JP2002539635A - 基板上でのトリミングを可能にする装置およびトリミングを可能にする基板を製造する方法 - Google Patents
基板上でのトリミングを可能にする装置およびトリミングを可能にする基板を製造する方法Info
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Abstract
(57)【要約】
基板上に表面実装された個別構成要素(6)および/または基板中に集積された構成要素(7)を有する基板(1)上のトリミングを可能にするために、トリミングしようとする各構成要素に対して基板表面上にトリミング可能構造(9)を設ける。
Description
【0001】 (技術分野) 本発明は、概してトリミングに関し、より詳細には、基板上に表面実装され、
かつ/または基板中に集積された構成要素を有する基板上の機能的トリミングお
よび/または構成要素トリミングに関する。
かつ/または基板中に集積された構成要素を有する基板上の機能的トリミングお
よび/または構成要素トリミングに関する。
【0002】 (発明の背景) セラミック基板表面上のプリント回路パターンのレーザ・トリミングは、それ
自体では知られている。
自体では知られている。
【0003】 一部の用途においては、基板の物理的寸法に厳しい要件が課せられている。こ
のようなことから、抵抗、インダクタ、コンデンサなどのいくつかの構成要素が
基板の異なる層上に集積されると共に、同時に基板表面上に表面実装構成要素が
実装される、いわゆるLTCC(低温共焼成セラミック)基板が設計されるに至
った。
のようなことから、抵抗、インダクタ、コンデンサなどのいくつかの構成要素が
基板の異なる層上に集積されると共に、同時に基板表面上に表面実装構成要素が
実装される、いわゆるLTCC(低温共焼成セラミック)基板が設計されるに至
った。
【0004】 日本特許抄録第02052494A号および同第60194556Aによって
、基板中の層上に集積された構成要素をトリミングするために、多層基板中に穴
またはウィンドを形成することは公知である。最上層中に穴またはウィンドを形
成することの問題は、表面スペースが厳しく制約されている最上層での面積の損
失が大きすぎることである。
、基板中の層上に集積された構成要素をトリミングするために、多層基板中に穴
またはウィンドを形成することは公知である。最上層中に穴またはウィンドを形
成することの問題は、表面スペースが厳しく制約されている最上層での面積の損
失が大きすぎることである。
【0005】 (発明の概要) 本発明の目的は、トリミングしようとする構成要素の一部を開放するために、
基板中に穴またはウィンドを形成する必要なく、基板、特に上端表面の物理的寸
法要件が非常に厳しい多層基板上でのトリミングを可能にすることである。
基板中に穴またはウィンドを形成する必要なく、基板、特に上端表面の物理的寸
法要件が非常に厳しい多層基板上でのトリミングを可能にすることである。
【0006】 本発明によれば上記目的は、構成要素が表面実装されているか、基板中に集積
されているかにかかわらず、トリミングしようとする各構成要素に対して、トリ
ミングしようとする構成要素に接続したトリミング可能構造を基板の表面上に設
けることによって達成される。
されているかにかかわらず、トリミングしようとする各構成要素に対して、トリ
ミングしようとする構成要素に接続したトリミング可能構造を基板の表面上に設
けることによって達成される。
【0007】 機能的トリミングおよび構成要素トリミングの両方ともこの方法によって達成
することができる。
することができる。
【0008】 添付の図面を参照して、以下に本発明をより詳細に説明する。
【0009】 (発明の説明) 図1は、いくつかの構成要素2a、2b、2cが異なる層の上に集積されてい
る多層基板1を図式的に示している。
る多層基板1を図式的に示している。
【0010】 基板1の表面上に、個別構成要素がインダクタ3として実装されている。
【0011】 インダクタのインダクタンス値が非常に低いためにセラミック基板中にプリン
ト・コンダクタとして実装することができる用途においては、ほとんどのコンダ
クタ・パタンは基板の表面領域に影響を与えない内部の層上にある。本発明によ
れば、インダクタンス値のトリミングを可能にするために、最小限のインダクタ
部分だけを基板の表面に配置する。
ト・コンダクタとして実装することができる用途においては、ほとんどのコンダ
クタ・パタンは基板の表面領域に影響を与えない内部の層上にある。本発明によ
れば、インダクタンス値のトリミングを可能にするために、最小限のインダクタ
部分だけを基板の表面に配置する。
【0012】 大きなインダクタンス値を必要とする用途においては、図1に図示したインダ
クタ3のような表面実装インダクタを使用する必要がある。
クタ3のような表面実装インダクタを使用する必要がある。
【0013】 本発明によれば、個別・インダクタ3は、基板1表面上にプリントされたトリ
ミング可能構造4に直列接続する。図1の実施形態において、トリミング可能構
造4には、必要な場合にはレーザ・トリミングを施すためのコンダクタを含める
。
ミング可能構造4に直列接続する。図1の実施形態において、トリミング可能構
