電気的に接続される工程と、この半導体ペレッ
トおよび複数本のリードのインナ部を封止する封止体が
形成される工程と、前記複数のリードのアウタ部が前記
放熱板と反対方向に屈曲される工程とを備えていること
を特徴とする半導体装置の製造方法。 - 【請求項5】 請求項1に記載の半導体装置が実装基板
に、前記放熱板側を実装基板と反対側に向けて実装され
ていることを特徴とする実装構造体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001184913A JP3894749B2 (ja) | 2001-06-19 | 2001-06-19 | 半導体装置 |
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---|---|---|---|
JP2001184913A JP3894749B2 (ja) | 2001-06-19 | 2001-06-19 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2003007967A true JP2003007967A (ja) | 2003-01-10 |
JP3894749B2 JP3894749B2 (ja) | 2007-03-22 |
Family
ID=19024589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001184913A Expired - Lifetime JP3894749B2 (ja) | 2001-06-19 | 2001-06-19 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007096285A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-04-12 | Kyocera Corp | 発光素子搭載用基板、発光素子収納用パッケージ、発光装置および照明装置 |
JPWO2020262212A1 (ja) * | 2019-06-24 | 2020-12-30 | ||
JP2021090074A (ja) * | 2016-09-27 | 2021-06-10 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体装置 |
-
2001
- 2001-06-19 JP JP2001184913A patent/JP3894749B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007096285A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-04-12 | Kyocera Corp | 発光素子搭載用基板、発光素子収納用パッケージ、発光装置および照明装置 |
JP2021090074A (ja) * | 2016-09-27 | 2021-06-10 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体装置 |
JPWO2020262212A1 (ja) * | 2019-06-24 | 2020-12-30 |
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JP3894749B2 (ja) | 2007-03-22 |
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