JP2002520627A - 生物測定学的なセンサおよび該センサを製造する方法 - Google Patents
生物測定学的なセンサおよび該センサを製造する方法Info
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Abstract
Description
が挿入されているハウジングとが設けられている形式のものに関する。さらに、
本発明は、このような形式のセンサを製造する方法に関する。
erminutien)、つまり指紋を検出することが知られている。このよう
な個人の認証は、たとえば携帯電話、コンピュータ、自動車、鍵等において使用
され得る。ある程度の使用範囲、特に携帯電話においては、組込みを可能にする
ために、チップハウジングを可能な限り小さく形成することが必要となる。特に
、この場合、最小の構成部分厚さが所望されている。
センサが公知である。この公知のセンサにおいては、センサチップがリードフレ
ーム上に被着されている。この場合、センサチップは、ワイヤボンディング法に
よって電気的に接触接続されていて、モールド材料によって封入されている。こ
の場合、センサ面には、モールド材料内の、相応の切欠きを通って接近可能であ
る。
ており、他方では比較的複雑に製造されているという欠点が存在する。
改良して、センサが可能な限り小さなサイズを有していて、簡単に製造できるよ
うにすることである。さらに、このような形式の、生物測定学的なセンサを可能
な限り簡単に製造する方法を提供することが所望される。
徴によって解決される。本発明の有利な構成および実施態様は従属請求項に記載
されている。
いる、すなわち: −センサチップが、導電性のバンプの形の接続接点を有しており、 −センサチップの上面に引掻き防護カバーが位置しており、 −バンプが、チップハウジング内にまたはチップハウジングに沿って設けられた
接続線路と接触接続しており、 −引掻き防護カバーとチップハウジングとの間に、少なくともセンサフィールド
を取り囲むように接着層が位置しており、該接着層の厚さが、バンプの高さに調
和されており、これによって、センサチップとチップハウジングとの間の密な結
合が提供される。
ジングが、予め規定された箇所にすでにセンサチップのための接続接点を有して
いるということである。センサチップは、チップハウジング内への挿入時に、対
応する箇所に位置するバンプ(導電性の材料から成るこぶ状の突起)でチップハ
ウジングの接続接点に接続されるので、後続のワイヤボンディングは完全に不要
となる。センサチップはチップハウジング内に不動にかつ密に位置しているので
、モールド、つまり、樹脂材料によるチップの封入も完全に不要にすることがで
きる。さらに、本発明による、生物測定学的なセンサは、簡単にかつ迅速に、し
かも、粗悪品の数を少なく製造することができる。この場合、特に有利には、バ
ンプとチップハウジングの接続接点との接触接続と、チップハウジングとセンサ
チップとの間の、接着層を用いたシールとが1回の作業ステップで行われる。本
発明によるセンサチップは両側からも封入される必要がなく、かつ別個のチップ
ハウジングは、センサチップの幾何学的形状と、センサの、後の使用領域とに正
確に調和することができるので、本発明によるセンサは、予め設定されたセンサ
面を維持したまま、従来慣用のセンサよりも著しく小さく製造することもできる
。
くとも1つの別の支持バンプが、センサチップの上面の、該センサチップがチッ
プハウジングに対して相対的に傾倒することを阻止する箇所に設けられている。
このような形式の「ダミーバンプ」は、センサチップが、チップハウジングの、
対応する凹設部内に挿入された後に、チップハウジングに対して共面的に整合さ
れている、つまり同一平面を成していることを保証する。これによって、センサ
チップの全てのバンプと、チップハウジングの接続線路の、対応する接続接点と
の、申し分のない接触接続が保証される。
ートは、センサチップのセンサ面の周りに環状に被着される。
ている。この場合、接続線路は、チップハウジングの材料内に埋め込まれていて
、このチップハウジングの外縁部に案内されている。これによって、接続線路の
、後の損傷を回避することができる。チップハウジングの外縁部に形成された接
続線路はリードまたは脚(Beinchen)を成している。このリードまたは
脚は、コネクタ接点、はんだ接点または圧接接点として形成されていてよい。
下のステップによって特徴付けられている、すなわち: a)ウェーハのセンサチップの接続接点上に導電性のバンプを被着させ、 b)ウェーハ表側を引掻き防護カバーによってカバーし、 c)該引掻き防護カバーをバンプ上面から除去し、 d)センサチップを個別化し、 e)該センサチップのセンサ面を取り囲むように接着層を被着させ、 f)電気的な接続線路が設けられたチップハウジング内にセンサチップを挿入し
、この場合、センサチップとセンサハウジングとの接着と、バンプとチップハウ
ジングの接続線路との接触接続とを同時に実施する。
セスにおいてすでに、相応するバンプ、つまり、導電性のこぶ状の突起がウェー
ハのセンサチップ接続接点上に被着されることである。このことは、たとえばス
クリーン印刷によって行うことができる。次いで、ウェーハの上面(表側)に、
バンプ高さに調和された層厚さを有する、有利には透明な引掻き防護カバーが装
