JP2002184037A - 光ディスクおよびその製造方法ならびに光ディスクの製造装置 - Google Patents

光ディスクおよびその製造方法ならびに光ディスクの製造装置

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Kazuhide Hayashi
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高密度記録が可能な光ディスクおよびその製
造方法を提供する。 【解決手段】 一主面11aに信号領域SAを備え中心
孔Aを有する第1の基板11と、第1の基板11に貼り
合わされた透光性の第2の基板12とを備える。第2の
基板12が第1の基板11よりも薄く中心孔Aよりも直
径が大きい中心孔Bを備え、第1の基板11と第2の基
板12とが、第1の基板11と第2の基板12との間で
あって少なくとも第2の基板12の内周端12sから外
周端12tにかけて配置された放射線硬化性樹脂(接着
部材)13によって貼り合わされている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクおよび
その製造方法に関し、特にたとえば、レーザ光が入射す
る側の基板を薄くした光ディスクおよびその製造方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】近年、情報記録の分野では様々な光情報
記録に関する研究が進められている。この光情報記録は
高密度化が可能であり、また、非接触で記録・再生が行
え、それを安価に実現できる方式として幅広い用途での
応用が実現されつつある。現在の光ディスクとしては、
厚さ1.2mmの透明樹脂基板に情報層を設け、それを
オーバーコートによって保護した構造、あるいは0.6
mmの透明樹脂基板の一方もしくは両方に情報層を設
け、それら2枚を貼り合わせた構造が用いられている。
【0003】近年、光ディスクの記録密度を上げる方法
として、対物レンズの開口数(NA)を大きくする方法
や、使用するレーザの波長を短くする方法が検討されて
いる。このとき記録・再生側基板(レーザ光が入射する
側の基板)の厚みが薄いほうが、レーザスポットが受け
る収差の影響を小さくでき、ディスクの傾き角度(チル
ト)の許容値を大きくできる。このことから、記録・再
生側基板の厚さを0.1mm程度にし、NAを0.85
程度、レーザの波長を400nm程度にすることが提案
されている。
【0004】現在のDVD(デジタル バーサタイル
ディスク)では、成膜等の処理を行った厚さ0.6mm
の2枚の透明樹脂基板を放射線硬化性樹脂で貼り合わせ
るという方法が主に用いられている。高密度化のために
記録・再生側基板の厚みが0.1mm程度になったとき
も、現在と同様の設備を用いて同様の方法で貼り合わせ
ることが望ましい。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、2枚の
基板を貼りあわせる光ディスクでは、耐久性を向上させ
ることが求められている。また、2枚の基板の中心がず
れると、回転させたときにぶれが生じるため、2枚の基
板の中心を高精度で一致させることが求められている。
さらに、これらの光ディスクを容易に製造する方法も求
められている。
【0006】そのため、本発明は、2枚の基板を貼りあ
わせることによって高密度記録が可能な光ディスクおよ
びその製造方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の光ディスクは、一主面に信号領域を備え中
心孔Aを有する第1の基板と、前記第1の基板に貼り合
わされた透光性の第2の基板とを備える光ディスクであ
って、前記第2の基板が前記第1の基板よりも薄く前記
中心孔Aよりも直径が大きい中心孔Bを備え、前記第1
の基板と前記第2の基板とが、前記第1の基板と前記第
2の基板との間であって少なくとも前記第2の基板の内
周端から外周端にかけて配置された接着部材によって貼
り合わされていることを特徴とする。光ディスクによれ
ば、高密度記録が可能であると共にハンドリングが容易
な光ディスクが得られる。これによって、ディスクをハ
ンドリングした時に接触部分が割れたり剥がれたりする
ことを防止できる。なお、本明細書で用いる「放射線」
は、電子線および紫外線などの粒子波および電磁波を含
む。
【0008】上記光ディスクでは、前記接着部材が放射
線硬化性樹脂であってもよい。上記構成によれば、製造
が容易になる。
【0009】上記光ディスクでは、前記第2の基板の厚
さが、0.03mm〜0.3mmの範囲内であってもよ
い。この構成によれば、特に高密度に情報を記録するこ
とが可能な光ディスクが得られる。
【0010】上記光ディスクでは、前記中心孔Bがクラ
ンプ領域よりも大きくてもよい。この構成によれば、光
ディスクを安定して固定できる。また、光ディスクのク
ランプ時に、第2の基板が剥離することを防止できる。
【0011】上記光ディスクでは、前記接着部材が、ク
ランプ領域よりも外周側に配置されていてもよいし、ま
たは、クランプ領域のすべてを覆うように配置されてい
てもよい。この構成によれば、クランプ領域の厚さを均
一にできるため、記録・再生時にチルトが発生すること
を防止できる。
【0012】上記光ディスクでは、前記第1の基板のク
ランプ領域の厚さが、1.1mm以上1.3mm以下で
あってもよい。
【0013】上記光ディスクでは、前記第1の基板は、
前記一主面側に、前記中心孔Aを囲むように円環状に形
成され且つ外径が前記中心孔Bの直径以下である凸部、
および、前記中心孔Aを囲むように円環状に形成され且
つ直径が前記中心孔Bの直径以下である凹部から選ばれ
る少なくとも1つを備えてもよい。
【0014】上記光ディスクでは、前記凸部の高さが、
前記第2の基板の厚さと前記接着部材の厚さとの和より
も大きくてもよい。
【0015】上記光ディスクでは、前記接着部材の平均
厚さが、0.5μm〜30μmの範囲内であってもよ
い。
【0016】上記光ディスクでは、情報の再生のために
照射されるレーザの波長が450nm以下であってもよ
い。この構成によれば、特に高密度に情報を記録でき
る。
【0017】また、光ディスクを製造するための本発明
の第1の製造方法は、(a)一主面に信号領域を備え中
心孔Aを有する第1の基板と、前記中心孔Aよりも直径
が大きい中心孔Bを有し前記第1の基板よりも薄い透光
性の第2の基板とを、前記一主面が内側になるように放
射線硬化性樹脂を挟んで密着させる工程と、(b)前記
放射線硬化性樹脂に放射線を照射することによって前記
放射線硬化性樹脂を硬化させて前記第1の基板と前記第
2の基板とを貼り合わせる工程とを含み、前記(a)の
工程において、前記第2の基板の少なくとも内周端から
外周端まで前記放射線硬化性樹脂を配置することを特徴
とする。第1の製造方法によれば、高密度記録が可能で
あると共に、ハンドリングが容易な光ディスクを容易に
製造できる。
【0018】上記第1の製造方法では、前記第2の基板
の厚さが、0.03mm〜0.3mmの範囲内であって
もよい。
【0019】上記第1の製造方法では、前記(a)の工
程は、前記第1の基板と前記第2の基板とによって前記
放射線硬化性樹脂を挟んだのち、前記第1および第2の
基板を回転させることによって前記放射線硬化性樹脂を
延伸する工程を含んでもよい。この構成によれば、樹脂
の厚さを容易に均一にできる。
【0020】上記第1の製造方法では、前記(a)の工
程は、前記放射線硬化性樹脂を前記第1の基板上に滴下
したのち、前記第1の基板を回転させることによって前
記放射線硬化性樹脂を前記第1の基板上に塗布し、次い
で、前記第1の基板と前記第2の基板とを前記放射線硬
化性樹脂を挟んで密着させる工程を含んでもよい。
【0021】上記第1の製造方法では、前記(a)の工
程において、前記第1の基板と前記第2の基板とを密着
させる工程が真空雰囲気中で行われてもよい。この構成
によれば、第1の基板と第2の基板との間に気泡が混入
することを防止できる。なお、この明細書において、
「真空雰囲気」とは、減圧された雰囲気を意味し、たと
えば、1000Pa以下の雰囲気である。
【0022】上記第1の製造方法では、前記第1の基板
は、前記一主面側に、前記中心孔Aを囲むように円環状
に形成され且つ外径が前記中心孔Bの直径以下である凸
部、および、前記中心孔Aを囲むように円環状に形成さ
れ且つ直径が前記中心孔Bの直径以下である凹部から選
ばれる少なくとも1つを備えてもよい。
【0023】上記第1の製造方法では、前記凸部の高さ
が、前記第2の基板の厚さと前記放射線硬化性樹脂の厚
さとの和よりも大きくてもよい。
【0024】また、光ディスクを製造するための本発明
の第2の製造方法は、(α)一主面に信号領域を備え中
心孔Aを有する第1の基板と、前記第1の基板よりも薄
い透光性の第2の基板とを、前記一主面が内側になるよ
うに放射線硬化性樹脂を挟んで密着させる工程と、
(β)前記放射線硬化性樹脂に放射線を照射することに
よって前記放射線硬化性樹脂を硬化させて前記第1の基
板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程と、(γ)前
記第2の基板の一部を除去することによって、前記中心
孔Aよりも直径が大きい中心孔Bを前記第2の基板に形
成する工程とを含み、前記(α)の工程において、少な
くとも前記中心孔Bが形成される位置の外周部から前記
第2の基板の外周端まで前記放射線硬化性樹脂を配置す
ることを特徴とする。第2の製造方法によれば、高密度
記録が可能であると共にハンドリングが容易な光ディス
クを製造できる。
