JP2002022806A - 回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検査回路基板の検査・評価に必要な検査回
路の、異なる被検査回路基板毎の制作を不要とする。 【解決手段】 回路基板検査装置における検査回路２の
少なくとも一部をＰＬＤ化し（機能Ａ検査回路（ＰＬ
Ｄ）２１、機能Ｂ検査回路（ＰＬＤ）２２、機能Ｃ検査
回路（ＰＬＤ）２３）、被検査回路基板４毎の差異に対
応したＬＤ内部ロジックに変更することにより、検査回
路２のハード構成を変更することなく、多品種の被検査
回路基板４の検査に対応可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板の動作を
検査する回路基板検査装置に係わり、特に、多品種の回
路基板の機能検査や評価に好適な回路基板検査装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】回路基板の動作を検査する回路基板検査
装置に関しては、例えば、特開平０５−１３３９９２号
公報（「回路基板検査方法と検査基板並びに回路基板検
査装置」）や、特開平０８−３２１９１号公報（「電子
回路基板」）などに記載の技術がある。

【０００３】特開平０５−１３３９９２号公報に記載の
技術は、検査基板の一方の面上にあるプローブ端子を、
被検査回路基板上にある被測定ランドに接触させ、その
被検査回路基板に実装すべき部品などを、検査基板上の
他の面に搭載し、あたかもその被検査回路基板上に部品
を実装したごとくそれらプローブ端子と部品を結合し
て、被検査回路基板を検査するものである。

【０００４】また、特開平０８−３２１９１号公報に記
載の技術は、電子回路基板のテスト時に、この基板の品
種の自動判別を可能にさせることにより、電子回路基板
のテストに際して、試験装置が自動的に、この基板の品
種を判別でき、人手による基板識別分類作業を不要と
し、テストに要するコストを大幅に低減するためのもの
である。

【０００５】このような回路基板の動作を検査する回路
基板検査装置においては、検査内容に応じた被検査基板
への入力信号の設定や、出力信号の評価を行うための検
査回路を、検査対象の被検査回路基板に接続する必要が
ある。

【０００６】通常、検査回路は、検査の対象となる被検
査回路基板毎に制作している。そのため、検査回路の制
作および回路デバッグに多大な時間と費用が必要とな
る。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、従来の技術では、被検査回路基板の検査・評価に
必要な検査回路を、異なる被検査回路基板毎に別々に制
作しなければならない点である。

【０００８】本発明の目的は、これら従来技術の課題を
解決し、多品種の被検査回路基板の機能検査や評価を効
率的に行うことを可能とする回路基板検査装置を提供す
ることである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の回路基板検査装置は、検査回路の少なくと
も一部をＰＬＤ化し、被検査回路基板毎の差異に対応し
た内部回路のＰＬＤに変更して、検査回路のハード構成
を変更することなく、多品種の被検査回路基板の検査に
対応する。

【００１０】尚、ＰＬＤとしてはヒューズタイプやＲＯ
Ｍタイプ、ＳＲＡＭタイプ等があり、例えば、ＳＲＡＭ
タイプのＰＬＤを用いて、外部から転送された回路デー
タで、あるいは、検査回路内に置かれたメモリに格納し
た回路データで、所定のＰＬＤの内容を書き換え、ＰＬ
Ｄの差し替え無しに検査回路の切替を行う。

【００１１】また、ＰＬＤ内部回路を識別可能として、
被検査回路基板との対応付けを確認し、被検査回路基板
とＰＬＤ内部回路との不一致による誤動作を防止する。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面により詳細に説明する。図１は、本発明に係る回路基
板検査装置の構成例を示すブロック図であり、図４は、
図１における回路基板検査装置の制御部のハードウェア
構成例を示すブロック図である。

【００１３】図４において、５１はＣＲＴ（Cathode Ra
y Tube）やＬＣＤ(Liquid CrystalDisplay)等からなる
表示装置、５２はキーボードやマウス等からなる入力装
置、５３はＨＤＤ（Hard Disk Drive）等からなる外部
記憶装置、５４はＣＰＵ（Central Processing Unit）
５４ａや主メモリ５４ｂ等を具備してコンピュータ処理
を行なう情報処理装置、５５はプログラムやデータを記
録したＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc-Read Only Memor
y）もしくはＤＶＤ（Digital Video Disc/DigitalVersa
tile Disc）等からなる光ディスク、５６は光ディスク
５５に記録されたプログラムおよびデータを読み出すた
めの駆動装置、５７はＬＡＮ（Local Area Network）カ
ードやモデム等からなる通信装置である。