着される。次いで、バンプは、有利には化学機械的な研磨法(CMP)によって
、引掻き防護カバーと、場合によって存在する酸化物層(酸化膜)から解放され
る。同時に、このステップによってバンプの同等化が達成される、すなわち、共
面性が各バンプの間で形成される。これによって、後続のプロセスにおける接触
接続可能性が改善される。センサチップを個別化した後、センサ面を取り囲むよ
うに、バンプ高さに調和された厚さを有する接着性の媒体、有利には接着シート
が被着される。いま、センサチップは、製品要求に相応するハウジング、有利に
は射出成形されたプラスチックハウジング内に組み付けられる。この場合、チッ
プハウジング内でのセンサチップの接着と、バンプとチップハウジングとの間の
接触接続は1回のステップで行われる。
化と、ウェーハ平面上の保護層ならびに酸化物層の除去とが実施される。バンプ
とチップハウジングとの接触接続と、チップハウジングとセンサチップとの間の
シールとはただ1回の作業ステップで行われる。こうして、本発明によるセンサ
を極めて簡単にかつ廉価に、しかも、小さな寸法で製造することができる。
バーが、あとでバンプ上面から再び除去される方法に対して選択的に、バンプの
領域における適切なマスキングによって、引掻き防護カバーに開口が開放される
ように、ウェーハ表側に引掻き防護カバーを被着させることも可能である。この
場合、マスクは引き続き再び除去される。
なセンサは、主として、チップハウジング1とセンサチップ2とから成っている
。
ジングから成っている。同じく方形の、チップハウジング1に設けられた貫通す
る切欠き3は、指の特徴ポイントが存在する指の先端の部分を挿入できるような
サイズを有している。さらに、切欠き3は、前方の縁部領域および側方の両縁部
領域にだけ狭幅のウェブ4が存在するように寸法設定されている。チップハウジ
ング1の後方の縁部領域は広幅に形成されていて、相並んで位置する多数の接続
線路5を有している。これらの接続線路5は、すでにチップハウジング1に組み
込まれている。図示の実施例では、これらの接続線路5がチップハウジング1の
下面で延びているが、しかし、ハウジング材料内に完全に埋め込まれていてもよ
いので、接続線路5の前後の端部は、接触接続の目的のために露出している。
よって、下方へ突出する環状の狭幅の縁部7が形成される。この縁部7は、挿入
されるセンサチップ2を側方で完全に取り囲むようになっている。挿入された状
態では、センサチップ2の下面は、環状の縁部7の下面に対して整合して、つま
り同一平面を成して延びている。図面から分かるように、縁部7の幅は、チップ
ハウジング1の前後の端面においても比較的狭幅に設計されているので、チップ
ハウジング1の全長は、センサチップ2の全長よりも僅かしか長くならない。
ルド8のサイズは、チップハウジング1の切欠き3のサイズに相当している。セ
ンサチップ2の挿入された状態では、センサフィールド8はチップハウジング1
の切欠き3に方向付けられているので、接触された指の特徴ポイントを評価する
ための、最大のセンサフィールド面を使用することができる。
上面に存在する、相並んで一列に位置する多数の接続接点で終わっている。これ
らの接続接点は、導電性のバンプ9、つまりこぶ状の突起の形で形成されている
。これらのバンプ9は、たとえばスクリーン印刷によってウェーハ上に被着させ
ることができる。さらに、バンプ9は、センサチップ2の挿入された状態で、各
バンプ9がチップハウジング1の、対応する接続線路5と接触するように配置さ
れている。これによって、接続線路5への電気的な接続が形成される。
透明な引掻き防護カバー12が位置している。この引掻き防護カバー12は、ウ
ェーハ製造時にすでにセンサチップ2の全面に被着される。この引掻き防護カバ
ー12の高さはバンプ9の高さに調和されている。さらに、引掻き防護カバー1
2と、場合によって存在する酸化物層(酸化膜)とは、たとえば化学機械的な研
磨法によってバンプ9の上面から除去されるので、バンプ9と接続線路5との間
の、導電的な接続部を形成することができるようになっている。
避するために、センサチップ2の前方の端部領域に支持バンプを設けることがで
きる。この支持バンプはバンプ9に相応しているが、導電機能は有しておらず、
単に支持機能しか有していない。
は、枠形の接着シートの形の接着層10が被着される。接着層10の中央の自由
空間11はセンサフィールド8のサイズもしくはチップハウジング1に設けられ
た切欠き3のサイズに相当している。さらに、接着層10の厚さはバンプ9の高
さに調和されている。接着層10は、センサチップ2をチップハウジング1に接
着するために役立つ。同時に接着層10によって、環状のシール枠が提供される
。このシール枠は、チップハウジング1とセンサチップ2との間の、環状の密な
結合を保証している。
されると、同時にチップハウジング1の接続線路5とのバンプ9の、直接的な電
気的な接触接続ならびにセンサチップ2とチップハウジング1との間のシールが
行われる。
5 接続線路、 6 凹設部、 7 縁部、 8 センサフィールド、 9
バンプ、 10 接着層、 11 自由空間、 12 引掻き防護カバー
Claims (9)
- 【請求項1】 生物測定学的なセンサであって、センサチップ(2)と、該
