JPH0555336A - 論理回路パツケージ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子回路パッケージ単位での検査を容易化
し、さらに故障した該当集積回路を迅速に特定する。 【構成】 本来の機能を果たす回路機能部１０４，１１
４，１２４と書込み信号の入力に応答して回路機能部１
０４，１１４，１２４に入力される、又は回路機能部１
０４，１１４，１２４から出力されるデータを格納し、
読出信号の入力に応答して格納されているデータを出力
するデータ格納手段１０５，１１５，１２５とを含む集
積回路１０，１１，１２が複数個実装され、例えば集積
回路１２に対して前段の集積回路１１からの出力を前記
データとし、データ格納手段１１５の出力データを用い
て前段の集積回路１１の検査を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は論理回路パッケージに関
し、特に複数の集積回路が実装されて構成される論理回
路パッケージに関する。

【０００２】

【従来の技術】一般にＩＣ，ＬＳＩ等の集積回路は、印
刷配線された基板上に複数個実装されて使用される。ま
た、その集積回路が実装された複数枚の論理回路パッケ
ージがスロットやケージに挿入接続されて情報処理装置
等が構成されている。

【０００３】従って、それらの集積回路の内の１つが故
障しても、その影響は大きく、ほとんどの場合はシステ
ムダウンにつながっている。そのため、従来から個々の
集積回路には必要以上の高い信頼性が要求され、各種の
検査技術が考案されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年の
集積回路の高速化，高密度化に伴い、その故障診断に高
額な設備と高度に熟練した検査員とを使用しても、多大
な工数が必要となり、これが装置の生産上又は保守上の
大きな問題となっている。

【０００５】すなわち、従来の論理回路パッケージで
は、故障した集積回路を特定するための故障診断に多大
の工数を必要とし、装置全体の復旧までの時間が長く、
また、その故障回数も多いという欠点がある。

【０００６】また中間工程であるパッケージ単位の検査
においても、該当パッケージを完全に検査するために
は、検査工数的及び検査技術的に不可能な状況に近くな
って来ているという欠点がある。

【０００７】本発明の目的は、パッケージ単位の検査を
容易化し、さらに故障した集積回路を迅速に特定するこ
とができるように構成した論理回路パッケージを提供す
ることにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る論理回路パッケージにおいては、本来
の機能を果たす回路機能部と、書込み信号の入力に応答
して該回路機能部に入力される、又は該回路機能部から
出力されるデータを格納し、読出し信号の入力に応答し
て格納されているデータを出力する格納手段とを含む集
積回路が複数個実装され、前段の集積回路からの出力を
前記データとし、前記格納手段の出力データを用いて前
段の集積回路の検査を行うように構成したものである。

【０００９】

【作用】本発明では、集積回路の内部に、該集積回路に
入力される入力信号又は該集積回路が出力する出力信号
のいずれかを保持するデータ格納部を有し、各データ格
納部の保持データを用いて集積回路の検査を行うように
したものである。

【００１０】

【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。

【００１１】図１は、本発明による論理回路パッケージ
の一実施例を示すブロック図である。

【００１２】図において、本発明による論理回路パッケ
ージは、基板１００上に実装された複数の集積回路５０
〜５３及び６０〜６３と、セレクタ７０と、入力端子８
０と、出力端子９０とを含んで構成されている。尚、簡
単のために説明に関係のない信号ラインは全て省略して
ある。

【００１３】入力端子８０には、他の論理回路パッケー
ジや装置外からの信号が入力され、その信号は各集積回
路５０〜５３及び６０〜６３に印加される。さらに、各
集積回路の出力は、他の集積回路に印加される等して所
定の論理回路が実現され、その出力は出力端子９０に現
れる。

【００１４】また各集積回路内には、後述するようにメ
モリー等のデータ格納部が設けられており、該当集積回
路への入力又は該当集積回路の出力信号をそのまま内部
に保持できるようになっている。

【００１５】各集積回路のデータ格納部の出力は全てセ
レクタ７０に入力され、図示しない選択信号の入力に応
じて必要な集積回路のデータ格納部からの出力が出力端
子９０に現れるようになっている。

【００１６】次に図２を用いて各集積回路の内部構成に
ついて説明する。図２は、各集積回路の概略構成図であ
る。

【００１７】図２において、集積回路１は入力端子２
と、機能回路部４と、出力端子６とを含んで構成されて
いる。

【００１８】また集積回路１はデータ格納部５と、制御
信号入力端子３と、データ出力端子７とを含んで構成さ
れている。なお、Ａは入力データバス、Ｂ及びＣは出力
データバス、Ｄは複数本の制御信号ラインである。

【００１９】入力端子２には、他の集積回路からの入力
信号が印加され入力データバスＡを介して機能回路部４
及びデータ格納部５に各々入力される。

【００２０】機能回路部４は、集積回路１の本来の機能
を果たす部分である。従って、入力端子２に入力された
信号に応じた論理パターンが出力端子６に現われること
になる。

【００２１】データ格納部５は、制御信号入力端子３に
入力されるライトイネーブル信号，リードイネーブル信
号，チップイネーブル信号，入出力セレクト信号その他
各種制御信号により、書込み又は読み出しが実行される
メモリーである。