【0025】上記第2の製造方法では、前記第2の基板
の厚さが、0.03mm〜0.3mmの範囲内であって
もよい。
【0026】上記第2の製造方法では、前記(α)の工
程は、前記第1の基板と前記第2の基板とによって前記
放射線硬化性樹脂を挟んだのち、前記第1および第2の
基板を回転させることによって前記放射線硬化性樹脂を
延伸する工程を含んでもよい。
【0027】上記第2の製造方法では、前記(α)の工
程は、前記放射線硬化性樹脂を前記第1の基板上に滴下
したのち、前記第1の基板を回転させることによって前
記放射線硬化性樹脂を前記第1の基板上に塗布し、次い
で、前記第1の基板と前記第2の基板とを前記放射線硬
化性樹脂を挟んで密着させる工程を含んでもよい。
【0028】上記第2の製造方法では、前記(α)の工
程において、前記第1の基板と前記第2の基板とを密着
させる工程が真空雰囲気中で行われてもよい。
【0029】また、光ディスクを製造するための本発明
の第3の製造方法は、(i)直径dAの中心孔Aが形成
された第1の基板と直径dBの中心孔Bが形成された第
2の基板とを、前記第1の基板の中心と前記第2の基板
の中心とが一致するように、放射線硬化性樹脂を挟んで
対向させる工程と、(ii)前記放射線硬化性樹脂に放射
線を照射することによって前記放射線硬化性樹脂を硬化
させる工程とを含み、dA<dBであって、前記第2の
基板の厚さが0.03mm〜0.3mmの範囲内であ
る。第3の製造方法によれば、高密度記録が可能な光デ
ィスクを精度よく製造できる。
【0030】上記第3の製造方法では、前記(i)の工
程において、前記第1および第2の中心孔AおよびBに
嵌合するピンを用いて前記第1の基板の中心と前記第2
の基板の中心とを一致させてもよい。この構成によれ
ば、第1の基板の中心と第2の基板の中心とを容易に一
致させることができる。その結果、記録・再生時に高速
で回転させてもブレが生じにくい光ディスクが得られ
る。
【0031】上記第3の製造方法では、前記(i)の工
程は、(i−1)前記ピンが前記中心孔Bに挿入される
ように、前記ピンが配置されたテーブル上に前記第2の
基板を固定する工程と、(i−2)前記第2の基板上に
前記放射線硬化性樹脂を滴下する工程と、(i−3)前
記ピンが前記中心孔Aに挿入されるように第1の基板を
移動させ、前記放射線硬化性樹脂を挟んで前記第1の基
板と前記第2の基板とを対向させる工程と、(i−4)
前記第1および第2の基板を回転させることによって、
前記放射線硬化性樹脂を延伸する工程とを含んでもよ
い。この構成によれば、放射線硬化性樹脂の厚さを均一
にできる。そのため、生産性よく信頼性が高い光ディス
クを製造できる。
【0032】上記第3の製造方法では、前記ピンが、前
記中心孔Aに嵌合する第1のピンと前記中心孔Bに嵌合
する第2のピンとを備え、前記(i−1)の工程におい
て、前記第2のピンで前記第2の基板を固定し、前記
(i−3)の工程において、前記第1のピンで前記第1
の基板を固定してもよい。
【0033】上記第3の製造方法では、前記(i−1)
の工程ののちであって前記(i−2)の工程の前に、前
記第2のピンの上面を、前記第2の基板の上面よりも下
げる工程をさらに含んでもよい。
【0034】上記第3の製造方法では、前記第2のピン
が円筒状であり、前記第1のピンが前記第2のピンに嵌
挿されていてもよい。
【0035】また、本発明の第4の製造方法は、直径d
Aの中心孔Aが形成された第1の基板と直径dBの中心
孔Bが形成された第2の基板とを備える光ディスクの製
造方法であって、(I)前記第1の基板および前記第2
の基板から選ばれる少なくとも1つの基板上に放射線硬
化性樹脂を塗布する工程と、(II)前記第1の基板と前
記第2の基板とを、前記第1の基板の中心と前記第2の
基板の中心とが一致するように、前記放射線硬化性樹脂
を挟んで真空雰囲気中で対向させる工程と、(III)前
記放射線硬化性樹脂に放射線を照射することによって前
記放射線硬化性樹脂を硬化させる工程とを含み、dA<
dBであって、前記第2の基板の厚さが0.03mm〜
0.3mmの範囲内である。第4の製造方法によれば、
高密度記録が可能な光ディスクを製造できる。また、第
1の基板と第2の基板とを真空中で対向させるため、第
1の基板と第2の基板との間に気泡が混入することを防
止できる。
【0036】上記第4の製造方法では、前記(II)の工
程において、前記第1および第2の中心孔AおよびBに
嵌合するピンを用いて前記第1の基板の中心と前記第2
の基板の中心とを一致させてもよい。この構成によれ
ば、第1の基板の中心と第2の基板の中心とを容易に一
致させることができる。
【0037】上記第4の製造方法では、前記(II)の工
程は、(II−1)前記ピンが前記中心孔Bに挿入される
ように、前記ピンが配置されたテーブル上に前記第2の
基板を固定する工程と、(II−2)真空雰囲気中におい
て、前記ピンが前記中心孔Aに挿入されるように第1の
基板を移動させ、前記放射線硬化性樹脂を挟んで前記第
1の基板と前記第2の基板とを対向させる工程とを含ん
でもよい。この構成によれば、薄い第2の基板をテーブ
ルに固定することによって第2の基板の表面を平坦にで
き、その結果、放射線硬化性樹脂の厚さを均一にでき
る。また、この構成によれば、第1の基板と第2の基板
との間に気泡が混入することを防止できる。
【0038】上記第4の製造方法では、前記ピンが、前
記中心孔Aに嵌合する第1のピンと前記中心孔Bに嵌合
する第2のピンとを備え、前記(II−1)の工程におい
て、前記第2のピンで前記第2の基板を固定し、前記
(II−2)の工程において、前記第1のピンで前記第1
の基板を固定してもよい。
【0039】上記第4の製造方法では、前記(II−1)
の工程ののちであって前記(II−2)の工程の前に、前
記第2のピンの上面を、前記第2の基板の上面よりも下
げる工程をさらに含んでもよい。
【0040】上記第4の製造方法では、前記第2のピン
が円筒状であり、前記第1のピンが前記第2のピンに嵌
挿されていてもよい。
【0041】また、本発明の製造装置は、中心孔Aが形
成された第1の基板と中心孔Bが形成された第2の基板
とを備える光ディスクを製造するための製造装置であっ
て、前記第1の基板および前記第2の基板から選ばれる
少なくとも1つの基板上に放射線硬化性樹脂を塗布する
ための塗布手段と、前記第1の基板の中心と前記第2の
基板の中心とが一致するように前記第1の基板と前記第
2の基板とを配置させるための配置手段と、前記放射線
硬化性樹脂に放射線を照射するための照射手段とを備え
ることを特徴とする。この光ディスクの製造装置によれ
ば、本発明の第3および第4の製造方法を容易に実施で
きる。
【0042】上記製造装置では、前記配置手段が、前記
第1および第2の中心孔AおよびBに嵌合するピンを含
んでもよい。
【0043】上記製造装置では、前記ピンが、前記中心
孔Aに嵌合する第1のピンと前記中心孔Bに嵌合する第
2のピンとを含んでもよい。
【0044】上記製造装置では、前記第2のピンが円筒
状であり、前記第1のピンが前記第2のピンに嵌挿され
ていてもよい。
【0045】上記製造装置では、前記配置手段が、前記
少なくとも1つの基板を固定するためのテーブルを備え
てもよい。
【0046】上記製造装置では、前記配置手段が、前記
テーブルを囲む容器と、前記容器内を排気する排気手段
とをさらに備えてもよい。
【0047】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について説明する。なお、同様の部分につ
いては、同一の符号を付して重複する説明を省略する場
合がある。
【0048】(実施形態1)実施形態1では、本発明の
光ディスクについて一例を説明する。実施形態1の光デ
ィスク10について、図1(A)に平面図を、図1
(B)に断面図を示す。
【0049】図1を参照して、光ディスク10は、第1
の基板11(ハッチングを省略する。以下、第1の基板
のハッチングは同様に省略する場合がある。)と、第1
の基板11に貼り合わされた第2の基板12とを備え
る。そして、第1の基板11と第2の基板12とは、第
1の基板11と第2の基板12との間に配置された放射
線硬化性樹脂(接着部材)13によって貼り合わされて
いる。
【0050】第1の基板11は、一主面11aに信号領
域SAを備える。信号領域SAには、信号記録層14が
形成されている。信号領域SAの構造は、光ディスクの
用途などによって異なる。光ディスク10が再生専用の
ディスクである場合には、たとえば、一主面11aのう
ち信号領域SAの部分には凹凸形状のピットが形成さ
れ、ピット上には信号記録層としてAlなどからなる膜
が形成される。また、光ディスク10が記録・再生用の
ディスクである場合には、信号領域SAには、記録・再
生が可能なように、相変化材料や色素などから構成され
る記録膜が形成される。
【0051】第1の基板11は、その中央部に、直径が
dA(たとえば15mm)の円形の中心孔Aを備える。
第1の基板11の厚さは、特に限定がないが、第2の基
板12の厚さとの合計が、0.5mm〜0.7mmまた
は1.1mm〜1.3mmの範囲内となることが好まし
い。第1の基板11の外径については特に限定はなく、
たとえば120mmである。第1の基板11は、たとえ
ば、ポリカーボネート樹脂やアクリル樹脂などの熱可塑
性樹脂、またはビニルエステル樹脂やポリエステル樹脂
などの熱硬化性樹脂などからなる。
【0052】第2の基板12は、第1の基板11よりも
薄い基板であり、透光性である。第2の基板12の厚さ
は、0.03mm〜0.3mmの範囲内であり、0.0
3mm〜0.12mmの範囲内であることがより好まし
