JPH02248877A - 論理回路パッケージ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は論理回路パッケージに関し、特に複数の集積回
路が実装されて構成される論理回路パッケージに関する
。

従来技術 一般に、ＩＣ５ＬＳＩ等の集積回路は印刷配線された基
板上に複数個実装されて使用される。また、その集積回
路が実装された複数枚の論理回路パッケージがスロット
やケージに挿入接続されて情報処理装置等が構成されて
いる。

したがって、それら集積回路のうちの１つが故障しても
その影響は大きく、はとんどの場合はシステムダウンに
つながっている。そのため、従来から個々の集積回路に
は必要以上の高い信頼性が要求され、各種の検査技術が
考案されている。

しかしながら、近年の集積回路の高速化、高密度化に伴
い、その故障診断に高額な設備と高度に熟練した検査員
とを使用しても多大な工数が必要となり、これが装置の
生産上又は保守上の大きな問題点となっている。すなわ
ち、従来の論理回路パッケージでは故障した集積回路を
特定するための故障診断に多大の工数を必要とし、装置
全体の復旧までの時間が長く、またその回数も多いとい
う欠点がある。

また、中間工程であるパッケージ単位の検査においても
、該当パッケージを完全に検査するためには検査工数的
及び検査技術的に不可能な状況に近くなってきていると
いう欠点がある。

発明の目的 本発明の目的は、パッケージ単位の検査を容易化し、さ
らに故障した集積回路を迅速に特定することができるよ
うに構成した論理回路パッケージを提供することである
。

発明の構成 本発明による論理回路パッケージは、本来の機能をはた
す回路機能部と書込み信号の入力に応答してこの回路機
能部に入力されるデータを格納し、読出し信号の入力に
応答して格納されているデータを出力する格納手段とを
含む集積回路が複数実装され、前段の集積回路からの出
力を前記データとし、前記格納手段の出力データを用い
て前段の集積回路の検査を行うように構成したことを特
徴とする。

実施例 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明による論理回路パッケージの一実施例の
構成を示すブロック図である。図において本発明の一実
施例による論理回路パッケージは基板１００上に実装さ
れた複数の集積回路５０〜５３及び６０〜６３と、セレ
クタ７０と、入力端子８０と、出力端子９０とを含んで
構成されている。

なお、簡単のために説明に関係のない信号ラインは全て
省略しである。

入力端子８０には他の論理回路パッケージや装置外から
の信号が入力され、その信号は各集積回路５０〜５３及
び６０〜６３に印加される。さらに、各集積回路の出力
は他の集積回路に印加される等して所定の論理回路が実
現され、その出力は出力端子９０に現れる。

また、各集積回路内には後述するようにメモリ等の格納
部が設けられており、該集積回路への入力信号をそのま
ま内部に保持できるようになっている。各集積回路の格
納部の出力はすべてセレクタ７０に入力され、図示せぬ
選択信号の入力に応じて必要な集積回路の格納部からの
出力が出力端子９０に現れるようになっている。

次に、第２図を用いて各集積回路の内部構成について説
明する。第２図は各集積回路の概略構成図である。図に
おいて、集積回路１は入力端子２と、機能回路部４と、
出力端子６とを含んで構成されている。

また、集積回路１はデータ格納部５と、制御信号入力端
子３と、データ出力端子７とを含んで構成されている。

なお、Ａは入力データパス、ＢｌＣは出力データパス、
Ｄは複数本の制御信号ラインである。

入力端子２には他の集積回路からの入力信号が印加され
入力データパスＡを介して機能回路部４及びデータ格納
部５に夫々入力される。

機能回路部４はこの集積回路本来の機能となる部分であ
る。したがって、入力端子２に入力された信号に応じた
論理パターンが出力端子６に現れることになる。

データ格納部５は制御信号入力端子３に入力されるライ
トイネーブル信号、リードイネーブル信号、チップイネ
ーブル信号その他各種制御信号により書込みまたは読出
しが行われるメモリである。

したがって、制御信号入力端子３にライトイネーブル信
号を入力すれば、入力データパスＡ上の信号すなわち、
その集積回路への入力信号が格納できるのである。また
、リードイネーブル信号を入力すれば、その格納された
データがデータ出力端子７に送出される。

