JP2002134899A - 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法 - Google Patents
電子部品実装システムおよび電子部品実装方法Info
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- JP2002134899A JP2002134899A JP2000325320A JP2000325320A JP2002134899A JP 2002134899 A JP2002134899 A JP 2002134899A JP 2000325320 A JP2000325320 A JP 2000325320A JP 2000325320 A JP2000325320 A JP 2000325320A JP 2002134899 A JP2002134899 A JP 2002134899A
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Abstract
行うことができる電子部品実装システムおよび電子部品
実装方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 複数の電子部品実装用装置M1〜M7を
連結して構成され基板に電子部品を半田接合により実装
して実装基板を製造する電子部品実装システムにおい
て、電子部品実装過程における印刷工程、半田位置検出
工程、搭載工程、部品位置検出工程、半田接合工程の各
工程実行時に、印刷検査装置で得られた半田位置データ
および搭載状態検査装置で得られた部品位置データに基
づいて、印刷装置および電子部品搭載装置を制御する制
御パラメータを更新するキャリブレーションをインライ
ン状態で行う。これにより、実装過程における品質管理
をより精細に効率よく行うことができる。
Description
実装する電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
に関するものである。
化に伴って、基板の電極に電子部品を実装する際の位置
精度も高度化している。例えば、近年普及が著しい携帯
電話などの小型機器では、0.6mm×0.3mm程度
の微小サイズの電子部品が0.1mm程度の狭ピッチで
多数実装される。このような電子部品の実装に際して
は、きわめて高い実装位置精度が求められる。
な微小サイズの電子部品の実装においては、実装品質の
管理に特段の考慮が求められる。すなわち製造された実
装基板は、種々の使用状態において不具合なく使用でき
るよう、品質が保証されなければならないため、実装後
の基板に対して機能検査が行われる。そして検査の結果
不良と判定されたものは補修の対象となるが、従来より
この補修作業は主に手作業で行われ、検査によって特定
された不良部品を取り外したのちに、新たに正常な部品
を実装する作業が行われる。
実装された実装基板では、実装基板として完成した後に
不良と判定されたものに対して上述の補修作業を行うこ
とがきわめて難しい。このため、実装完成後の検査によ
って不良と判定されたものの大部分は、廃棄処理を余儀
なくされる場合が多く、高集積度で高価な電子部品を無
駄にすることとなっていた。
来は実装作業における不具合の発生を極力減少させるこ
とを目的として定期的に実装ラインの稼働を停止し、装
置各部の点検や試し基板による調整を行って、位置決め
補正値などの制御パラメータをその都度装置の状態に応
じて更新するキャリブレーション作業を行っていた。こ
のような作業は、装置停止状態で行われるため当然のこ
とながら装置稼働率を低下させると共に、作業者に取っ
ては繁雑な調整作業を伴う手間と時間を要する作業であ
ることから、実装過程での品質管理をより精細にかつ効
率よく行うことによって手間と資材の無駄を排除するこ
とが望まれていた。
より精細に効率よく行うことができる電子部品実装シス
テムおよび電子部品実装方法を提供することを目的とす
る。
実装システムは、複数の電子部品実装用装置を連結して
構成され基板に電子部品を半田接合により実装して実装
基板を製造する電子部品実装システムであって、前記基
板に形成された電子部品接合用の電極に半田を印刷する
印刷装置と、印刷された半田の位置を検出し位置検出結
果を半田位置データとして出力する半田位置検出機能を
有する第1の検査装置と、搭載ヘッドによって電子部品
の供給部から電子部品をピックアップし前記半田が印刷
された基板に搭載する電子部品搭載装置と、搭載された
電子部品の位置を検出し位置検出結果を部品位置データ