い。具体的には、第2の基板12の厚さは、たとえば、
0.05mmや0.1mmである。第1の基板11の厚
さと第2の基板12の厚さとの合計を、1.1mm〜
1.3mmの範囲内とすることによって、既存の光ディ
スクとの互換性を確保できる。また、厚さの合計を、
0.5mm〜0.7mm、または1.1mm〜1.3m
mの範囲内とすることによって、光ディスクの従来の製
造装置を利用できる。
【0053】第2の基板12は、信号を記録・再生する
ために照射されるレーザ光(好ましくは波長が450n
m以下)が照射される側の基板であり、透光性の材料か
らなる。具体的には、第2の基板12は、たとえば、ポ
リカーボネート樹脂やアクリル樹脂などの熱可塑性樹
脂、またはビニルエステル樹脂やポリエステル樹脂など
の熱硬化性樹脂などからなる。第2の基板12は、その
中央部に、直径がdBの円形の中心孔Bを備える。図1
(A)に示すように、中心孔Bは、クランプ領域Cより
も大きいことが好ましい。
【0054】ここで、クランプ領域Cは、記録・再生の
ために光ディスク10を搬送したり回転させたりする際
に保持される領域である。第1の基板11のクランプ領
域Cの厚さは1.1mm以上1.3mm以下であること
が好ましい。
【0055】接着部材である放射線硬化性樹脂13は、
少なくとも第2の基板の内周端12sから外周端12t
まで配置されている。すなわち、放射線硬化性樹脂13
は、第2の基板12の主面のうち、第1の基板11側の
主面の全面に少なくとも配置されている。なお、放射線
硬化性樹脂13は、第1の基板の内周端11sまで配置
されていてもよい。放射線硬化性樹脂13は、放射線に
よって硬化する樹脂である。放射線硬化性樹脂13に
は、たとえば、紫外線照射によって硬化する紫外線硬化
性樹脂や、電子線照射によって硬化する樹脂などを用い
ることができる。図1(A)に示すように、放射線硬化
性樹脂13は、クランプ領域Cよりも外周側に配置され
ているか、または、クランプ領域Cのすべてを覆うよう
に配置されていることが好ましい。放射線硬化性樹脂1
3の平均厚さは、0.5μm〜30μmの範囲内である
ことが好ましい。なお、放射線硬化性樹脂13の代わり
に、両面テープなどの接着部材を用いてもよい。
【0056】上記実施形態1の光ディスク10では、光
入射側の第2の基板12が薄いため、高密度記録が可能
である。また、第2の基板12の中心孔Bの直径が第1
の基板11の中心孔Aの直径よりも大きいため、第2の
基板12の剥離や割れが生じにくくハンドリングが容易
である。さらに、第2の基板12の内周端12sにまで
放射線硬化性樹脂が配置されているため、第2の基板1
2の剥離や割れが生じにくくハンドリングが容易であ
る。
【0057】なお、第1の基板11は、一主面11a側
に、中心孔Aを囲むように円環状に形成され且つ外径が
中心孔Bの直径以下である凸部、および、中心孔Aを囲
むように円環状に形成され且つ直径が中心孔Bの直径以
下である凹部から選ばれる少なくとも1つを備えること
が好ましい。
【0058】第1の基板が、上記円環状の凸部を備える
場合の光ディスク20について、平面図を図2(A)
に、断面図を図2(B)に示す。また、第1の基板が他
の形状の凸部を備える場合の光ディスク30について、
平面図を図3(A)に、断面図を図3(B)に示す。ま
た、第1の基板が円環状の凹部を備える場合の光ディス
ク40について、平面図を図4(A)に、断面図を図4
(B)に示す。また、第1の基板が、円環状の凸部と円
環状の凹部とを備える場合の第1の基板51および56
について、断面図をそれぞれ図5(A)および(B)に
示す。なお、第1の基板21、31、41、51および
56は、凸部および凹部以外の部分については第1の基
板11と同様である。すなわち、一主面21a、31
a、41a、51aおよび56aは、一主面11aに対
応する。また、光ディスク20、30および40は、そ
れぞれ、第1の基板21、31および41を除いて光デ
ィスク10と同様であるため、重複する説明は省略す
る。
【0059】図2(A)および(B)に示すように、光
ディスク20の第1の基板21は、信号領域SAが形成
された一主面21a側に、中心孔Aを囲むように円環状
に形成され且つ外径L1が中心孔Bの直径dBと等しい
凸部22を備える。凸部22によって、以下の実施形態
で説明するように光ディスクの製造が容易になる。ま
た、凸部22の高さ(一主面21aからの高さ)は、
0.05mm以上0.5mm以下であることが好まし
い。また、凸部22の高さは、図2(B)に示すよう
に、第2の基板の厚さと放射線硬化性樹脂13の厚さと
の和よりも大きいことが好ましい(以下の凸部において
も同様である)。これによって、光ディスク20を重ね
合わせて保持・保存する際に、再生面が他の光ディスク
に直接触れることがなくなり、再生面が傷つくことがな
くなる。また、図2(B)に示すように、凸部22は、
第2の基板12の内周端に接するように形成する(凸部
22の外径L1と中心孔Bの直径dBとを等しくする)
ことが好ましい(以下の凸部においても同様である)。
これによって、第1の基板11と第2の基板12との偏
心を抑制できる。さらに、記録・再生時に、クランプの
センターコーンやモーターターンテーブルが第2の基板
12と接触しないため、第2の基板12の薄形化による
強度の低下にも対応でき、また、チルトが大きくなるこ
とを抑制できる。
【0060】図3(A)および(B)に示すように、光
ディスク30の第1の基板31は、信号領域SAが形成
された一主面31a側に、中心孔Aを囲むように円環状
に形成され且つ外径L1が中心孔Bの直径dBと等しい
凸部(段差)32を備える。この場合の凸部32は、第
1の基板31の内周端にまで形成されている。
【0061】図4(A)および(B)に示すように、光
ディスク40の第1の基板41は、信号領域SAが形成
された一主面41a側に、中心孔Aを囲むように円環状
に形成され且つ直径L2が中心孔Bの直径dB以下であ
る凹部42を備える。凹部42の深さ(一主面41aか
らの深さ)は、0.01mm以上0.2mm以下である
ことが好ましい。凹部42によって、以下の実施形態で
説明するように、光ディスクの製造が容易になる。
【0062】図5(A)に示すように、第1の基板51
は、信号領域SAが形成された一主面51a側に、中心
孔Aを囲むように円環状に形成され且つ外径が中心孔B
の直径以下である凸部22と、凸部22を囲むように円
環状に配置された凹部42とを備える。これによって、
上述した凸部および凹部の効果が得られる。
【0063】図5(B)に示すように、第1の基板56
は、信号領域SAが形成された一主面56a側に、中心
孔Aを囲むように円環状に形成され且つ外径が中心孔B
の直径以下である凸部32と、凸部32を囲むように円
環状に配置された凹部42とを備える。これによって、
上述した凸部および凹部の効果が得られる。
【0064】なお、上述した光ディスク20、30およ
び40も、光ディスク10と同様の効果を有することは
いうまでもない。
【0065】なお、実施形態1では、第1の基板のみに
信号記録層が形成されている光ディスクについて説明し
た。しかし、本発明の光ディスクおよびその製造方法で
は、第2の基板に信号記録層が形成されていてもよい
(以下の実施形態においても同様である)。たとえば、
本発明の光ディスクおよびその製造方法では、第2の基
板にも半透明の信号記録層を形成し、第1の基板および
第2の基板がともに信号記録層を備えてもよい。また、
第1の基板に、複数の信号記録層を形成してもよい(以
下の実施形態においても同様である)。これらの構成に
よって、2層構造の光ディスクが得られる。この場合に
は、第2の基板側から入射させたレーザ光によって、両
方の信号記録層に記録された情報を再生できる。
【0066】(実施形態2)実施形態2では、本発明の
光ディスクの製造方法について一例を説明する。実施形
態2の製造方法について、光ディスク10を製造する場
合の製造工程を図6に示す。
【0067】実施形態2の製造方法では、図6(A)に
示すように、一主面11aに信号領域SAを備え中心孔
Aを有する第1の基板11と、中心孔Aよりも直径が大
きい中心孔Bを有し第1の基板11よりも薄い透光性の
第2の基板12とを、一主面11aが内側になるように
硬化前の放射線硬化性樹脂13aを挟んで密着させる
(工程(a))。このとき、第2の基板12の少なくと
も内周端12sから外周端12tまで、放射線硬化性樹
脂13aを配置する。なお、放射線硬化性樹脂13a
は、第1の基板11の内周端11sまで配置されてもよ
いが、実施形態1で説明したように、クランプ領域Cに
かからないように配置されることが好ましい。
【0068】第1の基板11の信号領域SAは、たとえ
ば、射出成形法やフォトポリマー法によって樹脂を成形
して凹凸形状のピットを形成したのち、膜厚がたとえば
50nmのAlからなる反射膜(信号記録層14)をス
パッタリング法で形成することによって形成できる。ま
た、信号領域SAを相変化膜や色素膜などで形成する場
合には、スパッタリング法や蒸着法によって形成でき
る。第1の基板11は実施形態1で説明した基板であ
り、たとえば、厚さが1.1mm、直径が120mm、
中心孔径が15mmのポリカーボネート製基板である。
【0069】第2の基板12は、実施形態1で説明した
基板であり、たとえば、厚さが90μm、外径が120
mm、中心孔径が40mmのポリカーボネート製または
アクリル製基板である。第2の基板12は、射出成形法
やキャスティング法によって形成することができる。第
2の基板12の厚さは、0.03mm〜0.3mmの範
囲内である。