センサチップ(2)が挿入されているハウジング(1)とが設けられている形式
のものにおいて、 −センサチップ(2)が、導電性のバンプ(9)の形の接続接点を有しており、 −センサチップ(2)の上面に引掻き防護カバー(12)が位置しており、 −バンプ(9)が、チップハウジング(1)内にまたはチップハウジング(1)
に沿って設けられた接続線路(5)と接触接続しており、 −引掻き防護カバー(12)とチップハウジング(1)との間に、少なくともセ
ンサフィールド(8)を取り囲むように接着層(10)が位置しており、該接着
層(10)の厚さが、バンプ(9)の高さに調和されており、これによって、セ
ンサチップ(2)とチップハウジング(1)との間の密な結合が提供される、 ことを特徴とする、生物測定学的なセンサ。 - 【請求項2】 接続線路(5)と接触するバンプ(9)に対して付加的に、
少なくとも1つの別の支持バンプが、センサチップ(2)の上面の、該センサチ
ップ(2)がチップハウジング(1)に対して相対的に傾倒することを阻止する
箇所に設けられている、請求項1記載のセンサ。 - 【請求項3】 接着層(10)が、枠形の接着シートである、請求項1また
は2記載のセンサ。 - 【請求項4】 チップハウジング(1)が、射出成形ハウジングから成って
いる、請求項1から3までのいずれか1項記載のセンサ。 - 【請求項5】 接続線路(5)が、チップハウジング(1)の材料内に埋め
込まれていて、該チップハウジング(1)の外縁部に案内されている、請求項1
から4までのいずれか1項記載のセンサ。 - 【請求項6】 生物測定学的なセンサを製造する方法において、以下のステ
ップ、すなわち: a)ウェーハのセンサチップ(2)の接続接点上に導電性のバンプ(9)を被着
させ、 b)ウェーハ表側を引掻き防護カバー(12)によってカバーし、 c)該引掻き防護カバー(12)をバンプ上面から除去し、 d)センサチップ(2)を個別化し、 e)該センサチップ(2)のセンサフィールド(8)を取り囲むように接着層(
10)を被着させ、 f)電気的な接続線路(5)が設けられたチップハウジング(1)内にセンサチ
ップ(2)を挿入し、この場合、センサチップ(2)とセンサハウジング(1)
との接着と、バンプ(9)とチップハウジング(1)の接続線路(5)との接触
接続とを同時に実施する、 を特徴とする、生物測定学的なセンサを製造する方法。 - 【請求項7】 バンプ上面からの引掻き防護カバー(12)の除去を化学機
械的な研磨法(CMP)を用いて実施する、請求項6記載の方法。 - 【請求項8】 露出した全てのバンプ上面が同一のレベルに位置するように
、ウェーハ上でのバンプ上面の露出を行う、請求項6または7記載の方法。 - 【請求項9】 生物測定学的なセンサを製造する方法において、以下のステ
ップ、すなわち: a)ウェーハのセンサチップ(2)の接続接点上に導電性のバンプ(9)を被着
させ、 b)該バンプ(9)の領域におけるマスキングによって、引掻き防護カバー(1
2)に開口が開放するように、ウェーハ表側に引掻き防護カバー(12)を被着
させ、 c)センサチップ(2)を個別化し、 d)該センサチップ(2)のセンサフィールド(8)を取り囲むように接着層(
10)を被着させ、 f)電気的な接続線路(5)が設けられたチップハウジング(1)内にセンサチ
ップ(2)を挿入し、この場合、センサチップ(2)とセンサハウジング(1)
との接着と、バンプ(9)とチップハウジング(1)の接続線路(5)との接触
接続とを同時に実施する、 を特徴とする、生物測定学的なセンサを製造する方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100413068C (zh) * | 2003-03-31 | 2008-08-20 | 富士通株式会社 | 用于指纹识别的半导体装置 |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8882666B1 (en) | 1998-05-08 | 2014-11-11 | Ideal Life Inc. | Personal health monitoring and/or communication system |
DE19831570A1 (de) * | 1998-07-14 | 2000-01-20 | Siemens Ag | Biometrischer Sensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
ATE280976T1 (de) | 2000-03-24 | 2004-11-15 | Infineon Technologies Ag | Gehäuse für biometrische sensorchips |
JP2002047840A (ja) * | 2000-08-02 | 2002-02-15 | Masahiko Okuno | バイオメトリックスデータ認証装置を備えたスイッチ機構、バイオメトリックスデータ認証を併用するスイッチ方法及びバイオメトリックスデータ認証を併用するスイッチングプログラムを記録した記録媒体 |
DE10120362A1 (de) * | 2001-04-26 | 2002-11-21 | Integrated Electronic Systems Sys Consulting Gmbh | Spritzgussformteil |