として出力する部品位置検出機能を有する第2の検査装
置と、前記半田を加熱溶融させて搭載された電子部品を
基板に半田接合する半田接合手段と、前記半田位置デー
タおよびまたは部品位置データに基づいて前記印刷装置
および電子部品搭載装置の動作を制御する制御パラメー
タを更新する全体制御手段とを備えた。
請求項1記載の電子部品実装システムであって、前記半
田接合後の電子部品を認識することにより実装状態を検
査する第3の検査装置を備えた。
の電子部品実装用装置を連結して構成された電子部品実
装システムによって基板に電子部品を半田接合により実
装して実装基板を製造する電子部品実装方法であって、
印刷装置により前記基板に形成された電子部品接合用の
電極に半田を印刷する印刷工程と、第1の検査装置によ
って印刷された半田の位置を検出し位置検出結果を半田
位置データとして出力する半田位置検出工程と、電子部
品搭載装置の搭載ヘッドによって電子部品の供給部から
電子部品をピックアップし前記半田が印刷された基板に
搭載する搭載工程と、第2の検査装置によって搭載され
た電子部品の位置を検出し位置検出結果を部品位置デー
タとして出力する部品位置検出工程と、半田接合手段に
よって半田を加熱溶融させることにより搭載された電子
部品を基板に半田接合する半田接合工程とを含み、前記
各工程実行時において、前記半田位置データおよびまた
は部品位置データに基づいて、前記印刷装置および電子
部品搭載装置を制御する制御パラメータを更新する。
項3記載の電子部品実装方法であって、第3の検査装置
によって前記半田接合後の電子部品を認識することによ
り実装状態を検査する実装検査工程を含み、実装検査結
果に基づいて前記半田接合手段の動作を制御する制御パ
ラメータを更新する。
る印刷工程、半田位置検出工程、搭載工程、部品位置検
出工程、半田接合工程の各工程実行時において、半田位
置データおよび部品位置データに基づいて、印刷装置お
よび電子部品搭載装置を制御する制御パラメータをイン
ライン状態で更新することにより、実装過程における品
質管理をより精細に効率よく行うことができる。
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子
部品実装システムの構成を示すブロック図、図2は本発
明の一実施の形態の外観検査装置の構成を示すブロック
図、図3は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置
の構成を示すブロック図、図4は本発明の一実施の形態
の電子部品搭載装置の構成を示すブロック図、図5は本
発明の一実施の形態のリフロー装置の構成を示すブロッ
ク図、図6は本発明の一実施の形態の電子部品実装シス
テムの制御系のブロック図、図7は本発明の一実施の形
態の基板の外観検査の説明図、図8は本発明の一実施の
形態の電子部品実装方法における位置ずれ検出結果の説
明図である。
について説明する。図1において電子部品実装システム
は、基板検査装置M1、印刷装置M2、印刷検査装置M
3、電子部品搭載装置M4、搭載状態検査装置M5、リ
フロー装置M6および実装状態検査装置M7の各装置を
連結して成る電子部品実装ライン1を通信ネットワーク
2によって接続し、全体を管理コンピュータ3によって
制御する構成となっている。
極の検査を行う。印刷装置M2は、基板の電極上の電子
部品接合用の半田ペーストをスクリーン印刷する。印刷
検査装置M3(第1の検査装置)は、印刷後の基板にお
ける印刷状態を検査する。電子部品搭載装置M4は、半
田ペーストが印刷された基板に電子部品を搭載する。搭
載状態検査装置M5(第2の検査装置)は、電子部品搭
載後の基板上における電子部品の有無や位置ずれを検査
する。リフロー装置M6(半田接合手段)は電子部品搭
載後の基板を加熱して、電子部品を基板に半田接合す
る。実装状態検査装置M7(第3の検査装置)は、半田
接合後の基板上における電子部品の実装状態を検査す
る。
図2を参照して、基板検査装置M1、印刷検査装置M
3、搭載状態検査装置M5および実装状態検査装置とし
て用いられる外観検査装置について説明する。図2にお
いて、位置決めテーブル10上には基板保持部11が配
置されており、基板保持部11には基板4が保持されて
いる。基板保持部11の上方にはカメラ13が撮像方向
を下向きにして配設されており、周囲に設けられた照明
部12を点灯した状態で、カメラ13は基板4を撮像す
る。このとき、テーブル駆動部14を制御して位置決め
テーブル10を駆動することにより、基板4の任意位置
をカメラ13の直下に位置させて撮像することができ
る。