【００１４】光ディスク５５に格納されたプログラムお
よびデータを情報処理装置５４により駆動装置５６を介
して外部記憶装置５３内にインストールした後、外部記
憶装置５３から主メモリ５４ｂに読み込みＣＰＵ５４ａ
で処理することにより、情報処理装置５４内に図１に示
す回路基板検査装置を制御する制御部１が構成される。

【００１５】図１に示すように、本例の回路基板検査装
置は、図４の構成のコンピュータシステムからなる制御
部１と検査回路部２およびフィクスチャ部３からなり、
制御部１の制御に基づき、検査回路部２において、フィ
クスチャ部３を介して被検査回路基板（図中、「被検査
回路」と記載）４との信号の送受信を行い、被検査回路
基板４の動作を検査する。

【００１６】被検査回路基板４は通常、複数の機能ブロ
ック（本例では、機能Ａブロック４３、機能Ｂブロック
４４、機能Ｃブロック４５）を持ち、各機能ブロック毎
の検査に必要な信号がフィクスチャ部３を介して、検査
回路部２に接続される。

【００１７】制御部１は、検査装置全体の制御を行い、
検査目的に応じて検査回路２と被検査回路基板４（ＣＰ
Ｕ４１と治具ＲＯＭ４２を介して）を制御する。

【００１８】検査回路部２は、被検査回路基板４の各機
能ブロック（機能Ａブロック４３、機能Ｂブロック４
４、機能Ｃブロック４５）の検査内容に応じた検査に必
要なハードウエア構成で、被検査回路基板４の信号の入
出力のタイミング生成・結果の判定等を行う。

【００１９】この際、被検査回路基板４の品種毎に、信
号の数やタイミングは変わるので、同様な機能を持つ場
合でも、被検査回路基板４の品種毎に個別の検査回路部
２を用いなければならない。

【００２０】本例の回路基板検査装置においては、この
検査回路部２を、または、その一部をＰＬＤ(Programma
ble Logic Device、プログラマブル ロジック デバイ
ス）で構成する。そして、ＰＬＤの内部回路の書き換え
等により、一つの検査回路部２を用いて、品種が異なる
複数の被検査回路基板４に対する検査を行う。

【００２１】本例では、被検査回路基板４の機能Ａブロ
ック４３、機能Ｂブロック４４、機能Ｃブロック４５の
それぞれに対応したＰＬＤ内部回路の機能Ａ検査回路
（ＰＬＤ）２１、機能Ｂ検査回路（ＰＬＤ）２２、機能
Ｃ検査回路（ＰＬＤ）２３が各々設けられている。

【００２２】そして、機能別に検査に必要な回路をモジ
ュール化し、被検査回路基板４の品種別に変更が必要な
部分をＰＬＤで構成し、被検査回路基板毎の差異に対応
した内部ロジックのＰＬＤに変更する。これにより、検
査回路部２のハード構成を変更することなく、多機種の
被検査回路基板４の検査が可能となる。

【００２３】このように、検査回路部２の少なくとも一
部をＰＬＤ化し、被検査回路基板毎の差異に対応した内
部ロジックのＰＬＤに変更することにより、検査回路部
２のハード構成を変更することなく、多品種の被検査回
路基板４の検査に対応できる。

【００２４】これにより、回路基板検査装置の制作・デ
バッグが大幅に短縮できるうえ、検査回路部の共通化が
可能となり、多品種の被検査回路基板を１台の回路基板
検査装置で検査することが可能となる。

【００２５】本例で用いてＰＬＤとしては、ヒューズタ
イプ、ＲＯＭタイプ、ＳＲＡＭタイプなどがある。しか
し、ヒューズタイプのＰＬＤや、ＲＯＭタイプのＰＬＤ
では、機種毎に対応したＰＬＤを差し替える必要があ
り、ＰＬＤの保管の問題や、差し替えミスに伴う信頼性
の問題が発生する。また、段取り替えの時間も無視でき
ない。

【００２６】そこで、本例においては、追記可能なＳＲ
ＡＭタイプのＰＬＤを用いるものとする。このように、
追記が可能なＳＲＡＭタイプのＰＬＤを用いる場合、外
部からの回路データをシリアル書込方式の信号ラインを
用いて取り込み、ＰＬＤを書き換える構造となる。

【００２７】図２は、図１の回路基板検査装置における
検査回路部のＰＬＤ内部回路を書き換えるシステムの構
成例を示すブロック図である。

【００２８】本図２において、２６は図１における検査
回路部２に設けられた各機能検査回路（機能Ａ検査回路
２１、機能Ｂ検査回路２２、機能Ｃ検査回路２３）を構
成するＳＲＡＭタイプのＰＬＤ（図中、「ＰＬＤ（ＳＲ
ＡＭ）」と記載）であり、２５はＰＬＤ２６に外部から
の回路データを書き込む書き換え回路である。