つまり、データ格納部５には前段の集積回路の出力信号
を保持することができ、それを必要に応じてデータ出力
端子７から送出させることができるのである。

さらに、第３図を用いて第１図における各集積回路の接
続状態について説明する。第３図は第１図における集積
回路が縦続接続されている場合のブロック図である。図
においては、３つの集積回路１０．１１及び１２が示さ
れており、これらは例えば第１図の５０．５１及び５２
の関係であるものとする。

各集積回路は夫々異なった又は同一の機能回路部１０４
．１１４．１２４を含んでおり、集積回路１２に対して
集積回路１１は前段、集積回路１１に対して集積回路１
０は前段の回路ということになる。

したがって、集積回路１０内の機能回路部１０４の出力
信号は集積回路１１内のデータ格納部１１５に保持する
ことができる。同様に集積回路１１内の機能回路部１１
４の出力信号は集積回路１２内のデータ格納部１２５に
保持することができる。

よって、回路を実際に動作させて各データ格納部内に前
段の集積回路からの出力信号を保持させておき、その後
にデータ格納部から読出せば各集積回路間の信号の授受
を観ｎ１することができるのである。つまり、第１図の
入力端子８０から各集積回路に制御信号１０１．１１１
．１２１　、を入力し、格データ出力端子１０７．１１
７．１２７の出力信号を第１図のセレクタ７０を介して
出力端子９０に送出させれば各集積回路の入力信号を観
測することができるのである。

なお、実際には各集積回路は第３図に示されているよう
な単純な縦続接続とはなっておらず、複数の集積回路か
ら１つの集積回路へ信号が集結したり、１つの集積回路
から複数の集積回路へ信号が分配されている場合もある
。

第１図に戻り、かかる構成とされた論理回路パッケージ
についての検査手順を説明する。

まず、検査の準備段階として良品の論理回路パッケージ
を用い、各集積回路内の格納部に各集積回路への入力信
号を保持しておく。次に、保持した信号をセレクタ７０
を介して全て読出して、図示せぬ磁気ディスク、メモリ
等に記憶させる。すると、これが診断辞書となり、各集
積回路への入力の期待値となる。

次に、被検査パッケージに対して、同様に各集積回路内
のデータ格納部に各入力信号を保持しておく。そして、
各集積回路内のデータ格納部から順に保持データを読出
し、先述の診断辞書すなわち期待値との比較を行う。比
較結果が一致を示せばその保持データは正常と判定でき
、反対に不一致を示せばその保持データは異常と判定で
きる。

よって、異常と判定された保持データを送出した集積回
路の前段の集積回路を特定することができ、その集積回
路を良品の集積回路と交換することによって作業は終了
となる。

例えば、図中の集積回路５０．５１．５２が縦続接続さ
れている場合において、集積回路５１内のデータ格納部
からのデータが異常と判定されれば、その前段である集
積回路５０が不良であると判定でき、これを交換すれば
良いのである。

また、情報処理装置を構成する各論理パッケージの夫々
について同様の検査を行うことによって、集積回路単位
、パッケージ単位に検査を行うことができるのである。

なお、本実施例においては前段の集積回路からの出力信
号を保持するためのデータ格納部を各集積回路に設けて
いるが、代りに自集積回路の出力信号を保持するための
データ格納部を設けても良いことは明らかである。また
、前段の集積回路からの出力信号を保持するためのデー
タ格納部及び自集積回路の出力信号を保持するためのデ
ータ格納部の両方を設けても良いことは明らかである。

発明の詳細 な説明したように本発明は、集積回路の内部にその集積
回路に入力される入力信号を保持するためのデータ格納
部を設け、各データ格納部の保持データを読出せるよう
に基板上に実装するようにしたことにより、良品パッケ
ージとの比較が容易に行え、検査効率の向上と、診断作
業の推進ζこ寄与できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例による論理回路パ・ソケージの
構成を示すブロック図、第２図は各集積回路の概略構成
図、第３図は第１図における集積回路が縦続接続されて
いる場合のブロック図である。 主要部分の符号の説明 ５０〜５３．６０〜６３・・・・・・集積回路７０・・
・・・・セレクタ ８０・・・・・・入力端子 ９０・・・・・・出力端子

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）本来の機能をはたす回路機能部と書込み信号の入
   力に応答してこの回路機能部に入力されるデータを格納
   し、読出し信号の入力に応答して格納されているデータ
   を出力する格納手段とを含む集積回路が複数実装され、
   前段の集積回路からの出力を前記データとし、前記格納
   手段の出力データを用いて前段の集積回路の検査を行う
   ように構成したことを特徴とする論理回路パッケージ。