造4には、必要な場合にはレーザ・トリミングを施すためのコンダクタを含める
。
【0014】 市販の個別インダクタのインダクタンス値は固定値であるので、市販の固定イ
ンダクタンス値間の階差をトリミングできるようにトリミング可能構造4を選定
し、占有面積を最小化するように最上層上のトリミング可能構造の領域を設計す
る。
ンダクタンス値間の階差をトリミングできるようにトリミング可能構造4を選定
し、占有面積を最小化するように最上層上のトリミング可能構造の領域を設計す
る。
【0015】 図1のトリミング構造4は、基板1中に集積されているインダクタをレーザ・
トリミングするのにも、もちろん使用することができる。
トリミングするのにも、もちろん使用することができる。
【0016】 したがって、例えば図1の基板1中の構成要素2cは基板1中の層上に集積さ
れたインダクタであってもよい。トリミング構造4を用いて、インダクタ2cの
インダクタンス値をトリミングできるようにするために、基板1の最上層中のバ
イアホール5を介してインダクタ2cと4を相互接続してある。
れたインダクタであってもよい。トリミング構造4を用いて、インダクタ2cの
インダクタンス値をトリミングできるようにするために、基板1の最上層中のバ
イアホール5を介してインダクタ2cと4を相互接続してある。
【0017】 図2は、構成要素2a、2b、2cを備える図1の基板1の実施形態を示して
いる。
いる。
【0018】 図2の実施形態においては、個別コンデンサ6が基板1の表面上に表面実装さ
れている。個別コンデンサ6は、基板1中の層上に集積された1つの電極8と、
基板1の表面上にトリミング電極9の形でもう1つの電極を有するトリミング可
能コンデンサ7と並列接続されている。トリミング電極9は、表面実装された個
別コンデンサ6の電極の1つと直列に接続されている。
れている。個別コンデンサ6は、基板1中の層上に集積された1つの電極8と、
基板1の表面上にトリミング電極9の形でもう1つの電極を有するトリミング可
能コンデンサ7と並列接続されている。トリミング電極9は、表面実装された個
別コンデンサ6の電極の1つと直列に接続されている。
【0019】 導電性領域の形態のトリミング構造9を用いることによって、コンデンサ6お
よび7のコンデンサンスをレーザ・トリミングすることが可能になる。
よび7のコンデンサンスをレーザ・トリミングすることが可能になる。
【0020】 基板1中の層上に集積されたコンデンサ7の電極8は、基板1の最上層中の貫
通ホール10を介して、個別コンデンサ6の他方の電極に接続されている。
通ホール10を介して、個別コンデンサ6の他方の電極に接続されている。
【0021】 図3は、集積された構成要素2a、2b、2cを備える基板1の別の実施形態
を示す。
を示す。
【0022】 図3の実施形態においては、基板1の表面上に個別チップ・抵抗11が実装さ
れていることを想定している。
れていることを想定している。
【0023】 個別抵抗11のトリミングを可能にするために、基板1の表面上にトリミング
可能抵抗12の形態でトリミング可能構造をプリントし、個別抵抗11と直列接
続してある。図3で示すように、トリミング可能抵抗12は、基板1中の他の層
上にある他の構成要素に接続されている。
可能抵抗12の形態でトリミング可能構造をプリントし、個別抵抗11と直列接
続してある。図3で示すように、トリミング可能抵抗12は、基板1中の他の層
上にある他の構成要素に接続されている。
【0024】 トリミング可能抵抗12は、従来型のレーザ・トリミングを用いてトリミング
する。
する。
【0025】 図4は、集積された構成要素2a、2b、2cを備えた基板1の別の実施形態
を示す。
を示す。
【0026】 図4に示す実施形態では、個別構成要素13が基板1の表面上に実装されてい
る。抵抗14は基板1の内部層上にプリントされている。抵抗14のトリミング
を可能にするために、トリミング可能抵抗15を基板1の表面にプリントし、基
板1の最上層中の貫通ホール16を介して、抵抗14と直列に接続してある。抵
抗14の抵抗値をトリミングするために、レーザ・トリミングを用いてトリミン
グ可能抵抗15をトリミングする。
る。抵抗14は基板1の内部層上にプリントされている。抵抗14のトリミング
を可能にするために、トリミング可能抵抗15を基板1の表面にプリントし、基
板1の最上層中の貫通ホール16を介して、抵抗14と直列に接続してある。抵
抗14の抵抗値をトリミングするために、レーザ・トリミングを用いてトリミン
グ可能抵抗15をトリミングする。
【0027】 上記から、前述したトリミング可能構成要素構造を用いることによりトリミン
グを容易に実施できることが明らかなはずである。
グを容易に実施できることが明らかなはずである。
【図1】 表面実装されたインダクタを備える多層基板、および本発明によるトリミング
構造の第1の実施形態の説明図である。
構造の第1の実施形態の説明図である。
【図2】 表面実装されたコンデンサを備える多層基板、および本発明によるトリミング
構造の第2の実施形態の説明図である。
構造の第2の実施形態の説明図である。
【図3】 表面実装されたチップ・抵抗を備える多層基板、および本発明によるトリミン
グング構造の第3の実施形態の説明図である。
グング構造の第3の実施形態の説明図である。