識部17によって画像処理され、所定の認識結果が出力
される。検査処理部16は、認識結果に基づいて検査対
象項目ごとに合否判定を行うとともに、所定項目につい
ては検出値をフィードバックデータ、フィードフォワー
ドデータとして出力する。出力されたデータは通信部1
8、通信ネットワーク2を介して、管理コンピュータ3
や他装置に転送される。検査制御部15は、テーブル駆
動部14、カメラ13、照明部12を制御することによ
り、検査動作を制御する。
ついて説明する。図3において、位置決めテーブル20
上には基板保持部21が配設されている。基板保持部2
1は基板4をクランパ21aによって両側から挟み込ん
で保持する。基板保持部21の上方には、マスクプレー
ト22が配設されており、マスクプレート22には基板
4の印刷部位に対応したパターン孔(図示せず)が設け
られている。テーブル駆動部24によって位置決めテー
ブル20を駆動することにより、基板4はマスクプレー
ト22に対して水平方向および垂直方向に相対移動す
る。
23が配置されている。スキージ部23は、スキージ2
3cをマスクプレート22に対して昇降させるとともに
マスクプレート22に対して所定押圧力(印圧)で押し
付ける昇降押圧機構23b、スキージ23cを水平移動
させるスキージ移動機構23aより成る。昇降押圧機構
23b、スキージ移動機構23aは、スキージ駆動部2
5により駆動される。基板4をマスクプレート22の下
面に当接させた状態で、半田ペースト5が供給されたマ
スクプレート22の表面に沿ってスキージ23cを所定
速度で水平移動させることにより、半田ペースト5は図
示しないパターン孔を介して基板4の上面に印刷され
る。
キージ駆動部25を印刷制御部27によって制御するこ
とによって行われる。この制御に際しては、印刷データ
記憶部26に記憶された印刷データに基づいて、スキー
ジ23cの動作や基板4とマスクプレート22との位置
合わせが制御される。表示部29は印刷装置の稼動状態
を示す各種の指標データや、印刷動作状態の異常を示す
異常報知を表示する。通信部28は通信ネットワーク2
を介して管理コンピュータ3や電子部品実装ライン1を
構成する他装置との間でのデータ授受を行う。
成について説明する。図4において位置決めテーブル3
0上には基板保持部31が配設されており、基板保持部
31は印刷検査装置M3から搬送された基板4を保持す
る。基板保持部31の上方には、ヘッド駆動機構33に
よって移動する搭載ヘッド32が配設されている。搭載
ヘッド32は電子部品を吸着するノズル32aを備えて
おり、搭載ヘッド32は図示しない供給部から電子部品
をノズル32aによって吸着保持して取り出す。そして
搭載ヘッド32を基板4上に移動させて、基板4に対し
て下降させることにより、ノズル32aに保持した電子
部品を基板4に搭載する。
0はそれぞれ搭載ヘッド駆動部35、テーブル駆動部3
4によって駆動される。前記搭載動作において、搭載デ
ータ記憶部36に記憶された搭載データ、すなわち基板
4上での電子部品の実装座標に基づいて、搭載制御部3
7によってテーブル駆動部34、搭載ヘッド駆動部35
を制御することにより、搭載ヘッド32による基板4へ
の電子部品搭載位置を制御することができる。すなわ
ち、搭載制御部37からの制御指令値が、搭載位置を制
御する制御パラメータとなっている。
の稼動状態を表す指標データや搭載動作状態の異常を示
す異常報知を表示する。通信部38は通信ネットワーク
2を介して管理コンピュータ3や電子部品実装ライン1
を構成する他装置との間でデータ授受を行う。
ついて説明する。図5において、基台40上に設けられ
た加熱室42内には、基板4を搬送する搬送路41が水
平に配設されている。加熱室42内は複数の加熱ゾーン
に仕切られており、各加熱ゾーンは、それぞれ温調機能
を有する加熱手段43を備えている。加熱手段43を駆
動して各加熱ゾーンを所定の温度条件に加熱した状態
で、半田ペースト上に電子部品が搭載された基板4を上
流側から順次加熱ゾーンを通過させることにより、半田
ペースト中の半田成分が加熱溶融する。これにより電子
部品は基板4に半田接合される。
憶部46に記憶された加熱データ、すなわちリフロー過
程における温度プロファイルを実現するための制御パラ
メータである温度指令値に基づいて加熱制御部47によ
って各加熱手段43を制御することにより、所望の温度
プロファイルが設定される。表示部49はリフロー装置
M6の稼動状態を表す指標データや、所定の温度条件か
らの偏差が許容範囲を超え加熱動作状態が異常であるこ
とを示す異常報知を表示する。通信部48は通信ネット