EP1407477A4 (en) * | 2001-05-22 | 2006-06-07 | Atrua Technologies Inc | IMPROVED CONNECTING ASSEMBLY FOR INTEGRATED CIRCUIT SENSORS |
US7418255B2 (en) * | 2002-02-21 | 2008-08-26 | Bloomberg Finance L.P. | Computer terminals biometrically enabled for network functions and voice communication |
DE10325863A1 (de) * | 2003-06-06 | 2005-01-05 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Herstellen eines integrierten Fingerabdrucksensors sowie Sensorschaltungsanordnung und Einspritzanordnung |
US8034294B1 (en) | 2003-07-15 | 2011-10-11 | Ideal Life, Inc. | Medical monitoring/consumables tracking device |
US8571880B2 (en) * | 2003-08-07 | 2013-10-29 | Ideal Life, Inc. | Personal health management device, method and system |
US20060293891A1 (en) * | 2005-06-22 | 2006-12-28 | Jan Pathuel | Biometric control systems and associated methods of use |
US8358816B2 (en) | 2005-10-18 | 2013-01-22 | Authentec, Inc. | Thinned finger sensor and associated methods |
WO2010113712A1 (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-07 | アルプス電気株式会社 | 容量型湿度センサ及びその製造方法 |
DE202009018513U1 (de) | 2009-10-10 | 2011-12-09 | Brose Fahrzeugteile Gmbh & Co. Kommanditgesellschaft, Hallstadt | Vorrichtung zur Ansteuerung eines Verstellantriebs eines Kraftfahrzeugs |
EP2444415A1 (en) * | 2010-10-20 | 2012-04-25 | Genoplante-Valor | 1-Deoxy-D-xylulose 5-phosphate synthase alleles responsible for enhanced terpene biosynthesis |
US9089270B2 (en) | 2011-06-29 | 2015-07-28 | Lg Electronics Inc. | Terminal and control method thereof |
KR101298636B1 (ko) | 2013-07-05 | 2013-08-20 | (주)드림텍 | 지문인식센서면과 코팅층의 밀착력 및 차폐 강화를 위한 지문인식 홈키 제조방법 및 지문인식 홈키 구조 |
US10014189B2 (en) * | 2015-06-02 | 2018-07-03 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Ceramic package with brazing material near seal member |
CN106127195B (zh) * | 2016-08-30 | 2017-11-17 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 指纹模组、指纹模组制作方法及移动终端 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06196598A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-15 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体チップの実装構造 |
JPH08235361A (ja) * | 1994-12-26 | 1996-09-13 | Toshiba Corp | 個人認証装置 |
JPH09102515A (ja) * | 1995-07-28 | 1997-04-15 | Optrex Europ Gmbh | 電子構成部材と導電体を有する支持体 |