【図4】 表面実装された個別構成要素、すなわち基板中に集積された抵抗を備える多層
基板、および本発明によるトリミング構造の第4の実施形態の説明図である。
基板、および本発明によるトリミング構造の第4の実施形態の説明図である。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成13年3月5日(2001.3.5)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZW ),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU, TJ,TM),AE,AL,AM,AT,AU,AZ, BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,C U,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB,GD ,GE,GH,GM,HR,HU,ID,IL,IN, IS,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,L K,LR,LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK ,MN,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO, RU,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,T M,TR,TT,UA,UG,UZ,VN,YU,ZA ,ZW
Claims (10)
- 【請求項1】 基板上(1)に表面実装される個別構成要素(3、6、11
、13)および/または基板(1)中に集積される構成要素(7、14)のトリ
ミングを可能にする装置であって、トリミングしようとする各構成要素に対して
、基板(1)表面上にトリミング可能構造(4、9、12、15)を設けること
を特徴とする装置。 - 【請求項2】 前記構成要素が、基板中に集積されるコンデンサであり、ト
リミング可能構造が前記基板中に集積されるコンデンサの電極の一方に接続され
、前記基板中に集積されたコンデンサと並列に接続されるトリミング可能コンデ
ンサを形成することを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】 前記構成要素が表面実装コンデンサ(6)であり、前記トリ
ミング可能構造(9)を、その他方の電極(8)が基板(1)中に集積されるト
リミング可能コンデンサ(7)の一方の電極とし、前記トリミング可能コンデン
サを前記表面実装コンデンサと並列に接続することを特徴とする請求項1に記載
の装置。 - 【請求項4】 前記構成要素が、基板上(1)に表面実装され、かつ/また
は基板中に集積されているインダクタ(3)であり、トリミング可能構造(4)
を、前記基板上に表面実装されるインダクタ(3)および/または基板中に集積
されるインダクタ(3)と直列に接続したトリミング可能インダクタとすること
を特徴とする請求項1に記載の装置。 - 【請求項5】 前記構成要素が、基板上に表面実装され、かつ/または基板
中に集積される抵抗(11、14)であり、トリミング可能構造(12、15)
を、基板上に表面実装、および/または基板中に集積される抵抗と直列接続また
は並列接続されるトリミング可能抵抗とすることを特徴とする請求項1に記載の
装置。 - 【請求項6】 基板上に表面実装される個別構成要素および/または基板中
に集積される構成要素を有する基板を製造する方法であって、トリミングしよう
とする各構成要素に対して、そのトリミングを可能にするためのトリミング可能
構造を基板表面上に設けることを特徴とする方法。 - 【請求項7】 前記構成要素が、基板上に表面実装されるコンデンサであり
、コンデンサの電極の1つをトリミング可能構造に接続し、コンデンサの他方の
電極を、基板中に集積されてトリミング可能構造と共にトリミング可能コンデン
サを形成するように適合された電極に接続することを特徴とする請求項6に記載
の方法。 - 【請求項8】 前記構成要素が、基板中に集積されるコンデンサであり、コ
ンデンサの電極の1つをトリミング可能構造に接続して、前記基板中に集積され
たコンデンサと並列に接続されたトリミング可能コンデンサを形成することを特
徴とする請求項6に記載の方法。 - 【請求項9】 前記構成要素が、基板(1)上に表面実装されているか、ま
たは基板中に集積されているインダクタ(3)であり、トリミング可能構造(4
)を、前記基板上に表面実装されているか、または基板中に集積されているイン
ダクタと直列に接続することを特徴とする請求項6に記載の方法。 - 【請求項10】 前記構成要素が、基板(1)上に表面実装されているか、
または基板中に集積されている抵抗(11、14)であり、トリミング可能構造
(12、15)を、前記基板上に表面実装され、かつ/または基板中に集積され
た抵抗と直列または並列に接続することを特徴とする請求項6に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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