【0070】その後、図6(B)に示すように、放射線
硬化性樹脂13aに放射線(紫外線や電子線など)を照
射することによって、放射線硬化性樹脂13aを硬化さ
せて放射線硬化性樹脂13とし、第1の基板11と第2
の基板12とを貼り合わせる(工程(b))。放射線
は、連続的に照射してもよいし、パルス的に照射しても
よい(以下の実施形態においても同様である)。このよ
うにして、光ディスク10を製造できる。
【0071】以下に、上記第1の工程において、放射線
硬化性樹脂13aを挟んで第1の基板11と第2の基板
12とを密着させる方法について、2通りの方法を説明
する。
【0072】第1の方法は、第1の基板11と第2の基
板12とによって放射線硬化性樹脂13aを挟んで一体
としたのち、一体となった第1の基板11と第2の基板
12とを回転させることによって、放射線硬化性樹脂1
3aを延伸する方法である。この方法について、工程の
一例を図7に示す。図7の工程では、まず、図7(A)
に示すように、第1の基板11上にノズル71によって
円環状に放射線硬化性樹脂13aを塗布する。この際、
第1の基板11またはノズル71を低速(20rpm〜
120rpm)で回転させる。また、第2の基板12の
内周端12sまできっちりと接着するために、放射線硬
化性樹脂13aを第1の基板11上であって内周端12
sが配置される位置(たとえば、半径20mm〜25m
mの位置)に塗布する。
【0073】次に、図7(B)に示すように、第1の基
板11と第2の基板12とを、同心円になるように対向
させ重ね合わせる。ただし、クランプ領域Cに放射線硬
化性樹脂13aが付着するとチルトへの影響が大きくな
るため、図7(C)に示すように、クランプ領域Cの外
周側に円環状に紫外線などの放射線72を照射して、こ
れ以上内周に放射線硬化性樹脂13aが浸入するのを防
ぐことが好ましい。すなわち、工程(a)は、第1の基
板11を回転させる前に、信号領域SAよりも内側に配
置された放射線硬化性樹脂13aの少なくとも一部を硬
化させる工程を含んでもよい(以下の第2の方法におい
ても同様である)。なお、放射線硬化性樹脂13aは、
第2の基板12上に塗布してもよい。
【0074】その後、図7(D)に示すように、第1の
基板11と第2の基板12とを重ね合わせたままの状態
で、2枚の基板を高速(1000rpm〜10000r
pm)で回転させ、外周部分まで放射線硬化性樹脂13
aを拡散させる。これによって、接着部分に気泡が入り
にくく、また余分な放射線硬化性樹脂13aが振り切ら
れて第1の基板11と第2の基板12との間から排出さ
れる。このようにして、工程(a)を行うことができ
る。
【0075】なお、上記工程において、放射線硬化性樹
脂13aの厚さを均一にするためには、樹脂拡散のため
の基板の回転数・回転時間や放射線硬化性樹脂13aの
厚さに応じて放射線硬化性樹脂13aの粘度を選択する
ことが好ましい。一般に、上記方法では放射線硬化性樹
脂13aの厚さは内周側で薄くなり、外周側で厚くなり
やすい。光ディスクの高密度化のために検討されている
ような波長400nmのレーザ、対物レンズのNA0.
85といった条件での記録・再生を行うためには、放射
線硬化性樹脂13の膜厚バラツキは、その中心値(第2
の基板12の厚さと放射線硬化性樹脂13の厚さとの和
であり、たとえば0.1mm)に対して±3μm程度の
範囲に収めることが要求される。
【0076】上記第1の方法における、放射線硬化性樹
脂13aの粘度と放射線硬化性樹脂13の面内ばらつき
との関係を表1に示す。
【0077】
【表1】
【0078】表1から明らかなように、放射線硬化性樹
脂13aの粘度を10mPa・s以上1500mPa・
s以下とすることによって、放射線硬化性樹脂13の膜
厚のばらつきを6μm以下、すなわち±3μm以下とす
ることができる。
【0079】また、上記第1の方法における放射線硬化
性樹脂13aの粘度とタクトタイムとの関係を表2に示
す。
【0080】
【表2】
【0081】表2から明らかなように、タクトタイムを
短縮するためには放射線硬化性樹脂13aの粘度を10
mPa・s〜600mPa・sの範囲内とすることが好
ましい。
【0082】次に、第1の工程を行うための第2の方法
について説明する。第2の方法は、放射線硬化性樹脂1
3aを第1の基板11上に滴下したのち、第1の基板1
1を回転させることによって放射線硬化性樹脂13aを
第1の基板11上に塗布し、次いで、第1の基板11と
第2の基板12とを放射線硬化性樹脂13aを挟んで密
着させる方法である。この方法について、工程の一例を
図8に示す。第2の方法では、まず、図8(A)に示す
ように、第1の基板11上にノズル71によって円環状
に放射線硬化性樹脂13aを塗布する。この工程は、図
7(A)で説明した工程と同様である。
【0083】次に、図8(B)に示すように、第1の基
板11を高速(1000rpm〜10000rpm)で
回転することによって、放射線硬化性樹脂13aを外周
部まで延伸する。このとき、図7(C)の工程で説明し
たように、クランプ領域Cの外周側の放射線硬化性樹脂
13aに円環状にレーザ光を照射してもよい。
【0084】その後、図8(C)に示すように、第1の
基板11と第2の基板12とを同心円となるように重ね
合わせ、密着させる。このようにして、上記工程(a)
を行うことができる。なお、重ね合わせの際に適当な圧
力を均一に加えてやることで、放射線硬化性樹脂13a
の分布をさらに均一にすることができる。このとき、気
泡が入らないように注意する必要がある。気泡が入らな
いようにするためには、図9に示すように、基板を密着
させる工程を真空チャンバ90内、すなわち真空雰囲気
中で行うことが好ましい。
【0085】上記第2の方法における、放射線硬化性樹
脂13aの粘度と放射線硬化性樹脂13の面内ばらつき
との関係を表3に示す。
【0086】
【表3】
【0087】表3から明らかなように、放射線硬化性樹
脂13aの粘度を10mPa・s以上15000mPa
・s以下とすることによって、放射線硬化性樹脂13の
膜厚のばらつきを6μm以下(±3μm以下)とするこ
とができる。
【0088】また、上記第1の方法における放射線硬化
性樹脂13aの粘度とタクトタイムとの関係を表4に示
す。
【0089】
【表4】
【0090】表4から明らかなように、タクトタイムを
短縮するためには放射線硬化性樹脂13aの粘度を10
mPa・s〜1000mPa・sの範囲内とすることが
好ましい。
【0091】以上のように、上記実施形態2の光ディス
クの製造方法によれば、実施形態1で説明した光ディス
クを容易に製造できる。
【0092】なお、上記実施形態2の製造方法では、第
1の基板11の代わりに、実施形態1で説明した第1の
基板21、31、41、51または56を用いてもよ
い。これらの基板を用いることによって、円環状の凸部
または凹部よりも内周側に放射線硬化性樹脂13aが塗
布されることを防止できる。この場合、円環状に放射線
を照射する工程は行わなくてもよくなるため、生産が容
易になる。また、凸部の外径L1を第2の基板12の直
径dBと同じ大きさとすることによって、第1の基板と
第2の基板とを貼り合わせる際に、偏心が生じることを
防止できる。
【0093】(実施形態3)実施形態3では、本発明の
光ディスクの製造方法について他の一例を説明する。な
お、上記実施形態で説明した部分については重複する説
明を省略する場合がある。
【0094】実施形態3の製造方法について、製造工程
を図10に示す。実施形態3の製造方法では、まず、図
10(A)に示すように、一主面11aに信号領域SA
を備え中心孔Aを有する第1の基板11と、第1の基板
11よりも薄い透光性の第2の基板102とを、一主面
11aが内側になるように放射線硬化性樹脂13aを挟
んで密着させる(工程(α))。第1の基板11は、実
施形態1で説明した基板と同様である。第2の基板10
2は、中心孔を有さず、以下の工程で中心孔Bが形成さ
れる部分に点線状の切り込み102aが形成されている
点のみが実施形態1で説明した第2の基板12とは異な
る。なお、第2の基板は切り込みと中心孔とを共に備え
てもよく、この場合には、中心孔Aと同じ大きさの中心
孔を備えることが好ましい。第2の基板が第1の基板1
1の中心孔Aと同じ大きさの中心孔を備えることによっ
て、基板を貼り合わせる際の偏心を防止しやすくなる。
【0095】第2の基板102の平面図を図11に示
す。第2の基板102は、以下の工程で中心孔Bが形成
される位置の外周部(第2の基板12の内周端12sと
なる部分)に切り込み102aを備える。
【0096】工程(α)では、放射線硬化樹脂13a
を、少なくとも切り込み102aの部分(中心孔Bが形
成される位置の外周部)から第2の基板102の外周端
102tまで配置する。
【0097】その後、図10(B)に示すように、放射
線硬化性樹脂13aに放射線を照射することによって放
射線硬化性樹脂13aを硬化させて放射線硬化性樹脂1
3とし、第1の基板11と第2の基板102とを貼り合
わせる(工程(β))。この工程については、実施形態
2で説明した図6(B)の工程と同様であり、実施形態
2で説明した2通りの方法(図7および図8参照)を用
いることができる。
【0098】その後、図10(C)に示すように、第2
の基板102の一部102bを除去することによって、
中心孔Aよりも直径が大きい中心孔Bを備える第2の基
板12を形成する。このとき、切り込み102aによっ
て、中心孔Bを形成することが容易になる。なお、第2
の基板12は、実施形態1で説明した基板と同様であ
る。
【0099】このようにして、実施形態1で説明した光
ディスクを容易に製造できる。したがって、上記実施形