JPH09231346A (ja) * | 1996-01-26 | 1997-09-05 | Harris Corp | 安全性の強化された指紋センサパッケージとその製造方法 |
JPH09251530A (ja) * | 1996-01-26 | 1997-09-22 | Harris Corp | 電界指紋センサ装置および関連方法 |
JPH10335527A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Nec Corp | 半導体装置、半導体装置の実装方法、および半導体装置の製造方法 |
JP2000057328A (ja) * | 1998-03-03 | 2000-02-25 | Siemens Ag | 指先センサ |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4429413A (en) * | 1981-07-30 | 1984-01-31 | Siemens Corporation | Fingerprint sensor |
FR2626408B1 (fr) * | 1988-01-22 | 1990-05-11 | Thomson Csf | Capteur d'image a faible encombrement |
WO1990004263A1 (en) * | 1988-10-14 | 1990-04-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image sensor and method of producing the same |
DE69006609T2 (de) * | 1989-03-15 | 1994-06-30 | Ngk Insulators Ltd | Keramischer Deckel zum Verschliessen eines Halbleiterelements und Verfahren zum Verschliessen eines Halbleiterelements in einer keramischen Packung. |
US5483100A (en) * | 1992-06-02 | 1996-01-09 | Amkor Electronics, Inc. | Integrated circuit package with via interconnections formed in a substrate |
KR0148733B1 (ko) * | 1995-04-27 | 1998-08-01 | 문정환 | 고체 촬상 소자용 패키지 및 그 제조방법 |
FR2736179B1 (fr) * | 1995-06-27 | 1997-07-25 | Thomson Csf Semiconducteurs | Systeme d'authentification fonde sur la reconnaissance d'empreintes digitales |
JP4024335B2 (ja) * | 1996-01-26 | 2007-12-19 | ハリス コーポレイション | 集積回路のダイを露出させる開口部を有する集積回路装置とその製造方法 |
DE19634849A1 (de) * | 1996-08-28 | 1998-03-05 | Siemens Ag | Verfahren und Anordnung zur Identifikation von Personen |
US5887343A (en) * | 1997-05-16 | 1999-03-30 | Harris Corporation | Direct chip attachment method |
DE19831570A1 (de) * | 1998-07-14 | 2000-01-20 | Siemens Ag | Biometrischer Sensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
US6307258B1 (en) * | 1998-12-22 | 2001-10-23 | Silicon Bandwidth, Inc. | Open-cavity semiconductor die package |
-
1998
- 1998-07-14 DE DE19831570A patent/DE19831570A1/de not_active Withdrawn
-
1999
- 1999-07-12 AT AT99961981T patent/ATE232322T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-07-12 EP EP99961981A patent/EP1119823B1/de not_active Expired - Lifetime
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- 1999-07-12 WO PCT/DE1999/002146 patent/WO2000004491A1/de active IP Right Grant
- 1999-07-12 BR BR9912812-8A patent/BR9912812A/pt not_active IP Right Cessation