ワーク2を介して管理コンピュータ3や電子部品実装ラ
イン1を構成する他装置との間でデータ授受を行う。
の制御系の構成について説明する。ここでは、電子部品
実装過程における品質管理を目的としたデータ授受機能
を説明する。図6において、全体制御部50(全体制御
手段)は管理コンピュータ3によって実行される制御処
理範囲のうちの品質管理機能を担うものであり、通信ネ
ットワーク2を介して電子部品実装ライン1を構成する
各装置から転送されるデータを受信し、予め定められた
判定アルゴリズムに基づいて必要な判定処理を行い、処
理結果を各装置に指令データとして通信ネットワーク2
を介して出力する。
基板検査装置M1、印刷検査装置M3、搭載状態検査装
置M5および実装状態検査装置M7にそれぞれ備えられ
た基板検査処理部16A、印刷検査処理部16B、搭載
状態検査処理部16Cおよび実装状態検査処理部16D
は、それぞれ通信部18A,18B,18Cおよび18
Dを介して通信ネットワーク2に接続されている。また
印刷装置M2、電子部品搭載装置M4およびリフロー装
置M6に備えられた各部(図3,4,5参照)は、それ
ぞれ通信部28,38,48を介して通信ネットワーク
2と接続されている。
抽出されたデータに基づいて上流側装置の制御パラメー
タを修正・更新するフィードバック処理や、下流側装置
の制御パラメータを修正、更新するフィードフォワード
処理が、各装置の稼動中に随時可能な構成となってい
る。
成されており、以下電子部品実装方法および実装過程に
おいて行われるキャリブレーション、すなわち制御パラ
メータの修正・更新処理について説明する。まず図示し
ない基板供給部から供給される基板4は、基板検査装置
M1(図2参照)に搬入される。ここで基板4をカメラ
13によって撮像して画像認識することにより、図7
(a)に示すように基板4に形成された電極6が各電極
部位(1)〜(n)ごとに認識される。これにより、各
電極部位における1対の電極6の重心位置を示す位置デ
ータ(電極位置データ)が、基板4の認識マーク4aを
基準とした座標値xL(i),yL(i)として求めら
れ、基板検査処理部16Aに送られる。
求められた複数の座標値に基づいて検査処理を行う。す
なわち座標値を統計処理することにより、当該基板が使
用可能か否かの合否判断を行うとともに、基板ごとに電
極の位置ずれ傾向を判断する。そして図8(a)に示す
ように、実際の電極位置の設計データ上の正規位置に対
する位置ずれ量が、許容範囲のばらつき範囲内で特定方
向に偏っている場合には、この偏差Δ1を数値データと
して求める。
制御パラメータを修正するフィードフォワード処理を行
う。このフィードフォワード処理のための偏差データ
は、通信部18Aを介して通信ネットワーク2に転送さ
れ、全体制御部50によって下流側の印刷装置M2、電
子部品搭載装置M4に対して補正指令値として出力され
る。
基板保持部21に保持される。この基板4に対して半田
ペースト5が印刷される。このとき、上述のフィードフ
ォワード処理によって印刷データ記憶部26には電極位
置の偏差データに基づく補正指令値が記憶されており、
位置決めテーブル20を駆動して基板4をマスクプレー
ト22に対して位置合わせする際には、この補正指令値
に基づいて位置決めテーブル20の移動量が補正され
る。これにより、電極6が基板4の認識マーク4aに対
する正規位置から位置ずれを生じている場合にあって
も、印刷装置M2においては電極6上の正しい位置に半
田ペーストが印刷される。
検査装置M3に搬入される。ここでは、同様の外観検査
装置によって、図7(b)に示すように各電極部位
(1)〜(n)ごとに、1対の電極6上に印刷された半
田ペースト5の重心位置を示す位置データ(半田位置デ
ータ)が、認識マーク4aを基準とした座標値xS
(i),yS(i)として画像認識によって求められ
る。そして認識結果は印刷検査処理部16Bによって同
様に検査処理され、印刷結果の合否判断および印刷位置
の位置ずれ傾向が判断される。そして図8(b)に示す
ように正規位置に対する位置ずれ量の偏差Δ2を求め、
この偏差データは通信部18Bを介して通信ネットワー
ク2に転送される。
タは、フィードバック処理およびフィードフォワード処
理の双方に用いられる。すなわち、印刷装置M2におい
て当該基板4への印刷動作に用いられた制御パラメータ
と、検査によって検出された印刷位置とを比較すること
により、印刷装置M2に起因して生じた位置ずれを求め
ることができる。そしてこの位置ずれ分だけ印刷装置M
2の制御パラメータを修正するキャリブレーションを行
うことにより、印刷動作における位置ずれ量を減少させ