態3の製造方法によれば、高密度記録が可能であると共
に、ハンドリングが容易な光ディスクを容易に製造でき
る。
【0100】なお、第1の基板11のかわりに、実施形
態1で説明した第1の基板41を用いてもよいことはい
うまでもない。
【0101】(実施形態4)実施形態4では、本発明の
光ディスクの製造方法についてその他の一例を説明す
る。実施形態4の製造方法について製造工程の断面図を
図12に示す。
【0102】まず、図12(A)に示すように、第1の
基板11と第2の基板12とを、第1の基板11の中心
と第2の基板12の中心とが一致するように、未硬化状
態の放射線硬化性樹脂121を挟んで対向させる(工程
(i))。このとき、信号領域SAが形成された一主面
11aが内側になるように第1の基板11と第2の基板
12とを対向させる。工程(i)の具体的な方法につい
ては後述する。放射線硬化性樹脂121には、放射線硬
化性樹脂13aと同様のものを用いることができる。第
1の基板11および第2の基板12は、実施形態1で説
明したように、それぞれ、直径がdAの中心孔Aと直径
がdBの中心孔Bとを備える。そして、dA<dBであ
り、第2の基板12の厚さは、0.03mm〜0.3m
mの範囲内である。
【0103】次に、図12(B)に示すように、放射線
硬化性樹脂121に、電子線や紫外線などの放射線12
2を照射することによって、放射線硬化性樹脂121を
硬化させる(工程(ii))。このようにして、光ディス
クを製造できる。
【0104】なお、図12(B)では、第2の基板12
側から放射線122を照射する場合を示しているが、放
射線122の照射方向は、光ディスクの構造に応じて選
択される。具体的には、放射線122が放射線硬化性樹
脂121側に到達しやすいように放射線122の照射方
向が選択される。たとえば、第2の基板12側のみに信
号記録層14が形成されている場合には、第1の基板1
1側から放射線122が照射される。また、第1の基板
11および第2の基板12の両方に信号記録層14が形
成されている2層構造の光ディスクの場合には、第2の
基板12側から放射線122が照射される。
【0105】次に、中心孔Aおよび中心孔Bに嵌合する
ピンを用いて工程(i)を行う方法について、図13を
用いて説明する。この方法では、中心孔Aに嵌合する第
1のピン131aと中心孔Bに嵌合する第2のピン13
1bとを備えるピン131を用いる。第2のピン131
bは、円筒状の形状を有する。第1のピン131aの外
径は、第2のピン131bの内径とほぼ等しい。第1の
ピン131aは第2のピン131bに嵌挿されており、
両者は同心である。また、第1のピン131aの外径は
dAとほぼ等しく、第2のピン131bの外径はdBと
ほぼ等しい。
【0106】まず、図13(A)に示すように、第2の
ピン131bが中心孔Bに挿入されるように、ピン13
1が配置されたテーブル132上に第2の基板12を固
定する(工程(i−1))。ピン131は、テーブル1
32の中央に配置されている。第2のピン131bは、
その上面が第2の基板12の一主面12aよりも上に位
置するように配置することが好ましい。これによって、
第2の基板12をしっかりと固定できる。テーブル13
2は、回転可能となっている。また、テーブル132に
は、第2の基板12の固定手段として、排気口132a
が形成されている。排気口132aから排気することに
よって、第2の基板12がテーブル132に固定され
る。なお、排気口132aの代わりに、静電気を用いて
固定を行ってもよいし、粘着性の物質を用いて固定を行
ってもよい。
【0107】次に、図13(B)に示すように、第2の
基板12上に、放射線硬化性樹脂121を滴下する(工
程(i−2))。ディスペンサ133から樹脂を滴下し
ながらテーブル132を回転させることによって、放射
線硬化性樹脂121を円環状に配置できる。また、テー
ブル132の回転と同時にディスペンサ133を移動さ
せることによって、放射線硬化性樹脂121をスパイラ
ル状に配置できる。
【0108】次に、図13(C)に示すように、第1の
ピン131aが中心孔Aに挿入されるように第1の基板
11を移動させ、放射線硬化性樹脂121を挟んで第1
の基板11と第2の基板12とを対向させる(工程(i
−3))。なお、図13では、信号記録層14の図示を
省略するが(以下の図面でも同様である)、第1の基板
11は、信号記録層14が内側になるように配置され
る。工程(i−3)は、第2のピン131bの上面が第
2の基板12の上面よりも下になるように第2のピン1
31bを移動させたのちに行うことが好ましい。第2の
ピン131bの移動は、工程(i−1)のあとであって
工程(i−3)の前であれば、いつ行ってもよい。第2
のピン131bを移動させることによって、放射線硬化
性樹脂121が第2の基板12の中心孔Bの内側に浸み
出た場合でも、第2のピン131bに樹脂が付着するこ
とを防止できる。その結果、生産性よく光ディスクを製
造できる。
【0109】工程(i−3)においては、第1のピン1
31aと第2のピン131bとが同心であるため、第1
の基板11の中心と第2の基板12の中心が一致するよ
うに第1の基板11が配置される。また、表面が平坦な
テーブル132に第2の基板12が固定されているた
め、第2の基板12の表面が平坦に保たれる。その結
果、放射線硬化性樹脂121と第1の基板11とが一様
に接触し、樹脂内に気泡が混入することを防止できる。
また、放射線硬化性樹脂121の厚さを均一にできる。
放射線硬化性樹脂121の厚さを均一にすることによっ
て、フォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御が
容易な光ディスク、すなわち、記録または再生を安定し
て行うことができる光ディスクを製造できる。
【0110】次に、図13(D)に示すように、第1の
基板11および第2の基板12を回転させることによっ
て、放射線硬化性樹脂121を延伸する(工程(i−
4))。このようにして、工程(i)を行うことができ
る。
【0111】最後に、図13(E)に示すように、放射
線134を照射することによって放射線硬化性樹脂12
1を硬化させる。このようにして、光ディスクを製造で
きる。なお、第2の基板12側から放射線を照射する場
合には、放射線を透過するテーブル132を用い、テー
ブル132側から放射線を照射すればよい。また、第1
の基板11と第2の基板12とを対向させたまま反転さ
せ、第2の基板12側から光を照射してもよい。
【0112】なお、ピン131の代わりに他の形状のピ
ンを用いてもよい。他のピンを用いる場合について、図
14〜16に例を示す。図14(A)に示すピン141
は、第1のピン141aと第2のピン141bとを備え
る。第2のピン141bには、第1のピン141aと嵌
合する凹部が形成されている。ピン141を用いる場合
には、図14(A)に示すように、第2のピン141b
を第1のピン141aにかぶせた状態で第2の基板12
が固定される。また、第1の基板11は、図14(B)
に示すように、第2のピン141bを取り除いた状態で
固定される。
【0113】図15(A)に示すピン151は、第1の
ピン151aと第2のピン151bとが一体となったピ
ンである。ピン151を用いる場合には、図15(A)
に示すように、第2のピン151bによって第2の基板
12が固定される。また、第1の基板11は、図15
(B)に示すように、第2のピン151bを下げた状態
で固定される。
【0114】図16(A)に示すピン161は、第1の
ピン161aと第2のピン161bとが一体となってお
り、さらに第1のピン161aと第2のピン161bと
の間に段差161sが形成されたピンである。段差16
1sの外径dSは、dAよりも大きくdBよりも小さ
い。ピン161を用いる場合には、図16(A)に示す
ように、第2のピン161bによって第2の基板12が
固定される。また、第1の基板11は、図16(B)に
示すように、第2のピン161bを下げた状態で固定さ
れる。このとき、段差161sによって第1の基板11
と第2の基板12との間隔を制御できる。第1のピンと
第2のピンとが一体となっているピン151および16
1では、第1のピンと第2のピンとを精度よく同心にす
ることができる。
【0115】また、図14〜図16では、第1のピンお
よび第2のピンの外径が一定である場合を示した。しか
し、これらの外径は一定でなくともよい。たとえば、中
心孔AおよびBと嵌合するようにテーブル132側に向
かって太くなるピンを用いてもよい。また、ピン141
において、第1のピン141aの外径および第2のピン
141bの凹部がともにテーパ形状であってもよい。
【0116】(実施形態5)実施形態5では、本発明の
光ディスクの製造方法についてその他の一例を説明す
る。実施形態5の製造方法について、製造工程の断面図
を図17に示す。
【0117】実施形態5の製造方法は、直径dAの中心
孔Aが形成された第1の基板11と直径dBの中心孔B
が形成された第2の基板12とを備える光ディスクの製
造方法である。第1の基板11および第2の基板12に
ついては、実施形態1で説明したものと同様である。
【0118】まず、第1の基板11および第2の基板1
2から選ばれる少なくとも1つの基板上に放射線硬化性
樹脂を塗布する(工程(I))。たとえば、図17
(A)に示すように、第2の基板12上に放射線硬化性
樹脂171を塗布する。なお、以下の説明では、第2の
基板12上に放射線硬化性樹脂171を塗布する場合に
ついて説明する。放射線硬化性樹脂171の塗布は、図
18に示すように行うことができる。すなわち、まず、