【００２９】外部からの回路データはＲＯＭやＦＲＯ
Ｍ、ＥＥＰＲＯＭ、ＩＣカード等のメモリを用いて与え
ることができる。もちろん、図１におけるコンピュータ
システムからなる制御部１にファイルとして記憶してお
き、このデータを転送することでも良い。

【００３０】このように、追記可能なＳＲＡＭタイプの
ＰＬＤ２６と、ＰＬＤに内部ロジックを書き込む書き換
え回路２５を設けることで、ＰＬＤの差し替えなしに、
多品種の被検査回路基板４の検査ができ、各被検査回路
基板に合わせてＰＬＤを複数用意する必要もなくなり、
また、ＰＬＤの保管や差し替えによる信頼性の低下の問
題を回避できると共に、段取り替えの時間もなく短時間
で検査回路の変更が可能となる。

【００３１】しかし、このようにＰＬＤ内部回路を外部
データで書き換える構成としたとしても、あるいは、各
被検査回路基板毎にＰＬＤを差し替える構成とした場合
でも、多品種の被検査回路基板４を検査する際、当該被
検査回路基板４と検査回路部２内のＰＬＤ内部回路が対
応していなければ正しく動作しない。接続状況によって
は、被検査回路基板４を破壊してしまう可能性がある。

【００３２】このような問題に対応するために、本例の
回路基板検査装置では、ＰＬＤの内部回路が被検査回路
基板に正しく対応するものであるか否かを判定する構成
とする。

【００３３】図３は、図１の回路基板検査装置における
検査回路部のＰＬＤ内部回路の正当性を判定するシステ
ムの構成例を示すブロック図である。

【００３４】本図３において、３１はヒューズタイプや
ＲＯＭタイプあるいはＳＲＡＭタイプなどのＰＬＤであ
り、３２はＰＬＤ３１内に設けられた当該ＰＬＤ３１の
識別用のコードを発生させるコード発生回路、３３はコ
ード発生回路３２が発生するコードに基づき当該ＰＬＤ
３１が検査対象の被検査回路基板に対応した正当なもの
であるか否かを判定する識別・判定回路である。

【００３５】本例では、図２で説明した外部から回路デ
ータが書き込まれたＰＬＤ（ＰＬＤに書き込まれた回路
データ）を識別するものとする。

【００３６】ＰＬＤに書き込む回路データに、コード発
生回路３２を生成する情報を設け、この回路データのＰ
ＬＤ３１への書き込み後、コード発生回路３２から発生
された識別用のコードを、識別・判定回路３３において
読み取り、被検査回路基板と対応するコードであるか否
かを判定する。

【００３７】識別・判定回路３３としては、例えば、コ
ード発生回路３２から発生された識別用のコードと被検
査回路基板に予め付与されたコードとの論理積演算を行
い、その演算結果をＬＥＤ等で正当性の良否結果として
表示する。

【００３８】このように、ＰＬＤの内部回路の書き換え
後、検査実行に先立ち、ＰＬＤの回路データで設けたコ
ード発生回路により、内部回路の識別を行い、差し替え
や書き換えのミスを防止することができ、被検査回路基
板とＰＬＤ内部回路との不一致による誤動作を防止でき
る。

【００３９】以上、図１〜図４を用いて説明したよう
に、本例の回路基板検査装置では、検査回路の少なくと
も一部をＰＬＤ化することにより、ＰＬＤの変更で、被
検査回路基板毎の差異に対応できるので、一つの検査回
路で、そのハードを変更することなく、多品種の被検査
回路基板の検査に対応できる。

【００４０】これにより、回路基板検査装置の制作およ
びデバッグに係わる作業時間を大幅に短縮できると共
に、検査回路の共通化が可能となり、多品種の被検査回
路基板を１台の回路基板検査装置で検査可能となる。

【００４１】また、ＰＬＤとして、外部からの書き換え
可能なＳＲＡＭタイプのＰＬＤを用いることにより、外
部から転送された回路データで所定のＰＬＤの内容を書
き換えることができ、ＰＬＤの差し替え無しに検査回路
の切替が可能となる。これにより、検査対象の回路基板
に合わせて、ＰＬＤを複数購入する必要もなく、ＰＬＤ
差し替えによる信頼性を損なうこともなく、かつ、短時
間で検査回路の変更が可能となる。

【００４２】さらに、被検査回路基板と検査回路のＰＬ
Ｄの対応の良否（正当性）を、ＰＬＤ内部回路の識別コ
ードを確認することで判定する。これにより、検査に先
立ち、検査回路のＰＬＤの差し替えミス、あるいは、書
き換えミスを事前に検証でき、被検査回路基板とＰＬＤ
内部回路の不一致による誤動作を防止することが可能と
なる。