【００２２】従って、制御信号入力端子３にライトイネ
ーブル信号と入力セレクト信号が入力すれば、入力デー
タバスＡ上の信号すなわち、該当集積回路への入力信号
が格納できる。

【００２３】またライトイネーブル信号と出力セレクト
信号が入力すれば、出力データバスＢ上の信号すなわ
ち、その集積回路の出力信号が格納できる。

【００２４】また、リードイネーブル信号が入力すれ
ば、その格納されたデータがデータ出力端子７に送出さ
れる。

【００２５】つまり、データ格納部５には、前段の集積
回路の出力信号を保持することができ、それを必要に応
じてデータ出力端子７から送出させることができるので
ある。

【００２６】さらに、図３を用いて図１における各集積
回路の接続状態において説明する。図３は、図１におけ
る集積回路が縦続接続されている場合のブロック図であ
る。

【００２７】図において、３つの集積回路１０，１１及
び１２が示されており、これらは、例えば図１の５０，
５１及び５２の関係であるとする。１０５，１１５，１
２５はデータ格納部である。

【００２８】各集積回路は各々異なった、又は同一の機
能回路部１０４，１１４及び１２４を含んでおり、集積
回路１２に対して、１１は前段、１１に対して１０は前
段の回路である。

【００２９】従って、集積回路１０内の機能回路部１０
４の出力信号は集積回路１１内のデータ格納部１１５に
保持することができる。

【００３０】よって回路を実際に動作させて各データ格
納部内に前段の集積回路からの出力信号を保持させてお
き、その後にデータ格納部から読み出せば各集積回路間
の信号の授受を観測することができるのである。

【００３１】つまり、図１の入力端子８０から各集積回
路に制御信号１０１，１１，１２１を入力し、各データ
出力端子１０７，１１７，１２７の出力信号を図１のセ
レクタ７０を介して出力端子９０に送出させれば、各集
積回路の入出力信号を観測することができるのである。

【００３２】なお、実際には各集積回路は図３に示され
ているような単純な縦続接続とはなっておらず、複数の
集積回路から１つの集積回路へ信号が集結したり、１つ
の集積回路から複数の集積回路へ信号が分配されている
場合もある。

【００３３】図１に基づいて、上記構成とされた論理回
路パッケージについての検査手順を説明する。

【００３４】まず、検査の準備段階として良品の論理回
路パッケージを用い、各集積回路内の格納部に各集積回
路への入力信号又は出力信号を保持しておく。

【００３５】次に、保持した信号をセレクタ７０を介し
て全て読み出して、図示しない磁気ディスク，メモリ等
に記憶される。すると、これが診断辞書となり、各集積
回路への入力の期待値となる。

【００３６】次に、被検査パッケージに対して、同様に
各集積回路内のデータ格納部に各入力信号又は出力信号
を保持しておく。そして、各集積回路内のデータ格納部
から順に保持データを読出し、前述の診断辞書すなわち
期待値との比較を行う。比較結果が一致を示せば、その
保持データは正常と判定し、反対に不一致を示せば、そ
の保持データは異常（故障）と判定する。

【００３７】よって、異常と判定された保持データを送
出した集積回路の前段の集積回路を異常（故障）と特定
することができ、その集積回路を良品の集積回路と交換
することによって作業は終了となる。

【００３８】例えば、図１の集積回路５０，５１，５２
が縦続接続されている場合（図３）において、集積回路
５１内のデータ格納部からのデータが異常であると判定
されれば、その前段である集積回路５０が故障であると
判定し、これを交換すればよい。また情報処理装置を構
成する各論理パッケージの夫々について同様の検査を行
うことによって、集積回路単位，パッケージ単位に検査
を行うことができる。

【００３９】なお、本実施例においては、前段の集積回
路からの出力信号を保持するためのデータ格納回路部と
自集積回路の出力信号を保持するためのデータ格納部の
両方を別個に設けてもよいことは明らかである。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、集積回路
の内部にその集積回路に入力される入力信号又は、その
集積回路が出力する出力信号のどちらかを保持するため
のデータ格納部を設け、各データ格納部の保持データを
読み出せるように基板上に実装することにより、良品パ
ッケージとの比較が容易に行うことができ、検査効率の
向上と、不良診断作業の推進に寄与できるという効果を
有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例による論理回路パッケージの構
成を示すブロック図である。

【図２】各集積回路の概略構成図である。

【図３】図１における集積回路が縦続接続されている場
合のブロック図である。

【符号の説明】

１ ５０〜５３，６０〜６３ 集積回路 ７０ セレクタ ８０ 入力端子 ９０ 出力端子

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 本来の機能を果たす回路機能部と、書込
   み信号の入力に応答して該回路機能部に入力される、又
   は該回路機能部から出力されるデータを格納し、読出し
   信号の入力に応答して格納されているデータを出力する
   格納手段とを含む集積回路が複数個実装され、 前段の集積回路からの出力を前記データとし、前記格納
   手段の出力データを用いて前段の集積回路の検査を行う
   ように構成したことを特徴とする論理回路パッケージ。