排気口181aが形成されたテーブル181上に第2の
基板12を固定したのち、テーブル181を回転させな
がらディスペンサ182から放射線硬化性樹脂171を
滴下して、円環状またはスパイラル状に放射線硬化性樹
脂171を配置する。その後、テーブル181を高速で
回転させることによって、第2の基板12上に放射線硬
化性樹脂171を塗布できる。また、図23に示す装置
を用いたスクリーン印刷法によって放射線硬化性樹脂1
71を塗布してもよい。
【0119】次に、図17(B)に示すように、第1の
基板11と第2の基板12とを、第1の基板11の中心
と第2の基板12の中心とが一致するように、放射線硬
化性樹脂171を挟んで真空雰囲気中で対向させる(工
程(II))。工程(II)の具体的な方法については後述
する。
【0120】次に、図17(C)に示すように、放射線
硬化性樹脂171に、電子線や紫外線などの放射線17
2を照射することによって、放射線硬化性樹脂171を
硬化させる(工程(III))。このようにして、光ディ
スクを製造できる。
【0121】以下に、実施形態4と同様のピンを用いて
工程(II)を行う場合について説明する。まず、図19
(A)に示すように、第2のピン131bが中心孔Bに
挿入されるように、ピン131が配置されたテーブル1
91上に第2の基板12を固定する(工程(II−
1))。ピン131は、実施形態4で説明したものと同
様である。
【0122】テーブル191は、基板を固定するための
固定手段192を備える。固定手段192には、たとえ
ば、静電気で基板を固定する装置や粘着シートを用いる
ことができる。ピン131は、テーブル132の中央に
配置されている。第2のピン131bは、その上面が第
2の基板12の上面よりも上に位置するように配置する
ことが好ましい。これによって、第2の基板12をしっ
かりと固定できる。
【0123】次に、図19(B)に示すように、真空雰
囲気中において、第1のピン131aが第1の中心孔A
に挿入されるように第1の基板11を移動させ、放射線
硬化性樹脂171を挟んで第1の基板11と第2の基板
12とを対向させる(工程(II−2))。具体的には、
第1の基板11および第2の基板12を容器193内に
配置し、容器193内を真空ポンプで排気したのち、第
1の基板11と第2の基板12を重ね合わせればよい。
第2の基板12を固定することによって、排気の際に第
2の基板12が移動することを防止できる。また、第1
の基板11と第2の基板12とを重ね合わせる際には、
第2のピン131bの上面が、第2の基板12の上面よ
りも下になるように第2のピン131bを移動させるこ
とが好ましい。第2のピン131bの移動は、工程(II
−1)のあとであって工程(II−2)の前であれば、い
つ行ってもよい。第2のピン131bを移動させること
によって、放射線硬化性樹脂171が第2の基板12の
中心孔Bの内側に浸み出た場合でも、第2のピン131
bに樹脂が付着することを防止できる。その結果、生産
性よく光ディスクを製造できる。
【0124】次に、図19(C)に示すように、放射線
硬化性樹脂171に電子線や紫外線などの放射線194
を照射することによって、放射線硬化性樹脂171を硬
化させる。このようにして、光ディスクを製造できる。
図19に示した方法では、真空雰囲気中で2枚の基板を
貼り合わせるため、2枚の基板の間に気泡が混入するこ
とを防止できる。なお、ピン131の代わりに、ピン1
41、151または161を用いてもよい。
【0125】次に、ピンを用いないで工程(II)を行う
方法について一例を説明する。この方法では、第1の基
板11の外周と第2の基板12の外周から基板の中心を
計算し、両者の位置あわせを行う。たとえば、図20に
示すように、第1の基板11の外周上の少なくとも3点
(PA1、PA2、PA3)の座標から第1の基板11
の中心CAを求める。同様に、第2の基板12の外周上
の少なくとも3点(PB1、PB2、PB3)の座標か
ら第2の基板12の中心CBを求める。そして、CAお
よびCBが一致するように第1の基板11または第2の
基板12を移動させ、両者を貼り合わせる。なお、中心
CAおよびCBは、中心孔AおよびBの内周上の3点の
座標から求めてもよい図20の方法では、具体的には、
図21(A)に示すように、2台のカメラ211および
212を用いて第1の基板11および第2の基板12の
画像処理を行い、中心CAおよびCBを求める。そし
て、図21(B)に示すように、第1の基板11を移動
させCAとCBとを一致させる。このようにして、工程
(II)を行うことができる。
【0126】(実施形態6)実施形態6では、本発明の
光ディスクの製造装置について一例を説明する。実施形
態6の製造装置220について、模式的な斜視図を図2
2に示す。なお、図22では駆動手段の図示を省略す
る。
【0127】図22を参照して、製造装置220は、搬
送アーム221〜224と、テーブル225と、中央に
ピン226が配置されたテーブル227と、樹脂硬化部
228と、ノズル229とを備える。搬送アーム221
〜224およびノズル229は、それぞれ、駆動手段に
よって回転および昇降される。また、テーブル225お
よび227は、駆動手段によって回転および移動され
る。ピン226は、駆動手段によって上下に移動可能で
ある。駆動手段は、モータ、エアシリンダ、または油圧
シリンダから選ばれる少なくとも1つを組み合わせるこ
とによって形成できる。
【0128】製造装置220では、搬送アーム221に
よって、基板フォルダ230から第2の基板232がテ
ーブル227上に搬送される。このとき、第2の基板2
32は、その中心孔Bにピン226が挿入されるように
配置される。テーブル227は、真空吸着、静電気、ま
たは粘着部材などによって第2の基板232を固定す
る。
【0129】テーブル227上に配置された第2の基板
232上には、ノズル229から放射線硬化性樹脂が滴
下される。ノズル229は、放射線硬化性樹脂を塗布す
るための塗布手段として機能する。樹脂の滴下時にテー
ブル227を回転することによって、第2の基板232
上に、放射線硬化性樹脂を円環状またはスパイラル状に
配置できる。テーブル227の拡大図を図23に示す。
テーブル227は、駆動手段237によって回転され
る。駆動手段237は、駆動手段238によって移動さ
れる。
【0130】樹脂の滴下後、第2の基板232が配置さ
れたテーブル227は、ピン226とともに駆動手段に
よって重ねあわせ部233に移動される。重ね合わせ部
233では、搬送アーム222によって第2の基板23
2上に第1の基板231が搬送される。第1の基板23
1は、その中心孔Aにピン226が挿入されるように配
置される。このように、ピン226は、第1の基板23
1の中心と第2の基板232の中心とが一致するように
第1の基板231と第2の基板232とを配置させるた
めの配置手段として機能する。ピン226には、実施形
態4で説明したピン131、141、151および16
1を用いることができる。
【0131】その後、テーブル227を回転させること
によって第1の基板231および第2の基板232を回
転させ、これによって放射線硬化性樹脂を延伸する。こ
のようにして、第1の基板231と第2の基板232と
が樹脂を挟んで重ね合わされる。搬送アーム223は、
重ね合わされた基板234をテーブル225上に移動さ
せる。テーブル225上に配置された基板234は、樹
脂硬化部228内に移送される。樹脂硬化部228は、
放射線硬化性樹脂を硬化させるための部分である。樹脂
硬化部228は、電子線や紫外線といった放射線を照射
するための照射手段を備える。具体的には、電子線源、
メタルハライドランプ、水銀ランプ、またはキセノンラ
ンプなどの希ガスランプを備える。樹脂硬化部228で
電子線や紫外線を照射することによって、放射線硬化性
樹脂が硬化し、第1の基板231と第2の基板232と
が貼りあわせられ、光ディスク235が形成される。形
成された光ディスク235は、搬送アーム224によっ
て基板フォルダ236に搬送される。
【0132】光ディスク製造装置220では、第1の基
板231と第2の基板232とを入れ替えてもよい。光
ディスク製造装置220では、第1の基板231および
第2の基板232から選ばれる少なくとも1つの基板に
放射線硬化性樹脂を塗布するための塗布手段がノズル2
29を含む場合を示したが、塗布手段は図24に示す装
置であってもよい。
【0133】図24に示す装置は、駆動手段241と、
ヘラ242と、スクリーン243とを備える。スクリー
ン243には、樹脂を塗布するためのパターンが形成さ
れている。スクリーン243上には、放射線硬化性樹脂
244(ハッチングで示す)が配置されている。この装
置では、第2の基板232上にスクリーン243を配置
したのち、駆動手段241によってヘラ242を移動さ
せ、第2の基板232に樹脂を塗布する。なお、テーブ
ル227上に第2の基板232を配置した状態で樹脂を
塗布する場合には、樹脂を塗布する前に第2の基板23
2を固定し、ピン226を塗布面から移動させる。図2
4の塗布装置を用いる場合、樹脂硬化部228が減圧可
能な容器を含み、その容器内で第1の基板231と第2
の基板232とを重ね合わせることが好ましい。なお、
減圧可能な容器は、硬化部228の前に配置されていて
もよい。
【0134】また、図22には、第1の基板231と第
2の基板232とを同心に配置する配置手段がピン22
6を含む装置を示した。しかし、本発明の製造装置は、
図21を用いて説明したように、画像処理によって2つ
の基板の配置を行うものであってもよい。この場合に
は、製造装置は、カメラと、カメラによって得られた画