【００４３】尚、本発明は、図１〜図４を用いて説明し
た例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない
範囲において種々変更可能である。例えば、図３に示し
た識別・判定回路３３では、コード発生回路３２から発
生された識別用のコードと被検査回路基板に予め付与さ
れたコードとの論理積演算結果をＬＥＤ等で良否表示す
る構成としているが、図４に示すコンピュータシステム
からなる制御部１において識別・判定回路３３を構成し
て、その結果を、表示装置５１等に表示することでも良
い。

【００４４】また、本例では、図２で説明したように、
外部から転送された回路データでＰＬＤの内容を書き換
えているが、検査回路内にメモリを置き、このメモリに
格納した回路データを用いることでも良い。そのメモリ
として、例えばＩＣカードやＲＯＭ、ＨＤＤ等を用いる
ことができる。

【００４５】

【発明の効果】本発明によれば、回路基板検査装置内の
検査回路の少なくとも一部をＰＬＤで構成し、被検査回
路基板に対応した内部回路のＰＬＤを用いることによ
り、一台の回路基板検査装置で、各々異なる被検査回路
基板に対する検査を行うことができ、多品種の被検査回
路基板の機能検査や評価を効率的に行うことが可能であ
る。

【００４６】また、ＳＲＡＭタイプのＰＬＤの内部回路
を外部データにより被検査回路基板に対応して書き換え
ることで、ＰＬＤの差し替え無しに検査回路の切替が可
能となり、被検査回路基板に合わせて、ＰＬＤを複数購
入する必要もなく、また、ＰＬＤ差し替えによる信頼性
を損なうことなく、短時間で検査回路の変更が可能とな
る。

【００４７】さらに、検査に先立ち、検査回路のＰＬＤ
の内部回路の識別を行うことで、差し替え、書き換えの
ミスを事前に検証でき、被検査回路基板とＰＬＤ内部回
路の不一致による誤動作を防止することが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る回路基板検査装置の構成例を示す
ブロック図である。

【図２】図１の回路基板検査装置における検査回路部の
ＰＬＤ内部回路を書き換えるシステムの構成例を示すブ
ロック図である。

【図３】図１の回路基板検査装置における検査回路部の
ＰＬＤ内部回路の正当性を判定するシステムの構成例を
示すブロック図である。

【図４】図１における回路基板検査装置の制御部のハー
ドウェア構成例を示すブロック図である。

【符号の説明】 １：制御部、２：検査回路部、３：フィクスチャ部、
４：被検査回路基板、２１：機能Ａ検査回路（ＰＬ
Ｄ）、２２：機能Ｂ検査回路（ＰＬＤ）、２３：機能Ｃ
検査回路（ＰＬＤ）、２５：書き換え回路、２６：ＳＲ
ＡＭタイプのＰＬＤ、３１：ＰＬＤ、３２：コード発生
回路、３３：識別・判定回路、４１：ＣＰＵ、４２：治
具ＲＯＭ、４３：機能Ａブロック、４４：機能Ｂブロッ
ク、４５：機能Ｃブロック、５１：表示装置、５２：入
力装置、５３：外部記憶装置、５４：情報処理装置、５
４ａ：ＣＰＵ、５４ｂ：主メモリ、５５：光ディスク、
５６：駆動装置、５７：通信装置。

フロントページの続き (72)発明者 奥村 紀義 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 Ｆターム(参考） 2G032 AA00 AB01 AE09 AE10 AE12 AG10 AL00

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回路基板の動作を検査する回路基板検査
   装置であって、検査対象の被検査回路基板からの信号に
   基づき該被検査回路基板に対する検査を行う検査回路の
   少なくとも一部をＰＬＤで構成したことを特徴とする回
   路基板検査装置。
2. 【請求項２】 回路基板の動作を検査する回路基板検査
   装置であって、検査対象の被検査回路基板からの信号に
   基づき該被検査回路基板に対する検査を行う検査回路の
   少なくとも一部をＳＲＡＭタイプのＰＬＤで構成し、該
   ＰＬＤを外部からの回路データで書き換える手段を設け
   たことを特徴とする回路基板検査装置。
3. 【請求項３】 請求項１、もしくは、請求項２のいずれ
   かに記載の回路基板検査装置であって、上記ＰＬＤの内
   部回路を識別する手段と、該手段で識別した上記ＰＬＤ
   の内部回路が、上記被検査回路基板に対応するものであ
   るか否かを判定する手段とを有することを特徴とする回
   路基板検査装置。