- 1999-07-12 DE DE59904237T patent/DE59904237D1/de not_active Expired - Lifetime
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- 1999-07-12 RU RU2001104356/09A patent/RU2220450C2/ru not_active IP Right Cessation
- 1999-07-12 CN CN998086711A patent/CN1132120C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1999-07-12 ES ES99961981T patent/ES2192409T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1999-12-07 UA UA2001010268A patent/UA57844C2/uk unknown
-
2001
- 2001-01-16 US US09/761,806 patent/US6528723B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-11-06 US US10/289,087 patent/US6836953B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06196598A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-15 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体チップの実装構造 |
JPH08235361A (ja) * | 1994-12-26 | 1996-09-13 | Toshiba Corp | 個人認証装置 |
JPH09102515A (ja) * | 1995-07-28 | 1997-04-15 | Optrex Europ Gmbh | 電子構成部材と導電体を有する支持体 |
JPH09231346A (ja) * | 1996-01-26 | 1997-09-05 | Harris Corp | 安全性の強化された指紋センサパッケージとその製造方法 |
JPH09251530A (ja) * | 1996-01-26 | 1997-09-22 | Harris Corp | 電界指紋センサ装置および関連方法 |
JPH10335527A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Nec Corp | 半導体装置、半導体装置の実装方法、および半導体装置の製造方法 |
JP2000057328A (ja) * | 1998-03-03 | 2000-02-25 | Siemens Ag | 指先センサ |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100413068C (zh) * | 2003-03-31 | 2008-08-20 | 富士通株式会社 | 用于指纹识别的半导体装置 |
US7989938B2 (en) | 2003-03-31 | 2011-08-02 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor device for fingerprint recognition |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2000004491A1 (de) | 2000-01-27 |
CN1132120C (zh) | 2003-12-24 |
KR20010053523A (ko) | 2001-06-25 |
BR9912812A (pt) | 2001-05-02 |
DE59904237D1 (de) | 2003-03-13 |
EP1119823B1 (de) | 2003-02-05 |
JP3413176B2 (ja) | 2003-06-03 |
DE19831570A1 (de) | 2000-01-20 |
US20010012201A1 (en) | 2001-08-09 |
KR100400366B1 (ko) | 2003-10-04 |
US6836953B2 (en) | 2005-01-04 |
US20030062621A1 (en) | 2003-04-03 |
US6528723B2 (en) | 2003-03-04 |
CN1309794A (zh) | 2001-08-22 |
ATE232322T1 (de) | 2003-02-15 |
RU2220450C2 (ru) | 2003-12-27 |
ES2192409T3 (es) | 2003-10-01 |
EP1119823A1 (de) | 2001-08-01 |
UA57844C2 (uk) | 2003-07-15 |
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