像を演算処理する処理装置と、基板を移動させる移動装
置とを備える。
【0135】実施形態6の製造装置を用いることによっ
て、実施形態4および5で説明した製造方法を容易に実
施できる。
【0136】以上、本発明の実施の形態について例を挙
げて説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定され
ず本発明の技術的思想に基づき他の実施形態に適用する
ことができる。
【0137】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クによれば、高密度記録が可能であると共にハンドリン
グが容易な光ディスクが得られる。
【0138】また、本発明の第1〜第4の製造方法によ
れば、高密度記録が可能な光ディスクを容易に製造でき
る。
【0139】また、本発明の製造装置によれば、本発明
の第3および第4の製造方法を容易に実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の光ディスクについて一例を示す
(A)平面図および(B)断面図である。
【図2】 本発明の光ディスクについて他の一例を示す
(A)平面図および(B)断面図である。
【図3】 本発明の光ディスクについてその他の一例を
示す(A)平面図および(B)断面図である。
【図4】 本発明の光ディスクについてその他の一例を
示す(A)平面図および(B)断面図である。
【図5】 本発明の光ディスクに用いる基板について
(A)一例および(B)他の一例を示す断面図である。
【図6】 本発明の光ディスクの製造方法について一例
を示す工程断面図である。
【図7】 本発明の光ディスクの製造方法について一部
の工程を示す工程断面図である。
【図8】 本発明の光ディスクの製造方法について一部
の工程を示す工程断面図である。
【図9】 本発明の光ディスクの製造方法について一部
の工程を示す断面図である。
【図10】 本発明の光ディスクの製造方法について他
の一例を示す工程断面図である。
【図11】 本発明の光ディスクの製造方法に用いる基
板について一例を示す平面図である。
【図12】 本発明の光ディスクの製造方法についてそ
の他の一例を示す工程断面図である。
【図13】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図14】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図15】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図16】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図17】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図18】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図19】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図20】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図21】 本発明の光ディスクの製造方法について一
部の工程を示す工程断面図である。
【図22】 本発明の光ディスクの製造装置について一
例を模式的に示す斜視図である。
【図23】 本発明の光ディスクの製造装置について一
例の一部を模式的に示す斜視図である。
【図24】 本発明の光ディスクの製造装置について他
の一例の一部を模式的に示す斜視図である。
【符号の説明】
10、20、30、40、235 光ディスク 11、21、31、41、51、56、231 第1の
基板 11a、12a、21a、31a、41a、51a、5
6a 一主面 12、102 第2の基板 12s 内周端 12t 外周端 13、13a、121、171、244 放射線硬化性
樹脂(接着部材) 14 信号記録層 22、32 凸部 42 凹部 102a 切り込み 102b 一部 122、134、172、194 放射線 131、141、151、161 ピン 131a、141a、151a、161a 第1のピン 131b、141b、151b、161b 第2のピン 132、181、191、225、227 テーブル 132a、181a 排気口 133、182 ディスペンサ 135 重ね合わせ部 161s 段差 192 固定手段 193 容器 211、212 カメラ 220 製造装置 221、222、223、224 搬送アーム 228 樹脂硬化部 229 ノズル 234 基板 237、238、241 駆動手段 242 ヘラ 243 スクリーン A、B 中心孔 C クランプ領域 SA 信号領域 dA、dB、L1、L2 直径
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 7/26 521 G11B 7/26 521 531 531 (72)発明者 井上 和夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 大野 鋭二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D029 KB12 KB14 RA08 RA30 RA34 5D121 AA02 AA07 FF03 FF15 GG02

Claims (40)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一主面に信号領域を備え中心孔Aを有す
    る第1の基板と、前記第1の基板に貼り合わされた透光
    性の第2の基板とを備える光ディスクであって、 前記第2の基板が前記第1の基板よりも薄く前記中心孔
    Aよりも直径が大きい中心孔Bを備え、 前記第1の基板と前記第2の基板とが、前記第1の基板
    と前記第2の基板との間であって少なくとも前記第2の
    基板の内周端から外周端にかけて配置された接着部材に
    よって貼り合わされていることを特徴とする光ディス
    ク。
  2. 【請求項2】 前記接着部材が放射線硬化性樹脂である
    請求項1に記載の光ディスク。
  3. 【請求項3】 前記第2の基板の厚さが、0.03mm
    〜0.3mmの範囲内である請求項1または2に記載の
    光ディスク。
  4. 【請求項4】 前記中心孔Bがクランプ領域よりも大き
    い請求項1ないし3のいずれかに記載の光ディスク。
  5. 【請求項5】 前記接着部材が、クランプ領域よりも外
    周側に配置されているか、またはクランプ領域のすべて
    を覆うように配置されている請求項1ないし3のいずれ
    かに記載の光ディスク。
  6. 【請求項6】 前記第1の基板のクランプ領域の厚さ
    が、1.1mm以上1.3mm以下である請求項1ない
    し3のいずれかに記載の光ディスク。
  7. 【請求項7】 前記第1の基板は、前記一主面側に、前
    記中心孔Aを囲むように円環状に形成され且つ外径が前
    記中心孔Bの直径以下である凸部、および、前記中心孔
    Aを囲むように円環状に形成され且つ直径が前記中心孔
    Bの直径以下である凹部から選ばれる少なくとも1つを
    備える請求項1ないし3のいずれかに記載の光ディス
    ク。
  8. 【請求項8】 前記凸部の高さが、前記第2の基板の厚
    さと前記接着部材の厚さとの和よりも大きい請求項7に
    記載の光ディスク。
  9. 【請求項9】 前記接着部材の平均厚さが、0.5μm
    〜30μmの範囲内である請求項1ないし3のいずれか
    に記載の光ディスク。
  10. 【請求項10】 情報の再生のために照射されるレーザ
    の波長が450nm以下である請求項1ないし3のいず
    れかに記載の光ディスク。
  11. 【請求項11】 (a)一主面に信号領域を備え中心孔
    Aを有する第1の基板と、前記中心孔Aよりも直径が大
    きい中心孔Bを有し前記第1の基板よりも薄い透光性の
    第2の基板とを、前記一主面が内側になるように放射線
    硬化性樹脂を挟んで密着させる工程と、 (b)前記放射線硬化性樹脂に放射線を照射することに
    よって前記放射線硬化性樹脂を硬化させて前記第1の基
    板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程とを含み、 前記(a)の工程において、前記第2の基板の少なくと
    も内周端から外周端まで前記放射線硬化性樹脂を配置す
    ることを特徴とする光ディスクの製造方法。
  12. 【請求項12】 前記第2の基板の厚さが、0.03m
    m〜0.3mmの範囲内である請求項11に記載の光デ
    ィスクの製造方法。
  13. 【請求項13】 前記(a)の工程は、前記第1の基板
    と前記第2の基板とによって前記放射線硬化性樹脂を挟
    んだのち、前記第1および第2の基板を回転させること
    によって前記放射線硬化性樹脂を延伸する工程を含む請
    求項11または12に記載の光ディスクの製造方法。
  14. 【請求項14】 前記(a)の工程は、前記放射線硬化
    性樹脂を前記第1の基板上に滴下したのち、前記第1の
    基板を回転させることによって前記放射線硬化性樹脂を
    前記第1の基板上に塗布し、次いで、前記第1の基板と
    前記第2の基板とを前記放射線硬化性樹脂を挟んで密着
    させる工程を含む請求項11または12に記載の光ディ