ることができる。また印刷位置の偏差データは、下流側
の電子部品搭載装置M4にフィードフォワードされる。
スト5の撮像データに基づいて、各電極部位ごとに半田
部分(図7(b)に示す電極6上の黒色部分)の面積を
演算することにより、各電極部位ごとの半田印刷量が検
出される。そして検出された半田印刷量が許容範囲を超
えてばらついている場合には、印刷条件の設定が不良で
あると判定され、その旨表示される。
レート22上で移動させるスキージ速度やスキージ23
cをマスクプレート22に押し付ける印圧値、さらには
スキージング後に基板4をマスクプレート22の下面か
ら引き離す版離れ速度などがあり、これらの印刷動作制
御上の数値データが、制御パラメータとして設定され
る。
載装置M4に搬入され、ここで半田ペースト5が印刷さ
れた電極6上に電子部品7の搭載が行われる。このと
き、搭載ヘッド32によって基板4に電子部品7を搭載
する際には、テーブル駆動部34および搭載ヘッド駆動
部35に指令される制御パラメータを、フィードフォワ
ードされた偏差Δ2だけ修正した上で搭載動作を行う。
これにより、半田ペースト5の印刷位置が全体的に偏っ
ている場合においても、電子部品7は印刷された半田ペ
ースト5に対して位置ずれを生じることなく精度よく搭
載される。
載状態検査装置M5に搬送され、ここで電子部品7の搭
載状態を検査するための外観検査が行われる。すなわち
図7(c)に示すように、各電極部位(1)〜(n)ご
とに搭載された電子部品7の重心位置を示す位置データ
(部品位置データ)を、認識マーク4aを基準とした座
標値xP(i),yP(i)として求める。
Cによって検査処理され、搭載状態の合否判断および搭
載位置の位置ずれ傾向が判断され、図8(c)に示すよ
うに正規位置に対する位置ずれ量の偏差Δ3が求められ
る。そしてこの偏差データは同様に通信ネットワーク2
に転送される。ここでは、搭載位置の偏差データは電子
部品搭載装置M4にフィードバックされ、偏差Δ3だけ
制御パラメータを修正するキャリブレーションが行われ
る。
いない場合や、搭載されていても正常な姿勢でなく立ち
姿勢となっている場合や、回転方向が大きくずれている
ような場合には、画像認識時にその状態が検出され、搭
載動作状態の異常と判定されてその旨表示される。
データは、電子部品7が収容されていた部品供給部の各
パーツフィーダごとに、および電子部品7を保持するノ
ズルごとに統計処理される。さらには、電子部品搭載装
置M4として、ロータリ式の搭載装置のように複数の移
載ヘッドを有し、個々の移載ヘッドに備えられた複数の
ノズルが回転可能で、電子部品7を異なる実装角度で実
装する場合には、個々のノズルについて実装角度ごとに
統計処理される。これにより、制御パラメータの修正を
行う際には、統計処理によって求められた適正な修正量
に従って、対象ごとにきめ細かいキャリブレーションを
行うことができる。
リフロー装置M6に搬入され、ここで所定の温度プロフ
ァイルに従って基板4を加熱することにより、半田ペー
スト5中の半田成分が溶融し、電子部品7は電極6に半
田接合される。リフロー後の基板4は、実装状態検査装
置M7に搬入され、ここで最終的な電子部品7の実装状
態が検査される。すなわち外観検査によって電子部品7
の有無や姿勢・位置の異常の有無が検査される。ここで
検出される項目のうち、リフロー過程における加熱状態
の不良に起因するものについては、リフロー装置M6に
フィードバックされ、加熱データ記憶部46の制御パラ
メータの修正が行われる。
電子部品実装方法は、電子部品接合用の電極に半田を印
刷する印刷工程と、印刷された半田の位置を検出し半田
位置データとして出力する半田位置検出工程と、半田が
印刷された電極に電子部品を搭載する搭載工程と、搭載
された電子部品の位置を検出し位置検出結果を部品位置
データとして出力する部品位置検出工程と、搭載された
電子部品を基板に半田接合する半田接合工程とを含み、
各工程実行時において半田位置データおよびまたは部品
位置データに基づいて、印刷装置、電子部品搭載装置を
制御する制御パラメータを更新して、印刷動作や搭載動
作のキャリブレーションを行うものである。
稼動を停止した状態で、試し基板を用いて行っていたオ
フラインのキャリブレーションを行うことなく、各装置
を稼動させたままインラインのキャリブレーションを行
うことができる。したがって、機構部品の経時変化や環
境温度の変化などの変動要因が存在する場合にあって
も、これらの変動要因に起因する印刷位置精度や搭載位
置精度の低下を、常にキャリブレーションによって防止