    スクの製造方法。
  15. 【請求項15】 前記(a)の工程において、前記第1
    の基板と前記第2の基板とを密着させる工程が真空雰囲
    気中で行われる請求項14に記載の光ディスクの製造方
    法。
  16. 【請求項16】 前記第1の基板は、前記一主面側に、
    前記中心孔Aを囲むように円環状に形成され且つ外径が
    前記中心孔Bの直径以下である凸部、および、前記中心
    孔Aを囲むように円環状に形成され且つ直径が前記中心
    孔Bの直径以下である凹部から選ばれる少なくとも1つ
    を備える請求項11ないし15のいずれかに記載の光デ
    ィスクの製造方法。
  17. 【請求項17】 前記凸部の高さが、前記第2の基板の
    厚さと前記放射線硬化性樹脂の厚さとの和よりも大きい
    請求項16に記載の光ディスクの製造方法。
  18. 【請求項18】 (α)一主面に信号領域を備え中心孔
    Aを有する第1の基板と、前記第1の基板よりも薄い透
    光性の第2の基板とを、前記一主面が内側になるように
    放射線硬化性樹脂を挟んで密着させる工程と、 (β)前記放射線硬化性樹脂に放射線を照射することに
    よって前記放射線硬化性樹脂を硬化させて前記第1の基
    板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程と、 (γ)前記第2の基板の一部を除去することによって、
    前記中心孔Aよりも直径が大きい中心孔Bを前記第2の
    基板に形成する工程とを含み、 前記(α)の工程において、少なくとも前記中心孔Bが
    形成される位置の外周部から前記第2の基板の外周端ま
    で前記放射線硬化性樹脂を配置することを特徴とする光
    ディスクの製造方法。
  19. 【請求項19】 前記第2の基板の厚さが、0.03m
    m〜0.3mmの範囲内である請求項18に記載の光デ
    ィスクの製造方法。
  20. 【請求項20】 前記(α)の工程は、前記第1の基板
    と前記第2の基板とによって前記放射線硬化性樹脂を挟
    んだのち、前記第1および第2の基板を回転させること
    によって前記放射線硬化性樹脂を延伸する工程を含む請
    求項18に記載の光ディスクの製造方法。
  21. 【請求項21】 前記(α)の工程は、前記放射線硬化
    性樹脂を前記第1の基板上に滴下したのち、前記第1の
    基板を回転させることによって前記放射線硬化性樹脂を
    前記第1の基板上に塗布し、次いで、前記第1の基板と
    前記第2の基板とを前記放射線硬化性樹脂を挟んで密着
    させる工程を含む請求項18または19に記載の光ディ
    スクの製造方法。
  22. 【請求項22】 前記(α)の工程において、前記第1
    の基板と前記第2の基板とを密着させる工程が真空雰囲
    気中で行われる請求項21に記載の光ディスクの製造方
    法。
  23. 【請求項23】 (i)直径dAの中心孔Aが形成され
    た第1の基板と直径dBの中心孔Bが形成された第2の
    基板とを、前記第1の基板の中心と前記第2の基板の中
    心とが一致するように、放射線硬化性樹脂を挟んで対向
    させる工程と、 (ii)前記放射線硬化性樹脂に放射線を照射することに
    よって前記放射線硬化性樹脂を硬化させる工程とを含
    み、 dA<dBであって、前記第2の基板の厚さが0.03
    mm〜0.3mmの範囲内である光ディスクの製造方
    法。
  24. 【請求項24】 前記(i)の工程において、前記第1
    および第2の中心孔AおよびBに嵌合するピンを用いて
    前記第1の基板の中心と前記第2の基板の中心とを一致
    させる請求項23に記載の光ディスクの製造方法。
  25. 【請求項25】 前記(i)の工程は、 (i−1)前記ピンが前記中心孔Bに挿入されるよう
    に、前記ピンが配置されたテーブル上に前記第2の基板
    を固定する工程と、 (i−2)前記第2の基板上に前記放射線硬化性樹脂を
    滴下する工程と、 (i−3)前記ピンが前記中心孔Aに挿入されるように
    第1の基板を移動させ、前記放射線硬化性樹脂を挟んで
    前記第1の基板と前記第2の基板とを対向させる工程
    と、 (i−4)前記第1および第2の基板を回転させること
    によって、前記放射線硬化性樹脂を延伸する工程とを含
    む請求項24に記載の光ディスクの製造方法。
  26. 【請求項26】 前記ピンが、前記中心孔Aに嵌合する
    第1のピンと前記中心孔Bに嵌合する第2のピンとを備
    え、 前記(i−1)の工程において、前記第2のピンで前記
    第2の基板を固定し、 前記(i−3)の工程において、前記第1のピンで前記
    第1の基板を固定する請求項25に記載の光ディスクの
    製造方法。
  27. 【請求項27】 前記(i−1)の工程ののちであって
    前記(i−2)の工程の前に、前記第2のピンの上面
    を、前記第2の基板の上面よりも下げる工程をさらに含
    む請求項26に記載の光ディスクの製造方法。
  28. 【請求項28】 前記第2のピンが円筒状であり、前記
    第1のピンが前記第2のピンに嵌挿されている請求項2
    6に記載の光ディスクの製造方法。
  29. 【請求項29】 直径dAの中心孔Aが形成された第1
    の基板と直径dBの中心孔Bが形成された第2の基板と
    を備える光ディスクの製造方法であって、 (I)前記第1の基板および前記第2の基板から選ばれ
    る少なくとも1つの基板上に放射線硬化性樹脂を塗布す
    る工程と、 (II)前記第1の基板と前記第2の基板とを、前記第1
    の基板の中心と前記第2の基板の中心とが一致するよう
    に、前記放射線硬化性樹脂を挟んで真空雰囲気中で対向
    させる工程と、 (III)前記放射線硬化性樹脂に放射線を照射すること
    によって前記放射線硬化性樹脂を硬化させる工程とを含
    み、 dA<dBであって、前記第2の基板の厚さが0.03
    mm〜0.3mmの範囲内である光ディスクの製造方
    法。
  30. 【請求項30】 前記(II)の工程において、前記第1
    および第2の中心孔AおよびBに嵌合するピンを用いて
    前記第1の基板の中心と前記第2の基板の中心とを一致
    させる請求項29に記載の光ディスクの製造方法。
  31. 【請求項31】 前記(II)の工程は、 (II−1)前記ピンが前記中心孔Bに挿入されるよう
    に、前記ピンが配置されたテーブル上に前記第2の基板
    を固定する工程と、 (II−2)真空雰囲気中において、前記ピンが前記中心
    孔Aに挿入されるように第1の基板を移動させ、前記放
    射線硬化性樹脂を挟んで前記第1の基板と前記第2の基
    板とを対向させる工程とを含む請求項30に記載の光デ
    ィスクの製造方法。
  32. 【請求項32】 前記ピンが、前記中心孔Aに嵌合する
    第1のピンと前記中心孔Bに嵌合する第2のピンとを備
    え、 前記(II−1)の工程において、前記第2のピンで前記
    第2の基板を固定し、 前記(II−2)の工程において、前記第1のピンで前記
    第1の基板を固定する請求項31に記載の光ディスクの
    製造方法。
  33. 【請求項33】 前記(II−1)の工程ののちであって
    前記(II−2)の工程の前に、前記第2のピンの上面
    を、前記第2の基板の上面よりも下げる工程をさらに含
    む請求項32に記載の光ディスクの製造方法。
  34. 【請求項34】 前記第2のピンが円筒状であり、前記
    第1のピンが前記第2のピンに嵌挿されている請求項3
    2に記載の光ディスクの製造方法。
  35. 【請求項35】 中心孔Aが形成された第1の基板と中
    心孔Bが形成された第2の基板とを備える光ディスクを
    製造するための製造装置であって、 前記第1の基板および前記第2の基板から選ばれる少な
    くとも1つの基板上に放射線硬化性樹脂を塗布するため
    の塗布手段と、 前記第1の基板の中心と前記第2の基板の中心とが一致
    するように前記第1の基板と前記第2の基板とを配置さ
    せるための配置手段と、 前記放射線硬化性樹脂に放射線を照射するための照射手
    段とを備えることを特徴とする光ディスクの製造装置。
  36. 【請求項36】 前記配置手段が、前記第1および第2
    の中心孔AおよびBに嵌合するピンを含む請求項35に
    記載の光ディスクの製造装置。
  37. 【請求項37】 前記ピンが、前記中心孔Aに嵌合する
    第1のピンと前記中心孔Bに嵌合する第2のピンとを含
    む請求項36に記載の光ディスクの製造装置。
  38. 【請求項38】 前記第2のピンが円筒状であり、前記
    第1のピンが前記第2のピンに嵌挿されている請求項3
    7に記載の光ディスクの製造装置。
  39. 【請求項39】 前記配置手段が、前記少なくとも1つ
    の基板を固定するためのテーブルを備える請求項35な
    いし38のいずれかに記載の光ディスクの製造装置。
  40. 【請求項40】 前記配置手段が、前記テーブルを囲む
    容器と、前記容器内を排気する排気手段とをさらに備え
    る請求項39に記載の光ディスクの製造装置。
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