することができる。
基づいてキャリブレーションを行うことにより、従来は
不可避であった不良基板の発生を大幅に削減することが
できるとともに、オフラインのキャリブレーション作業
を排して、実装設備の稼動率を向上させることが可能と
なる。
ける印刷工程、半田位置検出工程、搭載工程、部品位置
検出工程、半田接合工程の各工程実行時において、半田
位置データおよび部品位置データに基づいて、印刷装置
および電子部品搭載装置を制御する制御パラメータをイ
ンライン状態で更新するようにしたので、実装過程にお
ける品質管理をより精細に効率よく行うことができる。
の構成を示すブロック図
示すブロック図
構成を示すブロック図
成を示すブロック図
示すブロック図
の制御系のブロック図
図
ける位置ずれ検出結果の説明図
Claims (4)
- 【請求項1】複数の電子部品実装用装置を連結して構成
され基板に電子部品を半田接合により実装して実装基板
を製造する電子部品実装システムであって、前記基板に
形成された電子部品接合用の電極に半田を印刷する印刷
装置と、印刷された半田の位置を検出し位置検出結果を
半田位置データとして出力する半田位置検出機能を有す
る第1の検査装置と、搭載ヘッドによって電子部品の供
給部から電子部品をピックアップし前記半田が印刷され
た基板に搭載する電子部品搭載装置と、搭載された電子
部品の位置を検出し位置検出結果を部品位置データとし
て出力する部品位置検出機能を有する第2の検査装置
と、前記半田を加熱溶融させて搭載された電子部品を基
板に半田接合する半田接合手段と、前記半田位置データ
およびまたは部品位置データに基づいて前記印刷装置お
よび電子部品搭載装置の動作を制御する制御パラメータ
を更新する全体制御手段とを備えたことを特徴とする電
子部品実装システム。 - 【請求項2】前記半田接合後の電子部品を認識すること
により実装状態を検査する第3の検査装置を備えたこと
を特徴とする請求項1記載の電子部品実装システム。 - 【請求項3】複数の電子部品実装用装置を連結して構成
された電子部品実装システムによって基板に電子部品を
半田接合により実装して実装基板を製造する電子部品実
装方法であって、印刷装置により前記基板に形成された
電子部品接合用の電極に半田を印刷する印刷工程と、第
1の検査装置によって印刷された半田の位置を検出し位
置検出結果を半田位置データとして出力する半田位置検
出工程と、電子部品搭載装置の搭載ヘッドによって電子
部品の供給部から電子部品をピックアップし前記半田が
印刷された基板に搭載する搭載工程と、第2の検査装置
によって搭載された電子部品の位置を検出し位置検出結
果を部品位置データとして出力する部品位置検出工程
と、半田接合手段によって半田を加熱溶融させることに
より搭載された電子部品を基板に半田接合する半田接合
工程とを含み、前記各工程実行時において、前記半田位
置データおよびまたは部品位置データに基づいて、前記
印刷装置および電子部品搭載装置を制御する制御パラメ
ータを更新することを特徴とする電子部品実装方法。 - 【請求項4】第3の検査装置によって前記半田接合後の
電子部品を認識することにより実装状態を検査する実装
検査工程を含み、実装検査結果に基づいて前記半田接合
手段の動作を制御する制御パラメータを更新することを
特徴とする請求項3記載の電子部品実装方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000325320A JP3685035B2 (ja) | 2000-10-25 | 2000-10-25 | 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法 |
DE10152408A DE10152408A1 (de) | 2000-10-25 | 2001-10-24 | System und Verfahren zur Bauteilmontage |
CNB011358467A CN1198498C (zh) | 2000-10-25 | 2001-10-25 | 元件安装系统及安装方法 |
US10/037,094 US6757966B2 (en) | 2000-10-25 | 2001-10-25 | Component mounting system and mounting method |
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---|---|---|---|
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